【課題】本発明は、使用寿命を自動的に測定できる電源及び電源使用寿命を測定する方法を提供する。
【解決手段】電源の温度を検出する温度検出ユニットと、電源内の電解コンデンサーのリップル電圧を検出するリップル電圧検出ユニットと、電源を初めに使用する時に検出した初期温度及び初期温度における初期リップル電圧を獲得して、初期リップル電圧を標準温度における等価リップル電圧に換算し、且つ電源が実際に作動する時に検出した作動温度及び作動温度におけるリップル電圧を獲得して、作動温度におけるリップル電圧を標準温度における等価リップル電圧に換算してから、２つの前記等価リップル電圧を比較することにより、電源の使用寿命の終わりに達したか否かを判断するプロセッサーと、を備える。 （もっと読む）

【課題】単位時間当たりの測定数を向上させた電子部品特性測定装置を提供する。
【解決手段】
第１及び第２回転テーブル（１１，５１）と、第１及び第２回転駆動手段（１７，５７）と、第１及び第２プローブ（２０，６０）と、第１及び第２進退駆動手段（２３，６２）と、測定手段（８０）と、制御手段（８２）と、を有し、第１前進開始動作（Ｍ１３）より後であって第１前進完了動作（Ｍ１４）より前に第１回転停止動作（Ｍ１２）が行われ、第１後退開始動作（Ｍ１５）より後であって第１後退完了動作（Ｍ１６）より前に第１回転開始動作（Ｍ１１）が行われ、第２前進開始動作（Ｍ２３）より後であって第２前進完了動作（Ｍ２４）より前に、第２回転停止動作（Ｍ２２）が行われ、第２後退開始動作（Ｍ２５）より後であって第２後退完了動作（Ｍ２６）より前に第２回転開始動作（Ｍ２１）が行われる電子部品特性測定装置。 （もっと読む）

【課題】電子部品の搭載時間を短縮する。
【解決手段】供給される電子部品１０を受け取る受け取り部３ａ〜３ｅと、受け取り部３ａ〜３ｅで受け取った電子部品１０を保持して予め決められた搭載位置に移動させる移動機構４と、移動機構４を制御する制御部とを備えて、電子部品１０を基板１００に搭載可能に構成され、受け取り部３ａ〜３ｅは、供給された電子部品１０を支持する支持部と、支持部によって支持されている電子部品１０の電気的特性を測定する測定部とを備えて構成され、制御部は、測定部によって測定された電子部品１０の電気的特性が予め決められた条件を満たすときに移動機構４を制御して電子部品１０を搭載位置に移動させて基板１００に搭載させる。 （もっと読む）

【課題】工程の形態に合わせて柔軟に構成の変更が容易な電子部品の検査装置、測定装置、包装装置およびシステムを提供すること。
【解決手段】電子部品を検査する検査部４ａと、検査部４ａに供給する複数の電子部品を貯留する供給貯留部１２と、検査部４ａにて検査された後の複数の電子部品を貯留する排出貯留部２２と、排出貯留部２２に貯留された複数の電子部品を、次工程の別の下流側装置からの信号を受けて当該下流側装置に送り出すエジェクタ装置３０と、前工程の別の上流側装置に対して電子部品を送り出すように信号を送る制御装置６０と、を有する検査装置である。供給貯留部１２は、上流側装置から送り出される電子部品を受け取るための受取接続部４４を有し、排出貯留部２２は、下流側装置へ電子部品を送り出すための送出接続部３４を有する。 （もっと読む）

【課題】チップ型電子部品を搬送しながら電気的特性を測定するときに、プローブ押圧による外部電極の損傷が生じない装置と方法を提供する。
【解決手段】ワーク測定装置はテーブルベース１と、テーブルベース上に回転自在に設置され、テーブルベースと反対側の第１層２ａと、テーブルベース１側の第２層２ｂとを有する搬送テーブル２とを備えている。第１層を貫通してワークＷを収納する複数のワーク収納孔４が設けられ、第２層に各ワーク収納孔に対応して、第２層を貫通してスルーホール９が設けられている。ワーク収納孔に収納されたワークの一側電極Ｗａは、ワーク収納孔の第１層側から露出するとともに、他側電極Ｗｂは第２層のスルーホールに当接する。搬送テーブルの第１層側に、ワーク収納孔内のワークの一側外部電極に当接する第１のプローブ６０を設け、テーブルベース内に第２層のスルーホールに当接する第２プローブ６１を設けた。 （もっと読む）

