【課題】測定器本体から離間した測定箇所にテストリードの接触端を当てる操作を行いつつ、測定者が測定箇所から視線を外す必要なく測定結果又は測定器の状態を容易に認識することが可能な測定器を提供する。
【解決手段】測定器本体１０と、測定器本体１０の一側面に設けられた情報を表示するための表示部１６と、測定器本体１０に接続されたテストリード１４と、を有する測定器１は、表示部１６を上側に向けて測定者の前側に保持された状態で測定者の前方を照射する測定器本体１０に設けられた照射手段１８と、テストリード１４を用いて行った測定結果又は当該測定器１の状態に応じて照射手段１８による光の照射状態を切り替える測定器本体１０に設けられた制御部１１と、を有する構成とする。 （もっと読む）

【課題】電気回路の抵抗値を非接触で簡単に得ることができる抵抗用測定回路を提供する。

【解決手段】 被測定抵抗Ｒ_Lの値を求めるための電気特性を得る抵抗用測定回路は、被測定抵抗に並列接続され，所定の周波数ｆで並列共振する第１コイル及び第１コンデンサと、第１コイルと電磁結合される第２コイルと、第１コイルと第２コイルとが電磁結合されていない状態で第２コイルのみの周波数ｆでのインダクタンス成分L₂₀及び抵抗成分R₂₀とからなる電気特性を検出し，第２コイルが前記第１コイルと電磁結合した状態で前記周波数ｆでの第２コイルのインダクタンス成分L_2a及び抵抗成分R_2aとからなる電気特性を検出する検出回路と、を備える。 （もっと読む）

【課題】絶縁抵抗の低下と装置故障とを区別することが可能な絶縁抵抗検出装置を提供する。
【解決手段】負荷回路１０の絶縁抵抗Ｒｉを検出する絶縁抵抗検出装置５０において、第１端が前記負荷回路１０に接続されたカップリングコンデンサＣ１と、前記カップリングコンデンサＣ１の第２端に接続され、この第２端に周期波形を出力する矩形波生成回路５１と、前記周期波形のピーク点を含む一部を取り出して増幅する波形整形回路５４と、前記波形整形回路５４より出力される波形の波高値である参照信号Ｖ１と、前記周期波形の波高値である基準信号Ｖ２に基づいて、前記負荷回路１０の絶縁抵抗Ｒｉを求めるマイコン５５と、を有する。そして、Ｖ１≧Ｖ２の領域では、参照信号Ｖ１を用いて絶縁抵抗Ｒｉを求め、Ｖ１＜Ｖ２の領域では、参照信号Ｖ１と基準信号Ｖ２の平均値を用いて絶縁抵抗Ｒｉを求める。 （もっと読む）

【課題】被試験回路の伝達特性を測定する。
【解決手段】被試験回路の入出力間の伝達特性を測定する伝達特性測定装置であって、予め定められた周波数のキャリア信号に予め定められた周波数とは異なる周波数の加算信号を加算した試験信号を生成して、被試験回路に入力する試験信号入力部と、被試験回路が出力する出力信号を測定した結果に基づいて、加算信号の周波数における被試験回路の伝達特性を測定する伝達特性測定部とを備える伝達特性測定装置を提供する。被試験回路は、半導体チップに形成されてもよい。被試験回路は、半導体チップに入力される信号を補正して出力し、半導体チップには、被試験回路の出力信号を、キャリア信号の周波数でサンプリングするサンプリング回路が更に形成されてもよい。 （もっと読む）

【課題】キャパシタンス検出回路を提供する。
【解決手段】本発明のキャパシタンス測定回路は、外部からキャパシタンスを印加したパッドがフィードバックループの内部に配置され、キャパシタンス値を順次に増減することによりパッドを介して印加されるノイズによる影響を少なく受けるので、正確なキャパシタンス値を測定することができる。そして、印加されたキャパシタンスを周期的に検知することでノイズの影響を除去することができ、デジタルフィルタを備えて安定的なキャパシタンス値を獲得することができる。 （もっと読む）

【課題】電気機器内部の受動素子であるコンデンサやリアクトルのパラメータを電気機器を分解することなく測定できるようにすることである。
【解決手段】負荷抵抗演算部１８は、電源装置１４から電気機器１１に電源供給されているときに電気機器１１に印加される電圧Ｖ及び電気機器１１に供給される電流Ｉに基づいて電気機器１１の負荷抵抗Ｒを演算し、電源制御部１９は、電源装置１４から電気機器１１への電源供給を一時停電させ、所定の停電時間Ｔの経過後に復電させ、コンデンサ容量演算部２０は、電源装置が一時停電したときの停電直前電圧、電源装置が復電したときの復電電圧、電源装置１４が一時停電してから復電するまでの停電時間Ｔ、負荷抵抗演算部１８で求めた負荷抵抗Ｒに基づいて電気機器１４のコンデンサ容量Ｃを演算する。 （もっと読む）

