【課題】
高速で駆動電圧が低く、かつＤＣドリフトと温度ドリフトが小さく、製作の歩留まりが良い光変調器を提供する。
【解決手段】
電気光学効果を有するＬＮ基板１と、ＬＮ基板１に形成された光を導波するための光導波路３と、光を変調するための電圧を印加する、ＬＮ基板１の一方の面側に形成された中心導体４ａおよび接地導体４ｂ、４ｃからなる進行波電極４と、光導波路３が中心導体４ａと接地導体４ｂ、４ｃとの間に電圧を印加することにより光の位相を変調するための相互作用光導波路３ａ、３ｂとを具備する光変調器において、基板上面の少なくとも一部分に形成された第１バッファ層３１と、第１バッファ層３１の上方に形成した導電層３２と、導電層３２の少なくとも一部の上方に形成した第２バッファ層３４とを具備し、中心導体４ａが第２バッファ層３４の上方に形成されるようにする。 （もっと読む）

【課題】 イメージ成分を広い周波数範囲において抑圧し、高い変調精度を維持する。
【解決手段】 同一周波数、同一振幅で位相が直交する正弦波の同相成分信号Ｉｔと直交成分信号Ｑｔとをローカル信号Ｌａとともに直交変調器２４に入力し、その出力信号Ｘを周波数変換器３０により中間周波数帯の信号Ｙに変換し、この信号Ｙをデジタル信号に変換してから直交復調器３３により復調処理を行い、同相成分信号Ｉｒと直交成分信号Ｑｒとを復調する。そして、これら復調信号に基づいて直交変調器２４の各誤差およびその誤差を相殺するための補正値を算出する。制御部４０は、キャリア周波数を順次変更させ、キャリア周波数毎に得られた補正値をメモリ３７に記憶させる。また、所望のキャリア周波数の直交変調信号を出力する場合、制御部４０は、そのキャリア周波数に対応する各補正値を補正部２２に設定する。 （もっと読む）

【課題】ＣＤＭＡ信号のビット誤りを時系列的に評価する。
【解決手段】被測定信号ａからフレーム同期がとれたチップデータを作成し、作成したチップデータをチャネル毎の拡散ファクター９に対応する拡散コード８で逆拡散して各チャネルのシンボルデータとして出力する入力処理部１４と、この入力処理された１フレーム分の各チャネルのシンボルデータを用いて、各チャネルのシンボルデータのビット誤りを順次検出していくビット誤り検出部３４と、１フレーム分のビット誤りを用いて、各チャネルのビット誤り値をスロット単位で順次算出していくビット誤り値算出部３６とを設けて、算出された１フレーム分の時系列的なスロット単位のビット誤り値をビット誤り値特性５４として表示器５０にグラフィック表示する。 （もっと読む）

【課題】 歪みセンサの出力信号に定常的に含まれる雑音成分を、目的信号を遅延させることなく除去すること。
【解決手段】 定常信号抽出部２２により歪みセンサ１の出力信号から連続性を有し且つ周期性を有する定常信号成分を抽出し、その信号の周期を周期検出手段２７により検出する。位相合せ手段２８は、検出した周期と、定常信号抽出処理のための遅延時間とに基づいて、定常信号成分の位相を、その定常信号成分の源信号内における位相に対して同相または逆相となるように調整し、演算部３０において、その位相調整された定常信号成分を源信号に対して減算または加算して、源信号から定常信号成分を除去する。 （もっと読む）

【課題】 センサの出力信号の収束値を速やかに且つ精度よく予測する。
【解決手段】 センサと、そのセンサの出力信号から交流成分を除去する低域通過フィルタとを線形システムとし、物理量が既知の負荷をセンサにステップ状に与えたときの低域通過フィルタの出力信号の波形情報を取得し（Ｓ１）、その波形情報に基づいて、この線形システムを同定するインパルス応答の周波数特性を求め（Ｓ２）、さらにその周波数特性の逆特性に対応するインパルス応答を求めておき（Ｓ３）、物理量が未知の負荷がステップ状にセンサに与えられたときの低域通過フィルタの出力信号に対し、逆特性のインパルス応答に対応したフィルタ処理を行うことで、未知の物理量を推定している（Ｓ４、Ｓ５）。 （もっと読む）

