検査用プローブおよび電気光学装置の製造方法
【課題】 コネクタを嵌合せずに電子機器の検査を行うことができる検査用プローブを提供すること。
【解決手段】 本発明は、被検査部と検査機器とを電気的に接続するための検査用プローブであって、互いに側部を向き合わせた状態で揺動可能な２本のアーム部と、前記２本のアーム部の相互に向き合った側部及び前記側部の反対側の側部の少なくとも一方に設けられたコンタクト部と、前記コンタクト部の表面に形成された導電性材料部と、前記２本のアーム部の相互に向き合った側部に形成されたアーム側カム部と、前記被検査部によって端部が押されることにより、前記２本のアーム部間に挟まれた経路に沿って移動するように支持された棒状の芯部と、前記芯部の側部に設けられ、前記芯部の前記経路に沿った移動の過程において前記２本のアームのカム部と当接し、前記２本のアーム間の距離を変化させる芯側カム部とを有する、電子機器の検査用プローブを提供する。
【解決手段】 本発明は、被検査部と検査機器とを電気的に接続するための検査用プローブであって、互いに側部を向き合わせた状態で揺動可能な２本のアーム部と、前記２本のアーム部の相互に向き合った側部及び前記側部の反対側の側部の少なくとも一方に設けられたコンタクト部と、前記コンタクト部の表面に形成された導電性材料部と、前記２本のアーム部の相互に向き合った側部に形成されたアーム側カム部と、前記被検査部によって端部が押されることにより、前記２本のアーム部間に挟まれた経路に沿って移動するように支持された棒状の芯部と、前記芯部の側部に設けられ、前記芯部の前記経路に沿った移動の過程において前記２本のアームのカム部と当接し、前記２本のアーム間の距離を変化させる芯側カム部とを有する、電子機器の検査用プローブを提供する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子機器の検査に好適なプローブおよびその検査プローブを用いた検査工程を含む、電気光学装置の製造方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、液晶パネルやＥＬ（Electro-Luminescence）パネルに代表される電気光学装置が広く普及している。この種の電気光学装置においては、液晶などの電気光学物質を保持するためのパネル基板の面上に、当該電気光学物質に対して電圧を印加するための電極が形成された構成が一般的である。さらに、これらの電極に対して外部から制御信号を供給するために、当該パネル基板の面上にＦＰＣ（Flexible Printed Circuit）などの配線基板が実装された構成も知られている。
【０００３】
このような電気光学装置の製造工程において、配線の断線や短絡といった不具合の発生を完全に排除することは極めて困難であり、ある程度の確率でこれらの欠陥が発生してしまうのは避けられないのが現状である。このため、製造後の電気光学パネルについて欠陥の有無を検査する必要がある。このような検査の方法として、従来から、電気光学パネルによって表示された所定のテストパターンを観察することによって、各画素が正常に点灯するか否かを判定する方法（いわゆる点灯検査）が知られている。この種の点灯検査の手順について一例を挙げると、以下の通りである（特許文献１、２参照）。
【特許文献１】特開２００３−１３０９０６号公報
【特許文献２】特開平１０−１８６３９３号公報
【０００４】
まず、上記配線基板の面上に設けられたコネクタ（以下、「パネル側コネクタ」という）に対して検査用のコネクタ（以下、「検査用コネクタ」という）を嵌合させる。次に、検査装置から当該検査用コネクタおよびパネル側コネクタを介して、検査対象たる電気光学パネルに検査信号を供給する。この検査信号は、電気光学パネルが所定のテストパターンの表示を行なうように予めその内容が決定された信号である。そして、電気光学パネルに表示されたテストパターンを観察することによって当該電気光学パネルの良否を判定する。この良否判定のあと、検査用コネクタをパネル側コネクタから取り外す。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、パネル側コネクタから検査用コネクタを取り外すために検査用コネクタに力を加えると、パネル側コネクタと配線基板との接合部分にも力が作用し、この結果としてパネル側コネクタが配線基板から剥がれてしまう場合がある。あるいは、パネル側コネクタが剥がれないまでも、パネル用コネクタの金属配線（電極）が剥がれてしまう場合もある。この場合、テストパターンを表示させて良否判定を行なう段階まではパネル側コネクタが配線基板に対して適正に実装されているにもかかわらず、その後にパネル側コネクタの剥離が発生することとなる。したがって、上述した点灯検査によってはかかる剥離を発見することはできず、検査結果の妥当性に重大な影響を及ぼすこととなる。これらの問題は、上述した電気光学パネルのみにおいて生ずるものではなく、検査に際して検査用コネクタが接続されるコネクタを配線基板上に備えた、全ての電子機器において同様に生じ得る問題である。
【０００６】
本発明は、以上の事情に鑑みてなされたものであり、コネクタを嵌合せずに電子機器の検査を行うことができる検査用プローブを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上述の課題を解決するため、本発明は、被検査部と検査機器とを電気的に接続するための検査用プローブであって、互いに側部を向き合わせた状態で揺動可能な２本のアーム部と、前記２本のアーム部の相互に向き合った側部及び前記側部の反対側の側部の少なくとも一方に設けられたコンタクト部と、前記コンタクト部の表面に形成された導電性材料部と、前記２本のアーム部の相互に向き合った側部に形成されたアーム側カム部と、前記被検査部によって端部が押されることにより、前記２本のアーム部間に挟まれた経路に沿って移動するように支持された棒状の芯部と、前記芯部の側部に設けられ、前記芯部の前記経路に沿った移動の過程において前記２本のアームのカム部と当接し、前記２本のアーム間の距離を変化させる芯側カム部とを有する、電子機器の検査用プローブを提供する。この検査用プローブによれば、コネクタを嵌合せずに電子機器の検査を行うことができる。
また、本発明は、凹部を有する被検査部と検査機器とを電気的に接続するための検査用プローブであって、互いに側部を向き合わせた状態で揺動可能であり、その先端が前記凹部に収容される２本のアーム部と、前記２本のアーム部の相互に向き合った側部及び前記側部の反対側の側部の少なくとも一方に設けられたコンタクト部と、前記コンタクト部の表面に形成された導電性材料部と、前記２本のアーム部の相互に向き合った側部の裏側に形成されたアーム側カム部と、前記２本のアーム部に挿入され、前記２本のアーム部に沿った移動の過程において前記２本のアームのアーム側カム部と当接し、前記２本のアーム間の距離を変化させるリング部とを有する、電子機器の検査用プローブを提供する。この検査用プローブによれば、メスコネクタを有する電子機器に対してコネクタを嵌合せずに検査を行うことができる。
