プローブ
【課題】高密度の配線パターンが形成されたフリップチップ面においても簡単な構造によって確実に測定対象と接触して四端子測定を行うことのできる測定用プローブ、その製造方法及び測定装置を提供する。
【解決手段】測定用プローブは、測定対象の抵抗値を測定するために測定対象と接触する接触部をそれぞれ有し、一方が電圧測定に他方が電流印加に用いられる第1及び第2のプローブ部を備える。その測定用プローブにおいては。第2のプローブ部が、第1のプローブ部を囲むように形成される本体部と、接触部を含むヘッド部と、ヘッド部が第1のプローブ部の接触部を軸方向に突出するように弾性的に付勢する付勢手段を有するとともに、ヘッド部の接触部が不使用時に第1のプローブ部の接触部よりも突出した位置にある。
【解決手段】測定用プローブは、測定対象の抵抗値を測定するために測定対象と接触する接触部をそれぞれ有し、一方が電圧測定に他方が電流印加に用いられる第1及び第2のプローブ部を備える。その測定用プローブにおいては。第2のプローブ部が、第1のプローブ部を囲むように形成される本体部と、接触部を含むヘッド部と、ヘッド部が第1のプローブ部の接触部を軸方向に突出するように弾性的に付勢する付勢手段を有するとともに、ヘッド部の接触部が不使用時に第1のプローブ部の接触部よりも突出した位置にある。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明はプローブに関し、より詳しくは、回路基板上の配線パターン等の測定対象の抵抗値の測定のための四端子測定方法に用いられる測定用プローブ、測定用プローブの製造方法及び抵抗測定装置に関する。
【0002】
尚、この出願書類で使用する用語の「回路基板」は、半導体パッケージ用のパッケージ基板やフィルムキャリアに限らず、プリント配線基板、例えば、フレキシブル基板、多層配線基板、液晶ディスプレイやプラズマディスプレイ用の電極板など種々の配線が施される基板を総称する。即ち、回路基板には、四端子測定の対象となり得る全ての基板が含まれる。
【背景技術】
【0003】
従来、半導体パッケージ基板等の基板に設けられる配線の導通検査では、配線パターンの両端にそれぞれプローブを接触させて、そのプローブ間の導通のみを検出して行われていた。しかし、近年になって、導通のみではなく、配線パターンの抵抗値を正確に測定して、導通検査を行う必要が生じたため、プローブの接触抵抗の影響を無くしながら、その抵抗値の測定のために四端子測定が一般的に使用されている。
【0004】
このような四端子測定では、電圧測定用プローブと電流印加用プローブとができるだけ近接して設けられ、実質上同一検査点に確実に接触する必要があり、そのための手段が種々提案されている。
【特許文献1】特開平8−160074 この文献には、電圧測定プローブと、その周囲を囲繞するように配置された電流測定プローブと、その電流測定プローブを軸方向に進退自在に保持するスリーブとからなる同軸タイプのプローブが開示されている。そこでは、その電圧測定プローブが、そのプローブ内を進退自在に付勢されて保持されている。
【特許文献2】特開2004−144663 この文献には、シリンダー型のケルビンプローブが開示されている。
【特許文献3】特開平7−209332 この文献では、とっくり形のプリント基板検査用のプローブソケットを用いてプリント基板の電気的導通を検査している。
【特許文献4】特許第3691003 この文献には、プローブ用プローブチップアダプタが開示されている。
【特許文献5】特開平11−258294
【特許文献6】特開平11−118868 文献5及び6には、プローブヘッドにプローブが取り付けられた構造が示されている。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
従来のプローブは、引用文献1乃至6に示される如き構造的に複雑であったり、また、引用文献1の如き電圧測定用プローブと電流印加用プローブの両方が確実に測定対象に当接できなかったり、また、容易に測定対象の形状の相違に対応できるものではなかった。そこで、本発明は、構造的に単純でありながら電圧測定用プローブと電流測印加用プローブの両方が確実に測定対象に当接できるとともに容易に測定対象の形状に対応してそれと密接することのできる測定用プローブを提供することを目的とする。また、本発明は測定用プローブを用いた抵抗測定装置及び測定用プローブの製造方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0006】
上記の課題を解決するために、本発明に係る測定用プローブは、測定対象の抵抗値を測定するために測定対象と接触する接触部をそれぞれ有し、一方が電圧測定に他方が電流印加に用いられる第1及び第2のプローブ部を備える。その測定用プローブにおいて、第2のプローブ部が、第1のプローブ部を囲むように形成される本体部と、接触部を含むヘッド部と、ヘッド部が第1のプローブ部の接触部を軸方向に突出するように弾性的に付勢する付勢手段を有するとともに、ヘッド部の接触部が不使用時に第1のプローブ部の接触部よりも突出した位置にあることを特徴とする。
【0007】
また、本発明に係る測定用プローブは、測定対象の抵抗値を測定するために測定対象と接触する接触部をそれぞれ有し、一方が電圧測定用、他方が電流測定用に用いられる第1及び第2のプローブ部を備える。その測定用プローブにおいては、第2のプローブ部が、第1のプローブ部を囲む本体部を備え、第1のプローブ部が接触部を含むヘッド部と、第2のプローブ部の本体部内部に配される本体部と、第1のプローブの接触部を軸方向に突出するように弾性的に付勢する付勢手段を備え、使用時にヘッド部の接触部が第2のプローブ部の接触部よりも突出した位置にあることを特徴とする。
【0008】
本発明に係る、測定対象の抵抗値を測定する抵抗測定装置は、測定のための電流を発生する電流発生部と、電圧測定部と、記測定対象の両端に電気接続配置される一対の測定用プローブであって、各測定用プローブが、測定対象と接触する接触部をそれぞれ有する第1及び第2のプローブ部を備え、第2のプローブ部が測定対象に電流を供給するために電流発生部に接続されていて、第1のプローブ部が、測定対象の両端間に発生する電圧を測定するために電圧測定部に接続されている、一対の測定用プローブと、供給した電流の値と測定した電圧の値とから抵抗値を求める処理装置とを備え、第2のプローブ部が、第1のプローブ部を囲むように形成される本体部と、接触部を含むヘッド部と、ヘッド部が第1のプローブ部の接触部を軸方向に突出するように弾性的に付勢する付勢手段を有するとともに、ヘッド部の接触部が不使用時に第1のプローブ部の接触部よりも突出した位置にあることを特徴とする。
【0009】
また、本発明に係る、測定対象の抵抗値を測定する抵抗測定装置は、測定のための電流を発生する電流発生部と、電圧測定部と、測定対象の両端に配置される一対の測定用プローブであって、各測定用プローブが、測定対象と接触する接触部をそれぞれ有する第1及び第2のプローブ部を備え、第2のプローブ部が測定対象に電流を供給するために電流発生部に接続されていて、第1のプローブ部が、測定対象の両端間に発生する電圧を測定するために電圧測定部に接続されている、一対の測定用プローブと、供給した電流の値と測定した電圧の値とから抵抗値を求める処理装置とを備え、第2のプローブ部が、第1のプローブ部を囲む本体部を備え、第1のプローブ部が接触部を含むヘッド部と、第2のプローブ部の本体部内部に配される本体部と、第1のプローブの接触部を軸方向に突出するように弾性的に付勢する付勢手段を備え、使用時に該ヘッド部の接触部が第2のプローブ部の接触部よりも突出した位置にあることを特徴とする。
【0010】
本発明に係る測定用プローブは、測定対象の抵抗値を測定するために測定対象と接触する第1及び第2のプローブ部を備え、第2のプローブ部が、第1のプローブ部を囲むように形成されている。この測定用プローブにおいては、第1のプローブ部が、プローブピンとプローブピンが取り付けられる拡大部とを備え、拡大部が、プローブピンの直径よりも大きな外径を有する接触部を有し、接触部が、先端に向かって先細り形状に形成されたテーパー部を有することを特徴とする。
【0011】
また、本発明に係る測定用プローブは、測定対象である被検査基板の所定測定位置と導通接触するプローブと、プローブの一端を所定測定位置へ案内する案内孔を有する第1プレートと、プローブの他端をプローブからの電気信号を受信する電極部へ案内する案内孔を有する第2プレートと、第1及び第2プレートの間に所定間隔を有して配置されるとともにプローブを支持するとともにプローブと導通可能に接続される第3プレートを有する基板検査用治具で用いられる。このプローブは、測定対象の抵抗値を測定するために測定対象と接触する接触部をそれぞれ有する第1及び第2のプローブ部を有し、第2のプローブ部が、第1のプローブ部を囲むように形成されており、第2のプローブの一端が第3プレートと導通可能に接続されていることを特徴とする。
【0012】
さらに、本発明に係る測定用プローブは、測定対象の抵抗値を測定するために測定対象と接触する接触部をそれぞれ有し、一方が電圧測定に他方が電流印加に用いられる第1及び第2のプローブ部を備える。この測定用プローブにおいて、第1のプローブは、弾性を有する棒状又は針状に形成され、第2のプローブは、第1のプローブの撓みを許容する空間部を有して第1のプローブを囲むように配置される筒状部材により形成されていることを特徴とする。
【0013】
本発明に係る、測定用プローブを製造する方法は、測定対象の抵抗値を測定するために測定対象と接触する接触部をそれぞれ有する第1及び第2のプローブ部を備える測定用プローブを製造する。この製造方法は、第1のプローブ部を形成する工程と、形成された第1のプローブ部の周囲に、第1のプローブ部を被覆する絶縁層を形成する工程と、絶縁層の周囲に第2のプローブ部の層を形成する工程と、第2のプローブ部の接触部を有する先端部に、弾性を有する付勢手段を形成する工程であって、接触部が第1のプローブ部の接触部よりも突出するように付勢手段を形成する工程とを含む。
【0014】
また、本発明に係る、測定用プローブを製造する方法は、測定対象の抵抗値を測定するために測定対象と接触する接触部をそれぞれ有する第1及び第2のプローブ部を備える測定用プローブを製造する。この製造方法は、ピン形状の第1のプローブ部を形成する工程と、形成されたピン形状の第1のプローブ部の周囲に、第1のプローブ部を被覆する絶縁層を形成する工程と、筒状の第2のプローブ部を形成する工程と、絶縁層が形成されたピン形状の第1のプローブ部を筒状の第2のプローブ部に挿入する工程と、第2のプローブ部の接触部を有する先端部に、弾性を有する付勢手段を形成する工程であって、接触部が第1のプローブ部の接触部よりも突出するように付勢手段を形成する工程とを含む。
【発明の効果】
【0015】
本発明によれば、外側に位置するプローブを保持してその先端にある接触部を測定対象に押し付けるだけで、高密度の配線パターンが形成されたフリップチップ面においても、確実に四端子測定を行うことのできる測定用プローブを提供することができる。
【0016】
また、本発明によれば、配線パターンのはんだ面の凹凸や傾斜の状況に関わらずそのはんだ面に良好に当接して確実に測定対象と接触することができる測定用プローブを提供することができる。
【0017】
更に、本発明によれば、検査基板のスルーホールの直径の相違に関わらずそれと密接できて四端子測定を行うことのできるプローブを提供することができる。
【0018】
また、本発明は、上記の測定用プローブを用いた抵抗測定装置を提供することができる。
【0019】
さらに、本発明は、上記のような測定用プローブの製造方法を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0020】
以下、本発明に係るプローブの望ましい実施形態について、添付の図面を参照しながら説明する。なお、図中、同じ要素に対しては同じ符号を付して、重複した説明を省略している。
[四端子測定法]
図1は、四端子測定装置の測定原理を示すための図である。この装置は、電流発生部10と電圧測定部12とを備える。電流発生部10には電流供給用の第1及び第2電流プローブ10F1,10F2が接続され、電圧測定部12には電圧測定用の第1及び第2電圧プローブ12S1,12S2が接続されている。
【0021】
図1に示すように、回路基板16の配線の抵抗14を測定とする場合には、第1及び第2電圧プローブ12S1,12S2と第1及び第2電流プローブ10F1,10F2とを、その配線14の両端に接触するように配置し、第1及び第2電流プローブ10F1,10F2を経由して、電流発生部10から配線14に測定用の所定の大きさの電流を供給する。それにより配線14の両端には電位差が発生するので、第1及び第2電圧プローブ12S1,12S2を介してその2点間の電位差を電圧測定部12で測定する。その電位差、つまり、電圧値が求まると、測定用の電流値及びその測定した電圧値から配線14の抵抗値を求めることができる。
[プローブの第1実施形態]
図2a、図2b及び図2cは本発明の第1実施形態に係るプローブ20を示す。以下に詳細を説明するように、図2a及び図2bはそのプローブを分解した際の個々の構成要素を示す分解図であり、図2cはそのプローブ20の組立図である。
