プリント基板回路の電気的検査用回路及びその形成方法
【課題】 本発明は、基板材料に形成されたプリント基板回路の検査において、このプリント基板回路の高精細化に伴って増加する接触ピンの使用を最小限に留め、かつ高額化する接触ピンの極小化を抑止して、検査用冶具の接触ピンの作製を容易にするプリント基板回路の電気的検査用回路及びその形成方法を提供することを目的とするものである。
【解決手段】 この発明に係るプリント基板回路の電気的検査用回路及びその形成方法は、基板材料１に形成される複数のプリント基板回路３ａ、３ｂ・・・の両端末から延出される延長回路４ａ、４ｂ・・・、５ａ、５ｂ・・・を介して、隣接する基板回路３ａ、３ｂが共働しない少なくとも二つ以上の別異の検査回路Ａ、Ｂ・・・を形成してなるものである。
【解決手段】 この発明に係るプリント基板回路の電気的検査用回路及びその形成方法は、基板材料１に形成される複数のプリント基板回路３ａ、３ｂ・・・の両端末から延出される延長回路４ａ、４ｂ・・・、５ａ、５ｂ・・・を介して、隣接する基板回路３ａ、３ｂが共働しない少なくとも二つ以上の別異の検査回路Ａ、Ｂ・・・を形成してなるものである。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、基板材料に各種の回路を形成したプリント基板回路の電気的検査を効率的に行うプリント基板回路の電気的検査用回路及びその形成方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、この種の基板材料に形成される各種のプリント基板回路に断線や混線等の不具合があると致命的欠陥となるため、その有無を可能な限り検査することが求められている。
【０００３】
このようなプリント基板回路の断線、混線の検査を電気的に行う方法や装置は、すでに種々なものが用いられているが、各プリント基板回路の端末に何らかの電気的接触を行わせて検査する方法が最も基本的で、プリント基板回路の使用実態に近く確実であるため多く用いられている。
【０００４】
この場合各種の回路を形成して型抜きされたプリント基板単体の段階で検査することもあるが、量産や検査効率の点から基板材料、すなわち、型抜きする前の回路形成された基板材料の段階で検査することが一般的に多く行われており、これらの検査は主として基板回路端末数に応じて接触ピンを設置した検査用冶具を有する検査装置が用いられ（図７参照）、これらの検査装置に回路を形成したプリント基板を電気的に接続して検査に供されている。
【０００５】
このような検査用冶具を用いた検査装置に供される複数の回路を形成したプリント基板は、そのプリント基板回路の端末を検査用ランドとするが、隣接する回路の端末の間隔が狭小の場合には、その狭い間隔に対応した接触ピンを検査用冶具に設けなければならず、図８に模式図として示すように、型抜き前の基板材料１の余白部分２にプリント基板回路３の端末を延出して延長回路４、５を形成し、その延長回路４、５の端部を検査用ランド６として、図７に示す検査用冶具１１に設けられている接触ピン１２相互の間隔を広げ、接触ピン１２の極小化をできるだけ防ごうとする方法が行われている。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかし、従来用いられているこれらの電気的手段による検査装置に用いられている検査用冶具は、近年プリント基板回路が精細化し、液晶用のプリント基板などにみられるように、回路端末の間隔が狭くなるにしたがって、接触ピンを極小化しなければならなくなり、このため検査用冶具の作製が困難となりかつ高額化を招いている。
【０００７】
このため、図８に示すように、基板材料１に形成される複数の基板回路３、３・・・の端末にそれぞれ長さの異なる延長回路４、５を延出して、その端部に形成される検査用ランド６の位置をずらして、接触ピン相互の間隔を広げる方法を採用しているが、検査に必要な接触ピンの使用個数は減らず、また、検査用ランド６を形成する基板材料１の余白に制限がある場合には、十分な検査用ランド６の間隔が確保できず、極小ピンの使用が不可欠となっていた。
【０００８】
本発明は、基板材料に形成されたプリント基板回路の検査において、このプリント基板回路の高精細化に伴って増加する接触ピンの使用を最小限に止め、かつ高額化する接触ピンの極小化を抑止して、プリント基板回路の回路検査における検査用冶具の作製を容易にすることを目的にするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明に係るプリント基板回路の電気的検査用回路は、基板材料に形成される複数のプリント基板回路の両方の端末から各々延長回路を延出し、このプリント基板回路の両端に設けられた延長回路を、隣接するプリント基板回路が別異の検査用回路を形成するように結線して、始端部とするプリント基板回路の延長回路を検査用ランドの起点とし、また、終端部とするプリント基板回路の延長回路を検査用ランドの終点として、検査用冶具に設けられる接触ピンと接触して、隣接するプリント基板回路が共働しない少なくとも二つ以上の別異の検査用回路を形成してなることを特徴とするものである。
【００１０】
さらに、本発明に係るプリント基板回路の電気的検査用回路の形成方法は、基板材料に形成されるプリント基板回路の両方の端末から各々延長回路を延出し、このプリント基板回路の両端に設けられた延長回路を、隣接しないひとつおきないしは複数個おきに他のプリント基板回路の端末の延長回路に結線し、プリント基板回路の他方の端末に設けられる延長回路を、同様に、隣接しないひとつおきないしは複数個おきに他のプリント基板回路の端末の延長回路に結線して、複数のプリント基板回路からなる一つの検査用回路を形成し、以下順次、隣接するプリント基板回路の延長回路を反復して結線して他の検査用回路を形成し、隣り合うプリント基板回路に形成される検査用回路が別異の検査用回路として、始端部とするプリント基板回路の延長回路を検査用ランドの起点とし、また、終端部とするプリント基板回路の延長回路を検査用ランドの終点として接触ピンと接触して、隣接するプリント基板回路が共働しない少なくとも二つ以上の別異の検査用回路を形成してなることを特徴とするものである。
【００１１】
さらに、プリント基板回路の電気的検査用回路の形成方法は、基板材料に形成される複数のプリント基板回路において、その略中間部分に位置するプリント基板回路の一方の端末から延出される延長回路の端末に形成される検査用ランドを起点とし、側端部分に位置するプリント基板回路の他方の端末から延出される延長回路の端末に形成される検査用ランドを終点として、複数の延長回路を一定の方向に結線して、複数のプリント基板回路に検査用回路を少なくとも二つ以上、隣接するプリント基板回路が同一の検査用回路とならないように形成してなることを特徴とするものである。
【００１２】