また、本発明は、被検査部と検査機器との電気的接続を確立するための検査用プローブであって、互いに側部を向き合わせた状態で揺動可能な２本のアーム部と、前記２本のアーム部の相互に向き合った側部及び前記側部の反対側の側部の少なくとも一方に設けられたコンタクト部と、前記コンタクト部の表面に形成された導電性材料部と、前記２本のアーム部間の所定の位置に固定された回転軸を有し、該回転軸を中心とした回転により前記２本のアームのカム部と当接し、前記２本のアーム間の距離を変化させる回転カム部とを有する、電子機器の検査用プローブを提供する。この検査用プローブによれば、コネクタを嵌合せずに電子機器の検査を行うことができる。
さらに、本発明は、配線基板と電気光学パネルとを有する電気光学装置の製造方法であって、請求項１〜３のいずれかの項に記載の検査用プローブを用いて前記電気光学パネルの検査を行う検査工程と、前記検査工程後に前記配線基板の電気光学パネル実装面の端面にモールド材を塗布するモールド材塗布工程とを有する、電気光学装置の製造方法を提供する。この製造方法によれば、検査工程においてコネクタを嵌合せずに電子機器の検査を行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００８】
以下、図面を参照して本発明の一実施形態について説明する。本実施形態では、液晶パネルの点灯検査について説明するが、本発明の検査対象は液晶パネルに限られるものではなく、あらゆる電子機器に適用可能である。また、検査の内容も点灯検査に限られるものではなく、検査対象電子機器に外部から信号を供給して行う検査であれば、いかなる検査にも適用可能である。
【０００９】
＜Ａ．液晶パネルの構成＞
図１は、本実施形態に係る液晶パネル１の全体構成を示す平面図であり、図２は、図１におけるＡ−Ａ’線からみた液晶パネル１の断面図である。
図１および図２に示すように、液晶パネル１は、長方形の枠状に形成されたシール材１３を介して背面側基板１１と観察側基板１２とが貼り合わされるとともに、両基板とシール材１３とによって囲まれた領域に、ＴＮ（Twisted Nematic）型などの液晶１４が封入された構成となっている。背面側基板１１および観察側基板１２は、ガラスや石英、プラスチックなどの光透過性を有する板状部材である。このうち背面側基板１１は、観察側基板１２の縁辺から張り出した領域（すなわち、観察側基板１２と対向しない領域である。以下、「張出領域」という）１１ａを有する。張出領域１１ａには、当該液晶パネル１を駆動するためのドライバＩＣ１５がＣＯＧ（Chip On Glass）技術を用いて実装されている。さらに、張出領域１１ａの縁辺近傍には、ＦＰＣ（Flexible Printed Circuit）２が接合されている。なお、液晶パネル１が携帯電話機などの電子機器に搭載される場合、ＦＰＣ２は、図２に示すように、当該液晶パネル１の背面側に折り曲げられることとなる。ただし、図１においては、ＦＰＣ２が折り曲げられる前の状態が示されている。また、液晶パネル１の背面側（より詳細には、折り曲げられたＦＰＣ２と液晶パネル１の背面側基板１１との間）には、当該液晶パネル１に対して光を照射するバックライトユニットが配置されるが、図示は省略されている。かかる構成の下、バックライトユニットによる照射光が背面側基板１１、液晶１４および観察側基板１２を透過して観察者に視認される。
【００１０】
背面側基板１１の内側（液晶１４側）表面には、図１に示すＹ方向に延在する複数のセグメント電極１１１が形成されている。このセグメント電極１１１は、例えばＩＴＯ（Indium Tin Oxide）などの透明導電材料によって形成された電極である。なお、図１においては、図面が煩雑になるのを防ぐため、各セグメント電極１１１は１本の直線として図示されているが、実際のセグメント電極１１１は、所定の幅を有する帯状の電極である（後述するコモン電極１２１についても同様である）。
【００１１】
各セグメント電極１１１は、背面側基板１１上において、観察側基板１２と対向する領域（シール枠内の領域）から張出領域１１ａ（シール枠外の領域）に至るとともに、その端部がドライバＩＣ１５の出力側バンプ１５ａ（突起電極）に接続される。より具体的には、図２に示すように、ドライバＩＣ１５が背面側基板１１上に接着剤１６１を介して接合された状態において、ドライバＩＣ１５の出力端子に形成された出力側バンプ１５ａとセグメント電極１１１の端部とが、当該接着剤１６１中に分散された導電性粒子１６２を介して導通される。
【００１２】
一方、観察側基板１２の内側表面のうち背面側基板１１と対向する領域には、セグメント電極１１１と直行する方向（すなわち図１に示すＸ方向）に延在する複数のコモン電極１２１が形成されている。各コモン電極１２１は、ＩＴＯなどの透明導電材料によって形成された帯状の電極である。セグメント電極１１１は、観察側基板１２のうち張出領域１１ａに接する縁辺近傍に引き出されるとともに、その端部が、観察側基板１２のうちシール材１３の形成された部分に至るようになっている。そして、この端部は、当該シール材１３に分散された導電性粒子（図示略）を介して、背面側基板１１上に形成された引廻し配線１１２と電気的に接続される。各引廻し配線１１２は、張出領域１１ａ内においてドライバＩＣ１５に向かって延在するとともに、その端部が当該ドライバＩＣ１５の出力側バンプ１５ａに接続される。
【００１３】
また、図１および図２に示すように、張出領域１１ａには、当該張出領域１１ａの縁辺からドライバＩＣ１５が実装された領域に至るようにパッド１１３が形成されている。図２に示すように、これらのパッド１１３の一端は、接着剤１６１中の導電性粒子１６２を介して、ドライバＩＣ１５の入力端子に形成された入力側バンプ１５ｂと導通する。
【００１４】
なお、実際には、セグメント電極１１１が形成された背面側基板１１の表面、およびコモン電極１２１が形成された観察側基板１２の表面は、所定の方向にラビング処理が施された配向膜によって覆われているが、図示は省略されている。また、背面側基板１１および観察側基板１２の外側の表面には、偏光板や位相差板が貼着されるが、これらについても図示は省略されている。
【００１５】
一方、ＦＰＣ２は、基材２１と、当該基材２１上に設けられた配線２２とを有する。このうち基材２１は、ポリイミドなどからなるフィルム状の部材であり、可撓性を有する。各配線２２は、図２に示すプリント基板４から出力された制御信号をドライバＩＣ１５の入力端子に供給するためのものである。図２に示すように、ＦＰＣ２の基材２１は、接着剤１７１を介して背面側基板１１に接合される。そして、基材２１上の配線２２は、当該接着剤１７１中に分散された導電性粒子１７２を介して、背面側基板１１上のパッド１１３と導通する。
【００１６】
さらに、基材２１上にはパネル側コネクタ５が実装されている。パネル側コネクタ５は、液晶パネル１と外部との接続を行なうためのコネクタである。例えば、本実施形態におけるパネル側コネクタ５は、図２に示すように、プリント基板４上に設けられたＰＣＢ側コネクタ３（詳細は後述する）と接続される。
図３は、パネル側コネクタ５の構成を示す斜視図である。パネル側コネクタ５は、ハウジング部材５１を有する。ハウジング部材５１は、例えばプラスチックなどによって形成された部材であり、プリント基板４とほぼ平行な平面部５１１と、当該平面部５１１から突出する凸部５１２とを有する。パネル側コネクタ５の凸部５１２は、平面視長方形状のハウジング部材５１における一対の対辺同士を連結するように延在する。したがって、図２および図３に示すように、ハウジング部材５１の断面形状は、ほぼ「凸」字状となっている。
【００１７】
