【課題】２媒質法や２波長による屈折率分布測定において、媒質や波長ごとに照明光学系の瞳の大きさが異なっていても高精度な屈折率分布の測定を可能とする。
【解決手段】屈折率分布測定方法は、第１および第２の媒質中にそれぞれ配置された被検光学素子を透過した光の波面の計測値である第１および第２の波面計測値を取得し、第１および第２の媒質中に配置された被検光学素子における光の透過領域に対応する照明光学系における光の透過領域である第１および第２の光線透過領域を計算し、第１および第２の光線透過領域に対応する照明光学系の波面収差の計算値である第１および第２の波面収差を計算し、第１および第２の波面計測値を第１および第２の波面収差を用いて補正し、これら補正波面を用いて被検光学素子の屈折率分布を計算する。 （もっと読む）

【課題】 眼内レンズを眼内に埋植した際に生じるグレアの発生状態を好適に確認できる眼内レンズの検査装置を提供できる。
【解決手段】 眼内レンズの光学特性を測定する眼内レンズ検査装置は、人眼の角膜曲率に合わせた曲面を有する角膜模型レンズ及び網膜曲率に合わせた曲面を有するスクリーンとを備え、角膜模型レンズ及びスクリーンとの間に設けられる着脱部であって、角膜模型レンズに対して人眼の角膜から水晶体までの距離に相当する位置に眼内レンズを着脱可能に設置させるための着脱部とを有する模型眼ユニットと、模型眼ユニットに対して所定の広がりを有する光束を照射するための光源ユニットと、角膜模型レンズに対する光束の光軸中心の入射角度を変えるために、模型眼ユニット及び光源ユニットの少なくとも一方を回動させるための回動機構と、を備える。 （もっと読む）

【課題】
本発明は結像光学系のレンズ組立て調整、および像面歪み、像面湾曲、球面・コマ・非点収差等の結像誤差の測定を同一光学系で行うことができる結像誤差の測定方法および装置を提供することを目的とする。
【解決手段】
本発明は、複数の光源を有するアレイ光源と、前記アレイ光源からの光を透過する被検査結像光学系と、前記被検査結像光学系を透過した光が形成する複数の点像を撮像する撮像カメラと、前記撮像カメラで取り込まれた画像データを処理するデータ処理部と、前記アレイ光源、前記被検査結像光学系、前記撮像カメラの相対位置を調整するとを備える結像誤差の測定装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】高い精度で光学素子の光軸の位置を検出して光学素子の収差の測定精度の向上を図る。
【解決手段】検査対象とされる光学素子を保持する保持部と、保持部に保持された光学素子へ向けて光を出射する発光部と、光学素子を透過された光を収束光として出射する光制御素子と、光制御素子から出射された収束光を二次元の所定の間隔で分布する複数の光束に分割して出射する光束分割素子と、光束分割素子から出射された光を受光し受光した光に基づいて複数の光束の受光点の配列状態を配列データとして取得する検出素子とを備え、配列データに基づいて検出素子に対する光学素子の光軸の位置を検出し、検出された光軸を参照して光学素子の収差の測定を行う。 （もっと読む）

【課題】軸上光束によりチャート像を撮像するカメラと、その周辺に配置した軸外光束によりチャート像を撮像するカメラとを組み合わせた撮像手段を複数組設け、可動ミラーの切替えにより測定態様に適した適宜のものを選択して使用できるようにし、効率的なレンズ検査を行う。
【解決手段】被検レンズ７の光軸７ａに垂直に正対する第一プレート１０に、軸上光束用のカメラのほかに軸外光束用のカメラ１４ａ，１４ｂを組み合わせたワイド側撮像手段１１を設ける。ミラー枠２０を退避位置に保持してワイド側撮像手段１１でチャート像の撮像を行ってワイド側での測定を行う。ミラー枠２０を第一、第二挿入位置に回動させることにより被検レンズ７からの光束を側方に折り曲げ、第二プレート２４または第三プレート２５に組み込まれた第一テレ側撮像手段３０または第二テレ側撮像手段３２でチャート像を撮像してテレ側での測定を行う。 （もっと読む）

【課題】再現良く帯電検査を行うことが可能となる眼鏡レンズ用帯電検査治具及び眼鏡レンズ用帯電検査方法を提供する。
【解決手段】眼鏡レンズ用帯電検査治具は、上方が開放する容器１０と、容器１０内に収納された微小な粒状の誘電体１２で、誘電体１２の表面に導電性材料１４を塗布してなる多数の物質１６と、容器１０の開口部１８を覆うように一方の光学面を下にして載置される眼鏡レンズ２２と、眼鏡レンズ２２の他方の光学面を押し付け摩擦し、眼鏡レンズ２２に静電気を発生させる静電気発生部材２６と、を備える。 （もっと読む）

