説明

半導体素子の駆動回路

【課題】負電位の印加により導通状態となるノーマリーオン型の半導体素子の駆動に適した駆動回路を、専用の電源を用いずに実現すること。
【解決手段】給電ラインA上のpチャネル型FETによる高速スイッチング素子Sのソース電位Vsを降圧用抵抗R1により降圧させた駆動信号VGoを、降圧用抵抗R1と接地電位ラインBとの間に接続したnMOSFET5のオン時に、高速スイッチング素子SのゲートGに出力する。nMOSFET5は、給電ラインAの電圧(高速スイッチング素子Sよりも交流成分を含む直流電圧Viの入力側の電位)を用いて補助駆動回路7のマイクロコンピュータが生成したスイッチング用の駆動信号VGiによりオンオフされる。マイクロコンピュータは、給電ラインAの交流成分を含む直流電圧Viから生成した定電圧により作動する。したがって、高速スイッチング素子Sのスイッチングに専用の電源が不要となる。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、回路のスイッチング等に用いられる半導体素子を駆動するための回路に関するものである。
【背景技術】
【0002】
FET(電界効果トランジスタ)のような半導体素子は、給電ライン上でのスイッチングを必要とする電力変換回路(直流入力−交流出力、交流入力−直流出力、直流入力−直流出力、交流入力−交流出力)におけるスイッチングデバイスとして多用されている。このような半導体素子のスイッチングには、専用の電源を有する駆動回路が用いられる。
【0003】
例えば、高耐圧で大電流を流すことができる高速スイッチングが可能な半導体素子として知られている窒化ガリウム(GaN)を用いたFETには、デプレッション型FETのものもある。デプレッション型FETはノーマリーオンの特性を有しており、ゲート電圧が負のときにドレイン−ソース間がオフとなり、ゲート電圧がゼロ又は正のときにドレイン−ソース間がオンとなる。このようなデプレッション型FETにおいては、主電源の投入と同時にドレイン−ソース間が短絡しないようにすることが好ましい。
【0004】
そこで、主電源と同時に電圧が確立する電源をゲートオフ用の電源とし、ゲートオン用の電源を制御電源から導入することで、制御電源のシャットダウン時に窒化ガリウムFETを確実にゲートオフさせるようにしたゲート駆動回路が提案されている(例えば、特許文献1)。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0005】
【特許文献1】特開2004−242475号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
ところで、例えば発電機で発電した電力の昇圧回路や降圧回路のように、電位が変動する給電ライン上で半導体素子をスイッチングさせる場合には、給電ラインの電位が変動しても半導体素子がスイッチングできるような駆動信号を駆動回路で生成しなければならない。その場合には、単なる定電圧電源を駆動回路の電源として使用することができず、より複雑な構成の電源を使用しなければならなくなる。そのような電源の使用は、駆動回路の大型化や消費電力の増大につながり、好ましいものではない。
【0007】
本発明は前記事情に鑑みなされたもので、本発明の目的は、pチャネル型FETやデプレッション型FETのように、負電位の印加により導通状態となるノーマリーオン型の半導体素子の駆動に適した駆動回路を、専用の電源を用いずに実現することにある。
【課題を解決するための手段】
【0008】
上記目的を達成するため、請求項1に記載した本発明の半導体素子の駆動回路は、
電力変換回路の給電ライン上でオンオフするノーマリーオン型の半導体素子を駆動するための回路であって、
前記給電ラインに分岐接続された降圧用抵抗と、
前記降圧用抵抗と接地ラインとを接続するノーマリーオフ型のスイッチング素子と、
前記給電ラインの電圧を用いて生成した、前記降圧用抵抗の前記スイッチング素子側の接続端に現れる電位よりも高い電位のスイッチング用の駆動信号を、前記スイッチング素子に出力する補助駆動回路とを備えており、