ハウジング部材５１の凸部５１２には、当該凸部５１２の延在方向にそって列をなす複数の接続端子５２が形成されている。すなわち、各接続端子５２は、凸部５１２を構成する一方の側面５１２ａから、当該凸部５１２の頂上面５１２ｂおよび他方の側面５１２ｃに至るように形成された端子である。これらの接続端子５２の各々は、凸部５１２の頂上面５１２ｂからプリント基板４に至るように設けられたスルーホール（図示略）を介して、当該プリント基板４に設けられた配線の各々に対して電気的に接続されている。
【００１８】
一方、図２に示すように、ＦＰＣ２に接続されるプリント基板４には、ドライバＩＣ１５の動作を規定するためのクロック信号など所定の制御信号を生成するための回路（図示略）と、これらの回路に接続されたＰＣＢ側コネクタ３が設けられている。ここで、図４は、ＰＣＢ側コネクタ３の構成を示す斜視図である。図４に示すように、ＰＣＢ側コネクタ３は、ハウジング部材３１を有する。ハウジング部材３１は、例えばプラスチックなどによって形成された部材であり、ＦＰＣ２の表面とほぼ平行な平面部３１１と、当該平面部３１１に設けられた凹部３１２とを有する。図１および図３に示すように、凹部３１２は、平面視長方形状のハウジング部材３１における一対の対辺同士を連結するように延在する溝である。したがって、図２および図３に示すように、ハウジング部材３１の断面形状は、ほぼ「凹」字状となっている。
【００１９】
ハウジング部材３１の凹部３１２には、当該凹部３１２の延在方向に沿って列をなす複数の接続端子３２が形成されている。すなわち、各接続端子３２は、凹部３１２を構成する一方の側面３１２ａから、当該凹部３１２の底面３１２ｂおよび他方の側面３１２ｃに至るように形成された端子である。これらの接続端子３２の各々は、凹部３１２の底面３１２ｂからＦＰＣ２の基材２１にわたって設けられたスルーホール（図示略）を介して、当該基材２１に設けられた配線２２の各々に対して電気的に接続されている。
【００２０】
図５は、パネル側コネクタ５とＰＣＢ側コネクタ３とが接続された状態を示す断面図である。図３および図４に示したように、ＰＣＢ側コネクタ３における平面部３１１からみた凹部３１２の深さＨ３とパネル側コネクタ５における平面部５１１からみた凸部５１２の高さＨ５とはほぼ同一であり、ＰＣＢ側コネクタ３における凹部３１２の幅Ｗ３とパネル側コネクタ５における凸部５１２の幅Ｗ５とはほぼ同一である。したがって、図５に示すように、ＰＣＢ側コネクタ３の凹部３１２とパネル側コネクタ５の凸部５１２とが完全に嵌合した状態で、ＰＣＢ側コネクタ３の接続端子３２は、凹部３１２の側面３１２ａ、３１２ｃおよび頂上面３１２ｂに形成された全体にわたって、パネル側コネクタ５の接続端子５２と接触することとなる。
【００２１】
このようにＰＣＢ側コネクタ３とパネル側コネクタ５とが嵌合した状態で、プリント基板４上の制御回路から出力された制御信号は、ＰＣＢ側コネクタ３の接続端子３２からパネル側コネクタ３の接続端子５２、ＦＰＣ２の配線２２、および背面側基板１１上のパッド１１３を介してドライバＩＣ１５の入力端子に供給される。ドライバＩＣ１５は、こうして制御回路から受信した信号に応じて走査信号およびデータ信号を生成し、それぞれコモン電極１２１（引廻し配線１１２）およびセグメント電極１１１に出力する。そして、背面側基板１１および観察側基板１２によって挟まれた液晶１４は、コモン電極１２１に与えられた走査信号とセグメント電極１１１に与えられたデータ信号とに応じた電圧が印加されることによってその配向方向が変化する。すなわち、バックライトユニットから液晶パネル１を通過して観察者によって視認される光は、コモン電極１２１とセグメント電極１１１との交差に対応する画素ごとに、その光量が制御されるのである。
【００２２】
既に述べたように、このようにコネクタを嵌合させてプリント基板４から検査用の駆動信号（検査信号）を供給すると、検査終了時にパネル側コネクタ５とＰＣＢ側コネクタ３を外さなければならない場合がある。その際にパネル側コネクタ５が破損するおそれがあるため、本実施形態においては、検査時には以下で説明する検査用プローブを用いて液晶パネル１と、検査信号の信号源とを電気的に接続する。
【００２３】
＜Ｂ．検査用プローブの構成＞
図６は本実施形態に係るオスコネクタ用検査用プローブ７の外観を示す斜視図であり、図７はオスコネクタ用検査用プローブ７の分解斜視図である。図６に示されるように、オスコネクタ用検査用プローブ７は、芯部８およびプローブ部９から構成される。図７に示されるように、プローブ部９は、長方形の上板の平行な２辺からアーム部９７（側板）がそれぞれ垂直下向きに延びている。上板には、芯部８の突出部８１を貫通するための開口部９６が存在する。２枚のアーム部９７の中間部分には、それぞれ内側に突起したアーム側カム部９１が存在する。さらに、２枚のアーム部９７の下端部分には、それぞれ内側に向かって延びるコンタクト部９２が存在する。コンタクト部９２には、パネル側コネクタ３の接続端子３２と電気的接続を確立するための金属等の導電性材料からなるコンタクトメタル９３が複数設けられている。コンタクトメタル９３は、コンタクト部９２からアーム部９７の外面下部まで形成されている。上板には、それぞれコンタクトメタル９３と対応するパッド９４が形成されている。パッド９４とコンタクトメタル９３とは配線９５で電気的に接続されており、パッド９４を介して外部の信号源に接続することにより検査対象である液晶パネル１に駆動信号を供給することができる。
【００２４】
芯部８は、本体から上方に延びる突出部８１と、下方に延びる突出部８３と、突出部８１および突出部８３に垂直な方向に突起する芯側カム部８２とを有する。プローブ部９の開口部９６の開口部分の面積と、突出部８１の水平方向の断面積はほぼ同一であり、突出部８１を開口部９６にはめ込むことができる。突出部８１は開口部９６内を摺動可能である。通常の状態ではプローブ部９のアーム側カム部９１と芯部８の芯側カム部８２とがぶつかるため、図６に示されるように、アーム側カム部９１が芯側カム部８２の上に乗った状態となっている。また、この状態ではコンタクト部９２よりも突出部８３の方が下方に位置している。芯側カム部８２およびアーム側カム部９１の位置および形状は、検査対象となる液晶パネル１のパネル側コネクタ５の形状および大きさに適合するように設計される。また、芯部８の突出部８３の長さも、アーム部９７の長さとパネル側コネクタ５の形状および大きさとに適合するように設計される。
【００２５】
なお、プローブ部９は、図８に示されるように変形する必要があり、また複数の電極にそれぞれ個別の検査信号（駆動信号）を供給可能である必要があるため、プラスチック等の絶縁性と弾性とを兼ね備えた材料を用いることが望ましい。芯部８は変形せず、また表面に電極あるいは配線が形成されることはないので、金属等の導電性の材料を用いることも可能である。
【００２６】
＜Ｃ．使用方法＞
以下、オスコネクタ用検査用プローブ７の使用方法について説明する。
図８（ａ）〜図８（ｅ）は、オスコネクタ用検査用プローブ７の使用方法を説明する図である。作業者はオスコネクタ用検査用プローブ７を持ち、検査対象である液晶パネル１のパネル側コネクタ５へ近づける（図８（ａ））。通常の状態ではコンタクト部９２よりも突出部８３の方が下方に位置しているため、まず突出部８３がパネル側コネクタ５に接することとなる（図８（ｂ））。この状態で作業者が上板の中央部分を下向きに押すと、プローブ部９に下向きの力が作用する。ここで、プローブ部９のアーム側カム部９１および芯部８の芯側カム部８２はともに斜めにカットされているため、アーム側カム部９１と芯側カム部８２との接触面においては、アーム側カム部９１は、芯側カム部８２の形に沿って表面を滑るように移動する。これにより、２枚のアーム部９７は下部が開く形になる（図８（ｃ））。