【0022】
図2aは、電圧測定用の円柱状の電圧プローブ20S(第1のプローブ部)とそれを囲むように同軸的に配置された円筒状の電流プローブ20F(第2のプローブ部)とを示す。この電圧プローブ20Sと電流プローブ20Fは、導電性を有している。電圧プローブ20Sの先端部は電流プローブ20Fから突出して露出している。また、電圧プローブ20Sの周囲は図示せぬ絶縁層によって被覆されていて電流プローブ20Fがその外側に嵌合し固着されて形成されている。電圧プローブ20Sの先端部以外は絶縁被覆されている。
【0023】
図2bは、図2aに示す電圧プローブ20Sの露出した部分に環装される先端部22を示す。その先端部22は、取付部22a、接続部22b及びヘッド部を構成する接触部22cからなり、接続部22bの両端部は、取付部22a及び接触部22cにそれぞれ固定されている。また、取付部22a及び接触部22cは付勢手段を構成し、接続部22bは、弾性を有する伸縮自在な導電性のコイルスプリングの形状に形成されていて、取付部22a及び接触部22cを電気的に接続することができる。この接続部22bは、接触部22cを外側(図に於いて下方向)に付勢して取付けられている。
【0024】
取付部22aは、図2aに示す電圧プローブ20Sの外側に嵌合する電流プローブ20Fの下端部に固定され、電気的に接続されるものであり、例えば、取付部22aは、電流プローブ20Fの下端部に圧入することによって取外し自在に固定することができる。また、接触部22cは、測定対象の回路基板上の銅バンプ等に接触するもので、その銅バンプ等に接触する接触面22c’を有している。接触面22c’は、測定対象に確実に接触するために多少粗めに加工してもよく、それによって、測定対象の面の凹凸や傾きに対応してそれと良好に当接できるようにする。
【0025】
図2cは、電圧プローブ20Sの露出した部分に先端部22を環装した状態を示す。そこでは、取付部22aは、電流プローブ20Fの端部に固定されて電流プローブ20Fと電気的な接続状態を形成している。接触部22cは、電流プローブ20Fの端部に固定された取付部22aに対して、接続部22bとともに軸方向に移動自在である。その図に示すように、電圧プローブ20Sの先端部は、通常、接触部22cの下端の接触面22c’の位置よりやや引っ込んだ位置にある。言い換えると、電流プローブ20Fの接触部が電圧プローブの接触部よりも突出した位置にある。
【0026】
図3は、図2cの本発明に係る測定用プローブ20を、測定対象の回路基板32の、例えば、配線パターン部30に接触させた状態を示す。その図に示すように、ヘッド22の接触部22cの接触面22c’が配線パターン部30の上面に押し付けられている。また、コイルスプリング形状の接続部22bが収縮していて、電圧プローブ20Sの先端が、その配線パターン部30の上面に当接している。この状態では、電圧プローブ20Sの先端が配線パターン部30の上面に押し付けられるとともに、電流プローブ20Fと電気的に接続された接触部22cの接触面22c’も、コイルスプリング形状の接続部22bの弾性によって、配線パターン部30の上面に押し付けられているので、配線パターン部とプローブとの間での良好な接触が達成されている。
【0027】
詳しくは図4を参照しながら後述するが、図3においては、電流プローブ20Fは電流発生部40(図4)に接続されていて、その電流発生部40から電流が供給されると、電流プローブ20F、取付部22a、接続部22b及び接触部22cを経由して、接触面22c’から測定対象の配線パターン部30に電流が供給される。また、電圧プローブ20Sは電圧測定部42(図4)に接続されている。
【0028】
図4は、図2に示す本発明に係る測定用プローブ20を一対用いて四端子測定を行う抵抗測定装置を示す。この実施例では、測定対象は、基板44上の比較的配線ピッチが狭く高密度の配線パターン部45,46に形成された配線パターン間配線パターンの抵抗値とする。その基板44は、他方の面にボールグリッド面の配線パターン部48も有している。
【0029】
一対のプローブ20−1,20−2はともに同じ構造である。プローブ20−1は、第1のプローブで、電流供給用の第1電流プローブ20F1(第2のプローブ部)と電圧測定用の第1電圧プローブ20S1(第2のプローブ部)とを備える。第1電流プローブ20F1の下端部には、先端部22が接続されている。その先端部22においては、接触部22cが接続部22bの不勢力によって測定対象の基板44上の配線パターン部45に押し付けられており、また、接続部22bが収縮することによって、図3に示す場合と同様に、電圧プローブ20S2の先端が、その配線パターン部45の面に押し付けられている。
【0030】
また、プローブ20−2は第2のプローブであり、電流供給用の第2電流プローブ20F2(第2のプローブ部)と電圧測定用の第2電圧プローブ20S2(第1のプローブ部)とを備える。第2電流プローブ20F2の端部には、第1プローブ20−1と同様に、先端部22が接続されている。その先端部22の接触部22cは測定対象の基板44上の配線パターン部46に押し付けられており、それにより、接続部22bが収縮して、第2電圧プローブ20Sの先端が、その配線パターン部46の面に押し付けられている。
【0031】
第1プローブ20−1の第1電流プローブ20F1と、第2プローブ20−2の第2電流プローブ20F2とは、測定電流を供給するための電流発生部40に接続されている。また、第1プローブ20−1の第1電圧プローブ20S1と、第2のプローブ20−2の第2電圧プローブ20S2とは、電圧測定のための電圧測定部42に接続されている。
【0032】
この抵抗測定装置を用いて四端子測定法によって抵抗値を測定する場合を説明すると、電流発生部40から電流が供給されると、第1プローブ20−1の第1電流プローブ20F1及び第2プローブ20−2の第2電流プローブ20F2からそれぞれの先端部22を通って配線パターン部45,46に電流が供給される。その電流によって所定の測定対象の両端部には電位差が発生するので、配線パターン部45,46に接する第1電圧プローブ20S1及び第2電圧プローブ20S2の先端部を経由して、その電位差、つまり、電圧値を電圧測定部42によって測定する。その測定された電圧値及び供給した電流値のデータは図示せぬ処理装置に供給され、その処理装置によってそれらの値から抵抗値が求められる。
【0033】
他の箇所の抵抗値を測定する場合には、駆動機構によって、第1プローブ20−1及び第2プローブ20−2を、配線パターン面上で定めたX軸及びY軸とそれと垂直方向のZ軸方向に沿って所定の距離だけ移動させて、次の測定対象の配線パターン面にそれらのプローブを接触させる。それから、電流発生部からその電流プローブを経由してその配線パターンに対し電流を供給し、電圧プローブを経由して電圧測定部によって所定の配線パターンの電圧を測定し、それらの電流値及び電圧値から計算処理によって抵抗値を求める。
【0034】
上述の実施形態では、電流供給用のプローブが、スプリングコイルの形状の伸縮自在な構成部分を含む先端部を備えていたが、そのスプリングコイル形状のものに代えて、弾性のある導電性ゴムを円筒状に形成し、それを蛇腹状に伸縮自在にしたものを電圧プローブの露出した先端部に環装させてその一端を電流プローブの端部に固定してもよい。この場合、電圧プローブの先端部は、その円筒状のものの開放端部からやや引っ込んだ位置にあるようにして、その円筒状の導電性ゴムの端部が測定対象に押し付けられると、蛇腹状の部分が縮んで、電圧プローブの先端部が測定対象と接触するようにする。
[プローブの第2実施形態]
図5a及び図5bは、本発明の第2実施形態に係るプローブ50を示す。このプローブ50は、電圧プローブSと電流プローブFからなる。電圧プローブ50Sは、電圧プローブの固定部54Sと先端部52とからなる。それらの周囲には、円筒状の電流供給用の電流プローブ50Fを設けられている。電圧プローブを固定部54Sの周囲には図示せぬ絶縁層が被覆されており、また、先端部52の表面にも図示せぬ絶縁層が形成されている。
【0035】
先端部52は、取付部52a,52cと、導電性のコイルスプリングからなる形状の接続部52bと、接触部55Sからなる。取付部52aは、固定部54Sと接続部52bとを固定するもので、取付部52cは、接触部55Sと接続部52bとを固定するものである。固定部54Sと接触部55Sとの間には、取付部52a,52c及びコイルスプリング形状の接続部52bを介して電気的接続が形成されている。
【0036】
固定部54Sは電流プローブ50Fに嵌合し固定されているが、接触部55Sは、電流プローブ50Fに対し軸方向に移動自在である。接続部52bは、通常の状態では、接触部55Sを所定の位置に保持する。その位置では、図5aに示すように、接触部55Sの先端が電流プローブ50Fの端部から突出している。
【0037】
図示していないが、電流プローブ50Fは、測定用の電流を供給するための電流発生部に接続され、電圧プローブの固定部54Sは、電圧測定のための電圧測定部に接続される。
【0038】
図5bは、接触部55Sの先端が、測定対象の回路基板58の配線パターン部56の上面に押し付けられた状態を示す。これは、接続部52bのコイルスプリングの付勢力に抗して、接触部55Sの先端を測定対象の回路基板58の配線パターン部56の上面に押し付けて、その接触部55Sを電流プローブ50Fの空間内を内方に向かって押し込むことによって達成される。その場合、その空間を形成する電流プローブ50Fの内壁が、接触部55Sの移動のガイドとして機能する。
【0039】
測定対象の抵抗値を測定する場合には、図5bに示す状態の第2の実施形態のプローブを一対用い、それらを測定対象の両端に配置する。その状態で、図示せぬ電流発生源から電流プローブ50Fを経由して電流を供給すると、電流はその電流プローブ50Fの端部から配線パターン部56に供給される。接触部55Sの先端と配線パターン部56との間に電気的接続が形成されていて、さらに、接触部55Sと固定部54Sとの間にも電気的接続が形成されているので、接触部55Sと、図示せぬ他の電圧プローブの接触部との間に発生する電圧を電圧測定部によって測定する。その測定された電圧値及び供給した電流値のデータは図示せぬ処理装置に供給され、その処理装置によってそれらの値から抵抗値が求められる。
【0040】
上述の実施形態では、電圧プローブの固定部54Sと接触部55Sとの間にコイルスプリング状の接続部52を設けていたが、そのコイルスプリング状の接続部52に代えて、弾性のある導電性ゴムを円筒状に形成してそれを蛇腹状にしたものを用いてもよい。その場合には、固定部54Sと接触部55Sとの間の電流プローブ50Fの空間内に、その円筒状の導電性ゴムを配置し、その両端を固定部54S及び接触部55Sにそれぞれ固定する。それによって、固定部54Sから接触部55Sまで電気的接続状態が形成されるようにする。
[プローブの第3実施形態]
図6a及び図6bは、本発明の第3実施形態に係るプローブ60を示す。このプローブ60は、電圧測定用の円柱状の電圧プローブ60Sと、それを囲むように同軸的に配置された円筒状の電流プローブ60Fとを備える。電圧プローブ60Sの表面には絶縁膜(図示せず)が形成されている。また、電流プローブ60Fの図6aにおける下端部には、回路基板68の配線回路パターンの部分66と接触する先端部62が設けられている。その先端部62は付勢手段として機能するもので、弾性を有する導電性のコイルスプリングから構成されている。また、先端部62は、電流プローブ60Fの本体の端部に電気的接続状態を形成するように結合されていて、電圧プローブ60Sの電流プローブ60Fから露出した部分に環装されている。図6aに示すように、電流プローブ60Fの先端部62の下端部は、電圧プローブ60Sの下端部よりもより下方に位置している。言い換えると、電流プローブ60Fの先端部62の先端の下端部は、電圧プローブ60Sの下端部よりも突出している。
【0041】
図6aにおいて、上方には、電圧プローブ60Sの基端部及び電流プローブ60Fの基端部64が設けられていて、それぞれ、図示せぬ電圧測定部及び電流発生部に接続される。それらの基端部の構成は先端部62と同じである。
【0042】
図6bは、電圧プローブ60S及び電流プローブ60Fが配線回路パターンの部分66と接触した状態を示す。その状態は、まず、電流プローブ60Fの先端部62の下端部を配線回路パターンの部分66に接触させて押し付けてそのコイルスプリング形状の先端部62を収縮させ、それによって電圧プローブ60Sの先端をその配線回路パターンの部分66に当接させることによって達成する。図6bの状態では、電圧プローブ60Sの先端が配線回路パターンの部分66に押し付けられるとともに、先端部62が弾性によってその部分66に押し付けられているので、電圧プローブ60S及び電流プローブ60Fと配線回路パターンの部分66との間には良好な電気的接触が形成されている。
【0043】
測定対象の抵抗を測定する場合には、図6aに示す測定用プローブを測定対象の両端部に1つずつ配置して、上記の他の実施形態のプローブの場合と同様に、それぞれの電流プローブ60Fを図示せぬ電流発生部に接続して測定対象に電流を供給するとともに、それぞれの電圧プローブ60Sを図示せぬ電圧測定部に接続してその測定対象の両端に発生した電圧を測定する。
[プローブの第4実施形態]
