国際特許分類[H01L21/31]の内容
電気 (1,674,590) | 基本的電気素子 (808,144) | 半導体装置,他に属さない電気的固体装置 (445,984) | 半導体装置または固体装置またはそれらの部品の製造または処理に特に適用される方法または装置 (183,847) | 半導体装置またはその部品の製造または処理 (125,986) | 少なくとも一つの電位障壁または表面障壁,例.PN接合,空乏層,キャリア集中層,を有する装置 (97,574) | 不純物,例.ドーピング材料,を含むまたは含まない周期律表第IV族の元素またはA↓I↓I↓IB↓V化合物から成る半導体本体を有する装置 (83,040) | 21/20〜21/26に分類されない方法または装置を用いる半導体本体の処理 (43,387) | 半導体本体上への絶縁層の形成,例.マスキング用またはフォトリソグラフィック技術の使用によるもの;これらの層の後処理;これらの層のための材料の選択 (16,787)
国際特許分類[H01L21/31]の下位に属する分類
後処理
有機物層,例.フォトレジスト (1,275)
無機物層, (4,431)
マスクを用いるもの (1)
絶縁層へ非絶縁層,例.導電層または抵抗層,の付着;これらの層の後処理 (7,286)
国際特許分類[H01L21/31]に分類される特許
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排ガス処理系配管内における珪フッ化アンモニウムの堆積抑制方法
【課題】半導体又は液晶パネル製造装置における排ガス処理系配管内における珪フッ化アンモニウムの付着・堆積を抑制して、排気配管または排気設備の清掃周期を短くする珪フッ化アンモニウムの堆積抑制方法を提供することを目的とする。
【解決手段】少なくともプロセスガスとしてアンモニアガス、クリーニングガスとしてフッ素化合物、及びプロセスガス又はクリーニングガスのいずれかに珪素化合物を含有するガスを使用する薄膜形成装置(A)から、該薄膜形成装置(A)で発生する排ガス(G)を処理する燃焼式排ガス処理装置(B)に該排ガス(G)を移送するための排ガス処理系配管(C)内における珪フッ化アンモニウムの堆積抑制方法であって、珪フッ化アンモニウムが堆積する可能性のある排ガス処理系配管(C)部を加熱して、該配管内表面温度を120〜160℃に維持することを特徴とする、排ガス処理系配管(C)内における珪フッ化アンモニウムの堆積抑制方法。
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載置台構造及び処理装置
【課題】被処理体を直接的に載置する熱分散板の耐久性を向上させて破損し難くし、接続端子が腐食されないようにすることが可能な載置台構造を提供する。
【解決手段】排気が可能になされた処理容器32内に設けられて処理すべき被処理体Wを載置するための載置台構造において、被処理体を加熱する加熱手段72が設けられた載置台本体74と、載置台本体上に設けられると共に、その上面に被処理体を載置する熱分散板76と、載置台本体内に設けられた電極78と、載置台本体を支持するために処理容器の底部より起立された筒体状の支柱70と、支柱内に挿通されると共に上端部が加熱手段に接続されたヒータ給電部材110(110A〜110)と、支柱内に挿通されると共に上端部が電極に接続された電極給電部材112とを備えたことを特徴とする載置台構造である。
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基板処理装置
【課題】排気システムのコストを低減することができる基板処理装置を提供する。
【解決手段】基板に処理を施す処理室と、前記基板を前記処理室へ搬送する搬送装置を備えた搬送室12と、前記搬送室に連結された減圧可能な複数の予備室14a,14bと、前記複数の予備室に接続された排気装置50と、前記複数の予備室の排気をそれぞれ制御する複数の排気弁61−63と、前記複数の排気弁を制御する第二の制御手段89と、前記複数の排気弁のうちの一が開状態で、他の前記排気弁を開待ちとさせるように制御する第一の制御手段86と、を備えている。
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半導体デバイスの製造方法及び基板処理装置
【課題】酸化膜の成膜温度を低下させつつ、溝の凹部への埋め込み性を高める。
【解決手段】処理室内に基板を搬入する工程と、処理室内に成膜原料と、酸化原料と、触媒原料とを同時に供給する工程と、各原料の供給を停止して処理室内を不活性ガスでパージする工程と、を1回もしくは複数回実施することで、基板上に酸化膜を堆積させる工程と、酸化膜堆積後の基板を処理室内から搬出する工程と、を有する。