【００２７】
アーム側カム部９１が芯側カム部８２の頂点部分を通過するとき、２枚のアーム部９７のコンタクト部９２の間隔は最大となる（図８（ｄ））。ここからさらにプローブ部９を下方に押し込むと、２枚のアーム部９７のコンタクト部９２の間隔は芯側カム部８２の形に応じて徐々に狭くなっていく。最終的に、２つのコンタクト部９２が接続端子５２を両側面から挟み込む形となる（図８（ｅ））。すなわち、コンタクト部９２は、パネル側コネクタ５の側面と接触することにより電気的接続を確立する。これにより、外部の信号源からオスコネクタ用検査用プローブ７を介して、液晶パネル１に対して駆動信号（検査信号）の供給が可能となる。
【００２８】
このように、本実施形態に係るオスコネクタ用検査用プローブ７によれば、パネル側コネクタ５と嵌合する検査用コネクタを用いることなく、液晶パネル１との電気的接続を確立することができる。したがって、パネル側コネクタ５を破損あるいは劣化させることなく液晶パネル１の検査を行うことができる。
【００２９】
＜Ｄ．変形例＞
本発明は上述の実施形態に限定されるものではなく、種々の変形実施が可能である。
上述の実施形態においては、検査対象である液晶パネル１のパネル側コネクタ５がオスコネクタである場合について説明したが、本発明はメスコネクタにも適用可能である。
図９はこの変形例に係るメスコネクタ用検査用プローブ１７の外観を示す斜視図である。オスコネクタ用検査用プローブ７と異なり、アーム側カム部１９１およびコンタクト部１９２は、アーム部１９７の外側に設けられている。検査用プローブ７と同様、コンタクト部１９２の表面には、コンタクトメタル１９３が形成されている。また、アーム部１９７の内側に配線が設けられ、アーム部１９７上部のパッド１９４に接続されている。作業者がリング部１８を押し下げることにより２本のアーム部１９７間の距離を変化させることができる。
【００３０】
上述の実施形態においては、芯部８およびプローブ部９の双方にカム部を設ける態様について説明したが、プローブ部９にはカム部を設けず、芯部８に回転式のカム８４を設ける構成としてもよい。
図１０は、この変形例に係るオスコネクタ用検査用プローブ７’の動作原理を示す概念図である。カム８４の短軸がアーム部９７と垂直方向になっている場合（図１０（ａ））、２本のアーム部間の距離は最小となっている。カム８４を回転させ、カム８４の長軸がアーム部と垂直方向になったとき（図１０（ｂ））、２本のアーム部間の距離は最大となっている。作業者は、この状態でパネル側コネクタ５の上にオスコネクタ用検査用プローブ７’を位置し、再びカム８４を回転させてアーム部を閉じる。これにより、パネル側コネクタ５の側面と電気的接続を確立することができる。
【００３１】
また、上述の実施形態に係る検査プローブを用いた検査工程を、液晶パネル等の電気光学装置の製造工程に導入することもできる。すなわち、上述の実施形態に係る検査プローブを用いて液晶パネル１と検査用電源とを電気的に接続した後、検査用の駆動信号を供給し液晶パネル１の検査を行う。検査後、検査に合格した電気光学装置に対して、ＦＰＣ２における液晶パネル１の実装面端面にモールド材を塗布する。この工程を含む製造方法によれば、パネル側コネクタ５と嵌合する検査用コネクタを用いることなく行われた検査に合格した液晶パネル１が次の工程に供される。
【図面の簡単な説明】
【００３２】
【図１】本実施形態に係る液晶パネル１の全体構成を示す平面図である。
【図２】液晶パネル１の断面図である。
【図３】パネル側コネクタ５の構成を示す斜視図である。
【図４】ＰＣＢ側コネクタ３の構成を示す斜視図である。
【図５】パネル側コネクタ５とＰＣＢ側コネクタ３とが接続された状態を示す断面図である。
【図６】オスコネクタ用検査用プローブ７の外観を示す斜視図である。
【図７】オスコネクタ用検査用プローブ７の分解斜視図である。
【図８】オスコネクタ用検査用プローブ７の使用方法を説明する図である。
【図９】メスコネクタ用検査用プローブ１７の外観を示す斜視図である。
【図１０】本発明の変形例に係るオスコネクタ用検査用プローブ７’の動作原理を示す概念図である。
【符号の説明】
【００３３】
１…液晶パネル、２…ＦＰＣ、３…ＰＣＢ側コネクタ、４…プリント基板、５…パネル側コネクタ、７…オスコネクタ用検査用プローブ、８…芯部、９…プローブ部、１１…背面側基板、１２…観察側基板、１３…シール材、１４…液晶、１５…ドライバＩＣ、１７…メスコネクタ用検査用プローブ、１８…リング部、２１…基材、２２…配線、５１…ハウジング部材、５２…接続端子、８１…突出部、８２…芯側カム部、８３…突出部、８４…カム、９１…アーム側カム部、９２…コンタクト部、９３…コンタクトメタル、９４…パッド、９５…配線、９６…開口部、９７…アーム部、１１１…セグメント電極、１１２…各引廻し配線、１１３…パッド、１２１…コモン電極、１６１…接着剤、１６２…導電性粒子、１７１…接着剤、１７２…導電性粒子、１９１…アーム側カム部、１９２…コンタクト部、１９３…コンタクトメタル、５１１…平面部、５１２…凸部
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子機器の検査に好適なプローブおよびその検査プローブを用いた検査工程を含む、電気光学装置の製造方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、液晶パネルやＥＬ（Electro-Luminescence）パネルに代表される電気光学装置が広く普及している。この種の電気光学装置においては、液晶などの電気光学物質を保持するためのパネル基板の面上に、当該電気光学物質に対して電圧を印加するための電極が形成された構成が一般的である。さらに、これらの電極に対して外部から制御信号を供給するために、当該パネル基板の面上にＦＰＣ（Flexible Printed Circuit）などの配線基板が実装された構成も知られている。
【０００３】
このような電気光学装置の製造工程において、配線の断線や短絡といった不具合の発生を完全に排除することは極めて困難であり、ある程度の確率でこれらの欠陥が発生してしまうのは避けられないのが現状である。このため、製造後の電気光学パネルについて欠陥の有無を検査する必要がある。このような検査の方法として、従来から、電気光学パネルによって表示された所定のテストパターンを観察することによって、各画素が正常に点灯するか否かを判定する方法（いわゆる点灯検査）が知られている。この種の点灯検査の手順について一例を挙げると、以下の通りである（特許文献１、２参照）。
【特許文献１】特開２００３−１３０９０６号公報
【特許文献２】特開平１０−１８６３９３号公報
【０００４】