図7a及び図7bは、本発明の第4実施形態に係るプローブ70を示す。このプローブ70は、電圧測定用の円柱状の電圧プローブ70Sと、それを囲むように同軸的に配置された円筒状の電流プローブ70Fとを備える。電圧プローブ70Sの表面には絶縁膜(図示せず)が形成されている。図7aにおいて、電流プローブ70Fの下端部には、回路基板78の配線回路パターンの部分76と接触する接触部72が設けられている。その接触部72と電流プローブ70Fの本体部との間には、弾性を有する導電性のコイルスプリング部74が形成されている。
【0044】
コイルスプリング部74は、付勢手段として機能するもので、例えば、レーザによって電流プローブ70Fの一部にスリット部分74bを取り除いてコイルスプリング形状の部分74aを残すようにして形成することができる。このようにして形成したコイルスプリング形状の部分74aは、電流プローブ70Fの本体部と接触部72とを電気的に接続している。
【0045】
また、接触部72及びコイルスプリング部74は、電圧プローブ70Sの電流プローブ70Fから露出した部分に環装されている。図7aに示すように、電流プローブ70Fの接触部72の下端部は、電圧プローブ70Sの下端部よりもより下方に位置している。言い換えると、電流プローブ70Fの接触部72の先端の下端部は、電圧プローブ70Sの下端部よりも突出している。
【0046】
図7aにおいて、上方には、電圧プローブ70Sの基端部及び電流プローブ70Fの基端部73、75が設けられていて、それぞれ、図示せぬ電圧測定部及び電流発生部に接続される。それらの基端部の構成は接触部及びコイルスプリング部を設けた部分とおなじである。
【0047】
図7bは、電圧プローブ70S及び電流プローブ70Fが配線回路パターンの部分76と接触した状態を示す。その状態は、電流プローブ70Fの接触部72の下端部を配線回路パターンの部分76に押し付けてそのコイルスプリング形状の部分74を収縮させて、電圧プローブ70Sの先端をその配線回路パターンの部分76に当接させることによって達成する。図7bの状態では、電圧プローブ70Sの先端部が配線回路パターンの部分76に押し付けられるとともに、接触部72がコイルスプリング部74の弾性によってその部分76に押し付けられているので、電圧プローブ70S及び電流プローブ70Fと配線回路パターンの部分76との間に良好な電気的接触が形成されている。
【0048】
測定対象の抵抗を測定する場合には、図7aに示す測定用プローブを測定装置の両端部に1つずつ配置して、上記の他の実施形態のプローブの場合と同様に、それぞれの電流プローブ70Fを図示せぬ電流発生部に接続して測定対象に電流を供給するとともに、それぞれの電圧プローブ70Sを図示せぬ電圧測定部に接続してその測定対象の両端に発生した電圧を測定する。
[プローブの第5実施形態]
図8は、本発明の第5実施形態に係るプローブ80を示す。
【0049】
図8に示すように、測定用プローブ80は、電圧測定用の円柱状の電圧プローブ80Sと、それを囲むように同軸的に配置された円筒状の電流プローブ80Fとを備える。電圧プローブ80Sの表面には絶縁膜(図示せず)が形成されており、電圧プローブ80Sは電流プローブ80Fの内部を移動することができる。図8から明らかなように、電流プローブ80Fの長さは、電圧プローブ80Sの長さよりも短く、電圧プローブ80Sの先端部の接触部83は、電圧プローブ80Fから突出している。また、電流プローブ80F及び電圧プローブ80Sは、可撓性及び弾性を有する材料から形成されている。これにより、後述するように、電流プローブ80F及び電圧プローブ80Sは、ベースプレートと測定対象の回路基板との間で撓んで湾曲するとともにそれらの先端部を回路基板に適切に当接させることができる。
【0050】
図9は、図8に示すプローブ80と同じ構造のプローブ80−1,80−2,80−3を備えた測定装置90を示す。その測定装置90では、各々のプローブ80−1,80−2,80−3の電流プローブ80Fの上端近くの部分は中間プレート94に固定されているが、その下端近くは、ガイドプレート92に形成された孔に移動自在に挿入されている。中間プレート94は、電流プローブ80Fを固定するだけでなく、導電性の材料から形成することによってそれに固定された電流プローブ80Fのすべてに共通に電流を供給するための電極として機能させてもよい。
【0051】
次に、図9に基づいて、測定用プローブ80−1,80−2,80−3の先端部を測定対象の配線回路パターン86に当接させる際の測定装置90の動作を説明する。
【0052】
まず、電圧プローブ80Sが固定されたベースプレート82と、電流プローブ80Fの上端部が固定された中間プレート94とをそれらの距離を一定に保持したまま同時に下降させて、電圧プローブ80Sの接触部83を回路基板88上の配線回路パターン86に当接させる。このときは、電流プローブ80F及び電圧プローブ80Sはまっすぐである。破線で示す部分80S’、80F’は、各プローブが撓んでいない状態を示す。
【0053】
次に、接触部83を配線回路パターン86に当接させた状態で、さらにベースプレート82及び中間プレート94を下降させて接触部83を配線回路パターン86に押し付ける。そうすると、ベースプレート82と配線回路パターン86との間の距離が、電圧プローブ80Sの長さより小さくなるので、弾性を有する電圧プローブ80Sが撓み始める。ベースプレート82及び中間プレート94の下降が続くと、電流プローブ80Fの先端部が配線回路パターン86に当接するようになる。その状態が図9に示す測定用プローブ80−1の状態に対応しており、電流プローブ80Fはまっすぐのままである。
【0054】
一方、基板88又は配線回路パターン86の表面には凹凸があることがある。このため、測定用プローブ80−1の先端が、配線回路パターン86の表面に当接する前に、既に、他の測定用プローブの先端が、対応する配線回路パターン86の表面に既に当接していることがある。その場合に、ベースプレート82及び中間プレート94の下降を続けると、既に先端が当接している測定用プローブは、可撓性を有するため撓んで湾曲し始める。その後、全ての測定用のプローブの電圧プローブ80S及び電流プローブ80Fの先端が、対応する配線回路パターン86の表面に当接すると、ベースプレート82及び中間プレート94の下降が止められる。そのときは、図9に示すように、先に配線回路パターン86に当接していた測定用プローブ80−2及び80−3の電流プローブ80Fは、撓んで湾曲している。このように電流プローブ80Fが撓むのは、電流プローブ80Fが取り付けられた中間プレート94と、それに対応する配線回路パターン86の表面との間隔が、複数の測定用プローブの間で相違することがあるため、その相違を吸収するためである。
【0055】
次に、図9に示す状態で、電流プローブ80Fに、図示せぬ電流供給装置から接続部82a及びライン82bを経由して電流を供給する。また、電圧プローブ80Sを図示せぬ電圧測定部に接続する。これにより、測定対象に対し必要な電流の供給を行うとともに、それらの測定対象の両端に発生した電圧の測定を行う。
【0056】
このように、図8及び図9の実施例によると、電流プローブ80Fを測定対象に押し付けるだけで、電圧プローブ80S及び電流プローブ80Fの両方の先端部を測定対象にしっかりと接触させることができる。
【0057】
上記の測定装置90の動作の説明においては、ベースプレート82と中間プレート94との間を一定に保持して、電圧プローブ80Sの先端を最初に配線回路パターン86の表面に当接させ、次に、電流プローブ80Fの先端を配線回路パターン86に当接させた。それに代えて、次のように測定装置90を動作させるようにしてもよい。
【0058】
つまり、測定装置90において、まず、中間プレート94とそれに上端部が固定された電流プローブ80Fを下降させて、電流プローブ80Fの先端部を配線回路パターン86の表面に当接させる。その際、基板88又は配線回路パターン86の表面に凹凸があることがあるため、すべての電流プローブ80Fの先端部が、配線回路パターン86の表面に同時に当接しない場合がある。そのため、すべての電流プローブ80Fの先端部が、配線回路パターン86の表面に当接するまで中間プレート94の下降が続けられる。その下降に伴い、先に配線回路パターン86の表面に当接した電流プローブ80Fは、中間プレート94の下降に伴って湾曲することになる。すべての電流プローブ80Fの先端部が配線回路パターン86の表面に当接した段階で、中間プレート94の下降は止められる。
【0059】
次に、電圧プローブ80Sとともにベースプレート82を下降させる。それにより、電圧プローブ80Sの先端部が、配線回路パターン86の表面に当接するようになる。その際、基板88又は配線回路パターン86の表面の凹凸のために、電流プローブ80Fの場合と同様に、複数の電圧プローブ80Sの先端部が同時に配線回路パターン86の表面に当接しなことがあるので、すべての電圧プローブ80Sの先端部が、配線回路パターン86の表面に当接するまでベースプレート82の下降が続けられる。その下降に伴い、先に配線回路パターン86の表面に当接した電圧プローブ80Sは湾曲することになる。すべての電圧プローブ80Sの先端部が配線回路パターン86の表面に当接した段階で、ベースプレート82の下降が止められる。
【0060】
上述のように、測定装置90を動作させると、電流プローブ80F及び電圧プローブ80Sの撓みによって、測定対象の面の凹凸による高さの相違やプローブの長さの相違等が吸収されてすべてのプローブの先端が適切に測定対象の面に接することができるとともに、それらの先端が適切な力でその面に押し付けられて良好な電気的接触を形成することができる。
[プローブの第6実施形態]
図10は、本発明の第6実施形態に係るプローブ100を示す。プローブ100は、電圧測定用の円柱状の電圧プローブ100Sと、それを囲むように同軸的に配置された円筒状の電流プローブ100Fとを備える。電圧プローブ100S及び電流プローブは可撓性及び弾性を有しており、その表面には絶縁膜(図示せず)が形成されている。また、電圧プローブ100Sの両端部130,131の近くには突起状の係止部110及び111がそれぞれ形成されている。それらの両端部130及び131は、それぞれ、測定対象の配線回路パターン160と接触するための接触部及びベースプレート170に接続するための基端部として機能する。
【0061】
円筒状の電流プローブ100Fの内部には空間が形成されていて、その中では、図10に破線100S’で示すように電圧プローブ100Sが撓むことができる。また、円筒状の電流プローブ100Fの両端部120,121は狭められていて、電圧プローブ100Sの突起状の係止部110及び111が係合し、それによって、電圧プローブ100Sが電流プローブ100Fから抜け出てしまうことを防止している。それらの両端部120及び121は、それぞれ、測定対象と接触するための接触部及び電流供給部に接続するための基端部として機能する。
【0062】
図10に示すように、基板180上の配線回路パターン160に、電圧プローブ100Sの接触部130を押し付けると、電圧プローブ100Sの基端部130側の係止部111が電流プローブ100Fの基端部121の狭められた部分と係合して停止する。そのため、電圧プローブ100Sの接触部130を押し付けた際の抗力によって、電圧プローブ100Sの全体が破線100S’で示すように撓み、それに伴い、電圧プローブ100Sの接触部130が電流プローブ100Fの中に後退するので、電圧プローブ100S及び電流プローブ100Fの両方の接触部130,120が、配線回路パターン160に接触するようになる。
【0063】
ところで、図8及び図9の実施例に関連して上述したように、測定対象の回路基板の配線回路パターン160の表面の高さが場所によって相違することがあり、そのため、複数のプローブ100をベースプレートに取り付けてそれを配線回路パターンの表面に近づけた場合、それらのすべてのプローブの先端を同時にそれらの配線回路パターンの表面に当接できないことがある。それには、図11に示すように電圧プローブ100Sが湾曲することによって対応することができる。つまり、プローブ100の電流プローブ100F及び電圧プローブ100Sが、ベースプレート170の下降にともなって配線回路パターン160に押し付けられると、電圧プローブ100Sは撓んで湾曲することができる。そのように、先に配線回路パターン160に当接したプローブ100が湾曲すると、ベースプレートの下降が続けられるため、まだ当接できていないプローブ100が配線回路パターンに当接できるようにする。それにより、配線回路パターン160の高さの相違を吸収することができるようになる。
【0064】
そのように、図10の実施例によると、電圧プローブ100Sの接触部130を測定対象に押し付けるだけで、電圧プローブ100S及び電流プローブ100Fの両方の接触部130,120を測定対象にしっかりと接触させることができる。
[プローブの第7実施形態]
図12は、電流プローブ又は電圧プローブとして用いることのできる本発明に係るプローブの第7の実施形態を示す。そのプローブは、プローブピン200とそれに着脱自在に取り付けられる円柱状の拡大部210とからなる。
【0065】