さらに、プリント基板回路の電気的検査用回路の形成方法は、基板材料に形成される複数のプリント基板回路において、基板材料の一側端部側に位置するプリント基板回路の一方の端末から延出される延長回路の端末を検査用ランドの起点とし、基板材料の反対側端部側に位置するプリント基板回路の端末から延出される延長回路の端末を検査用ランドの終点として、隣接するプリント基板回路を外してそれぞれのプリント基板回路の延長回路を結線して、一つの検査用回路を形成すると共に、この一つの検査用回路を形成しないプリント基板回路の端末に設けられる延長回路を、前記一つの検査回路を形成するプリント基板回路の延長回路の結線と交叉しないように結線して、他の検査用回路を形成してなることを特徴とするものである。
【００１３】
さらに、プリント基板回路の電気的検査用回路の形成方法は、隣接するプリント基板回路が共働しない少なくとも二つ以上の別異の検査用回路とする検査用回路群を、基板材料に形成される複数のプリント基板回路に並列状に形成してなることを特徴とするものである。
【発明の効果】
【００１４】
本発明に係るプリント基板回路の電気検査用回路及びその形成方法によれば、プリント基板回路から延出される延長回路を結線して検査に必要な検査用回路を形成することにより、検査用回路の数を減少して検査用冶具に取り付けられる接触ピンの数を減らすことができる。
【００１５】
さらに、検査用回路の両端に形成される検査用ランドの間隔を広げることが容易になり、プリント基板回路の精細化に伴う高価な極小ピンの使用度合いを減少し、かつ、検査用冶具を簡単容易に作製して、検査設備及び検査に掛かる費用を軽減することができる。
【００１６】
また、基板材料に形成される複数のプリント基板回路は、隣接するプリント基板回路が別の検査用回路となるように、その両端末から延出される延長回路で結線されるため、検査途中における断線および隣同士のプリント基板回路の混線を確実に検出することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下、本発明の実施の形態について添付図面に基づいて説明する。
添付図面において、図１ないし図６は、本発明に係るプリント基板回路の電気的検査用回路及びその形成方法を示す代表的な模式図であり、図７は電気検査装置を示す略示図である。
【００１８】
図１は本発明に係る電気的検査用回路の代表的な配列形態を模式図によって示すもので、基板材料１に形成される複数すなわち１６本のプリント基板回路３ａ、３ｂ・・・３ｐの両端末から余白部分２に延出される延長回路４ａ、４ｂ・・・４ｐおよび５ａ、５ｂ・・・５ｐを直列的に結線して、隣接するプリント基板回路３ａ、３ｂが共働しない少なくとも二列の別異の検査用回路Ａ、Ｂを形成してなるものである。
【００１９】
すなわち、複数のプリント基板回路３ａ、３ｂ・・・３ｐは、その両方の端末から適宜の長さを有する延長回路４ａ、４ｂ・・・４ｐおよび５ａ、５ｂ・・・５ｐを延出して、隣接しないひとつおきのプリント基板回路３ａ、３ｃ・・・３ｏの一方の端末に延出された延長回路４ａ、４ｃ・・・４ｏを結線して接続し、さらに、プリント基板回路３ａ、３ｃ・・・３ｏの他方の端末に延出される延長回路５ａ、５ｃ・・・５ｏも、同様に、隣接しないひとつおきのプリント基板回路３ａ、３ｃ・・・３ｏの他方の端末に設けられた延長回路５ａ、５ｃ・・・５ｏを結線し接続して一つのループ状の検査用回路Ａを形成する。
【００２０】
この検査用回路Ａを形成するプリント基板回路３ａ、３ｃ・・・３ｏは、中間部分に位置するプリント基板回路３ｉの延長回路４ｉの端部に形成される検査用ランド６ｉをその起点７ｉとし、基板材料１の側端側、すなわち図面において、上側端側に位置するプリント基板回路３ａの延長回路４ａの端部の検査用ランド６ａを終点８ａとするものである。
【００２１】
さらに、検査用回路Ａを形成しないプリント基板回路３ｂ、３ｄ・・・３ｐの両端末に各々に設けられた延長回路４ｂ、４ｄ・・・４ｐおよび５ｂ、５ｅ・・・５ｐを同様直列状に結線して接続し、隣接するプリント基板回路３ａ、３ｃ・・・３ｏと共働しない別異のループ状の検査用回路Ｂを形成する。
【００２２】
この検査用回路Ｂを形成するプリント基板回路３ｂ、３ｄ・・・３ｐは、中間部分に位置するプリント基板回路３ｈの延長回路４ｈの端部に形成される検査用ランド６ｈをその起点７ｈとし、基板材料１の側端側すなわち図面において、下側端側に位置するプリント基板回路３ｐの延長回路４ｐの端部の検査用ランド６ｐを終点８ｐとするものである。
【００２３】
なお、検査用回路Ａにおいて中間部分に位置するプリント基板回路３ｉの検査用ランド６ｉをその起点７ｉとし、上側端側に位置するプリント基板回路３ａの検査用ランド６ａを終点８ａとして説明したが、この上側端側に位置するプリント基板回路３ａの検査用ランド６ａを始点とし、中間部分に位置するプリント基板回路３ｉの検査用ランド６ｉをその終点７ｉとするものでもよく、検査用回路Ｂにおいても同様である。
【００２４】
また、プリント基板回路３ａ、３ｂ・・・３ｐの両端末から延出される延長回路４ａ、４ｂ・・・４ｐおよび５ａ、５ｂ・・・５ｐは、検査用ランド６ａ、６ｈ、６ｉ、６ｐを形成する延長回路４ａ、４ｉ、５ｈ、５ｐを除いて、その起点７ｈ、７ｉとなる延長回路４ｉ、５ｈより長く延出されて囲繞するように直列状に結線して連結される。
【００２５】
なお、略中間に隣接して位置するプリント基板回路３ｈ、３ｉの延長回路５ｈ、４ｉに形成される検査用ランド６の起点７は並列せずに、対角状、すなわち反対端側の延長回路５ｈ、４ｉとする。
【００２６】
上記のように隣接するプリント基板回路３ａと３ｂ、３ｂと３ｃ・・・が共働しない少なくとも二つの別異の検査回路Ａ、Ｂを形成したプリント基板回路３ａ、３ｂ・・・３ｐは、図７に示すように、検査装置１０の検査用冶具１１の下板にセッティングされて、複数の検査用ランド６、６・・・を検査用冶具１１の上板に対応して設けられる複数の接触ピン１２、１２・・・と接触させて電気的に接続されて検査に供されるものである。
【００２７】
図２に示すプリント基板回路の電気的検査用回路の模式図は、複数すなわち１７本のプリント基板回路３ａ、３ｂ・・・３ｐにおいて、隣接するプリント基板回路３ａと３ｂと３ｃ・・・が共働しない少なくとも三つの別異の渦巻状の検査用回路Ａ、Ｂ、Ｃを形成した例で、この場合においては、６本のプリント基板回路３ａ、３ｄ、３ｇ、３ｊ、３ｍ、３ｐからなる検査用回路Ａと、５本のプリント基板回路３ｂ、３ｅ、３ｈ、３ｌ、３ｏからなる検査用回路Ｂと、６本のプリント基板回路３ｃ、３ｆ、３ｉ、３ｋ、３ｎ、３ｑからなる検査用回路Ｃが形成されている。
【００２８】
検査用回路Ａを形成するプリント基板回路３ａ、３ｄ、３ｇ、３ｊ、３ｍ、３ｐは、その中間に位置するプリント基板回路３ｊの延長回路４ｊに形成される検査用ランド６ｊを起点７ｊとして、また、図示において、上側端側に位置されるプリント基板回路３ａの延長回路４ａの端部に形成される検査用ランド６ａを終点８ａとしている。
【００２９】
また、検査用回路Ｂを形成するプリント基板回路３ｂ、３ｅ、３ｈ、３ｌ、３ｏは、検査用回路Ａの起点７ｊとは反対側に、その中間に位置するプリント基板回路３ｈの延長回路５ｈに形成される検査用ランド６ｈを起点７ｈとして、また、上側端側に位置されるプリント基板回路３ｂの延長回路４ｂの端部に形成される検査用ランド６ｂを終点８ｂとしている。