まず、上記配線基板の面上に設けられたコネクタ（以下、「パネル側コネクタ」という）に対して検査用のコネクタ（以下、「検査用コネクタ」という）を嵌合させる。次に、検査装置から当該検査用コネクタおよびパネル側コネクタを介して、検査対象たる電気光学パネルに検査信号を供給する。この検査信号は、電気光学パネルが所定のテストパターンの表示を行なうように予めその内容が決定された信号である。そして、電気光学パネルに表示されたテストパターンを観察することによって当該電気光学パネルの良否を判定する。この良否判定のあと、検査用コネクタをパネル側コネクタから取り外す。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、パネル側コネクタから検査用コネクタを取り外すために検査用コネクタに力を加えると、パネル側コネクタと配線基板との接合部分にも力が作用し、この結果としてパネル側コネクタが配線基板から剥がれてしまう場合がある。あるいは、パネル側コネクタが剥がれないまでも、パネル用コネクタの金属配線（電極）が剥がれてしまう場合もある。この場合、テストパターンを表示させて良否判定を行なう段階まではパネル側コネクタが配線基板に対して適正に実装されているにもかかわらず、その後にパネル側コネクタの剥離が発生することとなる。したがって、上述した点灯検査によってはかかる剥離を発見することはできず、検査結果の妥当性に重大な影響を及ぼすこととなる。これらの問題は、上述した電気光学パネルのみにおいて生ずるものではなく、検査に際して検査用コネクタが接続されるコネクタを配線基板上に備えた、全ての電子機器において同様に生じ得る問題である。
【０００６】
本発明は、以上の事情に鑑みてなされたものであり、コネクタを嵌合せずに電子機器の検査を行うことができる検査用プローブを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上述の課題を解決するため、本発明は、被検査部と検査機器とを電気的に接続するための検査用プローブであって、互いに側部を向き合わせた状態で揺動可能な２本のアーム部と、前記２本のアーム部の相互に向き合った側部及び前記側部の反対側の側部の少なくとも一方に設けられたコンタクト部と、前記コンタクト部の表面に形成された導電性材料部と、前記２本のアーム部の相互に向き合った側部に形成されたアーム側カム部と、前記被検査部によって端部が押されることにより、前記２本のアーム部間に挟まれた経路に沿って移動するように支持された棒状の芯部と、前記芯部の側部に設けられ、前記芯部の前記経路に沿った移動の過程において前記２本のアームのカム部と当接し、前記２本のアーム間の距離を変化させる芯側カム部とを有する、電子機器の検査用プローブを提供する。この検査用プローブによれば、コネクタを嵌合せずに電子機器の検査を行うことができる。
また、本発明は、凹部を有する被検査部と検査機器とを電気的に接続するための検査用プローブであって、互いに側部を向き合わせた状態で揺動可能であり、その先端が前記凹部に収容される２本のアーム部と、前記２本のアーム部の相互に向き合った側部及び前記側部の反対側の側部の少なくとも一方に設けられたコンタクト部と、前記コンタクト部の表面に形成された導電性材料部と、前記２本のアーム部の相互に向き合った側部の裏側に形成されたアーム側カム部と、前記２本のアーム部に挿入され、前記２本のアーム部に沿った移動の過程において前記２本のアームのアーム側カム部と当接し、前記２本のアーム間の距離を変化させるリング部とを有する、電子機器の検査用プローブを提供する。この検査用プローブによれば、メスコネクタを有する電子機器に対してコネクタを嵌合せずに検査を行うことができる。
また、本発明は、被検査部と検査機器との電気的接続を確立するための検査用プローブであって、互いに側部を向き合わせた状態で揺動可能な２本のアーム部と、前記２本のアーム部の相互に向き合った側部及び前記側部の反対側の側部の少なくとも一方に設けられたコンタクト部と、前記コンタクト部の表面に形成された導電性材料部と、前記２本のアーム部間の所定の位置に固定された回転軸を有し、該回転軸を中心とした回転により前記２本のアームのカム部と当接し、前記２本のアーム間の距離を変化させる回転カム部とを有する、電子機器の検査用プローブを提供する。この検査用プローブによれば、コネクタを嵌合せずに電子機器の検査を行うことができる。
さらに、本発明は、配線基板と電気光学パネルとを有する電気光学装置の製造方法であって、請求項１〜３のいずれかの項に記載の検査用プローブを用いて前記電気光学パネルの検査を行う検査工程と、前記検査工程後に前記配線基板の電気光学パネル実装面の端面にモールド材を塗布するモールド材塗布工程とを有する、電気光学装置の製造方法を提供する。この製造方法によれば、検査工程においてコネクタを嵌合せずに電子機器の検査を行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００８】
以下、図面を参照して本発明の一実施形態について説明する。本実施形態では、液晶パネルの点灯検査について説明するが、本発明の検査対象は液晶パネルに限られるものではなく、あらゆる電子機器に適用可能である。また、検査の内容も点灯検査に限られるものではなく、検査対象電子機器に外部から信号を供給して行う検査であれば、いかなる検査にも適用可能である。
【０００９】
＜Ａ．液晶パネルの構成＞
図１は、本実施形態に係る液晶パネル１の全体構成を示す平面図であり、図２は、図１におけるＡ−Ａ’線からみた液晶パネル１の断面図である。
図１および図２に示すように、液晶パネル１は、長方形の枠状に形成されたシール材１３を介して背面側基板１１と観察側基板１２とが貼り合わされるとともに、両基板とシール材１３とによって囲まれた領域に、ＴＮ（Twisted Nematic）型などの液晶１４が封入された構成となっている。背面側基板１１および観察側基板１２は、ガラスや石英、プラスチックなどの光透過性を有する板状部材である。このうち背面側基板１１は、観察側基板１２の縁辺から張り出した領域（すなわち、観察側基板１２と対向しない領域である。以下、「張出領域」という）１１ａを有する。張出領域１１ａには、当該液晶パネル１を駆動するためのドライバＩＣ１５がＣＯＧ（Chip On Glass）技術を用いて実装されている。さらに、張出領域１１ａの縁辺近傍には、ＦＰＣ（Flexible Printed Circuit）２が接合されている。なお、液晶パネル１が携帯電話機などの電子機器に搭載される場合、ＦＰＣ２は、図２に示すように、当該液晶パネル１の背面側に折り曲げられることとなる。ただし、図１においては、ＦＰＣ２が折り曲げられる前の状態が示されている。また、液晶パネル１の背面側（より詳細には、折り曲げられたＦＰＣ２と液晶パネル１の背面側基板１１との間）には、当該液晶パネル１に対して光を照射するバックライトユニットが配置されるが、図示は省略されている。かかる構成の下、バックライトユニットによる照射光が背面側基板１１、液晶１４および観察側基板１２を透過して観察者に視認される。
【００１０】
背面側基板１１の内側（液晶１４側）表面には、図１に示すＹ方向に延在する複数のセグメント電極１１１が形成されている。このセグメント電極１１１は、例えばＩＴＯ（Indium Tin Oxide）などの透明導電材料によって形成された電極である。なお、図１においては、図面が煩雑になるのを防ぐため、各セグメント電極１１１は１本の直線として図示されているが、実際のセグメント電極１１１は、所定の幅を有する帯状の電極である（後述するコモン電極１２１についても同様である）。
【００１１】
各セグメント電極１１１は、背面側基板１１上において、観察側基板１２と対向する領域（シール枠内の領域）から張出領域１１ａ（シール枠外の領域）に至るとともに、その端部がドライバＩＣ１５の出力側バンプ１５ａ（突起電極）に接続される。より具体的には、図２に示すように、ドライバＩＣ１５が背面側基板１１上に接着剤１６１を介して接合された状態において、ドライバＩＣ１５の出力端子に形成された出力側バンプ１５ａとセグメント電極１１１の端部とが、当該接着剤１６１中に分散された導電性粒子１６２を介して導通される。
