【課題】 従来の磁気を利用した非破壊検査装置では、表皮効果により検査対象が被検体の表層部に限られ、厚肉構造の被検体の内部や裏面の探傷検査ができなかった。
【解決手段】 被検体に誘起される渦電流による磁場の検出出力から被検体表層部の検出出力をキャンセルする外部信号を与えることにより表皮効果の影響を除外した。これにより、被検体表層部の検出出力によってマスキングされていた被検体内部の検出出力を取り出すことができ、被検体の内部や裏面の探傷および肉厚検査などができるようになった。 （もっと読む）

【課題】被検体内部深くまで検出磁場を透過させ、高精度で被検体の探傷を行うパルス励磁探傷装置の提供。
【解決手段】被検体に入射する磁場を発生する励磁コイル、及び被検体からの前記応答磁場を誘導電流又は誘導電圧として検出する検出コイルを具備するプローブと、励磁コイルに対し、０．１秒以上１秒以下のパルス幅のパルス電流を通電することにより、励磁コイルにより被検体に入射する入射磁場を発生させるロングパルス生成手段を備えた。ロングパルス磁場は低周波成分を多く含み、保温材などの表皮材をよく透過するとともに、被検体内の表皮効果の影響を受けにくく、被検体の深部にまで到達する。従って、被検体には、被検体の深部からの応答磁場も発生し、これをプローブの検出コイルにより検出することにより、被検体の深部の検査も精度よく行うことが可能となる。 （もっと読む）

【課題】 試料に交流電圧を長時間連続的に印加すると、試料に連続的に渦電流が発生し、その渦電流によるジュール損失により試料の温度が上昇してしまい、所望の温度条件下での試料の電気特性が計測できず、膜厚、傷といった物理的状況の同定にも誤差が生じる。
【解決手段】 試料への電圧印加を連続的な交流ではなく、試料における熱量発生が最小限で済む単発パルスとすることで、計測による試料の温度上昇を極力避け、測定精度を向上させるようにした。この単発パルス電圧の発生は、コイルに流した電流の急激な減少によって行うようにした。単発パルス電圧発生期間における試料の渦電流損失を、パルス発生前のコイルの励磁エネルギーとパルス発生期間にコイルを通して回生されるエネルギーとの差によって計測する。 （もっと読む）

多重コイル開心又は空心インダクタである共振型インピーダンスセンサであって、少なくとも２つのコイルを含み、１つのコイルは、周波数掃引を行う少なくとも１つの別の電流源に接続可能な励振コイルであり、別のコイルは、少なくとも１つのデータ処理システムに接続可能な検知コイルであり、前記電流源に電気接続したとき、前記励振コイルは、エネルギーを前記検知コイルに伝播し、これによってプロービング電磁場が発生し、前記検知コイルのＬＣＲパラメータが、所定の周波数における被試験物体のインピーダンスを測定するための共振条件を提供することができる共振型インピーダンスセンサ。 （もっと読む）

ロータの羽根付きホイールドラムの表面に延在する環状のシール用ワイパを検査するための装置。装置は、少なくとも２つの案内ホイール（３６）を備えるキャリッジ（１１Ａ）を備えており、このキャリッジ（１１Ａ）が、プローブ（１３）を、キャリッジが所定の位置にあるときにプローブが検査対象のワイパの縁に面してワイパの縁から所定の距離に位置するような位置に配置させて保持している。
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【課題】シールド部材の重ね部分とシールド部材のない部分との区別を可能にして、正確にシールド部材の異常を検出することができるシールド部材の異常検出方法及びシールド部材の異常検出装置を提供する。
【解決手段】銅テープ１３に渦電流を発生させるために４０ｋＨｚ〜２００ｋＨｚの交流電圧を励磁コイルＣ１に印加する。この励磁コイルＣ１とその渦電流による磁束を検出する検出コイルＣ２とをＣＶケーブル１０の長手方向に沿って走査する。検出コイルＣ２からの出力電圧に基づいて銅テープ１３の異常を検出する。 （もっと読む）

【課題】 配管における隠蔽部を合理的に検査することの可能な海水配管検査方法及び各部位を迅速に検査することのできる検査方法を提供すること。
【解決手段】 海水配管１００の内面を外面から検査する。フランジ１０４、貫通１０３又はサポートバンド１０５等による隠蔽部Ａ１の外部で配管のうち直管部Ａ２の外面に探触子１１を接触させる。探触子１１から隠蔽部Ａ１にガイド波を送信する。このガイド波を受信することにより、隠蔽部Ａ１における配管１００内面を検査する。 （もっと読む）

【課題】材料や構造内で腐食、クラックなどの欠陥を検出する。
【解決手段】探触子（１）とテスト対象構造（２）の表面の間のリフトオフ分離のバラツキによって構造内の欠陥の検出がマスクされることが多い。既知のリフトオフにおける基準信号（２３）を対応する計算した比パラメータで重み付けしてテスト信号（３２）から差し引くことによってリフトオフを補償することができる。多数の基準信号を取得することが好ましく、また各基準信号ごとに最大規模傾斜（２４）を決定することが好まし。後続のテスト信号（３３）に対する最大規模傾斜も取得されると共に、テスト信号に最も近い最大規模傾斜をもつ対応する基準信号が特定され、関連する補償手順においてこの対応する基準信号が選択される。この方法によって信号が修復され、リフトオフが排除されかつ欠陥が容易に特定できる。 （もっと読む）

