説明

Fターム[2G086EE02]の内容

Fターム[2G086EE02]に分類される特許

1 - 17 / 17


【課題】ノイズの少ない方法で、容易には測定できない位相特性を測定し、また、振幅特性を強調された方法で
測定する。
【解決手段】振幅及び位相を有する分析対象波面に対して、フーリエ変換処理を行い、該分析対象波面に対応する複数の異なる位相変化された変換波面を取得し、該複数の位相変化された変換波面の複数の強度マップを取得し、該複数の強度マップを用いて該分析対象の三次元画像形成波面の振幅及び位相を表示する出力を取得する。 (もっと読む)


【課題】プレスキャン機能を実施することによって、表面欠陥が存在するときの光ディスク再生デバイスの読み出し性能を向上させる。
【解決手段】光ディスク再生デバイスは、第1および第2のレーザと、光学アセンブリと、第1および第2の光学検波器と、光学検波器に結合されたコントローラ回路とを備える。光学アセンブリは、第1および第2のレーザからの入射光を光ディスクの表面上にそれぞれ前走査スポットおよび後走査スポットを形成するように導くように構成され、さらに、光ディスクの表面上の前走査スポットおよび後走査スポットからの対応する反射光をそれぞれの光学検波器に導くように構成される。コントローラ回路は、後走査スポットが光ディスクの表面欠陥に到達する前に前走査スポットに関連する反射光を処理することによって光ディスクの表面欠陥を識別するように構成される。 (もっと読む)


【課題】磁気光学効果として観測される信号の絶対値を校正すると共に効率よく測定する。
【解決手段】磁気光学スペクトル分光装置1は、偏光面の角度φ,φが調整可能な回転機構付き直線偏光板4,7と、回転偏光子法を用いた各直線偏光板4,7における偏光面の角度別のそれぞれの測定値41に基づいてカー回転角の絶対値43をそれぞれ算出する第1算出手段51と、カー回転角の絶対値43と第1直線偏光板4における偏光面である入射光偏光面の角度φ1との相関の有無を判別する相関判別手段52と、相関が無いと判定された場合、偏光変調法を用いた測定値42に基づいて試料のカー回転角のスペクトル44を算出する第2算出手段53と、スペクトル44におけるカー回転角の値をカー回転角の絶対値43に適合させる乗算を行い、校正されたスペクトルを当該試料の磁気光学特性のスペクトル45として算出する第3算出手段54とを備える。 (もっと読む)


【課題】実際の光学系を用いてゴーストを検査できる検査装置を提供する。
【解決手段】発光ダイオードLEDと絞りAPをX軸方向及びY軸方向にマトリクス状に移動させ、撮像素子CCDをZ軸方向に移動させながら、ゴーストの検査を行うことで、ゴーストが発生する、光学系OPSに対する、発光ダイオードLED、絞りAP、撮像素子CCDの相対位置がわかる。 (もっと読む)


検査物体によって形成された波面を有するビームを第1の方向及び前記第1の方向に直交する第2の方向に同時に回折して1度回折されたビームを得るステップと、前記1度回折されたビームを直交する方向に同時に回折して2度回折されたビームを得るステップと、前記2度回折されたビームの少なくとも2つの次数の回折光を各方向において重ね合わせて、前記第1の方向へ横方向シアリングされた波面の複数のコピー及び前記第2の方向へ横方向シアリングされた波面の複数のコピーにより形成される干渉パターンを検出器に形成するステップと、前記干渉パターンに基づいて前記波面に関する情報を決定するステップとを含む方法を開示する。
(もっと読む)


【課題】広範囲にわたる位相差変化がある被測定物の位相差分布を測定する。
【解決手段】平行ニコルの偏光子・検光子とイメージング分光器を備えて被測定物の二次元の透過光分光スペクトルを検出できる位相差測定部を用い、被測定物がない状態での偏光子と検光子による偏光方位が0°と45°のときの透過光分光スペクトルI0(0),I0(45)と、被測定物を位相差測定部に対して相対的に移動させたときの偏光子と検光子による偏光方位が0°と45°のときの被測定物上の位置ごとの透過光分光スペクトルI(0),I(45)とから被測定物上の各位置での合算スペクトル実測値IT’(=I(0)/I0(0)+I(45)/I0(45))を算出し、位相差の異なる複数の合算スペクトルIT(=(C+3)/2)計算値との比較を被測定物上の各位置で行ってその差が最小になるITに該当する位相差を各位置の位相差Rm(λ)とする。 (もっと読む)