【課題】充電状態の電気二重層キャパシタの測定に関し、電荷放電を抑制して省エネルギー化を実現する。微小電圧変化での測定を可能にし、ノイズの影響を回避する。
【解決手段】充電された電気二重層キャパシタ（キャパシタモジュール４）に正弦波負荷（正弦波負荷回路１２）を接続して放電回路（１０）を形成し、前記正弦波負荷を付与して前記電気二重層キャパシタ（キャパシタモジュール４）を放電させ、前記放電回路に流れる電流を電流検出手段（電流検出回路２０）で検出し、前記放電回路を介して放電中の前記電気二重層キャパシタの電圧を電圧検出手段（電圧検出回路２２）で検出し、前記電流検出手段の検出電流と前記電圧検出手段の検出電圧とを用いて前記電気二重層キャパシタのインピーダンスを算出手段（演算部２４、ＭＰＵ３２）により算出する。電気二重層キャパシタの劣化診断にはこのインピーダンスの算出結果を用いている。 （もっと読む）

【課題】電解コンデンサの寿命を、従来の寿命加速試験に要していた試験時間よりも短期間で予測する。
【解決手段】電解コンデンサの寿命診断方法であって、電解コンデンサのケース２に複数の開口部７を設け、該ケース内部の電解液の拡散速度を加速させた状態で、電解コンデンサの加速寿命試験を行い、電解コンデンサの重量実測値と静電容量変化量の相関特性あるいは電解コンデンサの重量実測値と等価直列抵抗変化量の相関特性をロット別に求め、劣化故障に至る寿命点の重量をロット別に算出する。また、前記の相関特性から近似式を求めて、劣化故障に至る寿命点の重量変化量を算出し、開口部７を設けていない電解コンデンサの加速寿命試験で得られた重量変化量の経時変化特性を基に、開口部７を設けていない電解コンデンサの寿命を推定する。 （もっと読む）

【課題】スイッチング電源装置のメーカ、方式によらず、電源の寿命予測を行う。
【解決手段】スイッチング電源装置１００の入力端８には、電圧と電流を測定する電流計５１、電圧計５３が接続されている。また、スイッチング電源装置１００の出力端９には電圧と電流を計測するする電流計５２、電圧計５４が接続されている。計算機５０は、各計測装置５１〜５４による計測値から入出力における電力の比を計算して出力効率を求めて蓄積し、蓄積された出力効率から過去のある時点の出力効率の変動中心を求め、当該時点以前の出力効率のうち予め定められた変動範囲内を超えているものがいくつ発生しているかを示す発生頻度を計算する。警報装置７０は、発生頻度が、予め定めた頻度に達しているときに警報出力を発生する。 （もっと読む）

【課題】実際の強誘電体メモリセルについて疲労特性を直接に測定する試験方法を含む半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置の製造方法は、基板上に形成された強誘電体キャパシタの疲労特性の面内分布を取得する第１の工程と、前記面内分布に基づいて、半導体装置を製造する第２の工程と、を含み、前記第２の工程は、前記半導体装置が形成される基板上に複数の強誘電体キャパシタを形成し、前記第１の工程で取得された疲労特性の面内分布から、前記半導体装置が形成される基板上の特定領域を指定し、前記特定領域に形成された前記強誘電体キャパシタについて疲労特性を測定し、前記特定領域の強誘電体キャパシタについて測定した前記疲労特性に基づき、前記特定領域の強誘電体キャパシタについて良否判定を行い、前記良否判定の結果が良であれば、前記複数の強誘電体キャパシタの全てについて良と判定する。 （もっと読む）