前記スイッチング素子のスイッチングに伴い前記接続端に現れる電位の信号により、前記半導体素子を駆動する、
ことを特徴とする。
【0009】
請求項1に記載した本発明の半導体素子の駆動回路によれば、スイッチング素子の高電位側(例えば、nチャネル型MOSFETの場合はソース)に対する降圧用抵抗の接続端の電位、即ち、給電ラインの電位から降圧用抵抗での電圧降下分を差し引いた電位と比較すると、補助駆動回路がスイッチング素子に出力する駆動信号はそれよりも高電位となる。したがって、補助駆動回路の駆動信号によってスイッチング素子はオンオフ制御される。
【0010】
そして、スイッチング素子のオン時には、降圧用抵抗の接続端の電位が接地電位となるので、接続端の電位と給電ラインの電位との差は、給電ラインの電位に負の符号を付けた負電圧となる。したがって、給電ラインの電位が変動しても、その電位に対して一定以上の電位差を有する負電圧の信号を、専用の電源を用いずに半導体素子に出力することができる。よって、ノーマリーオン型の半導体素子の駆動に適した駆動回路を、専用の電源を用いずに実現することができる。
【0011】
また、請求項2に記載した本発明の半導体素子の駆動回路は、請求項1に記載した本発明の半導体素子の駆動回路において、前記降圧用抵抗で生じる電圧降下量よりも降伏電圧が低いツェナーダイオードを、前記給電ラインと前記接続端との間に逆バイアス状態で接続し、かつ、前記接続端と前記スイッチング素子との間に分圧用抵抗を直列に接続し、前記スイッチング素子のオン時に前記ツェナーダイオードの降伏電圧分だけ前記給電ラインの電位よりも低い電位で前記接続端に現れる信号により、前記半導体素子を駆動することを特徴とする。
【0012】
請求項2に記載した本発明の半導体素子の駆動回路によれば、請求項1に記載した本発明の半導体素子の駆動回路において、給電ラインと降圧用抵抗の接続端との間に逆バイアス状態で接続したツェナーダイオードの降伏電圧が、ツェナーダイオードと並列に接続される降圧用抵抗で生じる電圧降下量よりも低い。そのため、スイッチング素子のオン時に降圧用抵抗のスイッチング素子に対する接続端には、給電ラインの電位よりもツェナーダイオードの降伏電圧分だけ低い電位が現れる。
【0013】
したがって、給電ラインの電位の変動に影響されることなく、その電位に対して常に一定の電位差を有する負電圧の信号を、専用の電源を用いずに半導体素子に出力することができる。よって、ノーマリーオン型の半導体素子の駆動に適した駆動回路を、専用の電源を用いずに実現することができる。
【発明の効果】
【0014】
本発明の半導体素子の駆動回路によれば、負電位の印加により導通状態となるノーマリーオン型の半導体素子の駆動に適した駆動回路を、専用の電源を用いずに実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【0015】
【図1】本発明の第1実施形態に係る半導体素子の駆動回路により駆動されるpチャネル型FETを備えた降圧チョッパ回路を示す回路図である。
【図2】本発明の第1実施形態に係る半導体素子の駆動回路により駆動されるnチャネル型のデプレッション型FETを備えた降圧チョッパ回路を示す回路図である。
【図3】図1及び図2の補助駆動回路の概略構成を示す回路図である。
【図4】図1及び図2の降圧チョッパ回路における各部の電位を示すタイミングチャートである。
【図5】本発明の第2実施形態に係る半導体素子の駆動回路により駆動されるpチャネル型FETを備えた降圧チョッパ回路を示す回路図である。
【図6】本発明の第2実施形態に係る半導体素子の駆動回路により駆動されるnチャネル型のデプレッション型FETを備えた降圧チョッパ回路を示す回路図である。
【図7】図5及び図6の降圧チョッパ回路における各部の電位を示すタイミングチャートである。
【発明を実施するための形態】
【0016】
以下、本発明の実施形態について図面を参照しながら説明する。
【0017】
(第1実施形態)
まず、図1乃至図4を参照して、本発明の第1実施形態に係る半導体素子の駆動回路を備えた降圧チョッパ回路について説明する。なお、本実施形態では、例えば発電機で発電した電力の電圧を降圧チョッパ回路によって降圧させるものとする。