拡大部210は、本体部220と接触部230とからなり、本体部220には、プローブピン200の先端部を収容する空間部240が形成されている。その空間部には、雌ねじが形成されていて、プローブピン200の先端に形成された雄ねじと螺合する。接触部230は、検査基板のスルーホールの直径よりも大きな外径を有し、先端に向かって先細りになるテーパー部250を備える。スルーホールの直径の相違に対応するため、さまざまの大きさの外径の接触部250を予め製造して用意しておく。
【0066】
使用の際には、スルーホールの直径に応じて適切な大きさの拡大部210を選択し、それにプローブピン60をねじ込んで固定する。
【0067】
この実施例に係るプローブを電圧プローブとして用いる場合には、この電圧プローブの周囲を同軸的に円筒状の電流プローブによって覆い、その電流プローブに、例えば図2に示すような先端部22を形成する。または、プローブピン200又は本体部210を切断してその間に図5に示すようなコイルスプリング状の接続部を配置して、同図に示すように、それらを囲むように円筒状の電流プローブを形成するようにしてもよい。
[プローブの製造方法]
上記の実施形態に示したプローブは、中央に円柱状の電圧プローブを備え、その周囲に同軸的に円筒状の電流プローブを配置した構成となっている。そのような同軸状のプローブは、絶縁被覆した電圧プローブの周囲に電流プローブを積層するように形成することによって製造してもよく、また、円筒状の電流プローブの中に、円柱状の絶縁被覆した電圧プローブを挿入することによって製造してもよい。
[代替例等]
以上、本発明の係るプローブのいくつかの実施形態を説明したが、本発明はこれらの実施形態に拘束されるものではない。当業者が容易になしえる追加、削除、改変等は、本発明に含まれることを承知されたい。本発明の技術的範囲は、添付の特許請求の範囲の記載によって定められる。
【図面の簡単な説明】
【0068】
【図1】図1は、四端子測定法の概念を説明するための図である。
【図2】図2a及び図2bは、本発明の第1の実施形態に係るプローブの分解図であり、図2cはそのプローブの組立図である。
【図3】図3は、図2のプローブを測定対象の回路基板の配線パターン部に接触させた状態を示す側面図である。
【図4】図4は、図2のプローブを用いて四端子測定を行うための抵抗測定装置を説明するための概略図である。
【図5】図5は、本発明の第2の実施形態に係るプローブの一部断面側面図である。
【図6】図6a及び図6bは、本発明の第3の実施形態に係るプローブの側面図である。
【図7】図7a及び図7bは、本発明の第4の実施形態に係るプローブの側面図である。
【図8】図8は、本発明の第5の実施形態に係るプローブの側面図である。
【図9】図9は、図8のプローブを用いる抵抗測定装置を説明するための一部断面側面図である。
【図10】図10は、本発明の第6の実施形態に係るプローブの一部断面側面図である。
【図11】図11は、図10に示すプローブの機能を説明するための一部断面側面図である。
【図12】図12は、本発明の第7の実施形態に係るプローブの一部断面側面図である。
【符号の説明】
【0069】
20:プローブ、 20S,60S,70S,80S,100S:電圧プローブ、 20F,60F,70F,80F,100F:電流プローブ、 22,62:先端部、 22a:取付部、 22b:接続部、 22c,55S,72,83,120,130:接触部、 22c’:接触面、 20−1:第1プローブ、 20−2:第2プローブ、 40:電流発生部、 42:電圧測定部、 52:接続部、 200:プローブピン、 210:拡大部、 220:本体部、 230:接触部、 250:テーパー部
【技術分野】
【0001】
本発明はプローブに関し、より詳しくは、回路基板上の配線パターン等の測定対象の抵抗値の測定のための四端子測定方法に用いられる測定用プローブ、測定用プローブの製造方法及び抵抗測定装置に関する。
【0002】
尚、この出願書類で使用する用語の「回路基板」は、半導体パッケージ用のパッケージ基板やフィルムキャリアに限らず、プリント配線基板、例えば、フレキシブル基板、多層配線基板、液晶ディスプレイやプラズマディスプレイ用の電極板など種々の配線が施される基板を総称する。即ち、回路基板には、四端子測定の対象となり得る全ての基板が含まれる。
【背景技術】
【0003】
従来、半導体パッケージ基板等の基板に設けられる配線の導通検査では、配線パターンの両端にそれぞれプローブを接触させて、そのプローブ間の導通のみを検出して行われていた。しかし、近年になって、導通のみではなく、配線パターンの抵抗値を正確に測定して、導通検査を行う必要が生じたため、プローブの接触抵抗の影響を無くしながら、その抵抗値の測定のために四端子測定が一般的に使用されている。
【0004】
このような四端子測定では、電圧測定用プローブと電流印加用プローブとができるだけ近接して設けられ、実質上同一検査点に確実に接触する必要があり、そのための手段が種々提案されている。
【特許文献1】特開平8−160074 この文献には、電圧測定プローブと、その周囲を囲繞するように配置された電流測定プローブと、その電流測定プローブを軸方向に進退自在に保持するスリーブとからなる同軸タイプのプローブが開示されている。そこでは、その電圧測定プローブが、そのプローブ内を進退自在に付勢されて保持されている。
【特許文献2】特開2004−144663 この文献には、シリンダー型のケルビンプローブが開示されている。
【特許文献3】特開平7−209332 この文献では、とっくり形のプリント基板検査用のプローブソケットを用いてプリント基板の電気的導通を検査している。
【特許文献4】特許第3691003 この文献には、プローブ用プローブチップアダプタが開示されている。
【特許文献5】特開平11−258294
【特許文献6】特開平11−118868 文献5及び6には、プローブヘッドにプローブが取り付けられた構造が示されている。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
従来のプローブは、引用文献1乃至6に示される如き構造的に複雑であったり、また、引用文献1の如き電圧測定用プローブと電流印加用プローブの両方が確実に測定対象に当接できなかったり、また、容易に測定対象の形状の相違に対応できるものではなかった。そこで、本発明は、構造的に単純でありながら電圧測定用プローブと電流測印加用プローブの両方が確実に測定対象に当接できるとともに容易に測定対象の形状に対応してそれと密接することのできる測定用プローブを提供することを目的とする。また、本発明は測定用プローブを用いた抵抗測定装置及び測定用プローブの製造方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0006】
上記の課題を解決するために、本発明に係る測定用プローブは、測定対象の抵抗値を測定するために測定対象と接触する接触部をそれぞれ有し、一方が電圧測定に他方が電流印加に用いられる第1及び第2のプローブ部を備える。その測定用プローブにおいて、第2のプローブ部が、第1のプローブ部を囲むように形成される本体部と、接触部を含むヘッド部と、ヘッド部が第1のプローブ部の接触部を軸方向に突出するように弾性的に付勢する付勢手段を有するとともに、ヘッド部の接触部が不使用時に第1のプローブ部の接触部よりも突出した位置にあることを特徴とする。
【0007】
また、本発明に係る測定用プローブは、測定対象の抵抗値を測定するために測定対象と接触する接触部をそれぞれ有し、一方が電圧測定用、他方が電流測定用に用いられる第1及び第2のプローブ部を備える。その測定用プローブにおいては、第2のプローブ部が、第1のプローブ部を囲む本体部を備え、第1のプローブ部が接触部を含むヘッド部と、第2のプローブ部の本体部内部に配される本体部と、第1のプローブの接触部を軸方向に突出するように弾性的に付勢する付勢手段を備え、使用時にヘッド部の接触部が第2のプローブ部の接触部よりも突出した位置にあることを特徴とする。
【0008】
本発明に係る、測定対象の抵抗値を測定する抵抗測定装置は、測定のための電流を発生する電流発生部と、電圧測定部と、記測定対象の両端に電気接続配置される一対の測定用プローブであって、各測定用プローブが、測定対象と接触する接触部をそれぞれ有する第1及び第2のプローブ部を備え、第2のプローブ部が測定対象に電流を供給するために電流発生部に接続されていて、第1のプローブ部が、測定対象の両端間に発生する電圧を測定するために電圧測定部に接続されている、一対の測定用プローブと、供給した電流の値と測定した電圧の値とから抵抗値を求める処理装置とを備え、第2のプローブ部が、第1のプローブ部を囲むように形成される本体部と、接触部を含むヘッド部と、ヘッド部が第1のプローブ部の接触部を軸方向に突出するように弾性的に付勢する付勢手段を有するとともに、ヘッド部の接触部が不使用時に第1のプローブ部の接触部よりも突出した位置にあることを特徴とする。
【0009】
また、本発明に係る、測定対象の抵抗値を測定する抵抗測定装置は、測定のための電流を発生する電流発生部と、電圧測定部と、測定対象の両端に配置される一対の測定用プローブであって、各測定用プローブが、測定対象と接触する接触部をそれぞれ有する第1及び第2のプローブ部を備え、第2のプローブ部が測定対象に電流を供給するために電流発生部に接続されていて、第1のプローブ部が、測定対象の両端間に発生する電圧を測定するために電圧測定部に接続されている、一対の測定用プローブと、供給した電流の値と測定した電圧の値とから抵抗値を求める処理装置とを備え、第2のプローブ部が、第1のプローブ部を囲む本体部を備え、第1のプローブ部が接触部を含むヘッド部と、第2のプローブ部の本体部内部に配される本体部と、第1のプローブの接触部を軸方向に突出するように弾性的に付勢する付勢手段を備え、使用時に該ヘッド部の接触部が第2のプローブ部の接触部よりも突出した位置にあることを特徴とする。
【0010】
本発明に係る測定用プローブは、測定対象の抵抗値を測定するために測定対象と接触する第1及び第2のプローブ部を備え、第2のプローブ部が、第1のプローブ部を囲むように形成されている。この測定用プローブにおいては、第1のプローブ部が、プローブピンとプローブピンが取り付けられる拡大部とを備え、拡大部が、プローブピンの直径よりも大きな外径を有する接触部を有し、接触部が、先端に向かって先細り形状に形成されたテーパー部を有することを特徴とする。
【0011】
また、本発明に係る測定用プローブは、測定対象である被検査基板の所定測定位置と導通接触するプローブと、プローブの一端を所定測定位置へ案内する案内孔を有する第1プレートと、プローブの他端をプローブからの電気信号を受信する電極部へ案内する案内孔を有する第2プレートと、第1及び第2プレートの間に所定間隔を有して配置されるとともにプローブを支持するとともにプローブと導通可能に接続される第3プレートを有する基板検査用治具で用いられる。このプローブは、測定対象の抵抗値を測定するために測定対象と接触する接触部をそれぞれ有する第1及び第2のプローブ部を有し、第2のプローブ部が、第1のプローブ部を囲むように形成されており、第2のプローブの一端が第3プレートと導通可能に接続されていることを特徴とする。
【0012】
さらに、本発明に係る測定用プローブは、測定対象の抵抗値を測定するために測定対象と接触する接触部をそれぞれ有し、一方が電圧測定に他方が電流印加に用いられる第1及び第2のプローブ部を備える。この測定用プローブにおいて、第1のプローブは、弾性を有する棒状又は針状に形成され、第2のプローブは、第1のプローブの撓みを許容する空間部を有して第1のプローブを囲むように配置される筒状部材により形成されていることを特徴とする。
【0013】
本発明に係る、測定用プローブを製造する方法は、測定対象の抵抗値を測定するために測定対象と接触する接触部をそれぞれ有する第1及び第2のプローブ部を備える測定用プローブを製造する。この製造方法は、第1のプローブ部を形成する工程と、形成された第1のプローブ部の周囲に、第1のプローブ部を被覆する絶縁層を形成する工程と、絶縁層の周囲に第2のプローブ部の層を形成する工程と、第2のプローブ部の接触部を有する先端部に、弾性を有する付勢手段を形成する工程であって、接触部が第1のプローブ部の接触部よりも突出するように付勢手段を形成する工程とを含む。
【0014】
また、本発明に係る、測定用プローブを製造する方法は、測定対象の抵抗値を測定するために測定対象と接触する接触部をそれぞれ有する第1及び第2のプローブ部を備える測定用プローブを製造する。この製造方法は、ピン形状の第1のプローブ部を形成する工程と、形成されたピン形状の第1のプローブ部の周囲に、第1のプローブ部を被覆する絶縁層を形成する工程と、筒状の第2のプローブ部を形成する工程と、絶縁層が形成されたピン形状の第1のプローブ部を筒状の第2のプローブ部に挿入する工程と、第2のプローブ部の接触部を有する先端部に、弾性を有する付勢手段を形成する工程であって、接触部が第1のプローブ部の接触部よりも突出するように付勢手段を形成する工程とを含む。
【発明の効果】
【0015】
本発明によれば、外側に位置するプローブを保持してその先端にある接触部を測定対象に押し付けるだけで、高密度の配線パターンが形成されたフリップチップ面においても、確実に四端子測定を行うことのできる測定用プローブを提供することができる。
【0016】
