【課題】
低抵抗体の良否を簡素な回路構成で高精度に判定可能な低抵抗体の良否検査装置を提供すること。
【解決手段】
被測定抵抗Rxの電圧降下を4端子法で計測し、それと時間順次に所定の一乃至複数の基準抵抗の電圧降下を独立に計測し、得られた複数の電圧降下の電圧増幅値を演算することにより、低抵抗値をもつ被測定抵抗の良否を判定する。 （もっと読む）

【課題】電力の通過損失を低減し且つ精度が良い定在波比を測定する。
【解決手段】定在波比測定回路１は、送信系の増幅回路１１０と、増幅された送信信号をアンテナ１９０方向へ出力し、アンテナ１９０で受信された受信信号を受信系へ出力する第１のサーキュレータ１２０と、定在波比の測定要求が検出されたとき、増幅回路１１０に入力する前の送信信号（進行波）を、増幅回路１１０を迂回して受信系へ進行させる進行波迂回部１４０と、迂回した進行波を第１のサーキュレータ１２０方向へ出力する第２のサーキュレータ１５０と、出力した進行波が第１のサーキュレータ１２０を介してアンテナ１９０方向へ進行するように、増幅回路１１０を制御する制御部１６０と、反射波を受信系のうち第２のサーキュレータ１５０以降で取得する反射波取得部１７０と、進行波と反射波とを用いて定在波比を測定する測定回路１８０とを備える。 （もっと読む）

【課題】消費電流を低減しつつ、微小な容量変化をより高速かつ高精度で検出することが可能な容量差検出回路を提供する。
【解決手段】容量差検出回路１００のタイミングジェネレータ１４は、電流切換スイッチ回路６の切換動作を制御する電流切換パルス信号を出力し、第１、第２の可変容量キャパシタ２、３に第１、第２の充電電圧が充電されている期間中にこの第１、２の充電電圧を検出するように、チョッパ型アンプ７を制御するゲートパルス信号を出力し、第１の充電電圧を検出する期間中にチョッパ型アンプ７の出力信号をサンプルホールドするように、第１のサンプルホールド回路８を制御する第１のサンプルパルス信号を出力し、第２の充電電圧を検出する期間中にチョッパ型アンプ７の出力信号をサンプルホールドするように、第２のサンプルホールド回路９を制御する第２のサンプルパルス信号を出力する。 （もっと読む）

【課題】正確に信号発生器の出力電力を校正する。
【解決手段】与えられた設定値に応じた電力の出力信号を出力する信号発生器の出力反射係数を測定する測定装置であって、互いに異なる入力反射係数を有する少なくとも４つの接続回路と、少なくとも４つの接続回路のそれぞれを順次に信号発生器に接続する選択部と、信号発生器から所定の電力且つ所定の周波数の出力信号を出力させる発生制御部と、少なくとも４つの接続回路が信号発生器に順次に接続されたそれぞれの状態において信号発生器から出力された出力信号の電力を順次に測定する電力測定装置と、所定の電力、電力測定装置により測定された電力測定値、および少なくとも４つの接続回路のそれぞれの所定の周波数における入力反射係数に基づき、信号発生器の出力反射係数を算出する出力反射係数算出部とを備える測定装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】 実測値に基づく伝送線路のモデル化に際し、伝送線路特性を計測する特定の計測器が有する固有の誤差、ノイズ等の影響を抑制し、モデルを実際の伝送線路特性にフィッティングさせるために、従来のような試行錯誤によるモデル化作業の長時間化を解消した伝送線路特性のモデル化方法およびそのモデル化装置を提供することにある。
【解決手段】 実測値と伝送線路特性のシミュレーション結果とを比較しながら、伝送線路特性を実測値に近づけるフィッティング手法を用いて伝送線路特性の決定を行う。 （もっと読む）

【課題】測定対象における交流信号の振幅を簡単かつ迅速に取得できる、振幅算出装置およびそれを備えるインピーダンス測定装置、ならびに振幅算出方法およびそれを備えるインピーダンス測定方法を提供する。
【解決手段】インピーダンス測定装置１０は、測定部１４を備える。測定部１４は、電圧計１６、電流計１８、およびＣＰＵ２２を有するコントローラ２０を含む。ＣＰＵ２２は電圧計１６によって測定対象１００から時間ｔ₁，ｔ₂の出力Ｙ₁，Ｙ₂を検出する。ＣＰＵ２２は、出力Ｙ₁，Ｙ₂の位相差を用いて振幅Ａを算出する。 （もっと読む）