【００３０】
さらに、検査用回路Ｃを形成するプリント基板回路３ｃ、３ｆ、３ｉ、３ｋ、３ｎ、３ｑは、検査用回路Ｂの起点７ｈと並列するように、その中間に位置するプリント基板回路３ｉの延長回路５ｉに形成される検査用ランド６ｉを起点７ｉとして、下側端側に位置されるプリント基板回路３ｑの延長回路５ｑの端部に形成される検査用ランド６ｑを終点８ｑとしている。
【００３１】
このように隣接するプリント基板回路を同一の検査用回路としない３列の検査用回路Ａ、Ｂ、Ｃはその起点７ｈ、７ｉ、７ｊは同一端末側の延長回路４ｈ、４ｉ、４ｊおよび５ｈ、５ｉ、５ｊに並列せず、いずれか２つを反対端側すなわち対角状に位置させ、また、並列する起点７ｈと７ｉおよび終点８ａ、８ｂは延長回路５ｈと５ｉ、４ａと４ｂはその長さを変えて、その検査用ランド６ａと６ｂ、６ｈと６ｉを相互に余裕ある間隔を得ることができ、また、接触ピン１２の極小化を防ぐことができるものである。
【００３２】
図３に示すプリント基板回路の電気的検査用回路の模式図は、複数すなわち１９本のプリント基板回路３ａ、３ｂ・・・３ｓにおいて、隣接するプリント基板回路３ａ、３ｂ、３ｃ・・・３ｓがそれぞれ共働しない６列の別異の検査用回路Ａ、Ｂ・・・Ｆを形成した配列例で、この場合においては、４本のプリント基板回路３ａ、３ｇ、３ｉ、３ｑからなる検査用回路Ａと、３本のプリント基板回路３ｂ、３ｈ、３ｐからなる検査用回路Ｂと、３本のプリント基板回路３ｃ、３ｊ、３ｏからなる検査用回路Ｃ、３本のプリント基板回路３ｄ、３ｌ、３ｎからなる検査用回路Ｄ、３本のプリント基板回路３ｆ、３ｋ、３ｒからなる検査用回路Ｅ、また、３本のプリント基板回路３ｅ、３ｍ、３ｓからなる検査用回路Ｆがそれぞれ形成されている。
【００３３】
検査用回路Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄは、基板材料１の上端側に位置する４本のプリント基板回路３ａ、３ｂ、３ｃ、３ｄの延長回路５ａ、５ｂ、５ｃ、５ｄの端部に形成される検査用ランド６ａ、６ｂ、６ｃ、６ｄを終点８ａ、８ｂ、８ｃ、８ｄとし、また、検査用回路Ｅ、Ｆは、基板材料１の下端側に位置する２本のプリント基板回路３ｒ、３ｓの延長回路４ｒ、４ｓを終点８ｒ、８ｓとして、それぞれの検査用回路Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆの始点７ｈ、７ｉ、７ｊ、７ｋ、７ｌ、７ｍは、隣接するプリント基板回路に形成される検査用ランド６ｈ、６ｊ、６ｌと６ｉ、６ｋ、６ｍの位置を反対側として、他の検査用回路に形成される延長回路の結線が間に介在するように配列されているものである。
【００３４】
図４に示すプリント基板回路の電気的検査用回路の模式図は、図１に示す少なくとも二つの別異の検査回路ＡとＢ、ＣとＤ、ＥとＦをそれぞれ１単位とする３つの検査回路群を、基板材料１に形成されている２６本のプリント基板回路３ａ、３ｂ、３ｃ…３ｚ上に形成してなるもので、４本のプリント基板回路３ａ、３ｃ、３ｅ、３ｇからなる検査用回路Ａと、同様４本のプリント基板回路３ｂ、３ｄ、３ｆ、３ｈからなる検査用回路Ｂを、隣接するプリント基板回路３ａと３ｂ・・・が同一の検査用回路を形成しないように結線して一つの検査用回路群を形成し、以下同様にして他の検査用回路群を形成する。この実施態様においては、３つの検査用回路群が形成されている。なお、このような配列構成は、基板材料１に十分な延長回路４ａ・・・、５ａ・・・を形成するための余白部分２が少ない場合等に有効な配列構成である。
【００３５】
この配列態様においては２４本のプリント基板回路３ａ、３ｂ、３ｃ…３ｘにより３つの検査用回路群が形成され、プリント基板回路３ｙ、３ｚが余るが、この残余のプリント基板回路３ｙ、３ｚは延長回路４ｙ、４ｚ、５ｙ、５ｚを結線せずに、それぞれ検査用ランド６ｙ、６ｚを形成して一方を始点７ｙ、７ｚとし、他方を終点８ｙ、８ｚとして単独の検査用回路Ｇ、Ｈを形成するもので、この場合検査用ランド６ｙ、６ｚが並列して近接しないように延長回路４ｙ、４ｚおよび５ｙ、５ｚの延長長さを変え、あるいは、いずれかを折曲して検査用ランドに間隔を取ることが望ましい。
【００３６】
図５に示すプリント基板回路の電気的検査用回路形成の模式図は、基板材料１の上端側に形成されるプリント基板回路３ａ、３ｂ・・・から、隣接するプリント基板回路３ｂ・・・を除いて、下端側までのプリント基板回路３ｋを結線して、ひとつの検査用回路Ａを形成し、その残余のプリント基板回路３ｂ、３ｄ・・・を用いて別異の検査用回路Ｂ、Ｃを形成した配列例を示すものである。
【００３７】
検査用回路Ａは、複数すなわち１１本のプリント基板回路の３ａ、３ｂ、３ｃ…３ｋの上側端部側に位置するプリント基板回路３ａの一方の端末に延出される延長回路５ａの端末を検査用ランド６ａの起点７ａとし、下端側に位置するプリント基板回路３ｋの端末に延出される延長回路５ｋの検査用ランド６ｋを終点８ｋとして、隣接しない６本のプリント基板回路３ａ、３ｃ、３ｅ、３ｇ、３ｉ、３ｋの延長回路４ａ、４ｃ、４ｅ、４ｇ、４ｉ、４ｋおよび５ａ、５ｃ、５ｅ、５ｇ、５ｉ、５ｋを直列的に結線して回路形成される。
【００３８】
また、この検査用回路Ａに含まれない３本のプリント基板回路３ｂ、３ｆ、３ｊによって検査用回路Ｂを形成するもので、この検査用回路Ｂは、検査用回路Ａを形成するよう結線された延長回路４ａと４ｃ、４ｅと４ｇ、４ｉと４ｋに囲繞される延長回路４ｂ、４ｆ、４ｊの端部に検査用ランド６ｂ、６ｆ、６ｊを形成し、そのうちに２つを起点７ｂ、７ｆとし、残余の検査用ランド６ｊを終点８ｊとし、反対端に形成される延長回路５ｂ、５ｆ、５ｊは、検査用回路Ａを形成するプリント基板回路３ｃと３ｅ、３ｇと３ｉの延長回路５ｃと５ｅ、５ｇと５ｉの結線の外側で直列的に結線される。
【００３９】
さらに、この二つの検査回路Ａ、Ｂを形成しない残余のプリント基板回路３ｄ、３ｈは、その一方の延長回路４ｄ、４ｈを、検査用回路Ａを形成するよう結線された延長回路４ｅ、４ｇを跨架して結線され、プリント基板回路３ｄの延長回路５ｄに形成される検査用ランド６ｄを起点７ｄとし、プリント基板回路３ｈの延長回路５ｈに形成される検査用ランド６ｈを終点８ｈとする検査回路Ｃを形成してなるものである。
【００４０】
図６は、図５に示すプリント基板回路の電気検査用回路形成において、基板材料１に２６本のプリント基板回路３ａ、３ｂ・・・３ｚが形成されているもので、その上端側から下端側に連続し、かつ隣接するプリント基板回路を別の検査用回路とする長い検査用回路Ａ、Ｂを形成し、この検査用回路Ａ、Ｂを構成しないプリント基板回路からなる二つの別異の検査用回路Ｃ、Ｄを形成してなる配列例である。
【００４１】
検査用回路Ａを形成する９本のプリント基板回路３ａ、３ｅ、３ｇ、３ｋ、３ｍ、３ｑ、３ｓ、３ｗ、３ｙは、一端側の２本の延長回路４ａと４ｅ，４ｇと４ｋ、４ｍと４ｑ、４ｓと４ｗおよび他端側の２本の延長回路５ｅと５ｇ、５ｋと５ｍ、５ｑと５ｓ、５ｗと５ｙとを直列的に結線して、プリント基板回路３ａの延長回路５ａの端部の検査用ランド６ａを起点７ａとし、プリント基板回路３ｙの延長回路４ｙの端部の検査用ランド６ｙを終点８ｙとして回路形成される。