【0018】
図1及び図2に示す第1実施形態の降圧チョッパ回路1(請求項中の電力変換回路に相当)は、給電ラインAと接地ラインBとの間に入力される、交流成分を含む直流電圧Viを降圧して、直流電圧Voを出力するものである。そのために、降圧チョッパ回路1は、ゲート駆動回路3(請求項中の半導体素子の駆動回路に相当)により駆動される高速スイッチング素子S(請求項中の半導体素子に相当)と、インダクタL及びコンデンサCによるLC回路と、逆流防止用のダイオードDとを有している。このうち、LC回路とダイオードDは、公知の降圧チョッパ回路において採用されているごく一般的な接続関係にあるので、ここでの詳説は省略する。
【0019】
高速スイッチング素子Sには、ノーマリーオン型の半導体素子が用いられている。具体的には、図1に示す降圧チョッパ回路1ではpチャネル型FETを用い、図2に示す降圧チョッパ回路1ではデプレッション型のnチャネル型FETを用いている。
【0020】
ゲート駆動回路3は、高速スイッチング素子Sのソース電位Vsを降圧し駆動信号VGoとしてゲートGに印加するために、図1に示す降圧チョッパ回路1では高速スイッチング素子Sよりも交流成分を含む直流電圧Viの入力側に設けられ、図2に示す降圧チョッパ回路1では高速スイッチング素子Sよりも直流電圧Voの出力側に設けられる。
【0021】
ゲート駆動回路3は、給電ラインAに分岐接続された降圧用抵抗R1と、この降圧用抵抗R1と接地ラインBとを接続するノーマリーオフ型のnチャネル型MOSFET(以下、「nMOSFET」と略記する。請求項中のスイッチング素子に相当)5と、給電ラインAの電圧(高速スイッチング素子Sよりも交流成分を含む直流電圧Viの入力側の電位)を用いて生成したスイッチング用の駆動信号を、nMOSFET5のゲートGに出力する補助駆動回路7とを備えている。
【0022】
補助駆動回路7は、図3に示すように、DC−DCコンバータ71とマイクロコンピュータ73と電圧センサ75とを有している。DC−DCコンバータ71は、入力側の交流成分を含む直流電圧Viから定電圧Vi2を生成してマイクロコンピュータ73に供給する。マイクロコンピュータ73は、駆動信号VGiを生成してnMOSFET5のゲートGに出力する。電圧センサ75は、例えば、降圧チョッパ回路1の出力である直流電圧Voを分圧する等して直流電圧Voの電圧値に対応する電位のアナログ信号を生成し、マイクロコンピュータ73に出力する。
【0023】
マイクロコンピュータ73は、電圧センサ75からのアナログ信号をデジタル変換するA/Dコンバータ73aと、A/Dコンバータ73aからのデジタル値が入力されるCPU73bと、CPU73bの制御により信号レベルが「H」レベルと「L」レベルとに周期的に切り換わる駆動信号VGiを生成し出力ポートから出力するディスクリート機能部73cとを有している。
【0024】
CPU73bは、電圧センサ75からA/Dコンバータ75aを介して入力されるデジタル値、つまり、直流電圧Voの電圧値に応じて決定したデューティー比で、ディスクリート機能部73cが出力する駆動信号VGiの信号レベルを「H」レベルと「L」レベルとの相互間で切り換えさせる。
【0025】
このような構成により補助駆動回路7のマイクロコンピュータ73は、nMOSFET5のドレインDに対する降圧用抵抗R1の接続端aに現れる電位よりも高い電位のスイッチング用の駆動信号VGiを、nMOSFET5のゲートGに出力する。
【0026】
以上の構成による本実施形態の降圧チョッパ回路1においては、不図示の発電機から入力される交流成分を含む直流電圧Viが周期的に変化するので、図4(a)のタイミングチャートに示すように、高速スイッチング素子Sのソース電位Vsも周期的に変化する。このソース電位Vsから補助駆動回路7で生成されるnMOSFET5の駆動信号VGiは、高速スイッチング素子Sをオンオフさせるタイミングに合わせた周期の、図4(b)のタイミングチャートに示すようなパルス信号となる。
【0027】
