説明

アンリツ株式会社により出願された特許

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【課題】 簡単にシナリオのエラーを検出することができ、シナリオの編集に要する作業負担を軽減する。
【解決手段】 シナリオエラー検出処理装置5は、データベース11とエラーチェック手段12を具備する。データベース11は、所定の通信規格に基づいた複数のメッセージと符号との対応を参照可能とした第1の参照テーブル11aと、メッセージ各々に対して次に実行可能なメッセージに対応する符号との対応を示したメッセージのシーケンスを参照可能とした第2の参照テーブル11bとを含む。エラーチェック手段12は、入力されたシナリオに記述された複数のメッセージをデータベース11に含まれる第1の参照テーブル11aに基づきそれぞれ符号化し、この符号化されたメッセージをシナリオに記述されたシーケンスに従って第2の参照テーブル11bを参照して実行可能か判定を行い、その判定結果を出力する。 (もっと読む)


【課題】 小規模な構成で誤差の少ない変換特性を実現する。
【解決手段】 振幅位相算出手段52は、異なる複数の周波数成分を含む校正用信号が入力されたときにA/D変換器が所定期間出力するデジタル信号列に対してFFT演算処理を行い、校正用信号に含まれる各周波数成分の振幅と位相を求める。誤差特性算出手段53は算出された振幅と位相の基準値に対する誤差の周波数特性を求める。重み付け手段54は得られた位相誤差の周波数特性に対し、その周波数の上限に近づく程誤差が0に近くなるように重み付けする。係数算出手段55は、振幅誤差の周波数特性と、重み付け手段54によって重み付け処理された位相誤差の周波数特性とに基づいて、振幅誤差と位相誤差を補正するためのフィルタ係数を求める。変換対象信号が入力されたときにA/D変換器が出力するデジタル信号列に対し、前記得られた係数によるフィルタ処理を行い補正する。 (もっと読む)


【課題】 被測定装置が出力した内部ノイズの測定精度を高めることができるノイズ測定方法、ノイズ測定プログラム、およびノイズ測定装置を提供すること。
【解決手段】 被測定装置40に搬送波を入力し、被測定装置40からの内部ノイズおよび被測定装置40への外来ノイズを含んだ出力から搬送波を除去した信号をスペクトラムアナライザ60で測定するノイズ測定方法において、スペクトラムアナライザ60により所定の周波数範囲のうちそれぞれの周波数に対応するレベル値を測定する段階と、測定対象となった所定の周波数範囲から任意の1つの周波数を選択する段階と、任意の1つの周波数に対応するレベル値と任意の1つの周波数に近傍する複数の周波数に対応するそれぞれのレベル値との差分をそれぞれ算出する段階と、それぞれの差分すべてが所定の値を超えないとき任意の1つの周波数に対応するレベル値を内部ノイズと判定する段階とを含む。 (もっと読む)


【課題】 位相検出された位相信号と測定光の周波数との対応付けを良くして光周波数−位相特性の測定精度の向上を図った光ヘテロダイン干渉装置を提供する。
【解決手段】 入射光である周波数可変の測定光を2つに分岐して周波数の異なる2つの光を出射する光分岐手段4及び異なる光路を通って入射される上記2つの光を合波して干渉光を出射する光カプラ6を有するマッハツェンダ型干渉計20と、干渉光をヘテロダイン検波する受光器8と、その検波信号の位相検出を行うRFロックインアンプ11と、このRFロックインアンプ11からの位相信号のデータ処理を行って被測定物の光周波数−位相特性を求める処理手段16とを備えた光ヘテロダイン干渉装置において、処理手段16は、測定光の周波数の可変に対応して所定の等光周波数間隔で発生される等光周波数間隔トリガcを受け、この等光周波数間隔トリガcに基づいて上記位相信号のデータ処理を行うようにした。 (もっと読む)