【００４２】
検査用回路Ｂを形成する９本のプリント基板回路３ｂ、３ｄ、３ｈ、３ｊ、３ｎ、３ｐ、３ｔ、３ｖ、３ｚは、上記検査用回路Ａに平行するように略同様に配列結線されるもので、一端側の２本の延長回路４ｂと４ｄ，４ｈと４ｊ、４ｎと４ｐ、４ｔと４ｖおよび他端側の２本の延長回路５ｄと５ｈ、５ｊと５ｎ、５ｐと５ｔ、５ｖと５ｚとを直列的に結線して、プリント基板回路３ｂの延長回路５ｂの端部の検査用ランド６ｂを起点７ｂとし、プリント基板回路３ｚの延長回路４ｚの端部の検査用ランド６ｚを終点６ｚとして回路形成される。
【００４３】
検査用回路Ｃは、４本のプリント基板回路３ｃ、３ｉ、３ｏ、３ｕから形成され、検査用回路Ｂを形成する延長回路４ｂと４ｄ，４ｈと４ｊ、４ｎと４ｐ、４ｔと４ｖの結線に囲繞される延長回路４ｃ、４ｉ、４ｏ、４ｕの端部を検査用ランド６ｃ、６ｉ、６ｏ、６ｕとして、この検査用ランド６ｃ、６ｉ、６ｏを始点７ｃ、７ｉ、７ｏとし、検査用ランド６ｕを終点８ｕとし、他方の延長回路５ｃ、５ｉ、５ｏ、５ｕは、検査用回路Ａ、Ｂの回路形成の外側で直列的に結線されて回路形成されている。
【００４４】
検査用回路Ｄは、４本のプリント基板回路３ｆ、３ｌ、３ｒ、３ｘから形成され、その配列構成は検査用回路Ｃと同様で、検査用回路Ａを形成する延長回路５ｅと５ｇ、５ｋと５ｍ、５ｑと５ｓ、５ｗと５ｙの結線に囲繞される延長回路５ｆ、５ｌ、５ｒ、５ｘの端部を検査用ランド６ｆ、６ｌ、６ｒ、６ｘとして、この検査用ランド６ｆ、６ｌ、６ｒを始点７ｆ、７ｌ、７ｒとし、検査用ランド６ｘを終点８ｘとし、他方の延長回路４ｆ、４ｌ、４ｒ、４ｘは、検査回路Ａ、Ｂの回路形成の外側で直列的に結線されて回路形成されている。
【００４５】
以上においては、基板材料１の片面にプリント基板回路３ａ、３ｂ・・・を形成した例で説明したが、これに限らず両面にプリント基板回路３ａ、３ｂ・・・形成したもの、あるいは、多層構造や部品実装用のプリント基板回路３ａ、３ｂ・・・をもつ基板材料１であっても、上記の検査用回路Ａ、Ｂ・・・が形成可能なであれば適用することができる。また、基板材料１から型抜きした後のプリント基板単体であっても、端子部に接続するコネクターなどに上記回路設定を行えば、同様に効率的な検査回路Ａ、Ｂ・・・を形成することができるものである。
【図面の簡単な説明】
【００４６】
【図１】 少なくとも２つの検査用回路を形成してなるプリント基板回路の電気的検査用回路を示す模式図である。
【図２】 同じく３つの検査回路を形成してなるプリント基板回路の電気的検査用回路を示す模式図である。
【図３】 同じく６つの検査回路を形成してなるプリント基板回路の電気てき検査用回路を示す模式図である。
【図４】 少なくとも２つの検査回路からなる検査回路群を形成してなるプリント基板回路の電気的検査用回路を示す模式図である。
【図５】 一つの検査用回路と残余のプリント基板回路に形成される検査用回路を含むプリント基板回路の電気的検査用回路形成を示す模式図である。
【図６】 同じく２つの検査用回路と残余のプリント基板回路に形成される検査用回路を含むプリント基板回路の電気的検査用回路を示す模式図。
【図７】 検査装置を示す略示図である。
【図８】 従来のプリント基板回路の電気てき検査用回路の一例を示す模式図である。
【符号の説明】
【００４７】
１ 基板材料
２ 基板材料１の余白部分
３、３ａ、３ｂ・・・３ｚ プリント基板回路
４、４ａ、４ｂ・・・４ｚ プリント基板回路３の一方の延長回路
５、５ａ、５ｂ・・・５ｚ プリント基板回路３の他方の延長回路
６、６ａ、６ｂ・・・６ｚ 検査用ランド
７、７ａ、７ｂ・・・７ｚ 起点
８、８ａ、８ｂ・・・８ｚ 終点
１０ 検査装置
１１ 検査用冶具
１２ 接触ピン
Ａ、Ｂ・・・Ｆ 検査回路
【技術分野】
【０００１】
本発明は、基板材料に各種の回路を形成したプリント基板回路の電気的検査を効率的に行うプリント基板回路の電気的検査用回路及びその形成方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、この種の基板材料に形成される各種のプリント基板回路に断線や混線等の不具合があると致命的欠陥となるため、その有無を可能な限り検査することが求められている。
【０００３】
このようなプリント基板回路の断線、混線の検査を電気的に行う方法や装置は、すでに種々なものが用いられているが、各プリント基板回路の端末に何らかの電気的接触を行わせて検査する方法が最も基本的で、プリント基板回路の使用実態に近く確実であるため多く用いられている。
【０００４】
この場合各種の回路を形成して型抜きされたプリント基板単体の段階で検査することもあるが、量産や検査効率の点から基板材料、すなわち、型抜きする前の回路形成された基板材料の段階で検査することが一般的に多く行われており、これらの検査は主として基板回路端末数に応じて接触ピンを設置した検査用冶具を有する検査装置が用いられ（図７参照）、これらの検査装置に回路を形成したプリント基板を電気的に接続して検査に供されている。
【０００５】
このような検査用冶具を用いた検査装置に供される複数の回路を形成したプリント基板は、そのプリント基板回路の端末を検査用ランドとするが、隣接する回路の端末の間隔が狭小の場合には、その狭い間隔に対応した接触ピンを検査用冶具に設けなければならず、図８に模式図として示すように、型抜き前の基板材料１の余白部分２にプリント基板回路３の端末を延出して延長回路４、５を形成し、その延長回路４、５の端部を検査用ランド６として、図７に示す検査用冶具１１に設けられている接触ピン１２相互の間隔を広げ、接触ピン１２の極小化をできるだけ防ごうとする方法が行われている。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかし、従来用いられているこれらの電気的手段による検査装置に用いられている検査用冶具は、近年プリント基板回路が精細化し、液晶用のプリント基板などにみられるように、回路端末の間隔が狭くなるにしたがって、接触ピンを極小化しなければならなくなり、このため検査用冶具の作製が困難となりかつ高額化を招いている。
【０００７】
このため、図８に示すように、基板材料１に形成される複数の基板回路３、３・・・の端末にそれぞれ長さの異なる延長回路４、５を延出して、その端部に形成される検査用ランド６の位置をずらして、接触ピン相互の間隔を広げる方法を採用しているが、検査に必要な接触ピンの使用個数は減らず、また、検査用ランド６を形成する基板材料１の余白に制限がある場合には、十分な検査用ランド６の間隔が確保できず、極小ピンの使用が不可欠となっていた。
【０００８】