そして、nMOSFET5のゲート電位は、駆動信号VGiのオフ時に接地電位(0V)となり、駆動信号VGiのオン時には降圧用抵抗R1の接続端aに現れる電位よりも高い電位、即ち、nMOSFET5のオン電圧VGSONよりも高い電位となる。したがって、nMOSFET5は、駆動信号VGiのオン時にオンとなり、駆動信号VGiのオフ時にオフとなる。
【0028】
nMOSFET5がオンすると、nMOSFET5のドレインD−ソースS間が導通状態となるので、nMOSFET5のドレイン電位Vが接地電位(0V)となる。このため、nMOSFET5のドレインDに接続される降圧用抵抗R1の接続端aの電位も接地電位(0V)となる。
【0029】
一方、nMOSFET5がオフすると、nMOSFET5のドレイン−ソース間が非導通状態となるので、nMOSFET5のドレイン電位Vと降圧用抵抗R1の接続端aの電位とが、高速スイッチング素子Sのソース電位Vsとなる。
【0030】
したがって、ゲート駆動回路3が高速スイッチング素子SのゲートGに出力する駆動信号VGoの電位は、図4(c)のタイミングチャートに示すように、nMOSFET5がオンの間は接地電位(0V)となり、nMOSFET5がオフの間は、高速スイッチング素子Sのソース電位Vsとなる。
【0031】
このため、高速スイッチング素子Sのゲート−ソース間電圧VGSは、図4(d)のタイミングチャートに示すように、ゲート駆動回路3の駆動信号VGoが接地電位(0V)の間は、ソース電位Vsの符号を反転させた−Vsとなり、駆動信号VGoが高速スイッチング素子Sのソース電位Vsの間は、接地電位(0V)となる。
【0032】
したがって、高速スイッチング素子Sは、ゲート駆動回路3の駆動信号VGoが接地電位(0V)であるとオンとなり、駆動信号VGoが負の電位(−Vs)であるとオフになる。
【0033】
なお、本実施形態の降圧チョッパ回路1では、入力側の交流成分を含む直流電圧Viの電位が周期的に変動するのに合わせて、ゲート駆動回路3の駆動信号VGoが接地電位(0V)であるときの、高速スイッチング素子Sのゲート−ソース間電圧VGSも周期的に変化する。したがって、高速スイッチング素子Sのソース電位Vsや入力側の交流成分を含む直流電圧Viの変動が、ゲート−ソース間電圧VGSが変動許容範囲に収まる程度のものである場合は、本実施形態の降圧チョッパ回路1を利用することができる。
【0034】
このように構成した本実施形態の降圧チョッパ回路1によれば、給電ラインAの電位(交流成分を含む直流電圧Vi及び高速スイッチング素子Sのソース電位Vs)が変動しても、その電位に対して一定以上の電位差を有する負電圧の信号を、専用の電源を用いずにゲート駆動回路3により高速スイッチング素子SのゲートGに出力することができる。よって、図1のpチャネル型FETや図2デプレッション型のnチャネル型FETのような、ノーマリーオン型の半導体素子を高速スイッチング素子Sとして用いた場合に、その駆動に適したゲート駆動回路3を、専用の電源を用いずに実現することができる。
【0035】
(第2実施形態)
次に、図5乃至図7を参照して、本発明の第2実施形態に係る半導体素子の駆動回路を備えた降圧チョッパ回路について説明する。本実施形態でも、降圧チョッパ回路によって電圧を降圧させる電力は、例えば発電機で発電した電力であるものとする。
【0036】
図5及び図6に示す第2実施形態の降圧チョッパ回路1A(請求項中の電力変換回路に相当)は、ゲート駆動回路3Aの構成が第1実施形態の降圧チョッパ回路1と異なっている。即ち、本実施形態の降圧チョッパ回路1Aにおけるゲート駆動回路3Aでは、降圧用抵抗R1と並列にツェナーダイオードZを接続し、かつ、降圧用抵抗R1の接続端aとnMOSFET5のドレインDとの間に分圧用抵抗R2を直列に接続している。なお、ツェナーダイオードZの降伏電圧Vzは、降圧用抵抗R1における電圧降下量よりも低い。
【0037】
したがって、降圧用抵抗R1の抵抗値をr1、分圧用抵抗R2の抵抗値をr2とした場合、ツェナーダイオードZの降伏電圧Vzは、
{r1/(r1+r2)}Vs>Vz