また、本発明によれば、配線パターンのはんだ面の凹凸や傾斜の状況に関わらずそのはんだ面に良好に当接して確実に測定対象と接触することができる測定用プローブを提供することができる。
【0017】
更に、本発明によれば、検査基板のスルーホールの直径の相違に関わらずそれと密接できて四端子測定を行うことのできるプローブを提供することができる。
【0018】
また、本発明は、上記の測定用プローブを用いた抵抗測定装置を提供することができる。
【0019】
さらに、本発明は、上記のような測定用プローブの製造方法を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0020】
以下、本発明に係るプローブの望ましい実施形態について、添付の図面を参照しながら説明する。なお、図中、同じ要素に対しては同じ符号を付して、重複した説明を省略している。
[四端子測定法]
図1は、四端子測定装置の測定原理を示すための図である。この装置は、電流発生部10と電圧測定部12とを備える。電流発生部10には電流供給用の第1及び第2電流プローブ10F1,10F2が接続され、電圧測定部12には電圧測定用の第1及び第2電圧プローブ12S1,12S2が接続されている。
【0021】
図1に示すように、回路基板16の配線の抵抗14を測定とする場合には、第1及び第2電圧プローブ12S1,12S2と第1及び第2電流プローブ10F1,10F2とを、その配線14の両端に接触するように配置し、第1及び第2電流プローブ10F1,10F2を経由して、電流発生部10から配線14に測定用の所定の大きさの電流を供給する。それにより配線14の両端には電位差が発生するので、第1及び第2電圧プローブ12S1,12S2を介してその2点間の電位差を電圧測定部12で測定する。その電位差、つまり、電圧値が求まると、測定用の電流値及びその測定した電圧値から配線14の抵抗値を求めることができる。
[プローブの第1実施形態]
図2a、図2b及び図2cは本発明の第1実施形態に係るプローブ20を示す。以下に詳細を説明するように、図2a及び図2bはそのプローブを分解した際の個々の構成要素を示す分解図であり、図2cはそのプローブ20の組立図である。
【0022】
図2aは、電圧測定用の円柱状の電圧プローブ20S(第1のプローブ部)とそれを囲むように同軸的に配置された円筒状の電流プローブ20F(第2のプローブ部)とを示す。この電圧プローブ20Sと電流プローブ20Fは、導電性を有している。電圧プローブ20Sの先端部は電流プローブ20Fから突出して露出している。また、電圧プローブ20Sの周囲は図示せぬ絶縁層によって被覆されていて電流プローブ20Fがその外側に嵌合し固着されて形成されている。電圧プローブ20Sの先端部以外は絶縁被覆されている。
【0023】
図2bは、図2aに示す電圧プローブ20Sの露出した部分に環装される先端部22を示す。その先端部22は、取付部22a、接続部22b及びヘッド部を構成する接触部22cからなり、接続部22bの両端部は、取付部22a及び接触部22cにそれぞれ固定されている。また、取付部22a及び接触部22cは付勢手段を構成し、接続部22bは、弾性を有する伸縮自在な導電性のコイルスプリングの形状に形成されていて、取付部22a及び接触部22cを電気的に接続することができる。この接続部22bは、接触部22cを外側(図に於いて下方向)に付勢して取付けられている。
【0024】
取付部22aは、図2aに示す電圧プローブ20Sの外側に嵌合する電流プローブ20Fの下端部に固定され、電気的に接続されるものであり、例えば、取付部22aは、電流プローブ20Fの下端部に圧入することによって取外し自在に固定することができる。また、接触部22cは、測定対象の回路基板上の銅バンプ等に接触するもので、その銅バンプ等に接触する接触面22c’を有している。接触面22c’は、測定対象に確実に接触するために多少粗めに加工してもよく、それによって、測定対象の面の凹凸や傾きに対応してそれと良好に当接できるようにする。
【0025】
図2cは、電圧プローブ20Sの露出した部分に先端部22を環装した状態を示す。そこでは、取付部22aは、電流プローブ20Fの端部に固定されて電流プローブ20Fと電気的な接続状態を形成している。接触部22cは、電流プローブ20Fの端部に固定された取付部22aに対して、接続部22bとともに軸方向に移動自在である。その図に示すように、電圧プローブ20Sの先端部は、通常、接触部22cの下端の接触面22c’の位置よりやや引っ込んだ位置にある。言い換えると、電流プローブ20Fの接触部が電圧プローブの接触部よりも突出した位置にある。
【0026】
図3は、図2cの本発明に係る測定用プローブ20を、測定対象の回路基板32の、例えば、配線パターン部30に接触させた状態を示す。その図に示すように、ヘッド22の接触部22cの接触面22c’が配線パターン部30の上面に押し付けられている。また、コイルスプリング形状の接続部22bが収縮していて、電圧プローブ20Sの先端が、その配線パターン部30の上面に当接している。この状態では、電圧プローブ20Sの先端が配線パターン部30の上面に押し付けられるとともに、電流プローブ20Fと電気的に接続された接触部22cの接触面22c’も、コイルスプリング形状の接続部22bの弾性によって、配線パターン部30の上面に押し付けられているので、配線パターン部とプローブとの間での良好な接触が達成されている。
【0027】
詳しくは図4を参照しながら後述するが、図3においては、電流プローブ20Fは電流発生部40(図4)に接続されていて、その電流発生部40から電流が供給されると、電流プローブ20F、取付部22a、接続部22b及び接触部22cを経由して、接触面22c’から測定対象の配線パターン部30に電流が供給される。また、電圧プローブ20Sは電圧測定部42(図4)に接続されている。
【0028】
図4は、図2に示す本発明に係る測定用プローブ20を一対用いて四端子測定を行う抵抗測定装置を示す。この実施例では、測定対象は、基板44上の比較的配線ピッチが狭く高密度の配線パターン部45,46に形成された配線パターン間配線パターンの抵抗値とする。その基板44は、他方の面にボールグリッド面の配線パターン部48も有している。
【0029】
一対のプローブ20−1,20−2はともに同じ構造である。プローブ20−1は、第1のプローブで、電流供給用の第1電流プローブ20F1(第2のプローブ部)と電圧測定用の第1電圧プローブ20S1(第2のプローブ部)とを備える。第1電流プローブ20F1の下端部には、先端部22が接続されている。その先端部22においては、接触部22cが接続部22bの不勢力によって測定対象の基板44上の配線パターン部45に押し付けられており、また、接続部22bが収縮することによって、図3に示す場合と同様に、電圧プローブ20S2の先端が、その配線パターン部45の面に押し付けられている。
【0030】
また、プローブ20−2は第2のプローブであり、電流供給用の第2電流プローブ20F2(第2のプローブ部)と電圧測定用の第2電圧プローブ20S2(第1のプローブ部)とを備える。第2電流プローブ20F2の端部には、第1プローブ20−1と同様に、先端部22が接続されている。その先端部22の接触部22cは測定対象の基板44上の配線パターン部46に押し付けられており、それにより、接続部22bが収縮して、第2電圧プローブ20Sの先端が、その配線パターン部46の面に押し付けられている。
【0031】
第1プローブ20−1の第1電流プローブ20F1と、第2プローブ20−2の第2電流プローブ20F2とは、測定電流を供給するための電流発生部40に接続されている。また、第1プローブ20−1の第1電圧プローブ20S1と、第2のプローブ20−2の第2電圧プローブ20S2とは、電圧測定のための電圧測定部42に接続されている。
【0032】
この抵抗測定装置を用いて四端子測定法によって抵抗値を測定する場合を説明すると、電流発生部40から電流が供給されると、第1プローブ20−1の第1電流プローブ20F1及び第2プローブ20−2の第2電流プローブ20F2からそれぞれの先端部22を通って配線パターン部45,46に電流が供給される。その電流によって所定の測定対象の両端部には電位差が発生するので、配線パターン部45,46に接する第1電圧プローブ20S1及び第2電圧プローブ20S2の先端部を経由して、その電位差、つまり、電圧値を電圧測定部42によって測定する。その測定された電圧値及び供給した電流値のデータは図示せぬ処理装置に供給され、その処理装置によってそれらの値から抵抗値が求められる。
【0033】
他の箇所の抵抗値を測定する場合には、駆動機構によって、第1プローブ20−1及び第2プローブ20−2を、配線パターン面上で定めたX軸及びY軸とそれと垂直方向のZ軸方向に沿って所定の距離だけ移動させて、次の測定対象の配線パターン面にそれらのプローブを接触させる。それから、電流発生部からその電流プローブを経由してその配線パターンに対し電流を供給し、電圧プローブを経由して電圧測定部によって所定の配線パターンの電圧を測定し、それらの電流値及び電圧値から計算処理によって抵抗値を求める。
【0034】
上述の実施形態では、電流供給用のプローブが、スプリングコイルの形状の伸縮自在な構成部分を含む先端部を備えていたが、そのスプリングコイル形状のものに代えて、弾性のある導電性ゴムを円筒状に形成し、それを蛇腹状に伸縮自在にしたものを電圧プローブの露出した先端部に環装させてその一端を電流プローブの端部に固定してもよい。この場合、電圧プローブの先端部は、その円筒状のものの開放端部からやや引っ込んだ位置にあるようにして、その円筒状の導電性ゴムの端部が測定対象に押し付けられると、蛇腹状の部分が縮んで、電圧プローブの先端部が測定対象と接触するようにする。
[プローブの第2実施形態]
図5a及び図5bは、本発明の第2実施形態に係るプローブ50を示す。このプローブ50は、電圧プローブSと電流プローブFからなる。電圧プローブ50Sは、電圧プローブの固定部54Sと先端部52とからなる。それらの周囲には、円筒状の電流供給用の電流プローブ50Fを設けられている。電圧プローブを固定部54Sの周囲には図示せぬ絶縁層が被覆されており、また、先端部52の表面にも図示せぬ絶縁層が形成されている。
【0035】
先端部52は、取付部52a,52cと、導電性のコイルスプリングからなる形状の接続部52bと、接触部55Sからなる。取付部52aは、固定部54Sと接続部52bとを固定するもので、取付部52cは、接触部55Sと接続部52bとを固定するものである。固定部54Sと接触部55Sとの間には、取付部52a,52c及びコイルスプリング形状の接続部52bを介して電気的接続が形成されている。
【0036】
固定部54Sは電流プローブ50Fに嵌合し固定されているが、接触部55Sは、電流プローブ50Fに対し軸方向に移動自在である。接続部52bは、通常の状態では、接触部55Sを所定の位置に保持する。その位置では、図5aに示すように、接触部55Sの先端が電流プローブ50Fの端部から突出している。
【0037】
図示していないが、電流プローブ50Fは、測定用の電流を供給するための電流発生部に接続され、電圧プローブの固定部54Sは、電圧測定のための電圧測定部に接続される。
【0038】
図5bは、接触部55Sの先端が、測定対象の回路基板58の配線パターン部56の上面に押し付けられた状態を示す。これは、接続部52bのコイルスプリングの付勢力に抗して、接触部55Sの先端を測定対象の回路基板58の配線パターン部56の上面に押し付けて、その接触部55Sを電流プローブ50Fの空間内を内方に向かって押し込むことによって達成される。その場合、その空間を形成する電流プローブ50Fの内壁が、接触部55Sの移動のガイドとして機能する。
【0039】
測定対象の抵抗値を測定する場合には、図5bに示す状態の第2の実施形態のプローブを一対用い、それらを測定対象の両端に配置する。その状態で、図示せぬ電流発生源から電流プローブ50Fを経由して電流を供給すると、電流はその電流プローブ50Fの端部から配線パターン部56に供給される。接触部55Sの先端と配線パターン部56との間に電気的接続が形成されていて、さらに、接触部55Sと固定部54Sとの間にも電気的接続が形成されているので、接触部55Sと、図示せぬ他の電圧プローブの接触部との間に発生する電圧を電圧測定部によって測定する。その測定された電圧値及び供給した電流値のデータは図示せぬ処理装置に供給され、その処理装置によってそれらの値から抵抗値が求められる。
【0040】
上述の実施形態では、電圧プローブの固定部54Sと接触部55Sとの間にコイルスプリング状の接続部52を設けていたが、そのコイルスプリング状の接続部52に代えて、弾性のある導電性ゴムを円筒状に形成してそれを蛇腹状にしたものを用いてもよい。その場合には、固定部54Sと接触部55Sとの間の電流プローブ50Fの空間内に、その円筒状の導電性ゴムを配置し、その両端を固定部54S及び接触部55Sにそれぞれ固定する。それによって、固定部54Sから接触部55Sまで電気的接続状態が形成されるようにする。
[プローブの第3実施形態]