本発明は、基板材料に形成されたプリント基板回路の検査において、このプリント基板回路の高精細化に伴って増加する接触ピンの使用を最小限に止め、かつ高額化する接触ピンの極小化を抑止して、プリント基板回路の回路検査における検査用冶具の作製を容易にすることを目的にするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明に係るプリント基板回路の電気的検査用回路は、基板材料に形成される複数のプリント基板回路の両方の端末から各々延長回路を延出し、このプリント基板回路の両端に設けられた延長回路を、隣接するプリント基板回路が別異の検査用回路を形成するように結線して、始端部とするプリント基板回路の延長回路を検査用ランドの起点とし、また、終端部とするプリント基板回路の延長回路を検査用ランドの終点として、検査用冶具に設けられる接触ピンと接触して、隣接するプリント基板回路が共働しない少なくとも二つ以上の別異の検査用回路を形成してなることを特徴とするものである。
【００１０】
さらに、本発明に係るプリント基板回路の電気的検査用回路の形成方法は、基板材料に形成されるプリント基板回路の両方の端末から各々延長回路を延出し、このプリント基板回路の両端に設けられた延長回路を、隣接しないひとつおきないしは複数個おきに他のプリント基板回路の端末の延長回路に結線し、プリント基板回路の他方の端末に設けられる延長回路を、同様に、隣接しないひとつおきないしは複数個おきに他のプリント基板回路の端末の延長回路に結線して、複数のプリント基板回路からなる一つの検査用回路を形成し、以下順次、隣接するプリント基板回路の延長回路を反復して結線して他の検査用回路を形成し、隣り合うプリント基板回路に形成される検査用回路が別異の検査用回路として、始端部とするプリント基板回路の延長回路を検査用ランドの起点とし、また、終端部とするプリント基板回路の延長回路を検査用ランドの終点として接触ピンと接触して、隣接するプリント基板回路が共働しない少なくとも二つ以上の別異の検査用回路を形成してなることを特徴とするものである。
【００１１】
さらに、プリント基板回路の電気的検査用回路の形成方法は、基板材料に形成される複数のプリント基板回路において、その略中間部分に位置するプリント基板回路の一方の端末から延出される延長回路の端末に形成される検査用ランドを起点とし、側端部分に位置するプリント基板回路の他方の端末から延出される延長回路の端末に形成される検査用ランドを終点として、複数の延長回路を一定の方向に結線して、複数のプリント基板回路に検査用回路を少なくとも二つ以上、隣接するプリント基板回路が同一の検査用回路とならないように形成してなることを特徴とするものである。
【００１２】
さらに、プリント基板回路の電気的検査用回路の形成方法は、基板材料に形成される複数のプリント基板回路において、基板材料の一側端部側に位置するプリント基板回路の一方の端末から延出される延長回路の端末を検査用ランドの起点とし、基板材料の反対側端部側に位置するプリント基板回路の端末から延出される延長回路の端末を検査用ランドの終点として、隣接するプリント基板回路を外してそれぞれのプリント基板回路の延長回路を結線して、一つの検査用回路を形成すると共に、この一つの検査用回路を形成しないプリント基板回路の端末に設けられる延長回路を、前記一つの検査回路を形成するプリント基板回路の延長回路の結線と交叉しないように結線して、他の検査用回路を形成してなることを特徴とするものである。
【００１３】
さらに、プリント基板回路の電気的検査用回路の形成方法は、隣接するプリント基板回路が共働しない少なくとも二つ以上の別異の検査用回路とする検査用回路群を、基板材料に形成される複数のプリント基板回路に並列状に形成してなることを特徴とするものである。
【発明の効果】
【００１４】
本発明に係るプリント基板回路の電気検査用回路及びその形成方法によれば、プリント基板回路から延出される延長回路を結線して検査に必要な検査用回路を形成することにより、検査用回路の数を減少して検査用冶具に取り付けられる接触ピンの数を減らすことができる。
【００１５】
さらに、検査用回路の両端に形成される検査用ランドの間隔を広げることが容易になり、プリント基板回路の精細化に伴う高価な極小ピンの使用度合いを減少し、かつ、検査用冶具を簡単容易に作製して、検査設備及び検査に掛かる費用を軽減することができる。
【００１６】
また、基板材料に形成される複数のプリント基板回路は、隣接するプリント基板回路が別の検査用回路となるように、その両端末から延出される延長回路で結線されるため、検査途中における断線および隣同士のプリント基板回路の混線を確実に検出することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下、本発明の実施の形態について添付図面に基づいて説明する。
添付図面において、図１ないし図６は、本発明に係るプリント基板回路の電気的検査用回路及びその形成方法を示す代表的な模式図であり、図７は電気検査装置を示す略示図である。
【００１８】
図１は本発明に係る電気的検査用回路の代表的な配列形態を模式図によって示すもので、基板材料１に形成される複数すなわち１６本のプリント基板回路３ａ、３ｂ・・・３ｐの両端末から余白部分２に延出される延長回路４ａ、４ｂ・・・４ｐおよび５ａ、５ｂ・・・５ｐを直列的に結線して、隣接するプリント基板回路３ａ、３ｂが共働しない少なくとも二列の別異の検査用回路Ａ、Ｂを形成してなるものである。
【００１９】
すなわち、複数のプリント基板回路３ａ、３ｂ・・・３ｐは、その両方の端末から適宜の長さを有する延長回路４ａ、４ｂ・・・４ｐおよび５ａ、５ｂ・・・５ｐを延出して、隣接しないひとつおきのプリント基板回路３ａ、３ｃ・・・３ｏの一方の端末に延出された延長回路４ａ、４ｃ・・・４ｏを結線して接続し、さらに、プリント基板回路３ａ、３ｃ・・・３ｏの他方の端末に延出される延長回路５ａ、５ｃ・・・５ｏも、同様に、隣接しないひとつおきのプリント基板回路３ａ、３ｃ・・・３ｏの他方の端末に設けられた延長回路５ａ、５ｃ・・・５ｏを結線し接続して一つのループ状の検査用回路Ａを形成する。
【００２０】
この検査用回路Ａを形成するプリント基板回路３ａ、３ｃ・・・３ｏは、中間部分に位置するプリント基板回路３ｉの延長回路４ｉの端部に形成される検査用ランド６ｉをその起点７ｉとし、基板材料１の側端側、すなわち図面において、上側端側に位置するプリント基板回路３ａの延長回路４ａの端部の検査用ランド６ａを終点８ａとするものである。
【００２１】
さらに、検査用回路Ａを形成しないプリント基板回路３ｂ、３ｄ・・・３ｐの両端末に各々に設けられた延長回路４ｂ、４ｄ・・・４ｐおよび５ｂ、５ｅ・・・５ｐを同様直列状に結線して接続し、隣接するプリント基板回路３ａ、３ｃ・・・３ｏと共働しない別異のループ状の検査用回路Ｂを形成する。
【００２２】
この検査用回路Ｂを形成するプリント基板回路３ｂ、３ｄ・・・３ｐは、中間部分に位置するプリント基板回路３ｈの延長回路４ｈの端部に形成される検査用ランド６ｈをその起点７ｈとし、基板材料１の側端側すなわち図面において、下側端側に位置するプリント基板回路３ｐの延長回路４ｐの端部の検査用ランド６ｐを終点８ｐとするものである。
【００２３】