【００１２】
一方、観察側基板１２の内側表面のうち背面側基板１１と対向する領域には、セグメント電極１１１と直行する方向（すなわち図１に示すＸ方向）に延在する複数のコモン電極１２１が形成されている。各コモン電極１２１は、ＩＴＯなどの透明導電材料によって形成された帯状の電極である。セグメント電極１１１は、観察側基板１２のうち張出領域１１ａに接する縁辺近傍に引き出されるとともに、その端部が、観察側基板１２のうちシール材１３の形成された部分に至るようになっている。そして、この端部は、当該シール材１３に分散された導電性粒子（図示略）を介して、背面側基板１１上に形成された引廻し配線１１２と電気的に接続される。各引廻し配線１１２は、張出領域１１ａ内においてドライバＩＣ１５に向かって延在するとともに、その端部が当該ドライバＩＣ１５の出力側バンプ１５ａに接続される。
【００１３】
また、図１および図２に示すように、張出領域１１ａには、当該張出領域１１ａの縁辺からドライバＩＣ１５が実装された領域に至るようにパッド１１３が形成されている。図２に示すように、これらのパッド１１３の一端は、接着剤１６１中の導電性粒子１６２を介して、ドライバＩＣ１５の入力端子に形成された入力側バンプ１５ｂと導通する。
【００１４】
なお、実際には、セグメント電極１１１が形成された背面側基板１１の表面、およびコモン電極１２１が形成された観察側基板１２の表面は、所定の方向にラビング処理が施された配向膜によって覆われているが、図示は省略されている。また、背面側基板１１および観察側基板１２の外側の表面には、偏光板や位相差板が貼着されるが、これらについても図示は省略されている。
【００１５】
一方、ＦＰＣ２は、基材２１と、当該基材２１上に設けられた配線２２とを有する。このうち基材２１は、ポリイミドなどからなるフィルム状の部材であり、可撓性を有する。各配線２２は、図２に示すプリント基板４から出力された制御信号をドライバＩＣ１５の入力端子に供給するためのものである。図２に示すように、ＦＰＣ２の基材２１は、接着剤１７１を介して背面側基板１１に接合される。そして、基材２１上の配線２２は、当該接着剤１７１中に分散された導電性粒子１７２を介して、背面側基板１１上のパッド１１３と導通する。
【００１６】
さらに、基材２１上にはパネル側コネクタ５が実装されている。パネル側コネクタ５は、液晶パネル１と外部との接続を行なうためのコネクタである。例えば、本実施形態におけるパネル側コネクタ５は、図２に示すように、プリント基板４上に設けられたＰＣＢ側コネクタ３（詳細は後述する）と接続される。
図３は、パネル側コネクタ５の構成を示す斜視図である。パネル側コネクタ５は、ハウジング部材５１を有する。ハウジング部材５１は、例えばプラスチックなどによって形成された部材であり、プリント基板４とほぼ平行な平面部５１１と、当該平面部５１１から突出する凸部５１２とを有する。パネル側コネクタ５の凸部５１２は、平面視長方形状のハウジング部材５１における一対の対辺同士を連結するように延在する。したがって、図２および図３に示すように、ハウジング部材５１の断面形状は、ほぼ「凸」字状となっている。
【００１７】
ハウジング部材５１の凸部５１２には、当該凸部５１２の延在方向にそって列をなす複数の接続端子５２が形成されている。すなわち、各接続端子５２は、凸部５１２を構成する一方の側面５１２ａから、当該凸部５１２の頂上面５１２ｂおよび他方の側面５１２ｃに至るように形成された端子である。これらの接続端子５２の各々は、凸部５１２の頂上面５１２ｂからプリント基板４に至るように設けられたスルーホール（図示略）を介して、当該プリント基板４に設けられた配線の各々に対して電気的に接続されている。
【００１８】
一方、図２に示すように、ＦＰＣ２に接続されるプリント基板４には、ドライバＩＣ１５の動作を規定するためのクロック信号など所定の制御信号を生成するための回路（図示略）と、これらの回路に接続されたＰＣＢ側コネクタ３が設けられている。ここで、図４は、ＰＣＢ側コネクタ３の構成を示す斜視図である。図４に示すように、ＰＣＢ側コネクタ３は、ハウジング部材３１を有する。ハウジング部材３１は、例えばプラスチックなどによって形成された部材であり、ＦＰＣ２の表面とほぼ平行な平面部３１１と、当該平面部３１１に設けられた凹部３１２とを有する。図１および図３に示すように、凹部３１２は、平面視長方形状のハウジング部材３１における一対の対辺同士を連結するように延在する溝である。したがって、図２および図３に示すように、ハウジング部材３１の断面形状は、ほぼ「凹」字状となっている。
【００１９】
ハウジング部材３１の凹部３１２には、当該凹部３１２の延在方向に沿って列をなす複数の接続端子３２が形成されている。すなわち、各接続端子３２は、凹部３１２を構成する一方の側面３１２ａから、当該凹部３１２の底面３１２ｂおよび他方の側面３１２ｃに至るように形成された端子である。これらの接続端子３２の各々は、凹部３１２の底面３１２ｂからＦＰＣ２の基材２１にわたって設けられたスルーホール（図示略）を介して、当該基材２１に設けられた配線２２の各々に対して電気的に接続されている。
【００２０】
図５は、パネル側コネクタ５とＰＣＢ側コネクタ３とが接続された状態を示す断面図である。図３および図４に示したように、ＰＣＢ側コネクタ３における平面部３１１からみた凹部３１２の深さＨ３とパネル側コネクタ５における平面部５１１からみた凸部５１２の高さＨ５とはほぼ同一であり、ＰＣＢ側コネクタ３における凹部３１２の幅Ｗ３とパネル側コネクタ５における凸部５１２の幅Ｗ５とはほぼ同一である。したがって、図５に示すように、ＰＣＢ側コネクタ３の凹部３１２とパネル側コネクタ５の凸部５１２とが完全に嵌合した状態で、ＰＣＢ側コネクタ３の接続端子３２は、凹部３１２の側面３１２ａ、３１２ｃおよび頂上面３１２ｂに形成された全体にわたって、パネル側コネクタ５の接続端子５２と接触することとなる。
【００２１】
このようにＰＣＢ側コネクタ３とパネル側コネクタ５とが嵌合した状態で、プリント基板４上の制御回路から出力された制御信号は、ＰＣＢ側コネクタ３の接続端子３２からパネル側コネクタ３の接続端子５２、ＦＰＣ２の配線２２、および背面側基板１１上のパッド１１３を介してドライバＩＣ１５の入力端子に供給される。ドライバＩＣ１５は、こうして制御回路から受信した信号に応じて走査信号およびデータ信号を生成し、それぞれコモン電極１２１（引廻し配線１１２）およびセグメント電極１１１に出力する。そして、背面側基板１１および観察側基板１２によって挟まれた液晶１４は、コモン電極１２１に与えられた走査信号とセグメント電極１１１に与えられたデータ信号とに応じた電圧が印加されることによってその配向方向が変化する。すなわち、バックライトユニットから液晶パネル１を通過して観察者によって視認される光は、コモン電極１２１とセグメント電極１１１との交差に対応する画素ごとに、その光量が制御されるのである。
【００２２】
既に述べたように、このようにコネクタを嵌合させてプリント基板４から検査用の駆動信号（検査信号）を供給すると、検査終了時にパネル側コネクタ５とＰＣＢ側コネクタ３を外さなければならない場合がある。その際にパネル側コネクタ５が破損するおそれがあるため、本実施形態においては、検査時には以下で説明する検査用プローブを用いて液晶パネル１と、検査信号の信号源とを電気的に接続する。