図6a及び図6bは、本発明の第3実施形態に係るプローブ60を示す。このプローブ60は、電圧測定用の円柱状の電圧プローブ60Sと、それを囲むように同軸的に配置された円筒状の電流プローブ60Fとを備える。電圧プローブ60Sの表面には絶縁膜(図示せず)が形成されている。また、電流プローブ60Fの図6aにおける下端部には、回路基板68の配線回路パターンの部分66と接触する先端部62が設けられている。その先端部62は付勢手段として機能するもので、弾性を有する導電性のコイルスプリングから構成されている。また、先端部62は、電流プローブ60Fの本体の端部に電気的接続状態を形成するように結合されていて、電圧プローブ60Sの電流プローブ60Fから露出した部分に環装されている。図6aに示すように、電流プローブ60Fの先端部62の下端部は、電圧プローブ60Sの下端部よりもより下方に位置している。言い換えると、電流プローブ60Fの先端部62の先端の下端部は、電圧プローブ60Sの下端部よりも突出している。
【0041】
図6aにおいて、上方には、電圧プローブ60Sの基端部及び電流プローブ60Fの基端部64が設けられていて、それぞれ、図示せぬ電圧測定部及び電流発生部に接続される。それらの基端部の構成は先端部62と同じである。
【0042】
図6bは、電圧プローブ60S及び電流プローブ60Fが配線回路パターンの部分66と接触した状態を示す。その状態は、まず、電流プローブ60Fの先端部62の下端部を配線回路パターンの部分66に接触させて押し付けてそのコイルスプリング形状の先端部62を収縮させ、それによって電圧プローブ60Sの先端をその配線回路パターンの部分66に当接させることによって達成する。図6bの状態では、電圧プローブ60Sの先端が配線回路パターンの部分66に押し付けられるとともに、先端部62が弾性によってその部分66に押し付けられているので、電圧プローブ60S及び電流プローブ60Fと配線回路パターンの部分66との間には良好な電気的接触が形成されている。
【0043】
測定対象の抵抗を測定する場合には、図6aに示す測定用プローブを測定対象の両端部に1つずつ配置して、上記の他の実施形態のプローブの場合と同様に、それぞれの電流プローブ60Fを図示せぬ電流発生部に接続して測定対象に電流を供給するとともに、それぞれの電圧プローブ60Sを図示せぬ電圧測定部に接続してその測定対象の両端に発生した電圧を測定する。
[プローブの第4実施形態]
図7a及び図7bは、本発明の第4実施形態に係るプローブ70を示す。このプローブ70は、電圧測定用の円柱状の電圧プローブ70Sと、それを囲むように同軸的に配置された円筒状の電流プローブ70Fとを備える。電圧プローブ70Sの表面には絶縁膜(図示せず)が形成されている。図7aにおいて、電流プローブ70Fの下端部には、回路基板78の配線回路パターンの部分76と接触する接触部72が設けられている。その接触部72と電流プローブ70Fの本体部との間には、弾性を有する導電性のコイルスプリング部74が形成されている。
【0044】
コイルスプリング部74は、付勢手段として機能するもので、例えば、レーザによって電流プローブ70Fの一部にスリット部分74bを取り除いてコイルスプリング形状の部分74aを残すようにして形成することができる。このようにして形成したコイルスプリング形状の部分74aは、電流プローブ70Fの本体部と接触部72とを電気的に接続している。
【0045】
また、接触部72及びコイルスプリング部74は、電圧プローブ70Sの電流プローブ70Fから露出した部分に環装されている。図7aに示すように、電流プローブ70Fの接触部72の下端部は、電圧プローブ70Sの下端部よりもより下方に位置している。言い換えると、電流プローブ70Fの接触部72の先端の下端部は、電圧プローブ70Sの下端部よりも突出している。
【0046】
図7aにおいて、上方には、電圧プローブ70Sの基端部及び電流プローブ70Fの基端部73、75が設けられていて、それぞれ、図示せぬ電圧測定部及び電流発生部に接続される。それらの基端部の構成は接触部及びコイルスプリング部を設けた部分とおなじである。
【0047】
図7bは、電圧プローブ70S及び電流プローブ70Fが配線回路パターンの部分76と接触した状態を示す。その状態は、電流プローブ70Fの接触部72の下端部を配線回路パターンの部分76に押し付けてそのコイルスプリング形状の部分74を収縮させて、電圧プローブ70Sの先端をその配線回路パターンの部分76に当接させることによって達成する。図7bの状態では、電圧プローブ70Sの先端部が配線回路パターンの部分76に押し付けられるとともに、接触部72がコイルスプリング部74の弾性によってその部分76に押し付けられているので、電圧プローブ70S及び電流プローブ70Fと配線回路パターンの部分76との間に良好な電気的接触が形成されている。
【0048】
測定対象の抵抗を測定する場合には、図7aに示す測定用プローブを測定装置の両端部に1つずつ配置して、上記の他の実施形態のプローブの場合と同様に、それぞれの電流プローブ70Fを図示せぬ電流発生部に接続して測定対象に電流を供給するとともに、それぞれの電圧プローブ70Sを図示せぬ電圧測定部に接続してその測定対象の両端に発生した電圧を測定する。
[プローブの第5実施形態]
図8は、本発明の第5実施形態に係るプローブ80を示す。
【0049】
図8に示すように、測定用プローブ80は、電圧測定用の円柱状の電圧プローブ80Sと、それを囲むように同軸的に配置された円筒状の電流プローブ80Fとを備える。電圧プローブ80Sの表面には絶縁膜(図示せず)が形成されており、電圧プローブ80Sは電流プローブ80Fの内部を移動することができる。図8から明らかなように、電流プローブ80Fの長さは、電圧プローブ80Sの長さよりも短く、電圧プローブ80Sの先端部の接触部83は、電圧プローブ80Fから突出している。また、電流プローブ80F及び電圧プローブ80Sは、可撓性及び弾性を有する材料から形成されている。これにより、後述するように、電流プローブ80F及び電圧プローブ80Sは、ベースプレートと測定対象の回路基板との間で撓んで湾曲するとともにそれらの先端部を回路基板に適切に当接させることができる。
【0050】
図9は、図8に示すプローブ80と同じ構造のプローブ80−1,80−2,80−3を備えた測定装置90を示す。その測定装置90では、各々のプローブ80−1,80−2,80−3の電流プローブ80Fの上端近くの部分は中間プレート94に固定されているが、その下端近くは、ガイドプレート92に形成された孔に移動自在に挿入されている。中間プレート94は、電流プローブ80Fを固定するだけでなく、導電性の材料から形成することによってそれに固定された電流プローブ80Fのすべてに共通に電流を供給するための電極として機能させてもよい。
【0051】
次に、図9に基づいて、測定用プローブ80−1,80−2,80−3の先端部を測定対象の配線回路パターン86に当接させる際の測定装置90の動作を説明する。
【0052】
まず、電圧プローブ80Sが固定されたベースプレート82と、電流プローブ80Fの上端部が固定された中間プレート94とをそれらの距離を一定に保持したまま同時に下降させて、電圧プローブ80Sの接触部83を回路基板88上の配線回路パターン86に当接させる。このときは、電流プローブ80F及び電圧プローブ80Sはまっすぐである。破線で示す部分80S’、80F’は、各プローブが撓んでいない状態を示す。
【0053】
次に、接触部83を配線回路パターン86に当接させた状態で、さらにベースプレート82及び中間プレート94を下降させて接触部83を配線回路パターン86に押し付ける。そうすると、ベースプレート82と配線回路パターン86との間の距離が、電圧プローブ80Sの長さより小さくなるので、弾性を有する電圧プローブ80Sが撓み始める。ベースプレート82及び中間プレート94の下降が続くと、電流プローブ80Fの先端部が配線回路パターン86に当接するようになる。その状態が図9に示す測定用プローブ80−1の状態に対応しており、電流プローブ80Fはまっすぐのままである。
【0054】
一方、基板88又は配線回路パターン86の表面には凹凸があることがある。このため、測定用プローブ80−1の先端が、配線回路パターン86の表面に当接する前に、既に、他の測定用プローブの先端が、対応する配線回路パターン86の表面に既に当接していることがある。その場合に、ベースプレート82及び中間プレート94の下降を続けると、既に先端が当接している測定用プローブは、可撓性を有するため撓んで湾曲し始める。その後、全ての測定用のプローブの電圧プローブ80S及び電流プローブ80Fの先端が、対応する配線回路パターン86の表面に当接すると、ベースプレート82及び中間プレート94の下降が止められる。そのときは、図9に示すように、先に配線回路パターン86に当接していた測定用プローブ80−2及び80−3の電流プローブ80Fは、撓んで湾曲している。このように電流プローブ80Fが撓むのは、電流プローブ80Fが取り付けられた中間プレート94と、それに対応する配線回路パターン86の表面との間隔が、複数の測定用プローブの間で相違することがあるため、その相違を吸収するためである。
【0055】
次に、図9に示す状態で、電流プローブ80Fに、図示せぬ電流供給装置から接続部82a及びライン82bを経由して電流を供給する。また、電圧プローブ80Sを図示せぬ電圧測定部に接続する。これにより、測定対象に対し必要な電流の供給を行うとともに、それらの測定対象の両端に発生した電圧の測定を行う。
【0056】
このように、図8及び図9の実施例によると、電流プローブ80Fを測定対象に押し付けるだけで、電圧プローブ80S及び電流プローブ80Fの両方の先端部を測定対象にしっかりと接触させることができる。
【0057】
上記の測定装置90の動作の説明においては、ベースプレート82と中間プレート94との間を一定に保持して、電圧プローブ80Sの先端を最初に配線回路パターン86の表面に当接させ、次に、電流プローブ80Fの先端を配線回路パターン86に当接させた。それに代えて、次のように測定装置90を動作させるようにしてもよい。
【0058】
つまり、測定装置90において、まず、中間プレート94とそれに上端部が固定された電流プローブ80Fを下降させて、電流プローブ80Fの先端部を配線回路パターン86の表面に当接させる。その際、基板88又は配線回路パターン86の表面に凹凸があることがあるため、すべての電流プローブ80Fの先端部が、配線回路パターン86の表面に同時に当接しない場合がある。そのため、すべての電流プローブ80Fの先端部が、配線回路パターン86の表面に当接するまで中間プレート94の下降が続けられる。その下降に伴い、先に配線回路パターン86の表面に当接した電流プローブ80Fは、中間プレート94の下降に伴って湾曲することになる。すべての電流プローブ80Fの先端部が配線回路パターン86の表面に当接した段階で、中間プレート94の下降は止められる。
【0059】
次に、電圧プローブ80Sとともにベースプレート82を下降させる。それにより、電圧プローブ80Sの先端部が、配線回路パターン86の表面に当接するようになる。その際、基板88又は配線回路パターン86の表面の凹凸のために、電流プローブ80Fの場合と同様に、複数の電圧プローブ80Sの先端部が同時に配線回路パターン86の表面に当接しなことがあるので、すべての電圧プローブ80Sの先端部が、配線回路パターン86の表面に当接するまでベースプレート82の下降が続けられる。その下降に伴い、先に配線回路パターン86の表面に当接した電圧プローブ80Sは湾曲することになる。すべての電圧プローブ80Sの先端部が配線回路パターン86の表面に当接した段階で、ベースプレート82の下降が止められる。
【0060】
上述のように、測定装置90を動作させると、電流プローブ80F及び電圧プローブ80Sの撓みによって、測定対象の面の凹凸による高さの相違やプローブの長さの相違等が吸収されてすべてのプローブの先端が適切に測定対象の面に接することができるとともに、それらの先端が適切な力でその面に押し付けられて良好な電気的接触を形成することができる。
[プローブの第6実施形態]
図10は、本発明の第6実施形態に係るプローブ100を示す。プローブ100は、電圧測定用の円柱状の電圧プローブ100Sと、それを囲むように同軸的に配置された円筒状の電流プローブ100Fとを備える。電圧プローブ100S及び電流プローブは可撓性及び弾性を有しており、その表面には絶縁膜(図示せず)が形成されている。また、電圧プローブ100Sの両端部130,131の近くには突起状の係止部110及び111がそれぞれ形成されている。それらの両端部130及び131は、それぞれ、測定対象の配線回路パターン160と接触するための接触部及びベースプレート170に接続するための基端部として機能する。
【0061】
円筒状の電流プローブ100Fの内部には空間が形成されていて、その中では、図10に破線100S’で示すように電圧プローブ100Sが撓むことができる。また、円筒状の電流プローブ100Fの両端部120,121は狭められていて、電圧プローブ100Sの突起状の係止部110及び111が係合し、それによって、電圧プローブ100Sが電流プローブ100Fから抜け出てしまうことを防止している。それらの両端部120及び121は、それぞれ、測定対象と接触するための接触部及び電流供給部に接続するための基端部として機能する。
【0062】