なお、検査用回路Ａにおいて中間部分に位置するプリント基板回路３ｉの検査用ランド６ｉをその起点７ｉとし、上側端側に位置するプリント基板回路３ａの検査用ランド６ａを終点８ａとして説明したが、この上側端側に位置するプリント基板回路３ａの検査用ランド６ａを始点とし、中間部分に位置するプリント基板回路３ｉの検査用ランド６ｉをその終点７ｉとするものでもよく、検査用回路Ｂにおいても同様である。
【００２４】
また、プリント基板回路３ａ、３ｂ・・・３ｐの両端末から延出される延長回路４ａ、４ｂ・・・４ｐおよび５ａ、５ｂ・・・５ｐは、検査用ランド６ａ、６ｈ、６ｉ、６ｐを形成する延長回路４ａ、４ｉ、５ｈ、５ｐを除いて、その起点７ｈ、７ｉとなる延長回路４ｉ、５ｈより長く延出されて囲繞するように直列状に結線して連結される。
【００２５】
なお、略中間に隣接して位置するプリント基板回路３ｈ、３ｉの延長回路５ｈ、４ｉに形成される検査用ランド６の起点７は並列せずに、対角状、すなわち反対端側の延長回路５ｈ、４ｉとする。
【００２６】
上記のように隣接するプリント基板回路３ａと３ｂ、３ｂと３ｃ・・・が共働しない少なくとも二つの別異の検査回路Ａ、Ｂを形成したプリント基板回路３ａ、３ｂ・・・３ｐは、図７に示すように、検査装置１０の検査用冶具１１の下板にセッティングされて、複数の検査用ランド６、６・・・を検査用冶具１１の上板に対応して設けられる複数の接触ピン１２、１２・・・と接触させて電気的に接続されて検査に供されるものである。
【００２７】
図２に示すプリント基板回路の電気的検査用回路の模式図は、複数すなわち１７本のプリント基板回路３ａ、３ｂ・・・３ｐにおいて、隣接するプリント基板回路３ａと３ｂと３ｃ・・・が共働しない少なくとも三つの別異の渦巻状の検査用回路Ａ、Ｂ、Ｃを形成した例で、この場合においては、６本のプリント基板回路３ａ、３ｄ、３ｇ、３ｊ、３ｍ、３ｐからなる検査用回路Ａと、５本のプリント基板回路３ｂ、３ｅ、３ｈ、３ｌ、３ｏからなる検査用回路Ｂと、６本のプリント基板回路３ｃ、３ｆ、３ｉ、３ｋ、３ｎ、３ｑからなる検査用回路Ｃが形成されている。
【００２８】
検査用回路Ａを形成するプリント基板回路３ａ、３ｄ、３ｇ、３ｊ、３ｍ、３ｐは、その中間に位置するプリント基板回路３ｊの延長回路４ｊに形成される検査用ランド６ｊを起点７ｊとして、また、図示において、上側端側に位置されるプリント基板回路３ａの延長回路４ａの端部に形成される検査用ランド６ａを終点８ａとしている。
【００２９】
また、検査用回路Ｂを形成するプリント基板回路３ｂ、３ｅ、３ｈ、３ｌ、３ｏは、検査用回路Ａの起点７ｊとは反対側に、その中間に位置するプリント基板回路３ｈの延長回路５ｈに形成される検査用ランド６ｈを起点７ｈとして、また、上側端側に位置されるプリント基板回路３ｂの延長回路４ｂの端部に形成される検査用ランド６ｂを終点８ｂとしている。
【００３０】
さらに、検査用回路Ｃを形成するプリント基板回路３ｃ、３ｆ、３ｉ、３ｋ、３ｎ、３ｑは、検査用回路Ｂの起点７ｈと並列するように、その中間に位置するプリント基板回路３ｉの延長回路５ｉに形成される検査用ランド６ｉを起点７ｉとして、下側端側に位置されるプリント基板回路３ｑの延長回路５ｑの端部に形成される検査用ランド６ｑを終点８ｑとしている。
【００３１】
このように隣接するプリント基板回路を同一の検査用回路としない３列の検査用回路Ａ、Ｂ、Ｃはその起点７ｈ、７ｉ、７ｊは同一端末側の延長回路４ｈ、４ｉ、４ｊおよび５ｈ、５ｉ、５ｊに並列せず、いずれか２つを反対端側すなわち対角状に位置させ、また、並列する起点７ｈと７ｉおよび終点８ａ、８ｂは延長回路５ｈと５ｉ、４ａと４ｂはその長さを変えて、その検査用ランド６ａと６ｂ、６ｈと６ｉを相互に余裕ある間隔を得ることができ、また、接触ピン１２の極小化を防ぐことができるものである。
【００３２】
図３に示すプリント基板回路の電気的検査用回路の模式図は、複数すなわち１９本のプリント基板回路３ａ、３ｂ・・・３ｓにおいて、隣接するプリント基板回路３ａ、３ｂ、３ｃ・・・３ｓがそれぞれ共働しない６列の別異の検査用回路Ａ、Ｂ・・・Ｆを形成した配列例で、この場合においては、４本のプリント基板回路３ａ、３ｇ、３ｉ、３ｑからなる検査用回路Ａと、３本のプリント基板回路３ｂ、３ｈ、３ｐからなる検査用回路Ｂと、３本のプリント基板回路３ｃ、３ｊ、３ｏからなる検査用回路Ｃ、３本のプリント基板回路３ｄ、３ｌ、３ｎからなる検査用回路Ｄ、３本のプリント基板回路３ｆ、３ｋ、３ｒからなる検査用回路Ｅ、また、３本のプリント基板回路３ｅ、３ｍ、３ｓからなる検査用回路Ｆがそれぞれ形成されている。
【００３３】
検査用回路Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄは、基板材料１の上端側に位置する４本のプリント基板回路３ａ、３ｂ、３ｃ、３ｄの延長回路５ａ、５ｂ、５ｃ、５ｄの端部に形成される検査用ランド６ａ、６ｂ、６ｃ、６ｄを終点８ａ、８ｂ、８ｃ、８ｄとし、また、検査用回路Ｅ、Ｆは、基板材料１の下端側に位置する２本のプリント基板回路３ｒ、３ｓの延長回路４ｒ、４ｓを終点８ｒ、８ｓとして、それぞれの検査用回路Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆの始点７ｈ、７ｉ、７ｊ、７ｋ、７ｌ、７ｍは、隣接するプリント基板回路に形成される検査用ランド６ｈ、６ｊ、６ｌと６ｉ、６ｋ、６ｍの位置を反対側として、他の検査用回路に形成される延長回路の結線が間に介在するように配列されているものである。
【００３４】
図４に示すプリント基板回路の電気的検査用回路の模式図は、図１に示す少なくとも二つの別異の検査回路ＡとＢ、ＣとＤ、ＥとＦをそれぞれ１単位とする３つの検査回路群を、基板材料１に形成されている２６本のプリント基板回路３ａ、３ｂ、３ｃ…３ｚ上に形成してなるもので、４本のプリント基板回路３ａ、３ｃ、３ｅ、３ｇからなる検査用回路Ａと、同様４本のプリント基板回路３ｂ、３ｄ、３ｆ、３ｈからなる検査用回路Ｂを、隣接するプリント基板回路３ａと３ｂ・・・が同一の検査用回路を形成しないように結線して一つの検査用回路群を形成し、以下同様にして他の検査用回路群を形成する。この実施態様においては、３つの検査用回路群が形成されている。なお、このような配列構成は、基板材料１に十分な延長回路４ａ・・・、５ａ・・・を形成するための余白部分２が少ない場合等に有効な配列構成である。
【００３５】
この配列態様においては２４本のプリント基板回路３ａ、３ｂ、３ｃ…３ｘにより３つの検査用回路群が形成され、プリント基板回路３ｙ、３ｚが余るが、この残余のプリント基板回路３ｙ、３ｚは延長回路４ｙ、４ｚ、５ｙ、５ｚを結線せずに、それぞれ検査用ランド６ｙ、６ｚを形成して一方を始点７ｙ、７ｚとし、他方を終点８ｙ、８ｚとして単独の検査用回路Ｇ、Ｈを形成するもので、この場合検査用ランド６ｙ、６ｚが並列して近接しないように延長回路４ｙ、４ｚおよび５ｙ、５ｚの延長長さを変え、あるいは、いずれかを折曲して検査用ランドに間隔を取ることが望ましい。
【００３６】