【課題】 1枚のSOI基板に対するエッチング処理だけで低コストに製造できる両面電極の静電駆動型アクチュエータを提供すること。
【解決手段】 固定部21、可動部22、第1連結部23および第2連結部24は、絶縁層101を第1導電層102と第2導電層103とで挟む3層構造で連続した状態で形成され、第1面電極30、31はSOI基板の第1導電層に対するエッチング処理で形成されたギャップ40、41により固定部21の第1導電層部から絶縁されて形成され、第2面電極32、33はSOI基板の第2導電層部に対するエッチング処理で形成されたギャップ42、43により固定部21の第2導電層部から絶縁されて形成され、可動部21の第1導電層部と第2導電層部とを導通させる導体35を設けた。 (もっと読む)


【課題】 複数ガスの高速検出が可能なガスセンサを提供する。
【解決手段】 半導体レーザ22と、半導体レーザ22を外部共振モードで発振させるための回折格子23、MEMSスキャナ30を含み、半導体レーザ22の端面22bに直交する方向に出射される光Wの波長を、MEMSスキャナ30の駆動により検出対象ガス固有の吸収スペクトル波長を含む波長範囲で掃引し、その波長掃引された光Wを検出対象ガス雰囲気に入射する外部共振型の波長掃引光源21と、検出対象ガス雰囲気を透過した光W′を受けてその光強度を検出する受光素子70とを備えている。 (もっと読む)


【課題】斜め出射の半導体光素子をサブマウントに実装する際の位置決め手段をサブマウントに備えることによって、斜め出射の半導体光素子からの出射光がサブマウント端に対して直交するように実装するための位置決めを容易にしたサブマウントを提供する。
【解決手段】出射端面12から出射される光の出射方向がこの出射端面12の法線に対して角度θ2である斜め出射の半導体光素子10を上面42に載置するサブマウント40aにおいて、半導体光素子10の出射端面12から出射された光の出射方向が側面43の上面側端部43a(サブマウント端)と直交するように、半導体光素子10を上面42に位置決めして載置するためのマーカ44aを上面42に設けた。このマーカ44aは、光の出射方向と直交する側面43の上面側端部43aに対して角度θ2をなして形成されて、半導体光素子10の出射端面12がこのマーカ44aに対して平行に載置される。 (もっと読む)


【課題】入射したレーザ光を効率よく吸収して外部への漏洩を防止しつつ、光の吸収に伴う熱の発生を抑制して吸収体自身の損傷を防止できる光路変更ユニットと、これを組み合わせて構成した光ダンパを提供する。
【解決手段】本発明の光路変更ユニット1は、入射したレーザ光の一部を透過するハーフミラー2と、該ハーフミラー1の透過面に近接して配置され、前記透過したレーザ光を吸収する吸収体3とから構成される。これを組み合わせて内面が反射面側とされた箱状とすれば、内部に不要光を導いて減衰する光ダンパ4として有用である。 (もっと読む)


【課題】 電圧を試験対象機器に印加したときの電圧値毎に、試験対象機器が出力した信号を測定する際の測定時間を短縮することができる信号測定装置を提供すること。
【解決手段】 試験信号を発生して試験対象機器(20)に出力する信号発生部(11)と、所定の時間内で減少無く増加する電圧を試験対象機器(20)に印加する電圧印加部(12)と、この電圧が印加されたときの試験対象機器(20)が出力した信号を測定する信号測定部(13)と、電圧印加部(12)にこの電圧を印加させ、信号発生部(11)に試験信号を出力させる制御部(14)とを備えて構成する。 (もっと読む)


【課題】 位相検出の感度を改善するとともに、装置の経済化を図った光ヘテロダイン干渉装置を提供する。
【解決手段】 入射光を2つに分岐して周波数の異なる2つの光を出射する光分岐手段14及び異なる光路を通って入射される上記2つの光を合波して干渉光を出射する光カプラ6を有するマッハツェンダ型干渉計30と、干渉光をヘテロダイン検波する受光器8と、その検波信号の位相検出を行う同期検波器15とを備えた光ヘテロダイン干渉装置において、光分岐手段14は、周波数fの超音波を発生させる超音波発生器14bと、周波数fの超音波を発生させる超音波発生器14cと、周波数fの超音波で駆動される音響光学周波数シフタ(AOFS)14dと、周波数fの超音波で駆動されるAOFS14eとを有し、出射する上記2つの光の周波数差がこの2つの超音波の周波数差と同一になるようにし、かつ、同期検波器15がロックインアンプで構成される。 (もっと読む)


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