図10に示すように、基板180上の配線回路パターン160に、電圧プローブ100Sの接触部130を押し付けると、電圧プローブ100Sの基端部130側の係止部111が電流プローブ100Fの基端部121の狭められた部分と係合して停止する。そのため、電圧プローブ100Sの接触部130を押し付けた際の抗力によって、電圧プローブ100Sの全体が破線100S’で示すように撓み、それに伴い、電圧プローブ100Sの接触部130が電流プローブ100Fの中に後退するので、電圧プローブ100S及び電流プローブ100Fの両方の接触部130,120が、配線回路パターン160に接触するようになる。
【0063】
ところで、図8及び図9の実施例に関連して上述したように、測定対象の回路基板の配線回路パターン160の表面の高さが場所によって相違することがあり、そのため、複数のプローブ100をベースプレートに取り付けてそれを配線回路パターンの表面に近づけた場合、それらのすべてのプローブの先端を同時にそれらの配線回路パターンの表面に当接できないことがある。それには、図11に示すように電圧プローブ100Sが湾曲することによって対応することができる。つまり、プローブ100の電流プローブ100F及び電圧プローブ100Sが、ベースプレート170の下降にともなって配線回路パターン160に押し付けられると、電圧プローブ100Sは撓んで湾曲することができる。そのように、先に配線回路パターン160に当接したプローブ100が湾曲すると、ベースプレートの下降が続けられるため、まだ当接できていないプローブ100が配線回路パターンに当接できるようにする。それにより、配線回路パターン160の高さの相違を吸収することができるようになる。
【0064】
そのように、図10の実施例によると、電圧プローブ100Sの接触部130を測定対象に押し付けるだけで、電圧プローブ100S及び電流プローブ100Fの両方の接触部130,120を測定対象にしっかりと接触させることができる。
[プローブの第7実施形態]
図12は、電流プローブ又は電圧プローブとして用いることのできる本発明に係るプローブの第7の実施形態を示す。そのプローブは、プローブピン200とそれに着脱自在に取り付けられる円柱状の拡大部210とからなる。
【0065】
拡大部210は、本体部220と接触部230とからなり、本体部220には、プローブピン200の先端部を収容する空間部240が形成されている。その空間部には、雌ねじが形成されていて、プローブピン200の先端に形成された雄ねじと螺合する。接触部230は、検査基板のスルーホールの直径よりも大きな外径を有し、先端に向かって先細りになるテーパー部250を備える。スルーホールの直径の相違に対応するため、さまざまの大きさの外径の接触部250を予め製造して用意しておく。
【0066】
使用の際には、スルーホールの直径に応じて適切な大きさの拡大部210を選択し、それにプローブピン60をねじ込んで固定する。
【0067】
この実施例に係るプローブを電圧プローブとして用いる場合には、この電圧プローブの周囲を同軸的に円筒状の電流プローブによって覆い、その電流プローブに、例えば図2に示すような先端部22を形成する。または、プローブピン200又は本体部210を切断してその間に図5に示すようなコイルスプリング状の接続部を配置して、同図に示すように、それらを囲むように円筒状の電流プローブを形成するようにしてもよい。
[プローブの製造方法]
上記の実施形態に示したプローブは、中央に円柱状の電圧プローブを備え、その周囲に同軸的に円筒状の電流プローブを配置した構成となっている。そのような同軸状のプローブは、絶縁被覆した電圧プローブの周囲に電流プローブを積層するように形成することによって製造してもよく、また、円筒状の電流プローブの中に、円柱状の絶縁被覆した電圧プローブを挿入することによって製造してもよい。
[代替例等]
以上、本発明の係るプローブのいくつかの実施形態を説明したが、本発明はこれらの実施形態に拘束されるものではない。当業者が容易になしえる追加、削除、改変等は、本発明に含まれることを承知されたい。本発明の技術的範囲は、添付の特許請求の範囲の記載によって定められる。
【図面の簡単な説明】
【0068】
【図1】図1は、四端子測定法の概念を説明するための図である。
【図2】図2a及び図2bは、本発明の第1の実施形態に係るプローブの分解図であり、図2cはそのプローブの組立図である。
【図3】図3は、図2のプローブを測定対象の回路基板の配線パターン部に接触させた状態を示す側面図である。
【図4】図4は、図2のプローブを用いて四端子測定を行うための抵抗測定装置を説明するための概略図である。
【図5】図5は、本発明の第2の実施形態に係るプローブの一部断面側面図である。
【図6】図6a及び図6bは、本発明の第3の実施形態に係るプローブの側面図である。
【図7】図7a及び図7bは、本発明の第4の実施形態に係るプローブの側面図である。
【図8】図8は、本発明の第5の実施形態に係るプローブの側面図である。
【図9】図9は、図8のプローブを用いる抵抗測定装置を説明するための一部断面側面図である。
【図10】図10は、本発明の第6の実施形態に係るプローブの一部断面側面図である。
【図11】図11は、図10に示すプローブの機能を説明するための一部断面側面図である。
【図12】図12は、本発明の第7の実施形態に係るプローブの一部断面側面図である。
【符号の説明】
【0069】
20:プローブ、 20S,60S,70S,80S,100S:電圧プローブ、 20F,60F,70F,80F,100F:電流プローブ、 22,62:先端部、 22a:取付部、 22b:接続部、 22c,55S,72,83,120,130:接触部、 22c’:接触面、 20−1:第1プローブ、 20−2:第2プローブ、 40:電流発生部、 42:電圧測定部、 52:接続部、 200:プローブピン、 210:拡大部、 220:本体部、 230:接触部、 250:テーパー部
【特許請求の範囲】
【請求項1】
測定対象の抵抗値を測定するために該測定対象と接触する接触部をそれぞれ有し、一方が電圧測定に他方が電流印加に用いられる第1及び第2のプローブ部を備える測定用プローブであって、前記第2のプローブ部が、前記第1のプローブ部を囲むように形成される本体部と、前記接触部を含むヘッド部と、該ヘッド部が前記第1のプローブ部の前記接触部を軸方向に突出するように弾性的に付勢する付勢手段を有するとともに、該ヘッド部の接触部が不使用時に前記第1のプローブ部の接触部よりも突出した位置にある、測定用プローブ。
【請求項2】
請求項1の測定用プローブにおいて、前記第1のプローブ部が円柱状に形成され、前記第2のプローブ部が該円柱状の第1のプローブ部を囲むように円筒状に形成された、測定用プローブ。
【請求項3】
請求項1の測定用プローブにおいて、前記付勢手段が圧縮バネからなる、測定用プローブ。
【請求項4】
請求項3の測定用プローブにおいて、前記本体部、前記付勢手段と前記接触部が一本の筒状部材から形成されるとともに、前記付勢手段が前記筒状部材に所定の切欠きを設けることにより形成される、測定用プローブ。
【請求項5】
請求項1の測定用プローブにおいて、前記ヘッド部と前記付勢手段が弾性を有する一体型に形成されている、測定用プローブ。
【請求項6】
請求項5の測定用プローブにおいて、前記ヘッド部と前記付勢手段がコイルスプリングにより形成されている、測定用プローブ。
【請求項7】
請求項1の測定用プローブにおいて、前記付勢手段が弾性の導電性ゴムから形成される、測定用プローブ。
【請求項8】
請求項7の測定用プローブにおいて、前記付勢手段が軸方向に伸縮する蛇腹形状に形成される、測定用プローブ。
【請求項9】
測定対象の抵抗値を測定するために該測定対象と接触する接触部をそれぞれ有し、一方が電圧測定用、他方が電流測定用に用いられる第1及び第2のプローブ部を備える測定用プローブであって、前記第2のプローブ部が、前記第1のプローブ部を囲む本体部を備え、前記第1のプローブ部が前記接触部を含むヘッド部と、前記第2のプローブ部の本体部内部に配される本体部と、前記第1のプローブの接触部を軸方向に突出するように弾性的に付勢する付勢手段を備え、使用時に該ヘッド部の接触部が前記第2のプローブ部の接触部よりも突出した位置にある、測定用プローブ。
【請求項10】
請求項9の測定用プローブにおいて、前記第1のプローブ部が円柱状に形成され、前記第2のプローブ部が該円柱状の第1のプローブ部を囲むように円筒状に形成された、測定用プローブ。
【請求項11】
請求項9の測定用プローブにおいて、前記付勢手段が弾性を有する、測定用プローブ。
【請求項12】
請求項11の測定用プローブにおいて、前記付勢手段がコイルスプリング(圧縮バネ)からなる、測定用プローブ。
【請求項13】
請求項9の測定用プローブにおいて、前記ヘッド部と前記付勢手段が弾性を有する一体型に形成される、測定用プローブ。
【請求項14】
請求項13の測定用プローブにおいて、前記ヘッド部と前記付勢手段がコイルスプリングからなる、測定用プローブ。
【請求項15】
測定対象の抵抗値を測定する抵抗測定装置であって、
測定のための電流を発生する電流発生部と、
電圧測定部と、
前記測定対象の両端に電気接続配置される一対の測定用プローブであって、各測定用プローブが、前記測定対象と接触する接触部をそれぞれ有する第1及び第2のプローブ部を備え、該第2のプローブ部が前記測定対象に電流を供給するために前記電流発生部に接続されていて、前記第1のプローブ部が、前記測定対象の両端間に発生する電圧を測定するために電圧測定部に接続されている、一対の測定用プローブと、
前記供給した電流の値と前記測定した電圧の値とから抵抗値を求める処理装置とを備え、
前記第2のプローブ部が、前記第1のプローブ部を囲むように形成される本体部と、前記接触部を含むヘッド部と、該ヘッド部が前記第1のプローブ部の前記接触部を軸方向に突出するように弾性的に付勢する付勢手段を有するとともに、該ヘッド部の接触部が不使用時に前記第1のプローブ部の接触部よりも突出した位置にある、抵抗測定装置。
【請求項16】
測定対象の抵抗値を測定する抵抗測定装置であって、
測定のための電流を発生する電流発生部と、
電圧測定部と、
前記測定対象の両端に配置される一対の測定用プローブであって、各測定用プローブが、前記測定対象と接触する接触部をそれぞれ有する第1及び第2のプローブ部を備え、該第2のプローブ部が前記測定対象に電流を供給するために前記電流発生部に接続されていて、前記第1のプローブ部が、前記測定対象の両端間に発生する電圧を測定するために電圧測定部に接続されている、一対の測定用プローブと、
前記供給した電流の値と前記測定した電圧の値とから抵抗値を求める処理装置とを備え、
前記第2のプローブ部が、前記第1のプローブ部を囲む本体部を備え、前記第1のプローブ部が前記接触部を含むヘッド部と、前記第2のプローブ部の本体部内部に配される本体部と、前記第1のプローブの接触部を軸方向に突出するように弾性的に付勢する付勢手段を備え、使用時に該ヘッド部の接触部が前記第2のプローブ部の接触部よりも突出した位置にある、抵抗測定装置。
【請求項17】
測定対象の抵抗値を測定するために該測定対象と接触する第1及び第2のプローブ部を備え、前記第2のプローブ部が、前記第1のプローブ部を囲むように形成された測定用プローブであって、前記第1のプローブ部が、プローブピンと該プローブピンが取り付けられる拡大部とを備え、該拡大部が、プローブピンの直径よりも大きな外径を有する接触部を有し、該接触部が、先端に向かって先細り形状に形成されたテーパー部を有する、測定用プローブ。
【請求項18】
請求項17の測定用プローブにおいて、前記拡大部に空間が形成されていて、該空間に前記プローブピンを差し込むことによって前記拡大部に取り付けることができる、測定用プローブ。
【請求項19】
請求項17の測定用プローブにおいて、前記プローブピンの先端部に雄ねじが形成され、前記拡大部に雌ねじが形成されていて、前記プローブピンをねじ込みによって前記拡大部取り付けることができる、測定用プローブ。
【請求項20】
測定対象である被検査基板の所定測定位置と導通接触するプローブと、前記プローブの一端を前記所定測定位置へ案内する案内孔を有する第1プレートと、前記プローブの他端を前記プローブからの電気信号を受信する電極部へ案内する案内孔を有する第2プレートと、前記第1及び第2プレートの間に所定間隔を有して配置されるとともに前記プローブを支持するとともに該プローブと導通可能に接続される第3プレートを有する基板検査用治具で用いられるプローブであって、
前記プローブは、
測定対象の抵抗値を測定するために該測定対象と接触する接触部をそれぞれ有する第1及び第2のプローブ部を有し、前記第2のプローブ部が、前記第1のプローブ部を囲むように形成されており、前記第2のプローブの一端が前記第3プレートと導通可能に接続されていることを特徴とする測定用プローブ。
【請求項21】
請求項20の測定用プローブにおいて、前記第2のプローブの長さが、第1プレートから第3プレートと略同じに形成されている,測定用プローブ。
【請求項22】
請求項20の測定用プローブにおいて、前記第1及び第2プローブが弾性を有する、測定用プローブ。
【請求項23】
請求項20の測定用プローブにおいて、前記第2のプローブ部が前記第1のプローブ部を囲む部分において、前記第1のプローブ部と前記第2のプローブ部との間に空間が形成されていて、前記第1のプローブ部が該空間内でたわむことが可能な、測定用プローブ。
【請求項24】