の関係が成立する値となっている。
【0038】
以上の構成による本実施形態の降圧チョッパ回路1Aにおける高速スイッチング素子Sのソース電位Vsや補助駆動回路7が生成するnMOSFET5の駆動信号VGiは、図7(a),(b)に示すように、図4(a),(b)に示す、第1実施形態の降圧チョッパ回路1における高速スイッチング素子Sのソース電位Vsや補助駆動回路7が生成するnMOSFET5の駆動信号VGiと同じである。したがって、nMOSFET5のドレインD−ソースS間は、駆動信号VGiのオン時にオンとなり、オフ時にオフとなる。
【0039】
そして、nMOSFET5がオンすると、nMOSFET5のドレインD−ソースS間が導通状態となるので、ツェナーダイオードZのアノードの電位、つまり、分圧用抵抗R2に対する降圧用抵抗R1の接続端aの電位が、高速スイッチング素子Sのソース電位VsからツェナーダイオードZの降伏電圧Vz分だけ電圧降下した電位となる。
【0040】
一方、nMOSFET5がオフすると、nMOSFET5のドレイン−ソース間が非導通状態となるので、nMOSFET5のドレイン電位VD と降圧用抵抗R1の接続端aの電位とが、高速スイッチング素子Sのソース電位Vsとなる。
【0041】
したがって、ゲート駆動回路3Aが高速スイッチング素子SのゲートGに出力する駆動信号VGoの電位は、図7(c)のタイミングチャートに示すように、nMOSFET5のがオンの間は、高速スイッチング素子Sのソース電位VsからツェナーダイオードZの降伏電圧Vz分だけ電圧降下した電位(Vs−Vz)となり、nMOSFET5がオフの間は、高速スイッチング素子Sのソース電位Vsとなる。
【0042】
このため、高速スイッチング素子Sのゲート−ソース間電圧VGSは、図4(d)のタイミングチャートに示すように、ゲート駆動回路3Aの駆動信号VGoが、ソース電位Vsから降伏電圧Vz分だけ電圧降下した電位(Vs−Vz)の間は、降伏電圧Vzの符号を反転させた−Vzとなり、駆動信号VGoが高速スイッチング素子Sソース電位Vsの間は、接地電位(0V)となる。
【0043】
したがって、高速スイッチング素子Sは、ゲート駆動回路3Aの駆動信号VGoが接地電位(0V)であるとオンとなり、駆動信号VGoが負の電位(−Vz)であるとオフになる。
【0044】
なお、本実施形態の降圧チョッパ回路1Aでは、入力側の交流成分を含む直流電圧Viの電位が周期的に変動するものの、ゲート駆動回路3Aの駆動信号VGoの電位がソース電位Vsから降伏電圧Vz分だけ電圧降下した電位(Vs−Vz)であるときの、高速スイッチング素子Sのゲート−ソース間電圧VGSは、降伏電圧Vzの符号を反転させたーVzのまま一定である。したがって、高速スイッチング素子Sのソース電位Vsの変動、ひいては、入力側の交流成分を含む直流電圧Viの変動が、どのような程度であっても、本実施形態の降圧チョッパ回路1Aを利用することができる。
【0045】
このように構成した本実施形態の降圧チョッパ回路1Aによっても、第1実施形態の降圧チョッパ回路1と同様の効果を得ることができる。しかも、高速スイッチング素子Sのソース電位Vsや入力側の交流成分を含む直流電圧Viが変動しても、ゲート駆動回路3Aの駆動信号の電位が変動しない。そのため、高速スイッチング素子Sのソース電位Vsや入力側の交流成分を含む直流電圧Viが変動するか否かに拘わらず、その電位に対して常に一定の電位差を有する負電圧の信号を、専用の電源を用いずにゲート駆動回路3Aにより高速スイッチング素子SのゲートGに出力することができる。よって、図1のpチャネル型FETや図2デプレッション型のnチャネル型FETのような、ノーマリーオン型の半導体素子を高速スイッチング素子Sとして用いた場合に、その駆動に適したゲート駆動回路3Aを、専用の電源を用いずに実現することができる。
【0046】