【課題】構成がきわめて簡単でありながら、コンタクトチェック、充電チェックおよび絶縁抵抗チェックを確実に行うことができるようにする。
【解決手段】充電ステップでコンデンサＣを規定電圧で充電したのち、検査ステップで、直流電源Ｅより一対のプローブＰを介してコンデンサＣに所定の直流電圧を印加した状態で、電流計１１にてコンデンサＣに流れる電流（漏れ電流）値を測定してコンデンサの良否を検査するにあたって、一対のプローブＰ間に電圧計１２を接続するとともに、直流電源Ｅにスイッチ１３を設け、スイッチ１３をオフとして電圧計１２にて測定される電圧測定値により、コンタクトチェックと充電チェックとを行い、ともに良好である場合に、スイッチ１３をオンとして絶縁抵抗チェックを行う。 （もっと読む）

【課題】 製造が容易で、壊れにくい電子部品用測定冶具を提供する。
【解決手段】 本発明の電子部品用測定冶具１００は、絶縁基板１と、金属箔２と、ソルダーレジスト膜３と、複数の金属端子７を備え、ソルダーレジスト膜３は、ソルダーレジスト膜非形成部４ａを有し、金属端子７は、単板からなり、測定する電子部品の端子電極が当接する当接部７ａを金属箔２の形成されていない絶縁基板１上に延出させた状態で、金属箔２のソルダーレジスト膜非形成部４ａにはんだ付けされ、金属箔２の厚みＸが、金属端子７の厚みＹに対し、Ｘ≧０．５Ｙの関係になるようにした。 （もっと読む）

【課題】効率良くコンデンサの劣化を判定することが可能な電子装置、及び電子回路基板ユニットを提供すること。
【解決手段】直流電力供給手段から負荷に直流電力を供給する電力供給経路に並列接続された一以上のコンデンサであって、検出手段による電流又は電圧の検出が行われる第１のコンデンサと、当該電力供給経路に並列接続された一以上のコンデンサであって、検出手段による電流又は電圧の検出が行われない第２のコンデンサと、検出手段による検出結果、又は検出結果の想定値からの増加量が閾値を上回った場合に、前記第２のコンデンサが劣化したことを示す信号を出力する劣化判定手段と、を備える電子装置。 （もっと読む）

【課題】 対象物を検査選別するための効率的な装置および方法を提供すること
【解決手段】 対象物を受け入れるが、対象物が互いに積み重なるのを防止するようになされた略水平な空間と、複数のトンネルと、対象物が前記複数のトンネルに入るようにさせるガス圧力を伝達するように構成された複数のガス開口部とを含む装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】コンデンサの実装・非実装の判別と共に、非実装のときには非実装のコンデンサが実装されるべき位置を判別する。
【解決手段】導体パターン１１，１２上の測定点Ｐ１，Ｐ２間のインピーダンスの周波数特性を測定する測定部２と、コンデンサ２１〜２３が正常に実装された状態での周波数特性に現れる各共振周波数ｆ１〜ｆ３毎に、共振周波数ｆ１〜ｆ３を含む判定範囲ｆｒ１〜ｆｒ３と共振周波数ｆ１〜ｆ３に対応するコンデンサ２１，２２，２３とを対応付ける基準データＤ２が記憶された記憶部３と、コンデンサ２１〜２３の実装状態が未知の導体パターン１１，１２についての周波数特性を測定部２に測定させ、この周波数特性に現れている共振周波数と基準データＤ２の各判定範囲ｆｒ１〜ｆｒ３とを比較して、共振周波数を含まない判定範囲ｆｒ１〜ｆｒ３に対応付けられたコンデンサが非実装状態であると判別する処理部４とを備えている。 （もっと読む）

【課題】電解コンデンサを実装した装置であっても、作業員の手間と時間をかけず、又専用設備等を必要とせず、電解コンデンサのエージングを行うことができる装置とプログラムを提供する。
【解決手段】少なくとも電解コンデンサを含む装置を有する電子機器が搭載するエージング装置は、電子機器の無通電期間を取得する無通電期間取得手段を備え、電子機器の電源投入時に、無通電期間が所定時間を経過している場合に、電解コンデンサに対して予め設定されたエージング処理を実行する起動制御手段を備え、これらをプログラム制御する。 （もっと読む）