測定対象の抵抗値を測定するために該測定対象と接触する接触部をそれぞれ有し、一方が電圧測定に他方が電流印加に用いられる第1及び第2のプローブ部を備える測定用プローブであって、
前記第1のプローブは、弾性を有する棒状又は針状に形成され、
前記第2のプローブは、前記第1のプローブの撓みを許容する空間部を有して該第1のプローブを囲むように配置される筒状部材により形成されている、測定用プローブ。
【請求項25】
請求項24の測定用プローブにおいて、前記筒状部材の両端は先細り形状に形成されている、測定用プローブ。
【請求項26】
請求項24又は25の測定用プローブにおいて、前記第1のプローブの先端部には、抜け防止の突起部が形成されている、測定用プローブ。
【請求項27】
測定対象の抵抗値を測定するために該測定対象と接触する接触部をそれぞれ有する第1及び第2のプローブ部を備える測定用プローブを製造する方法であって、
前記第1のプローブ部を形成する工程と、
前記形成された第1のプローブ部の周囲に、該第1のプローブ部を被覆する絶縁層を形成する工程と、
前記絶縁層の周囲に前記第2のプローブ部の層を形成する工程と、
前記第2のプローブ部の接触部を有する先端部に、弾性を有する付勢手段を形成する工程であって、前記接触部が前記第1のプローブ部の接触部よりも突出するように付勢手段を形成する工程とを含む、測定用プローブを製造する方法。
【請求項28】
測定対象の抵抗値を測定するために該測定対象と接触する接触部をそれぞれ有する第1及び第2のプローブ部を備える測定用プローブを製造する方法であって、
ピン形状の第1のプローブ部を形成する工程と、
前記形成されたピン形状の第1のプローブ部の周囲に、該第1のプローブ部を被覆する絶縁層を形成する工程と、
筒状の第2のプローブ部を形成する工程と、
前記絶縁層が形成されたピン形状の第1のプローブ部を前記筒状の第2のプローブ部に挿入する工程と、
前記第2のプローブ部の接触部を有する先端部に、弾性を有する付勢手段を形成する工程であって、前記接触部が前記第1のプローブ部の接触部よりも突出するように付勢手段を形成する工程とを含む、測定用プローブを製造する方法。
【請求項29】
請求項27又は28の測定用プローブを製造する方法において、前記ヘッド部を形成する工程において、前記付勢手段にレーザによってスリットを形成することによって該付勢手段に弾性を持たせるようにする工程を含む、測定用プローブを製造する方法。
【請求項1】
測定対象の抵抗値を測定するために該測定対象と接触する接触部をそれぞれ有し、一方が電圧測定に他方が電流印加に用いられる第1及び第2のプローブ部を備える測定用プローブであって、前記第2のプローブ部が、前記第1のプローブ部を囲むように形成される本体部と、前記接触部を含むヘッド部と、該ヘッド部が前記第1のプローブ部の前記接触部を軸方向に突出するように弾性的に付勢する付勢手段を有するとともに、該ヘッド部の接触部が不使用時に前記第1のプローブ部の接触部よりも突出した位置にある、測定用プローブ。
【請求項2】
請求項1の測定用プローブにおいて、前記第1のプローブ部が円柱状に形成され、前記第2のプローブ部が該円柱状の第1のプローブ部を囲むように円筒状に形成された、測定用プローブ。
【請求項3】
請求項1の測定用プローブにおいて、前記付勢手段が圧縮バネからなる、測定用プローブ。
【請求項4】
請求項3の測定用プローブにおいて、前記本体部、前記付勢手段と前記接触部が一本の筒状部材から形成されるとともに、前記付勢手段が前記筒状部材に所定の切欠きを設けることにより形成される、測定用プローブ。
【請求項5】
請求項1の測定用プローブにおいて、前記ヘッド部と前記付勢手段が弾性を有する一体型に形成されている、測定用プローブ。
【請求項6】
請求項5の測定用プローブにおいて、前記ヘッド部と前記付勢手段がコイルスプリングにより形成されている、測定用プローブ。
【請求項7】
請求項1の測定用プローブにおいて、前記付勢手段が弾性の導電性ゴムから形成される、測定用プローブ。
【請求項8】
請求項7の測定用プローブにおいて、前記付勢手段が軸方向に伸縮する蛇腹形状に形成される、測定用プローブ。
【請求項9】
測定対象の抵抗値を測定するために該測定対象と接触する接触部をそれぞれ有し、一方が電圧測定用、他方が電流測定用に用いられる第1及び第2のプローブ部を備える測定用プローブであって、前記第2のプローブ部が、前記第1のプローブ部を囲む本体部を備え、前記第1のプローブ部が前記接触部を含むヘッド部と、前記第2のプローブ部の本体部内部に配される本体部と、前記第1のプローブの接触部を軸方向に突出するように弾性的に付勢する付勢手段を備え、使用時に該ヘッド部の接触部が前記第2のプローブ部の接触部よりも突出した位置にある、測定用プローブ。
【請求項10】
請求項9の測定用プローブにおいて、前記第1のプローブ部が円柱状に形成され、前記第2のプローブ部が該円柱状の第1のプローブ部を囲むように円筒状に形成された、測定用プローブ。
【請求項11】
請求項9の測定用プローブにおいて、前記付勢手段が弾性を有する、測定用プローブ。
【請求項12】
請求項11の測定用プローブにおいて、前記付勢手段がコイルスプリング(圧縮バネ)からなる、測定用プローブ。
【請求項13】
請求項9の測定用プローブにおいて、前記ヘッド部と前記付勢手段が弾性を有する一体型に形成される、測定用プローブ。
【請求項14】
請求項13の測定用プローブにおいて、前記ヘッド部と前記付勢手段がコイルスプリングからなる、測定用プローブ。
【請求項15】
測定対象の抵抗値を測定する抵抗測定装置であって、
測定のための電流を発生する電流発生部と、
電圧測定部と、
前記測定対象の両端に電気接続配置される一対の測定用プローブであって、各測定用プローブが、前記測定対象と接触する接触部をそれぞれ有する第1及び第2のプローブ部を備え、該第2のプローブ部が前記測定対象に電流を供給するために前記電流発生部に接続されていて、前記第1のプローブ部が、前記測定対象の両端間に発生する電圧を測定するために電圧測定部に接続されている、一対の測定用プローブと、
前記供給した電流の値と前記測定した電圧の値とから抵抗値を求める処理装置とを備え、
前記第2のプローブ部が、前記第1のプローブ部を囲むように形成される本体部と、前記接触部を含むヘッド部と、該ヘッド部が前記第1のプローブ部の前記接触部を軸方向に突出するように弾性的に付勢する付勢手段を有するとともに、該ヘッド部の接触部が不使用時に前記第1のプローブ部の接触部よりも突出した位置にある、抵抗測定装置。
【請求項16】
測定対象の抵抗値を測定する抵抗測定装置であって、
測定のための電流を発生する電流発生部と、
電圧測定部と、
前記測定対象の両端に配置される一対の測定用プローブであって、各測定用プローブが、前記測定対象と接触する接触部をそれぞれ有する第1及び第2のプローブ部を備え、該第2のプローブ部が前記測定対象に電流を供給するために前記電流発生部に接続されていて、前記第1のプローブ部が、前記測定対象の両端間に発生する電圧を測定するために電圧測定部に接続されている、一対の測定用プローブと、
前記供給した電流の値と前記測定した電圧の値とから抵抗値を求める処理装置とを備え、
前記第2のプローブ部が、前記第1のプローブ部を囲む本体部を備え、前記第1のプローブ部が前記接触部を含むヘッド部と、前記第2のプローブ部の本体部内部に配される本体部と、前記第1のプローブの接触部を軸方向に突出するように弾性的に付勢する付勢手段を備え、使用時に該ヘッド部の接触部が前記第2のプローブ部の接触部よりも突出した位置にある、抵抗測定装置。
【請求項17】
測定対象の抵抗値を測定するために該測定対象と接触する第1及び第2のプローブ部を備え、前記第2のプローブ部が、前記第1のプローブ部を囲むように形成された測定用プローブであって、前記第1のプローブ部が、プローブピンと該プローブピンが取り付けられる拡大部とを備え、該拡大部が、プローブピンの直径よりも大きな外径を有する接触部を有し、該接触部が、先端に向かって先細り形状に形成されたテーパー部を有する、測定用プローブ。
【請求項18】
請求項17の測定用プローブにおいて、前記拡大部に空間が形成されていて、該空間に前記プローブピンを差し込むことによって前記拡大部に取り付けることができる、測定用プローブ。
【請求項19】
請求項17の測定用プローブにおいて、前記プローブピンの先端部に雄ねじが形成され、前記拡大部に雌ねじが形成されていて、前記プローブピンをねじ込みによって前記拡大部取り付けることができる、測定用プローブ。
【請求項20】
測定対象である被検査基板の所定測定位置と導通接触するプローブと、前記プローブの一端を前記所定測定位置へ案内する案内孔を有する第1プレートと、前記プローブの他端を前記プローブからの電気信号を受信する電極部へ案内する案内孔を有する第2プレートと、前記第1及び第2プレートの間に所定間隔を有して配置されるとともに前記プローブを支持するとともに該プローブと導通可能に接続される第3プレートを有する基板検査用治具で用いられるプローブであって、
前記プローブは、
測定対象の抵抗値を測定するために該測定対象と接触する接触部をそれぞれ有する第1及び第2のプローブ部を有し、前記第2のプローブ部が、前記第1のプローブ部を囲むように形成されており、前記第2のプローブの一端が前記第3プレートと導通可能に接続されていることを特徴とする測定用プローブ。
【請求項21】
請求項20の測定用プローブにおいて、前記第2のプローブの長さが、第1プレートから第3プレートと略同じに形成されている,測定用プローブ。
【請求項22】
請求項20の測定用プローブにおいて、前記第1及び第2プローブが弾性を有する、測定用プローブ。
【請求項23】
請求項20の測定用プローブにおいて、前記第2のプローブ部が前記第1のプローブ部を囲む部分において、前記第1のプローブ部と前記第2のプローブ部との間に空間が形成されていて、前記第1のプローブ部が該空間内でたわむことが可能な、測定用プローブ。
【請求項24】
測定対象の抵抗値を測定するために該測定対象と接触する接触部をそれぞれ有し、一方が電圧測定に他方が電流印加に用いられる第1及び第2のプローブ部を備える測定用プローブであって、
前記第1のプローブは、弾性を有する棒状又は針状に形成され、
前記第2のプローブは、前記第1のプローブの撓みを許容する空間部を有して該第1のプローブを囲むように配置される筒状部材により形成されている、測定用プローブ。
【請求項25】
請求項24の測定用プローブにおいて、前記筒状部材の両端は先細り形状に形成されている、測定用プローブ。
【請求項26】
請求項24又は25の測定用プローブにおいて、前記第1のプローブの先端部には、抜け防止の突起部が形成されている、測定用プローブ。
【請求項27】
測定対象の抵抗値を測定するために該測定対象と接触する接触部をそれぞれ有する第1及び第2のプローブ部を備える測定用プローブを製造する方法であって、
前記第1のプローブ部を形成する工程と、
前記形成された第1のプローブ部の周囲に、該第1のプローブ部を被覆する絶縁層を形成する工程と、
前記絶縁層の周囲に前記第2のプローブ部の層を形成する工程と、
前記第2のプローブ部の接触部を有する先端部に、弾性を有する付勢手段を形成する工程であって、前記接触部が前記第1のプローブ部の接触部よりも突出するように付勢手段を形成する工程とを含む、測定用プローブを製造する方法。
【請求項28】
測定対象の抵抗値を測定するために該測定対象と接触する接触部をそれぞれ有する第1及び第2のプローブ部を備える測定用プローブを製造する方法であって、
ピン形状の第1のプローブ部を形成する工程と、
前記形成されたピン形状の第1のプローブ部の周囲に、該第1のプローブ部を被覆する絶縁層を形成する工程と、
筒状の第2のプローブ部を形成する工程と、
前記絶縁層が形成されたピン形状の第1のプローブ部を前記筒状の第2のプローブ部に挿入する工程と、
前記第2のプローブ部の接触部を有する先端部に、弾性を有する付勢手段を形成する工程であって、前記接触部が前記第1のプローブ部の接触部よりも突出するように付勢手段を形成する工程とを含む、測定用プローブを製造する方法。
【請求項29】
請求項27又は28の測定用プローブを製造する方法において、前記ヘッド部を形成する工程において、前記付勢手段にレーザによってスリットを形成することによって該付勢手段に弾性を持たせるようにする工程を含む、測定用プローブを製造する方法。
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【公開番号】特開2007−178311(P2007−178311A)
【公開日】平成19年7月12日(2007.7.12)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2005−378224(P2005−378224)
【出願日】平成17年12月28日(2005.12.28)
【出願人】(392019709)日本電産リード株式会社 (160)
【Fターム(参考)】
【公開日】平成19年7月12日(2007.7.12)
【国際特許分類】
【出願日】平成17年12月28日(2005.12.28)
【出願人】(392019709)日本電産リード株式会社 (160)
【Fターム(参考)】
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