【課題】反射型波面整形手段を備えた波面測定光学系のアライメント調整を、自動化して高精度かつ短時間で行うことができるようにする。
【解決手段】撮像面21C上において、ピンホールミラー15Aからの反射光からなる第1のスポット像と平面反射ミラー17からの反射光からなる第2のスポット像とが互いに重なるようにピンホールミラー15Aの位置調整を行った後に、ピンホールミラー15Aを測定光軸Cに沿って順次移動し、移動毎に撮像された画像の輝度積分値と移動位置と関係に基づき、ピンホールミラー15Aの最適位置を求める。その後、ピンホールミラー15Aからの反射光からなる光像が撮像面21Aの中心部に移動するように、ピンホールミラー15Aの傾きを調整する。 (もっと読む)


【課題】3層以上の情報記録層を持つ多層光記録媒体においても、情報記録層の膜厚や材料、スペーサー層の厚みムラ等の影響を明確に判断・評価することが可能にする。
【解決手段】3層以上の情報記録層を持つ多層光記録媒体に対してレーザー光を照射し、レーザー光の反射光から得られる第1信号を周波数フィルタに通し、ハイパスフィルタを経て得られる第2信号を用いて多層光記録媒体の特性を評価する。 (もっと読む)


【課題】トラッキング用のサブビームが混在した状態で光ピックアップ装置から出力されたメインビームの波面測定を、容易かつ高精度に行うことが可能な光ピックアップ用波面測定装置を得る。
【解決手段】画像処理部34および波面解析部35を解析手段31に設ける。画像処理部34は、撮像カメラ19により得られた干渉縞画像をフィルタ処理し、光ビームに含まれるトラッキング用のサブビームに対応した周波数成分が除去されたフィルタ処理後の干渉縞画像を得るように構成され、波面解析部35は、フィルタ処理後の干渉縞画像に基づき、光ビームに含まれるメインビームの波面解析を行うように構成されている。 (もっと読む)


【課題】開口数や設計波長が異なる対物レンズを切り替えて使用した場合でも、高い精度でレンズ評価を行うことが可能なレンズ評価に用いる回折格子を提供することを課題とする。
【解決手段】アパーチャ14によって開口を制限され、保持台5に支持されている対物レンズ6に入射し、対物レンズ6を透過した光は、回折格子15の格子面上に集光する。ここで、回折格子15はピエゾ素子を有する移動機構16に固定されており、回折格子15の格子溝と直行する成分を含む方向に移動可能となっている。所定の条件に基づいて形成された回折格子15を透過して形成された回折光は、レンズ8に入射する。回折格子15は、レンズ8の瞳面でシアリング干渉を生じるように設計されている。このシアリング干渉による干渉縞の光強度を用いて対物レンズ6の評価を行うことで、高い精度でのレンズ評価を可能とする。 (もっと読む)


【課題】レンズ部表面からの反射光による光マークを観察し得ない被検レンズに対しても、該被検レンズの光軸と基準球面の光軸とのずれを高精度に自動調整することができ、安定した測定結果を得ることが可能な光波干渉測定装置および光波干渉測定方法を得る。
【解決手段】被検レンズ1からの反射光による第1の干渉縞画像に基づき、被検レンズ1の全体中心位置を特定する手段と、被検レンズ1と基準球面反射鏡7の各光軸が互いに平行となるように調整する手段と、被検レンズ1と基準球面反射鏡7との相対的な位置を調整する手段と、レンズ部2の透過光による第2の干渉縞画像に基づき、被検レンズ1と基準球面反射鏡7との相対的な位置を調整する手段とを設ける。 (もっと読む)


【課題】 ホログラム記録層を有する記録媒体において、従来よりも簡単で、使いやすい多重記録特性などの測定方法を提供すること。
【解決手段】 記録媒体のホログラムが記録されるホログラム記録層に対し、各ホログラム11、12、13が互いに重ならないように分散させて複数のホログラムを記録してホログラム群11G、12G、13Gを形成し、ホログラム群11G、12G、13Gを必要な回数重畳させて多重記録領域21、31を形成し、記録領域内に多重記録領域を含むホログラムを再生して多重記録時におけるホログラム又はホログラム記録層の特性を測定する。 (もっと読む)