図５に示すプリント基板回路の電気的検査用回路形成の模式図は、基板材料１の上端側に形成されるプリント基板回路３ａ、３ｂ・・・から、隣接するプリント基板回路３ｂ・・・を除いて、下端側までのプリント基板回路３ｋを結線して、ひとつの検査用回路Ａを形成し、その残余のプリント基板回路３ｂ、３ｄ・・・を用いて別異の検査用回路Ｂ、Ｃを形成した配列例を示すものである。
【００３７】
検査用回路Ａは、複数すなわち１１本のプリント基板回路の３ａ、３ｂ、３ｃ…３ｋの上側端部側に位置するプリント基板回路３ａの一方の端末に延出される延長回路５ａの端末を検査用ランド６ａの起点７ａとし、下端側に位置するプリント基板回路３ｋの端末に延出される延長回路５ｋの検査用ランド６ｋを終点８ｋとして、隣接しない６本のプリント基板回路３ａ、３ｃ、３ｅ、３ｇ、３ｉ、３ｋの延長回路４ａ、４ｃ、４ｅ、４ｇ、４ｉ、４ｋおよび５ａ、５ｃ、５ｅ、５ｇ、５ｉ、５ｋを直列的に結線して回路形成される。
【００３８】
また、この検査用回路Ａに含まれない３本のプリント基板回路３ｂ、３ｆ、３ｊによって検査用回路Ｂを形成するもので、この検査用回路Ｂは、検査用回路Ａを形成するよう結線された延長回路４ａと４ｃ、４ｅと４ｇ、４ｉと４ｋに囲繞される延長回路４ｂ、４ｆ、４ｊの端部に検査用ランド６ｂ、６ｆ、６ｊを形成し、そのうちに２つを起点７ｂ、７ｆとし、残余の検査用ランド６ｊを終点８ｊとし、反対端に形成される延長回路５ｂ、５ｆ、５ｊは、検査用回路Ａを形成するプリント基板回路３ｃと３ｅ、３ｇと３ｉの延長回路５ｃと５ｅ、５ｇと５ｉの結線の外側で直列的に結線される。
【００３９】
さらに、この二つの検査回路Ａ、Ｂを形成しない残余のプリント基板回路３ｄ、３ｈは、その一方の延長回路４ｄ、４ｈを、検査用回路Ａを形成するよう結線された延長回路４ｅ、４ｇを跨架して結線され、プリント基板回路３ｄの延長回路５ｄに形成される検査用ランド６ｄを起点７ｄとし、プリント基板回路３ｈの延長回路５ｈに形成される検査用ランド６ｈを終点８ｈとする検査回路Ｃを形成してなるものである。
【００４０】
図６は、図５に示すプリント基板回路の電気検査用回路形成において、基板材料１に２６本のプリント基板回路３ａ、３ｂ・・・３ｚが形成されているもので、その上端側から下端側に連続し、かつ隣接するプリント基板回路を別の検査用回路とする長い検査用回路Ａ、Ｂを形成し、この検査用回路Ａ、Ｂを構成しないプリント基板回路からなる二つの別異の検査用回路Ｃ、Ｄを形成してなる配列例である。
【００４１】
検査用回路Ａを形成する９本のプリント基板回路３ａ、３ｅ、３ｇ、３ｋ、３ｍ、３ｑ、３ｓ、３ｗ、３ｙは、一端側の２本の延長回路４ａと４ｅ，４ｇと４ｋ、４ｍと４ｑ、４ｓと４ｗおよび他端側の２本の延長回路５ｅと５ｇ、５ｋと５ｍ、５ｑと５ｓ、５ｗと５ｙとを直列的に結線して、プリント基板回路３ａの延長回路５ａの端部の検査用ランド６ａを起点７ａとし、プリント基板回路３ｙの延長回路４ｙの端部の検査用ランド６ｙを終点８ｙとして回路形成される。
【００４２】
検査用回路Ｂを形成する９本のプリント基板回路３ｂ、３ｄ、３ｈ、３ｊ、３ｎ、３ｐ、３ｔ、３ｖ、３ｚは、上記検査用回路Ａに平行するように略同様に配列結線されるもので、一端側の２本の延長回路４ｂと４ｄ，４ｈと４ｊ、４ｎと４ｐ、４ｔと４ｖおよび他端側の２本の延長回路５ｄと５ｈ、５ｊと５ｎ、５ｐと５ｔ、５ｖと５ｚとを直列的に結線して、プリント基板回路３ｂの延長回路５ｂの端部の検査用ランド６ｂを起点７ｂとし、プリント基板回路３ｚの延長回路４ｚの端部の検査用ランド６ｚを終点６ｚとして回路形成される。
【００４３】
検査用回路Ｃは、４本のプリント基板回路３ｃ、３ｉ、３ｏ、３ｕから形成され、検査用回路Ｂを形成する延長回路４ｂと４ｄ，４ｈと４ｊ、４ｎと４ｐ、４ｔと４ｖの結線に囲繞される延長回路４ｃ、４ｉ、４ｏ、４ｕの端部を検査用ランド６ｃ、６ｉ、６ｏ、６ｕとして、この検査用ランド６ｃ、６ｉ、６ｏを始点７ｃ、７ｉ、７ｏとし、検査用ランド６ｕを終点８ｕとし、他方の延長回路５ｃ、５ｉ、５ｏ、５ｕは、検査用回路Ａ、Ｂの回路形成の外側で直列的に結線されて回路形成されている。
【００４４】
検査用回路Ｄは、４本のプリント基板回路３ｆ、３ｌ、３ｒ、３ｘから形成され、その配列構成は検査用回路Ｃと同様で、検査用回路Ａを形成する延長回路５ｅと５ｇ、５ｋと５ｍ、５ｑと５ｓ、５ｗと５ｙの結線に囲繞される延長回路５ｆ、５ｌ、５ｒ、５ｘの端部を検査用ランド６ｆ、６ｌ、６ｒ、６ｘとして、この検査用ランド６ｆ、６ｌ、６ｒを始点７ｆ、７ｌ、７ｒとし、検査用ランド６ｘを終点８ｘとし、他方の延長回路４ｆ、４ｌ、４ｒ、４ｘは、検査回路Ａ、Ｂの回路形成の外側で直列的に結線されて回路形成されている。
【００４５】
以上においては、基板材料１の片面にプリント基板回路３ａ、３ｂ・・・を形成した例で説明したが、これに限らず両面にプリント基板回路３ａ、３ｂ・・・形成したもの、あるいは、多層構造や部品実装用のプリント基板回路３ａ、３ｂ・・・をもつ基板材料１であっても、上記の検査用回路Ａ、Ｂ・・・が形成可能なであれば適用することができる。また、基板材料１から型抜きした後のプリント基板単体であっても、端子部に接続するコネクターなどに上記回路設定を行えば、同様に効率的な検査回路Ａ、Ｂ・・・を形成することができるものである。
【図面の簡単な説明】
【００４６】
【図１】 少なくとも２つの検査用回路を形成してなるプリント基板回路の電気的検査用回路を示す模式図である。
【図２】 同じく３つの検査回路を形成してなるプリント基板回路の電気的検査用回路を示す模式図である。
【図３】 同じく６つの検査回路を形成してなるプリント基板回路の電気てき検査用回路を示す模式図である。
【図４】 少なくとも２つの検査回路からなる検査回路群を形成してなるプリント基板回路の電気的検査用回路を示す模式図である。
【図５】 一つの検査用回路と残余のプリント基板回路に形成される検査用回路を含むプリント基板回路の電気的検査用回路形成を示す模式図である。
【図６】 同じく２つの検査用回路と残余のプリント基板回路に形成される検査用回路を含むプリント基板回路の電気的検査用回路を示す模式図。
【図７】 検査装置を示す略示図である。
【図８】 従来のプリント基板回路の電気てき検査用回路の一例を示す模式図である。
【符号の説明】
【００４７】
１ 基板材料
２ 基板材料１の余白部分
３、３ａ、３ｂ・・・３ｚ プリント基板回路
４、４ａ、４ｂ・・・４ｚ プリント基板回路３の一方の延長回路
５、５ａ、５ｂ・・・５ｚ プリント基板回路３の他方の延長回路
６、６ａ、６ｂ・・・６ｚ 検査用ランド
７、７ａ、７ｂ・・・７ｚ 起点
８、８ａ、８ｂ・・・８ｚ 終点
１０ 検査装置
１１ 検査用冶具
１２ 接触ピン
Ａ、Ｂ・・・Ｆ 検査回路
【特許請求の範囲】
【請求項１】
基板材料に形成される複数のプリント基板回路の両方の端末から各々延長回路を延出し、このプリント基板回路の両端に設けられた延長回路を、隣接するプリント基板回路が別異の検査用回路を形成するように結線して、始端部とするプリント基板回路の延長回路を検査用ランドの起点とし、また、終端部とするプリント基板回路の延長回路を検査用ランドの終点として、検査用冶具に設けられる接触ピンと接触して、隣接する基板材料のプリント基板回路が共働しない少なくとも二つ以上の別異のループ状の検査回路を形成してなることを特徴とするプリント基板回路の電気的検査用回路。