本発明は、電子システムまたは電気機械システムの識別方法であって、前記システムに対する入力として少なくとも1つのノイズ信号(u)を印加するステップと、前記システムの出力信号を1ビットのアナログデジタルコンバータに印加するステップと、前記コンバータの出力端で信号を取得するステップと、前記システムのインパルス応答の推定


を遂行するための手段を利用して、前記システムの出力の推定を実行するステップであり、前記インパルス応答の推定


が、前記コンバータの前記出力端における前記信号と前記ノイズ信号との間の少なくとも1つの相関項をそれぞれ含む所与の基準(J)の複数のnh個の要素(J₀、...、J_i、...、J_nh-1)の反復計算を含むステップとを含む方法に関する。
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【課題】ＥＣＵの検査を簡易に行うことを可能とする。
【解決手段】ＥＣＵ４０は、ＣＰＵ４４の出力端子４４ａ，４４ｂ，４４ｃと出力ポート４８，５０，５２を接続するアナログ回路４５ａ，４５ｂ，４５ｃを備えている。ＥＣＵ検査装置１０のＣＰＵ１６は、ＣＰＵ４４の出力端子電圧を所定の時間だけ反転させる指令信号をＣＰＵ４４に出力する。ピークホールド回路１２ａ，１２ｂ，１２ｃは、その指令信号によってＣＰＵ４４の出力端子電圧が反転したことに起因して変化する出力ポート電圧のピーク値を保持する。ＣＰＵ１６は、ピークホールド回路１２ａ，１２ｂ，１２ｃに保持されたピーク値からＥＣＵ４０の異常を判別する。前記所定時間は、ＣＰＵ４４の出力端子電圧が反転している期間がＥＣＵ４０の出力ポート電圧が過渡的に変化する時間内に終了するように設定されている。 （もっと読む）

【課題】高価な校正基板を利用せずに、プローブの校正を行うことができる高周波特性測定用プローブの校正方法。
【解決手段】平面伝送路を有する校正基板１０を測定器１６の１つの測定ポートに接続し、校正基板１０を利用した誤差補正方法により、校正基板１０の所定の校正面から測定器１６までの誤差を導出する。 プローブ２０を測定器１６の他の測定ポートに接続し、校正基板１０の校正面にプローブ２０の先端を接触させ、その電気特性を測定器１６により測定する。この測定値から、校正基板１０の誤差を取り除くことで、測定器１６からプローブ２０の先端までの誤差を導出し、プローブ２０の先端を校正面とする。 このプローブ２０を用いて被測定電子デバイス３０の高周波電気特性を測定すれば、その真値を高精度に求めることができる。 （もっと読む）

【課題】 ＥＳＤ保護回路に対し、放電電圧を印加することによって速やかにＥＳＤ保護回路の特性インピーダンスを測定する方法、及び当該方法を実現し得る装置の構成を提供すること。
【解決手段】 本発明の基本構成は、静電気放電保護回路に対して印加した放電電圧の時間の経過に伴う変化、及び当該保護回路を導通する放電電流の時間の経過に伴う変化を測定し、経過した所定の各共通時間毎に対応し合う放電電圧と放電電流とが共に順次上昇し、それぞれ個別にピーク値に至った後、共に減衰過程に至るまでの状態をコンピュータに対する入力及び当該コンピュータからの出力によって把握し、かつ前記減衰過程における放電電圧の変化量／放電電流の変化量の比率が概略一定である場合に、当該比率をインピーダンス値とすることに基づき、速やかに静電気放電保護回路における特性インピーダンスを測定する方法及び当該方法を実現する装置。 （もっと読む）

本発明は、テスト下のデバイス（４０）の非線形動作を決定する方法及び装置に関し、デバイス（４０）を、種々の終端状態下で関連のデバイス端子のテスト信号によって励振させ、基本周波数及び高調波周波数における放射信号を関連のデバイス端子で測定する。次に、既知のインピーダンス及び直線性の較正規格で取られる較正測定を行って、ケーブルの損失及び遅れ、及び測定系の非線形動作に対する測定を行うことで読み取った生データを補償するのに必要なパラメータを取り出す。最終的に、非線形の散乱パラメータ又はアドミタンスパラメータを、種々の励振及び終端状態で取られる誤差を補償した測定値から抽出する。これにより、非線形動作をより正確に特性化し、モデル化し、理解できるようにする。
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