【課題】ポート間で信号の漏洩がある治具を用いても、精度の良い相対補正が可能である測定誤差の補正方法及び電子部品特性測定装置を提供する。
【解決手段】独立ポート１、２について、ポート間の信号の漏洩を無視して試験治具測定値と基準治具測定値とを関連付ける第１の数式を決定する。非独立ポート３、４と独立ポート１、２とが電気的に接続されたスルーデバイスを基準治具と試験治具に実装し、独立ポート及び非独立ポートについて測定し、第１の数式を用い、ポート間の信号の漏洩を考慮して非独立ポート３、４について試験治具測定値と基準治具測定値とを関連付ける第２の数式を決定する。任意の電子部品を試験治具に実装した状態で非独立ポートについて電気特性を測定し、第２の数式を用いて基準治具測定値を算出する。 （もっと読む）

【課題】高耐圧のスイッチ素子を複数用いることなく比較的簡単な構成で実現できる漏電検出回路を提供する。
【解決手段】本発明の漏電検出回路１は、ボディグランドＢＧｎｄ、抵抗１０、スイッチ素子２０、検出抵抗３０、可変電源４０を直列接続した枝路を備え、可変電源４０の低電位側は、監視対象である電源装置Ｅの負電極に接続されている。コンピュータ６０は、漏電検出時のみスイッチ素子２０をオンにし、可変電源４０の出力を高電位側の漏電検出時は０とし、低電位側の漏電検出時は１０数ボルトとするように制御を行う。検出抵抗３０の両端の電圧を増幅器５０で増幅し、漏電電流または漏電抵抗を求める。検出回路の基準電位をボディグランドＢＧｎｄではなく、電源装置Ｅの負電極に揃えることにより、高耐圧スイッチ素子２０を１つ含む検出回路が１系統あればよく、比較的簡単に回路を構成することが可能となる。 （もっと読む）

【課題】低デューティサイクルを有するパルス信号を計測する際に良好なダイナミックレンジを有する計測システムを提供する。
【解決手段】計測システムにより被検装置の分析を行う方法において、パルス信号を被検装置に印加する段階と、パルス信号が被検装置に印加された後に、パルス信号に対応する計測信号を受信する段階と、計測信号をフィルタリングして計測信号の複数の異なるスペクトル成分を選択する段階と、複数の異なるスペクトル成分を合成して合成信号を形成する段階と、合成信号を分析して被検装置の特性を判定する段階と、を含んでいる。 （もっと読む）

電荷移動法を使用して可測キャパシタンス（１１２）を検出するための方法、システムおよび装置が記載される。各種の実施形態によれば、電荷移動プロセスが、２回以上実行される。電荷移動プロセス中に、所定の電圧が、可測キャパシタンス（１１２）に印加される。その後、可測キャパシタンス（１１２）が、受動インピーダンス（Ｚ）を介してフィルタキャパシタンス（１１０）と電荷を再分配することが可能とされる。受動インピーダンスは、電荷移動プロセスにわたって、可測キャパシタンスとフィルタキャパシタンス（１１０）に結合されている。次に、可測キャパシタンス（１１２）の値が、フィルタキャパシタンス（１１０）の電荷を表す値と、電荷移動プロセスが実行された回数の関数として決定されうる。このような検出方式は、従来の部品を使用して容易に実装することができ、入力センサに対する指、スタイラスまたはその他の物体の位置を検知するうえで特に有用でありうる。
（もっと読む）

【課題】トポロジーが独立した試験システムを較正する手法。
【解決手段】試験システム１００において、試験中の装置１０２に対して得られた測定データの調整は、トポロジー独立較正システム（ＴＩＣＳ）１１０によって行われる。 トポロジー独立較正システム（ＴＩＣＳ）１１０は、システム較正マネージャ１２０とプロセッサ１２２から構成される。 システム較正マネージャ１２０は、ＡＴＭＬ互換のＸＭＬデータベース、経路補正モジュールとしてのＳパラメータシミュレータ、プリディストーションモジュールを含む。 （もっと読む）