【請求項２】
基板材料に形成されるプリント基板回路の両方の端末から各々延長回路を延出し、
このプリント基板回路の両端に設けられた延長回路を、隣接しないひとつおきないしは複数個おきに他のプリント基板回路の端末の延長回路に直列に結線し、
プリント基板回路の他方の端末に設けられる延長回路を、同様に、隣接しないひとつおきないしは複数個おきの他のプリント基板回路の端末の延長回路に直列に結線して複数のプリント基板回路からなる一つの検査用回路を形成し、
以下順次、隣接するプリント基板回路の延長回路を反復して直列に結線して、他の検査用回路を形成し、隣り合うプリント基板回路に形成される検査用回路が別異の検査用回路として、
始端部とするプリント基板回路の延長回路を検査用ランドの起点とし、また、終端部とするプリント基板回路の延長回路を検査用ランドの終点として、
プリント基板の基板回路に少なくとも二つ以上の別異の検査用回路を形成してなることを特徴とするプリント基板回路の電気的検査用回路の形成方法。
【請求項３】
基板材料に形成される複数のプリント基板回路において、その略中間部分に位置するプリント基板回路の一方の端末から延出される延長回路の端末に形成される検査用ランドを起点とし、側端部分に位置するプリント基板回路の他方の端末から延出される延長回路の端末に形成される検査用ランドを終点として、複数の延長回路を一定の方向に結線して、複数のプリント基板回路に検査用回路を少なくとも二つ以上、隣接するプリント基板回路が同一の検査用回路とならないように形成してなる請求項２記載のプリント基板回路の電気的検査用回路の形成方法。
【請求項４】
基板材料に形成される複数のプリント基板回路において、基板材料の一側端部側に位置するプリント基板回路の一方の端末から延出される延長回路の端末の検査用ランドを起点とし、基板材料の反対側端部側に位置するプリント基板回路の端末から延出される延長回路の端末の検査用ランドを終点として、隣接するプリント基板回路を外してそれぞれのプリント基板回路の延長回路を結線して、一つの検査用回路を形成すると共に、この一つの検査用回路を形成しない他のプリント基板回路の端末に設けられる延長回路を、前記一つの検査用回路を形成するプリント基板回路の延長回路の結線と交叉しないように結線して、他の検査用回路を形成してなる請求項２記載のプリント基板回路の電気的検査用回路の形成方法。
【請求項５】
隣接するプリント基板回路が共働しない少なくとも二つ以上の別異の検査用回路とする検査用回路群を、基板材料に形成される複数のプリント基板回路に並列状に形成してなる請求項２記載のプリント基板回路の電気検査用回路の形成方法。
【請求項１】
基板材料に形成される複数のプリント基板回路の両方の端末から各々延長回路を延出し、このプリント基板回路の両端に設けられた延長回路を、隣接するプリント基板回路が別異の検査用回路を形成するように結線して、始端部とするプリント基板回路の延長回路を検査用ランドの起点とし、また、終端部とするプリント基板回路の延長回路を検査用ランドの終点として、検査用冶具に設けられる接触ピンと接触して、隣接する基板材料のプリント基板回路が共働しない少なくとも二つ以上の別異のループ状の検査回路を形成してなることを特徴とするプリント基板回路の電気的検査用回路。
【請求項２】
基板材料に形成されるプリント基板回路の両方の端末から各々延長回路を延出し、
このプリント基板回路の両端に設けられた延長回路を、隣接しないひとつおきないしは複数個おきに他のプリント基板回路の端末の延長回路に直列に結線し、
プリント基板回路の他方の端末に設けられる延長回路を、同様に、隣接しないひとつおきないしは複数個おきの他のプリント基板回路の端末の延長回路に直列に結線して複数のプリント基板回路からなる一つの検査用回路を形成し、
以下順次、隣接するプリント基板回路の延長回路を反復して直列に結線して、他の検査用回路を形成し、隣り合うプリント基板回路に形成される検査用回路が別異の検査用回路として、
始端部とするプリント基板回路の延長回路を検査用ランドの起点とし、また、終端部とするプリント基板回路の延長回路を検査用ランドの終点として、
プリント基板の基板回路に少なくとも二つ以上の別異の検査用回路を形成してなることを特徴とするプリント基板回路の電気的検査用回路の形成方法。
【請求項３】
基板材料に形成される複数のプリント基板回路において、その略中間部分に位置するプリント基板回路の一方の端末から延出される延長回路の端末に形成される検査用ランドを起点とし、側端部分に位置するプリント基板回路の他方の端末から延出される延長回路の端末に形成される検査用ランドを終点として、複数の延長回路を一定の方向に結線して、複数のプリント基板回路に検査用回路を少なくとも二つ以上、隣接するプリント基板回路が同一の検査用回路とならないように形成してなる請求項２記載のプリント基板回路の電気的検査用回路の形成方法。
【請求項４】
基板材料に形成される複数のプリント基板回路において、基板材料の一側端部側に位置するプリント基板回路の一方の端末から延出される延長回路の端末の検査用ランドを起点とし、基板材料の反対側端部側に位置するプリント基板回路の端末から延出される延長回路の端末の検査用ランドを終点として、隣接するプリント基板回路を外してそれぞれのプリント基板回路の延長回路を結線して、一つの検査用回路を形成すると共に、この一つの検査用回路を形成しない他のプリント基板回路の端末に設けられる延長回路を、前記一つの検査用回路を形成するプリント基板回路の延長回路の結線と交叉しないように結線して、他の検査用回路を形成してなる請求項２記載のプリント基板回路の電気的検査用回路の形成方法。
【請求項５】
隣接するプリント基板回路が共働しない少なくとも二つ以上の別異の検査用回路とする検査用回路群を、基板材料に形成される複数のプリント基板回路に並列状に形成してなる請求項２記載のプリント基板回路の電気検査用回路の形成方法。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【公開番号】特開２００７−４３０２４（Ｐ２００７−４３０２４Ａ）
【公開日】平成１９年２月１５日（２００７．２．１５）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００５−２４３３８３（Ｐ２００５−２４３３８３）
【出願日】平成１７年７月２９日（２００５．７．２９）
【出願人】（５０３３２０７２８）
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成１９年２月１５日（２００７．２．１５）
【国際特許分類】
【出願日】平成１７年７月２９日（２００５．７．２９）
【出願人】（５０３３２０７２８）
【Ｆターム（参考）】
[ Back to top ]