【課題】光記録媒体の保護層の複屈折特性を面内複屈折と垂直複屈折に分けて測定することができる複屈折特性の測定方法を提供する。
【解決手段】半導体レーザ1からの光を測定対象ディスク6に照射するに際して、高い開口数を有する対物レンズ5を含む偏光光学系、低い開口数を有する対物レンズ5を含む偏光光学系、高い開口数を有する対物レンズ5を含む無偏光光学系、低い開口数を有する対物レンズ5を含む無偏光光学系の4種類の光学系を切り替えて使用し、測定対象ディスク6の反射光を光検出器9で測定した受光量に基づいて、測定対象ディスク6の面内複屈折特性及び垂直複屈折特性を別個に求める。 (もっと読む)


【課題】 従来、屈折率均質性の高い水晶を選別するために、屈折率均質性そのものを測定する方法においては試験サンプルの加工や測定準備に手間がかかるという問題があった。
【解決方法】 高精度光学部品用として、可視域での屈折率均質性の高い水晶を選別するにあたり、可視域での屈折率が赤外域での不純物による吸収係数と相関があることを利用して、この吸収係数もしくは透過率のばらつきを測定し、これらのばらつきの小さい水晶を屈折率均質性の高い水晶として選別することを特徴する光学用水晶の選別方法。 (もっと読む)


【課題】
特別な測定装置を用いず、光強度分布情報から光位相分布を高速且つ高精度に同定する光位相分布測定方法を提供する。
【解決手段】
異なる2つの光学系とCCDとを備えた光位相分布測定系を用いて、被測定光を各光学系にそれぞれ入力し、強度と位相を変調し、出力された被測定光をCCDにより検出し、検出された被測定光の強度分布を画像として測定するステップと、強度分布と各光学系の光学特性とに基づいて観測方程式を設定するステップと、観測方程式から位相分布同定逆問題を設定し、設定された位相分布同定逆問題を被測定光を表す複素振幅を設計変数とする第1の非線形最適化問題として定式化するステップと、被測定光の位相分布を級数展開することにより、第1の非線形最適化問題を級数展開式の展開係数を設計変数とする第2の非線形最適化問題に変換するステップと、第2の非線形最適化問題を解くことで被測定光の位相分布を同定するステップとを有する。 (もっと読む)


【課題】 耐久性を有し、安価で簡易に構成される光ピックアップの出射光測定装置を提供する。
【解決手段】 光ピックアップの出射光測定装置は、光ピックアップから出射される出射光の非点収差などの収差を測定するために好適に使用される。光ピックアップからの出射光を対物レンズで平行光にし、集光レンズにより所定位置にビームスポットとして集光する。対物レンズと集光レンズの焦点距離によりビームスポットの拡大率が規定され、所定位置には拡大されたビームスポットが形成される。集光レンズは、移動手段により光軸方向に移動される。出射光測定装置は、出射光をデフォーカスさせ、ビームスポットの形状から収差等の特性を測定する。対物レンズを移動させる構成と比較した場合、集光レンズの移動精度は高い精度を要求されないので、集光レンズの移動手段として高精度の必要がなくなり、出射光測定装置を安価に構成することができ、測定操作も容易となる。 (もっと読む)


【課題】 光ピックアップの収差などの特性を容易に測定し、且つ安価に構成される光ピックアップの出射光測定装置を提供する。
【解決手段】 光ピックアップの出射光測定装置は、光ピックアップからの出射された平行光を集光レンズにより所定位置にビームスポットとして集光し、集光レンズを光軸上で所定量ずつ移動させるなどして光ピックアップからの出射光をデフォーカスさせ、そのデフォーカス状態を変化させて撮像された複数のビームスポット画像に基づいて、非点収差の度合いを示す非点隔差を検出する。上記の出射光測定装置ではビームスポットが撮像手段上に位置するように測定装置を配置させるだけでよい。これにより、出射光測定装置は、光ピックアップの測定操作を容易に行うことができる。また、高価な干渉計を用いる比較例と比較すると、出射光測定装置は格段に安価に構成することができる。 (もっと読む)


1 - 17 / 17