【課題】保温材の解体等の附帯工事を伴わない減肉検査などを可能とし、配管などの傷の評価を容易に行ない得る、新規な渦電流測定用プローブ及びそれを用いた探傷装置を提供する。
【解決手段】渦電流測定用プローブ１は、被測定物２である導電体又は強磁性体に所定の距離を保持して配置され、被測定物に渦電流を発生させる励磁部３を備え、励磁部３が、被測定物２に集中した磁場分布を形成するために、第１の励磁用コイル５と、第１の励磁用コイル５に隣接して配置される第２の励磁用コイル４と、から構成される。励磁部３に隣接して配設される磁界検出部６を備えてもよい。保温材で被覆された強磁性管に生じた傷部を、非破壊で短時間に精度よく探傷することができる。 （もっと読む）

【課題】 より簡便なシールド付き信号線の非破壊検査法を提供することを課題とする。
【解決手段】 渦電流式センサで基準とする信号線を測定してセンサ出力とする基準値Ｖ３を取得し、この基準値に許容差Δ１、Δ２を考慮した判別上限値Ｖ６と、判別下限値Ｖ７を設定し、診断対象の信号線の実測値ＶａｃｔがＶ７≦Ｖａｃｔ≦Ｖ６であるか判別することで、シールド付き信号線のシールドの劣化部位を部位を検査することができる。
【効果】 渦電流式センサを使用することで、より簡便なシールド付き信号線の非破壊検査法を提供することができる。 （もっと読む）

【課題】 被検体が台車枠のような複雑な溶接構造物であっても、ノイズや擬似信号の影響を低減することができ、経験の少ない検査員によっても容易かつ確実に傷等を判別でき、傷等の位置とその大きさ及び深さを容易かつ確実に求めることができる交流電磁場測定法による探傷検査装置及び方法を提供する。
【解決手段】 交流磁場発生コイル１２、Ｂｘ測定コイル１３、Ｂｚ測定コイル１４、及び位置センサ１８を有する探傷プローブ１０と、探傷プローブに交流磁場を与え、磁束密度ＢｘとＢｚを出力する交流電磁場測定装置２０と、磁束密度ＢｘとＢｚをデータ解析して、被検体表面に存在する傷等の位置を検出するデータ解析装置３０とを備える。各コイルの位置誤差により生データを補正し、次いで平滑化処理と基準化処理したデータを作成し、これから原点Ｏから点（Ｂz、Ｂx）までの磁束密度ベクトルＢ（z，x）を設定し、このベクトルのベクトル積Ａを算出し、ベクトル積Ａが所定の閾値を超えるときに、傷等が存在すると判別する。 （もっと読む）

【課題】 表面にメッキが施された磁性体の中空金属体の板厚の減肉を口径や減肉幅の大きさに関係なく検出することができる中空金属体の減肉検出装置を提供することである。
【解決手段】 磁界発生部１２は、表面にメッキが施された磁性体の中空金属体１１の外周に中空金属体１１の軸方向に移動可能となるようにリング状に装着され、電源部１４からの所定周波数以下の周波数の交流電源により、中空金属体１１の軸方向所定幅の領域のみに磁界を発生させる。誘導電圧検出部１３は、中空金属体１１の外周に磁界発生部１２と連動して中空金属体１１の軸方向に移動し、磁界発生部１２で発生した磁界により中空金属体１１の板厚に応じて変化する磁束を誘導電圧として検出する。 （もっと読む）

【課題】地中に埋設される配管のうち地上への立ち上がり部分以外の箇所での給電を容易にする絶縁被覆埋設配管を提供すること。
【解決手段】絶縁被覆埋設配管は、金属管１２の外周面に少なくとも１本接続されて該外周面から突出する給電体１３と、金属管１２の外周面と給電体１３の外周面を覆う絶縁性被覆１４とを有し、地上に露出される給電体１３の上端部から損傷箇所検出用信号が印加されて電位、磁界等の変化により損傷箇所が検出される。 （もっと読む）

【課題】 磁性体を主成分とする金属基材表面に非磁性体金属の表面被覆を有する金属部材について、錆等の表面被覆の劣化を目視によらず容易に劣化判定する方法を提供すること。
【解決手段】 前記金属部材に近接センサを接近させ、下記式（１）を満たすときに前記金属部材の表面被覆が劣化していると判定する。
Ｌ２＜Ｌ１ （１）
Ｌ１：被検出体である前記金属部材に、前記近接センサを接近させ、前記近接センサが前記金属部材の接近または存在することを検出し始めるときの、前記近接センサの検出面と前記金属部材表面との間の距離。
Ｌ２：表面被覆が劣化していない前記金属部材に前記近接センサを接近させ、前記近接センサが前記金属部材の接近または存在することを検出し始めるときの、前記近接センサの検出面と前記金属部材表面との間の距離。 （もっと読む）