ちなみに、上述した第1及び第2実施形態の降圧チョッパ回路1,1Aでは、入力側の交流成分を含む直流電圧Viの電位が補助駆動回路7の定電圧電源からマイクロコンピュータに供給する定電圧に満たない間は、補助駆動回路7が作動せず、nMOSFET5のゲートGに対する駆動信号VGiの出力が行わない。しかし、入力側の交流成分を含む直流電圧Viの電位が出力側で所望される直流電圧Voの電位を超えるまでは、降圧チョッパ回路1によって入力側の交流成分を含む直流電圧Viを降圧させる必要がない。しかも、出力側で所望される直流電圧Voの電位はマイクロコンピュータに供給する定電圧よりも高い。そのため、入力側の交流成分を含む直流電圧Viの電位が低い間補助駆動回路7が作動しなくても、何ら問題はない。
【0047】
なお、上述した第1及び第2実施形態では、降圧チョッパ回路1,1Aの高速スイッチング素子Sのゲート駆動回路3に本発明を適用した場合について説明した。しかし、本発明は、電力変換回路(直流入力−交流出力、交流入力−直流出力、直流入力−直流出力、交流入力−交流出力)におけるスイッチングを必要とする給電ライン上でオンオフする、ノーマリーオン型の半導体素子を駆動するための回路の全般に、広く適用可能である。
【符号の説明】
【0048】
1 降圧チョッパ回路
1A 降圧チョッパ回路
3 ゲート駆動回路
3A ゲート駆動回路
5 nMOSFET
7 補助駆動回路
71 DC−DCコンバータ
73 マイクロコンピュータ
73a A/Dコンバータ
73b CPU
73c ディスクリート機能部
75 電圧センサ
A 給電ライン
a 接続端
B 接地ライン
C コンデンサ
D ダイオード
L インダクタ
R1 降圧用抵抗
R2 分圧用抵抗
S 高速スイッチング素子
Vi 直流電圧
Vo 直流電圧
Z ツェナーダイオード

【特許請求の範囲】
【請求項1】
電力変換回路の給電ライン上でオンオフするノーマリーオン型の半導体素子を駆動するための回路であって、
前記給電ラインに分岐接続された降圧用抵抗と、
前記降圧用抵抗と接地ラインとを接続するノーマリーオフ型のスイッチング素子と、
前記給電ラインの電圧を用いて生成した、前記降圧用抵抗の前記スイッチング素子側の接続端に現れる電位よりも高い電位のスイッチング用の駆動信号を、前記スイッチング素子に出力する補助駆動回路とを備えており、
前記スイッチング素子のスイッチングに伴い前記接続点に現れる電位の信号により、前記半導体素子を駆動する、
ことを特徴とする半導体素子の駆動回路。
【請求項2】
前記降圧用抵抗で生じる電圧降下量よりも降伏電圧が低いツェナーダイオードを、前記給電ラインと前記接続端との間に逆バイアス状態で接続し、かつ、前記接続端と前記スイッチング素子との間に分圧用抵抗を直列に接続し、前記スイッチング素子のオン時に前記ツェナーダイオードの降伏電圧分だけ前記給電ラインの電位よりも低い電位で前記接続端に現れる信号により、前記半導体素子を駆動することを特徴とする請求項1記載の半導体素子の駆動回路。

【図1】
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【図2】
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【図3】
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【図4】
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【図5】
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【図6】
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【図7】
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【公開番号】特開2012−39752(P2012−39752A)
【公開日】平成24年2月23日(2012.2.23)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2010−177501(P2010−177501)
【出願日】平成22年8月6日(2010.8.6)
【出願人】(000000099)株式会社IHI (5,014)
【Fターム(参考)】