【課題】波長可変光源を往復掃引させ、その掃引方向の違いによって生じる波長ずれの差を検出することによって、例えＦＢＧまでの光路長が不明な場合であっても測定対象の歪み測定を高速かつ正確に行えるとともに、ＦＢＧまでの光路長の測定をも可能にしたＦＢＧ歪センサシステムを提供する。
【解決手段】波長可変光源１０が短波から長波へ掃引している期間に受光器１４から出力される電気信号ｂと波長可変光源１０の発振波長からＦＢＧ１３ａ〜ｃの反射波長を第１の仮の反射波長λ_TUとして測定し、かつ、波長可変光源１０が長波から短波へ掃引している期間に受光器１４から出力される電気信号ｂと波長可変光源１０の発振波長からＦＢＧ１３ａ〜ｃの反射波長を第２の仮の反射波長λ_TDとして測定して、この第１の仮の反射波長λ_TU及び第２の仮の反射波長λ_TDと波長可変光源１０の発振波長の掃引特性とに基づいてＦＢＧ１３ａ〜ｃの反射波長λ_Fを求める。 （もっと読む）

【課題】 従来のものよりも温度変化に対し高速に追随し所定の温度範囲内に保持できる半導体装置を提供すること。
【解決手段】 発光素子モジュール１０は、レーザ光を出射する発光素子１１と、発光素子１１の温度を検知する温度検知膜１２と、温度検知膜１２に電気的に接続された電極１３及び１４と、発光素子１１を搭載するキャリア１５と、キャリア１５を保持する基板１６と、発光素子１１の温度を一定に保つ熱電素子１７とを備える。 （もっと読む）

【課題】 端面がへきかいによって形成され、従来よりも基板面の利用率が高く容易に製造可能な半導体発光素子およびその製造方法を提供すること。
【解決手段】 結晶性の基板１１１と、基板１１１の一方の基板面上に設けられた、活性層を含む半導体層１１２と、基板１１１の半導体層１１２が設けられた基板面と反対側の基板面上に設けられた複数の第２の電極１３１ａ、１３１ｂと、半導体層１１２上の各第２の電極１３１ａ、１３１ｂに対向する位置に設けられた複数の第１の電極１２１ａ、１２１ｂとを備え、各第２の電極１３１ａ、１３１ｂが、へきかい位置を設定するへきかい位置指定領域１３４が隣り合う第２の電極１３１ａ、１３１ｂ間に形成される形状を有し、へきかい位置指定領域１３４が、基板１１１の端の部分であるスクライブ領域１３２、１３３で広がり、へきかい位置指定領域１３４内に基板の一部が除去された溝を有する構成を有している。 （もっと読む）

【課題】 簡単にシナリオのエラーを検出することができ、シナリオの編集に要する作業負担を軽減する。
【解決手段】 シナリオエラー検出処理装置５は、データベース１１とエラーチェック手段１２を具備する。データベース１１は、所定の通信規格に基づいた複数のメッセージと符号との対応を参照可能とした第１の参照テーブル１１ａと、メッセージ各々に対して次に実行可能なメッセージに対応する符号との対応を示したメッセージのシーケンスを参照可能とした第２の参照テーブル１１ｂとを含む。エラーチェック手段１２は、入力されたシナリオに記述された複数のメッセージをデータベース１１に含まれる第１の参照テーブル１１ａに基づきそれぞれ符号化し、この符号化されたメッセージをシナリオに記述されたシーケンスに従って第２の参照テーブル１１ｂを参照して実行可能か判定を行い、その判定結果を出力する。 （もっと読む）

【課題】 小規模な構成で誤差の少ない変換特性を実現する。
【解決手段】 振幅位相算出手段５２は、異なる複数の周波数成分を含む校正用信号が入力されたときにＡ／Ｄ変換器が所定期間出力するデジタル信号列に対してＦＦＴ演算処理を行い、校正用信号に含まれる各周波数成分の振幅と位相を求める。誤差特性算出手段５３は算出された振幅と位相の基準値に対する誤差の周波数特性を求める。重み付け手段５４は得られた位相誤差の周波数特性に対し、その周波数の上限に近づく程誤差が０に近くなるように重み付けする。係数算出手段５５は、振幅誤差の周波数特性と、重み付け手段５４によって重み付け処理された位相誤差の周波数特性とに基づいて、振幅誤差と位相誤差を補正するためのフィルタ係数を求める。変換対象信号が入力されたときにＡ／Ｄ変換器が出力するデジタル信号列に対し、前記得られた係数によるフィルタ処理を行い補正する。 （もっと読む）