【００２３】
＜Ｂ．検査用プローブの構成＞
図６は本実施形態に係るオスコネクタ用検査用プローブ７の外観を示す斜視図であり、図７はオスコネクタ用検査用プローブ７の分解斜視図である。図６に示されるように、オスコネクタ用検査用プローブ７は、芯部８およびプローブ部９から構成される。図７に示されるように、プローブ部９は、長方形の上板の平行な２辺からアーム部９７（側板）がそれぞれ垂直下向きに延びている。上板には、芯部８の突出部８１を貫通するための開口部９６が存在する。２枚のアーム部９７の中間部分には、それぞれ内側に突起したアーム側カム部９１が存在する。さらに、２枚のアーム部９７の下端部分には、それぞれ内側に向かって延びるコンタクト部９２が存在する。コンタクト部９２には、パネル側コネクタ３の接続端子３２と電気的接続を確立するための金属等の導電性材料からなるコンタクトメタル９３が複数設けられている。コンタクトメタル９３は、コンタクト部９２からアーム部９７の外面下部まで形成されている。上板には、それぞれコンタクトメタル９３と対応するパッド９４が形成されている。パッド９４とコンタクトメタル９３とは配線９５で電気的に接続されており、パッド９４を介して外部の信号源に接続することにより検査対象である液晶パネル１に駆動信号を供給することができる。
【００２４】
芯部８は、本体から上方に延びる突出部８１と、下方に延びる突出部８３と、突出部８１および突出部８３に垂直な方向に突起する芯側カム部８２とを有する。プローブ部９の開口部９６の開口部分の面積と、突出部８１の水平方向の断面積はほぼ同一であり、突出部８１を開口部９６にはめ込むことができる。突出部８１は開口部９６内を摺動可能である。通常の状態ではプローブ部９のアーム側カム部９１と芯部８の芯側カム部８２とがぶつかるため、図６に示されるように、アーム側カム部９１が芯側カム部８２の上に乗った状態となっている。また、この状態ではコンタクト部９２よりも突出部８３の方が下方に位置している。芯側カム部８２およびアーム側カム部９１の位置および形状は、検査対象となる液晶パネル１のパネル側コネクタ５の形状および大きさに適合するように設計される。また、芯部８の突出部８３の長さも、アーム部９７の長さとパネル側コネクタ５の形状および大きさとに適合するように設計される。
【００２５】
なお、プローブ部９は、図８に示されるように変形する必要があり、また複数の電極にそれぞれ個別の検査信号（駆動信号）を供給可能である必要があるため、プラスチック等の絶縁性と弾性とを兼ね備えた材料を用いることが望ましい。芯部８は変形せず、また表面に電極あるいは配線が形成されることはないので、金属等の導電性の材料を用いることも可能である。
【００２６】
＜Ｃ．使用方法＞
以下、オスコネクタ用検査用プローブ７の使用方法について説明する。
図８（ａ）〜図８（ｅ）は、オスコネクタ用検査用プローブ７の使用方法を説明する図である。作業者はオスコネクタ用検査用プローブ７を持ち、検査対象である液晶パネル１のパネル側コネクタ５へ近づける（図８（ａ））。通常の状態ではコンタクト部９２よりも突出部８３の方が下方に位置しているため、まず突出部８３がパネル側コネクタ５に接することとなる（図８（ｂ））。この状態で作業者が上板の中央部分を下向きに押すと、プローブ部９に下向きの力が作用する。ここで、プローブ部９のアーム側カム部９１および芯部８の芯側カム部８２はともに斜めにカットされているため、アーム側カム部９１と芯側カム部８２との接触面においては、アーム側カム部９１は、芯側カム部８２の形に沿って表面を滑るように移動する。これにより、２枚のアーム部９７は下部が開く形になる（図８（ｃ））。
【００２７】
アーム側カム部９１が芯側カム部８２の頂点部分を通過するとき、２枚のアーム部９７のコンタクト部９２の間隔は最大となる（図８（ｄ））。ここからさらにプローブ部９を下方に押し込むと、２枚のアーム部９７のコンタクト部９２の間隔は芯側カム部８２の形に応じて徐々に狭くなっていく。最終的に、２つのコンタクト部９２が接続端子５２を両側面から挟み込む形となる（図８（ｅ））。すなわち、コンタクト部９２は、パネル側コネクタ５の側面と接触することにより電気的接続を確立する。これにより、外部の信号源からオスコネクタ用検査用プローブ７を介して、液晶パネル１に対して駆動信号（検査信号）の供給が可能となる。
【００２８】
このように、本実施形態に係るオスコネクタ用検査用プローブ７によれば、パネル側コネクタ５と嵌合する検査用コネクタを用いることなく、液晶パネル１との電気的接続を確立することができる。したがって、パネル側コネクタ５を破損あるいは劣化させることなく液晶パネル１の検査を行うことができる。
【００２９】
＜Ｄ．変形例＞
本発明は上述の実施形態に限定されるものではなく、種々の変形実施が可能である。
上述の実施形態においては、検査対象である液晶パネル１のパネル側コネクタ５がオスコネクタである場合について説明したが、本発明はメスコネクタにも適用可能である。
図９はこの変形例に係るメスコネクタ用検査用プローブ１７の外観を示す斜視図である。オスコネクタ用検査用プローブ７と異なり、アーム側カム部１９１およびコンタクト部１９２は、アーム部１９７の外側に設けられている。検査用プローブ７と同様、コンタクト部１９２の表面には、コンタクトメタル１９３が形成されている。また、アーム部１９７の内側に配線が設けられ、アーム部１９７上部のパッド１９４に接続されている。作業者がリング部１８を押し下げることにより２本のアーム部１９７間の距離を変化させることができる。
【００３０】
上述の実施形態においては、芯部８およびプローブ部９の双方にカム部を設ける態様について説明したが、プローブ部９にはカム部を設けず、芯部８に回転式のカム８４を設ける構成としてもよい。
図１０は、この変形例に係るオスコネクタ用検査用プローブ７’の動作原理を示す概念図である。カム８４の短軸がアーム部９７と垂直方向になっている場合（図１０（ａ））、２本のアーム部間の距離は最小となっている。カム８４を回転させ、カム８４の長軸がアーム部と垂直方向になったとき（図１０（ｂ））、２本のアーム部間の距離は最大となっている。作業者は、この状態でパネル側コネクタ５の上にオスコネクタ用検査用プローブ７’を位置し、再びカム８４を回転させてアーム部を閉じる。これにより、パネル側コネクタ５の側面と電気的接続を確立することができる。
【００３１】
また、上述の実施形態に係る検査プローブを用いた検査工程を、液晶パネル等の電気光学装置の製造工程に導入することもできる。すなわち、上述の実施形態に係る検査プローブを用いて液晶パネル１と検査用電源とを電気的に接続した後、検査用の駆動信号を供給し液晶パネル１の検査を行う。検査後、検査に合格した電気光学装置に対して、ＦＰＣ２における液晶パネル１の実装面端面にモールド材を塗布する。この工程を含む製造方法によれば、パネル側コネクタ５と嵌合する検査用コネクタを用いることなく行われた検査に合格した液晶パネル１が次の工程に供される。
【図面の簡単な説明】
【００３２】
【図１】本実施形態に係る液晶パネル１の全体構成を示す平面図である。
【図２】液晶パネル１の断面図である。
【図３】パネル側コネクタ５の構成を示す斜視図である。
【図４】ＰＣＢ側コネクタ３の構成を示す斜視図である。
【図５】パネル側コネクタ５とＰＣＢ側コネクタ３とが接続された状態を示す断面図である。