【課題】キャパシタの劣化の程度を精度よく判定することが可能な充電システム、電子機器および充電装置を提供する。
【解決手段】充電可能な内蔵電源２４を内蔵する電子機器（放射線画像撮影装置１）と、内蔵電源２４への充電を制御する充電制御回路８１と、内蔵電源２４の電圧を検出する電圧検出回路８２と、内蔵電源２４の劣化の程度を判定する判定部（本体制御部２２ａ）と、充電制御回路８１を介して内蔵電源２４に電力を供給する充電装置（クレードル６０）と、を備え、判定部は、充電制御回路８１による定電流充電時に電圧検出回路８２の検出結果に基づき内蔵電源２４の電圧上昇率を取得するとともに、電圧検出回路８２により検出される内蔵電源２４の電圧に応じて所定の閾値を設定し、取得した内蔵電源２４の電圧上昇率と、設定した所定の閾値との比較により内蔵電源２４の劣化の程度を判定するように構成されている。 （もっと読む）

【課題】電源電圧を平滑化するためのコンデンサの故障を精度良く報知すること。
【解決手段】電源回路の故障検出装置は、スイッチングレギュレータ１３の出力側である電力供給経路に接続されたコンデンサＣの故障を検出する。スイッチングレギュレータ１３の出力電力を、マイコン１５からの停止信号ＳＰによりマイコン消費電力に基づいて設定された所定の停止時間ｔｓｐだけ停止させる。この停止期間中に、電力供給経路の電圧レベルがマイコン１５への動作電圧Ｖｃｃ未満となった場合、故障報知部１７によりコンデンサＣが故障と報知する。 （もっと読む）

【課題】抵抗体の発熱量が過大にならず、かつ蓄電デバイスの容量測定に要する時間が長くなり過ぎない範囲で、精度よく蓄電デバイスの劣化を判定する。
【解決手段】本発明の蓄電デバイスの劣化判定装置は、蓄電デバイス（３）と直列に接続された抵抗体７と、蓄電デバイス（３）からの放電電流Ｉを抵抗体７に所定時間流した後の蓄電デバイス（３）の電圧値に基づき蓄電デバイス（３）の容量を求めることにより、蓄電デバイス（３）の劣化を判定する判定部（１０）とを備える。上記抵抗体７の抵抗値Ｒに対する蓄電デバイス（３）の新品時の内部抵抗値（ｒ×ｎ）の割合は、０．０２％以上１％以下に設定される。 （もっと読む）

【課題】正常に機能しているフライングキャパシタに生じる静電容量変化とは区別して、静電容量変化を伴うフライングキャパシタの故障を検出すること。
【解決手段】フライングキャパシタＣ１の放電開始時に、読込用コンデンサＣａの充電電圧に基づいてフライングキャパシタＣ１の放電電圧ＶＤ１を測定する（ステップＳ１）。次に、放電開始から時間ｔ２が経過した時点で、読込用コンデンサＣａの充電電圧に基づいてフライングキャパシタＣ１の放電電圧ＶＤ２を測定する（ステップＳ３）。続いて、ステップＳ１で測定した放電電圧ＶＤ１とステップＳ３で測定した放電電圧ＶＤ２との差分からフライングキャパシタＣ１の放電量（放電割合）を求め（ステップＳ５）、求めた放電量（放電割合）を基準となるしきい値と比較して、フライングキャパシタＣ１を構成する４つのコンデンサに関するオープン故障を診断する（ステップＳ７）。 （もっと読む）

【課題】容量素子の特性測定にかかる検査時間を短縮できる特性測定方法、および特性測定装置の提供を図る。
【解決手段】強誘電体からなる容量素子を加熱し（Ｓ２）、予備充電する（Ｓ３）。これにより強誘電体における分極の進行を速める。容量素子を予備充電後に冷却し（Ｓ４）、放電する（Ｓ５）。これにより、分極の進行が進んだ状態を維持する。その後、該容量素子を再充電し（Ｓ６）、短時間で充電電流値を漏洩電流値に到達させてから、容量素子の特性を測定する。 （もっと読む）