【課題】単一の周波数を使用して静電容量の変化を感知する場合に生じる、充放電制御部の時間遅延td成分による敏感度の低下問題を克服しうる静電容量変化検出方法及び検出集積回路を提供する。
【解決手段】単一の周波数でない時分割された二つの周波数を用いてターゲットキャパシタの静電容量変化を感知することを特徴とする。具体的に、静電容量の変化に対して時間分割で感知周波数ｆａと、このｆａよりもｋ倍遅い感知周波数ｆｂを発生する第１の段階と、該感知周波数ｆａとｆｂとの差である差周波数を演算する第２の段階と、該差周波数の変化率を演算する第３の段階と、該差周波数の変化率を所定の感知レベルと比較し、この差周波数の変化率が感知レベルよりも大きければ、静電容量が変化したことを表す信号を出力する第４の段階と、を備えることを特徴とする。 （もっと読む）

本発明は、電磁誘導を使用して、導電性の測定対象のオブジェクトの寸法および／または電気的特性を、非接触式に測定するための方法に係る。この方法において、電磁場が、測定対象のオブジェクトを貫通するように発生される。本発明は、以下の方法ステップにより実現される；トランスミッタ・コイルを、測定対象のオブジェクトの一方のサイドに配置する；レシーバ・コイルを測定対象のオブジェクトのもう一方のサイドに配置する；磁場を、トランスミッタ・コイルの中に発生させる；トランスミッタ・コイルの中に発生させた磁場に、一つのレベルから他のレベルへの突然の変化を生じさせる；レシーバ・コイルの中に誘導される電圧を検出する；トランスミッタ・コイルの中での磁場が変化する時間Ｔ２から、レシーバ・コイルの中に電圧が誘導され始める時ｔ１までに、経過した時間を決定する；誘導される電圧の強さを決定し、そして、測定対象のオブジェクトの厚さおよび／または電気伝導度を計算する。
（もっと読む）

本発明は、測定対象のオブジェクト（２）の、例えばその幾何学的寸法またはその電気伝導度などのような、被調査特性を、電磁誘導を使用して非接触式に決定するための方法に係る。この方法において、電磁場が、測定対象の前記オブジェクト（２）の一方のサイドに配置されたトランスミッタ・コイル（３）の中に発生され；測定対象の前記オブジェクト（２）を貫通する磁場が、測定対象の前記オブジェクト（２）のもう一方のサイドに配置されたレシーバ・コイル（４）により検出される。本発明は、下記工程を有している：コントロール・コイル（５）を、前記トランスミッタ・コイル（３）の近傍に配置する；前記トランスミッタ・コイル（３）の磁場の中に変化を発生させる；前記コントロール・コイル（５）の中の磁場の変化を検出する；前記レシーバ・コイル（４）の中の磁場を検出する；前記コントロール・コイル（５）の中と前記レシーバ・コイル（４）の中で、それぞれ磁場の変化が検出される時間の相違を決定する；測定対象の前記オブジェクト（２）を磁場が貫通する時間（Ｔ２）を決定する；その時間から、測定対象の前記オブジェクト（２）の厚さまたは電気伝導度を決定する。

（もっと読む）

【課題】
本発明は、ポテンショメータ、特にはっきりしない状態が発生するポテンショメータの範囲に対する診断回路に関する。
ポテンショメータ（１０）のスライダ（６）に対する負荷抵抗（測定抵抗）を切り替えることによって、ポテンショメータのスライダの調整時又はスライダの臨界点（６）上での停止時の接触抵抗（Ｒ_u ）を負荷状態又は無負荷状態の測定値によって連続して比較することが提唱される。このことは、回路技術的には、例えばプルアップ抵抗をマイクロプロセッサ（１２）の入力部（Ｅ２）に対して切り替えることによって非常に簡単に構成することができる。負荷抵抗（７）が、マイクロプロセッサ（１２）に接続されている。この負荷抵抗（７）は、スライダ（６）に電気接続されている。スライダ（６）自体は、マイクロプロセッサ（１２）のもう１つの入力部（Ｅ２）に接続されている。
（もっと読む）

【課題】異なるテストフイクスチャを用いた場合に同一または近似の測定値を得る方法の提供
【解決手段】テストシステムによって作成された被測定物の測定値を変換する方法であって、基準テストフィクスチャと生産テストフィクスチャとの間の差であって、前記テストフィクスチャの対応するテストポートにおける差を表すポート固有の差分アレイを決定する段階と、前記テストシステムを使用して、前記生産テストフィクスチャ内に取り付けられている前記被測定物の性能を測定する段階と、前記ポート固有の差分アレイを適用して、前記測定された被測定物の性能が、前記基準テストフィクスチャ内に取り付けられ前記テストシステムによって測定された前記被測定物の仮定的な被測定物の性能に近づくよう
にする段階を有する。 （もっと読む）