【図６】オスコネクタ用検査用プローブ７の外観を示す斜視図である。
【図７】オスコネクタ用検査用プローブ７の分解斜視図である。
【図８】オスコネクタ用検査用プローブ７の使用方法を説明する図である。
【図９】メスコネクタ用検査用プローブ１７の外観を示す斜視図である。
【図１０】本発明の変形例に係るオスコネクタ用検査用プローブ７’の動作原理を示す概念図である。
【符号の説明】
【００３３】
１…液晶パネル、２…ＦＰＣ、３…ＰＣＢ側コネクタ、４…プリント基板、５…パネル側コネクタ、７…オスコネクタ用検査用プローブ、８…芯部、９…プローブ部、１１…背面側基板、１２…観察側基板、１３…シール材、１４…液晶、１５…ドライバＩＣ、１７…メスコネクタ用検査用プローブ、１８…リング部、２１…基材、２２…配線、５１…ハウジング部材、５２…接続端子、８１…突出部、８２…芯側カム部、８３…突出部、８４…カム、９１…アーム側カム部、９２…コンタクト部、９３…コンタクトメタル、９４…パッド、９５…配線、９６…開口部、９７…アーム部、１１１…セグメント電極、１１２…各引廻し配線、１１３…パッド、１２１…コモン電極、１６１…接着剤、１６２…導電性粒子、１７１…接着剤、１７２…導電性粒子、１９１…アーム側カム部、１９２…コンタクト部、１９３…コンタクトメタル、５１１…平面部、５１２…凸部
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検査部と検査機器とを電気的に接続するための検査用プローブであって、
互いに側部を向き合わせた状態で揺動可能な２本のアーム部と、
前記２本のアーム部の相互に向き合った側部及び前記側部の反対側の側部の少なくとも一方に設けられたコンタクト部と、
前記コンタクト部の表面に形成された導電性材料部と、
前記２本のアーム部の相互に向き合った側部に形成されたアーム側カム部と、
前記被検査部によって端部が押されることにより、前記２本のアーム部間に挟まれた経路に沿って移動するように支持された棒状の芯部と、
前記芯部の側部に設けられ、前記芯部の前記経路に沿った移動の過程において前記２本のアームのカム部と当接し、前記２本のアーム間の距離を変化させる芯側カム部と
を有する、電子機器の検査用プローブ。
【請求項２】
凹部を有する被検査部と検査機器とを電気的に接続するための検査用プローブであって、
互いに側部を向き合わせた状態で揺動可能であり、その先端が前記凹部に収容される２本のアーム部と、
前記２本のアーム部の相互に向き合った側部及び前記側部の反対側の側部の少なくとも一方に設けられたコンタクト部と、
前記コンタクト部の表面に形成された導電性材料部と、
前記２本のアーム部の相互に向き合った側部の裏側に形成されたアーム側カム部と、
前記２本のアーム部に挿入され、前記２本のアーム部に沿った移動の過程において前記２本のアームのアーム側カム部と当接し、前記２本のアーム間の距離を変化させるリング部と、
を有する、電子機器の検査用プローブ。
【請求項３】
被検査部と検査機器との電気的接続を確立するための検査用プローブであって、
互いに側部を向き合わせた状態で揺動可能な２本のアーム部と、
前記２本のアーム部の相互に向き合った側部及び前記側部の反対側の側部の少なくとも一方に設けられたコンタクト部と、
前記コンタクト部の表面に形成された導電性材料部と、
前記２本のアーム部間の所定の位置に固定された回転軸を有し、該回転軸を中心とした回転により前記２本のアームのカム部と当接し、前記２本のアーム間の距離を変化させる回転カム部と
を有する、電子機器の検査用プローブ。
【請求項４】
配線基板と電気光学パネルとを有する電気光学装置の製造方法であって、
請求項１〜３のいずれかの項に記載の検査用プローブを用いて前記電気光学パネルの検査を行う検査工程と、
前記検査工程後に前記配線基板の電気光学パネル実装面の端面にモールド材を塗布するモールド材塗布工程と
を有する、電気光学装置の製造方法。
【請求項１】
被検査部と検査機器とを電気的に接続するための検査用プローブであって、
互いに側部を向き合わせた状態で揺動可能な２本のアーム部と、
前記２本のアーム部の相互に向き合った側部及び前記側部の反対側の側部の少なくとも一方に設けられたコンタクト部と、
前記コンタクト部の表面に形成された導電性材料部と、
前記２本のアーム部の相互に向き合った側部に形成されたアーム側カム部と、
前記被検査部によって端部が押されることにより、前記２本のアーム部間に挟まれた経路に沿って移動するように支持された棒状の芯部と、
前記芯部の側部に設けられ、前記芯部の前記経路に沿った移動の過程において前記２本のアームのカム部と当接し、前記２本のアーム間の距離を変化させる芯側カム部と
を有する、電子機器の検査用プローブ。
【請求項２】
凹部を有する被検査部と検査機器とを電気的に接続するための検査用プローブであって、
互いに側部を向き合わせた状態で揺動可能であり、その先端が前記凹部に収容される２本のアーム部と、
前記２本のアーム部の相互に向き合った側部及び前記側部の反対側の側部の少なくとも一方に設けられたコンタクト部と、
前記コンタクト部の表面に形成された導電性材料部と、
前記２本のアーム部の相互に向き合った側部の裏側に形成されたアーム側カム部と、
前記２本のアーム部に挿入され、前記２本のアーム部に沿った移動の過程において前記２本のアームのアーム側カム部と当接し、前記２本のアーム間の距離を変化させるリング部と、
を有する、電子機器の検査用プローブ。
【請求項３】
被検査部と検査機器との電気的接続を確立するための検査用プローブであって、
互いに側部を向き合わせた状態で揺動可能な２本のアーム部と、
前記２本のアーム部の相互に向き合った側部及び前記側部の反対側の側部の少なくとも一方に設けられたコンタクト部と、
前記コンタクト部の表面に形成された導電性材料部と、
前記２本のアーム部間の所定の位置に固定された回転軸を有し、該回転軸を中心とした回転により前記２本のアームのカム部と当接し、前記２本のアーム間の距離を変化させる回転カム部と
を有する、電子機器の検査用プローブ。
【請求項４】
配線基板と電気光学パネルとを有する電気光学装置の製造方法であって、
請求項１〜３のいずれかの項に記載の検査用プローブを用いて前記電気光学パネルの検査を行う検査工程と、
前記検査工程後に前記配線基板の電気光学パネル実装面の端面にモールド材を塗布するモールド材塗布工程と
を有する、電気光学装置の製造方法。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【公開番号】特開２００６−５８２１７（Ｐ２００６−５８２１７Ａ）
【公開日】平成１８年３月２日（２００６．３．２）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００４−２４２２３４（Ｐ２００４−２４２２３４）
【出願日】平成１６年８月２３日（２００４．８．２３）
【出願人】（０００００２３６９）セイコーエプソン株式会社 (51,324)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成１８年３月２日（２００６．３．２）
【国際特許分類】
【出願日】平成１６年８月２３日（２００４．８．２３）
【出願人】（０００００２３６９）セイコーエプソン株式会社 (51,324)
【Ｆターム（参考）】
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