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アニール装置及びアニール方法
【課題】アニール処理において半導体基板の所望の温度分布が得られるアニール装置及びアニール方法を提供する。
【解決手段】アニール装置1は、ウエハ4の上方のウエハ4に対応する第1の領域201に配置された上部ランプ部22と、第1の領域201の周辺に位置する第2の領域202に配置された第1及び第2の側部ランプ部24、26と、上部ランプ部22と第1及び第2の側部ランプ部24、26を異なるタイミングで発光させるように制御する制御部8と、を備える。
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半導体デバイスの製造装置、製造方法
【課題】消耗部材の交換頻度を低減できる半導体デバイスの製造装置および製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の一態様に係る半導体デバイスの製造装置は、基板の処理条件毎に消耗部材の消費量が記憶されている第1の記憶部と、消耗部材の使用限度と現在の消費量がプロセスチャンバ毎に記憶されている第2の記憶部と、第1,第2の記憶部を参照して、プロセスチャンバ毎に基板の処理可能枚数を算出する算出部と、算出したプロセスチャンバ毎の処理可能枚数に基づいて、基板の処理を指示する割当部と、を具備する。
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基板処理装置
【課題】ガス供給ユニットを均一に加熱すると共に、ガスの供給、置換、排気等の動作の切替え時間の短縮が可能な基板処理装置を提供する。
【解決手段】基板26に処理ガスを供給し、基板に所定の処理を行う基板処理装置に於いて、容器本体9と該容器本体を上方から閉塞する蓋体11とからなる反応容器8と、基板を載置する基板載置部16と、基板を加熱する発熱部27と、前記反応容器の上方から処理ガスを供給するガス供給ユニット2とを具備し、前記蓋体の上面には凹部17が形成され、該凹部に前記ガス供給ユニットを収納し、該ガス供給ユニットと前記蓋体とを一体化した。
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半導体装置の製造方法および基板処理装置
【課題】 本発明の目的は、クリーニング時間を短縮し、生産性を向上させることのできる半導体装置の製造方法および基板処理装置を提供することにある。
【解決手段】 処理容器内の下部から上部まで立ち上がった第1ノズル部、第2ノズル部を介して、それ単独で膜を堆積させることのできる第1ガス、それ単独で膜を堆積させることのできない第2ガスをそれぞれ処理容器内に供給してその下方に向けて流し、処理容器の下部に設けられた排気口より排気して、基板上に薄膜を形成する処理を繰り返した後、処理容器内の下部から天井壁付近まで立ち上がりその天井壁に向けてガスを吹き付けるように設けられた第3ノズル部および第1ノズル部を介して、クリーニングガスを処理容器内に供給してその下方に向けて流し、排気口より排気して処理容器内および第1ノズル部内に付着した堆積物を除去するようにした。
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RFe2O4薄膜及びその製造方法
【課題】 Fe及びR,O(Rは、Ho,Er,Tm,Yb,Lu,Yのうち少なくとも1つ以上である)を含む薄膜原料供給源と基板との間に、プラズマを発生させ、基板上にRFe2O4薄膜を形成する気相成膜方法であって、前記プラズマが、5435cpsより少ないO活性種の発光強度を有し、Fe活性種の発光強度に対するO活性種の発光強度が、O活性種の発光強度/Fe活性種の発光強度<2
である気相成膜方法を提供する。
【解決手段】本発明によれば,RFe2O4薄膜製造方法が提供される。
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基板処理装置
【課題】気化器内部の圧力を低く保ち、安定的に大流量の液体原料の気化動作を行うことができる基板処理装置を提供する。
【解決手段】第1原料ガス供給管102s、第2原料ガス供給管102b、及び第3原料ガス供給管102tには、圧力損失が小さい、大口径のゲートバルブ方式のメンテナンス用バルブVs4、Vb4、Vt4がそれぞれ設けられている。メンテナンス用バルブVs4、Vb4、Vt4の設置箇所には、ダイヤフラムバルブのようにバルブ内で流路が狭くなっていたり、バルブ内で流路が屈曲していたりする箇所はなく、実質的にバルブが設けられていない場合の第1原料ガス供給管102s、第2原料ガス供給管102b、及び第3原料ガス供給管102tと同等である。
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