【課題】分光光度計を用いてコンタクトレンズや眼内レンズの紫外線や可視光の透過率を測定する場合、その製品形状を維持したまま測定部位を位置決めできるレンズ保持具を提供する。
【解決手段】レンズの凹面形状側を保持する保持面を有する第１レンズ保持部材と、レンズの凸面形状側を保持する保持面を有する第２レンズ保持部材と、透過率を測定する対象であるレンズを挟み込んだ状態で、第１レンズ保持部材と第２レンズ保持部材とを合せ、収納するレンズ保持部材収納容器とを備え、少なくともレンズ保持部材収納容器のレンズが収納された部分の材質が、分光光度計の測定波長の光が透過する材質であることを特徴とするレンズ保持具を提供する。 （もっと読む）

【課題】本発明は、成形可能温度で光学材料を金型成形する光学素子の製造方法に関するものであり、金型成形後の光学素子について、屈折率分布の全数確認を実現することを目的とする。
【解決手段】この目的を解決するために、本発明の光学素子１の製造方法は、成形可能温度の光学材料５に成形金型２の成形面２ａを転写し光学素子１を成形する成形工程と、光学素子１の屈折率分布を評価する評価工程を含み、評価工程は、光学素子１の内部応力分布を測定して、この内部応力分布を用いて屈折率分布を評価するとしたのである。 （もっと読む）

【課題】測定精度を低下させることなく、少なくとも１つのレンズを含むレンズユニットにより形成される像面の測定に要する時間を短縮する像面測定装置、及び像面の測定方法を提供する。
【解決手段】レンズユニットを介して検査用チャートを撮像する撮像素子から撮像データが出力され、撮像データに基づいて、レンズユニットにより形成される像面の状態が測定部により測定される。このとき、撮像素子上の全撮像領域のうちの一部の領域を複数指定するための撮像制御信号が制御部から出力される。また、撮像制御信号に基づいて、複数の領域に配置された画素のみから撮像データが走査回路により出力させられる。 （もっと読む）

【課題】被検物の屈折率分布を正確に算出する。
【解決手段】計測方法は、第１および第２の媒質中の被検物に参照光を入射させて第１および第２の透過波面をそれぞれ計測する透過波面計測ステップと、第１および第２の媒質中に配置した基準被検物に参照光を入射させたときに得られる第１および第２の基準透過波面を取得する基準透過波面取得ステップと、各透過波面と各基準透過波面とを用いて被検物の屈折率分布を算出する屈折率分布算出ステップとを有する。該方法は、被検物の配置状態の変化に対する収差敏感度と被検物の複数の配置状態にて計測された第１および第２の透過波面とから、計測時における各配置状態での配置誤差を算出する。基準透過波面取得ステップでは、基準被検物が第１および第２の媒質中のそれぞれにおける配置誤差を含む配置状態にあるときに得られる第１および第２の基準透過波面を取得する。 （もっと読む）

【課題】被検物の屈折率分布を高精度に計測する。
【解決手段】屈折率分布計測方法は、媒質Ｍ中における被検物１４０の配置が互いに異なる複数の配置について、第１の波長による被検物の第１の透過波面の計測結果と基準被検物が該媒質中にて被検物の配置と同じ配置とされているときの第１の波長による透過波面との差分である第１の波面収差を複数の配置について算出し、第２の波長による被検物の第２の透過波面の計測結果と基準被検物が該媒質中において被検物の配置と同じ配置とされているときの第２の波長による透過波面との差分である第２の波面収差を複数の配置について算出する。第１及び第２の波面収差に基づいて、被検物の形状成分を除去しつつ、複数の配置のそれぞれにおける被検物の屈折率分布投影値を取得し、複数の配置に対応する複数の屈折率分布投影値に基づいて被検物の３次元屈折率分布を算出する。 （もっと読む）

【課題】広画角部分においても、ＭＴＦの演算に必要な被検レンズの倍率を正確に求める。
【解決手段】被検レンズ１２をレンズマウントで保持する。軸外コリメータから被検レンズ１２の右側周面部又は左側周面部にテストパターン２８を投写する。画角θに軸外コリメータをセットして、被検レンズを通して空中結像したテストパターン２８を撮像することにより、第１撮像画像を得る。同様に、画角θ＋Δθに軸外コリメータをセットしてテストパターン２８を撮像することにより、第２撮像画像を得る。第１および第２撮像画像に基づいて、画角θにおける被検レンズ１２の倍率を求める。 （もっと読む）

【課題】回転式のレンズマウントの回転域を規制し制御するために、フィードバック制御系及びメカストッパを利用しつつ、レンズマウントに被検レンズを着脱する際にその操作を簡便にし、またレンズマウントの回転制御部に過大な負荷が及ぶことを防ぐ。
【解決手段】レンズマウント６と一体にマウントギヤ３０を設け、スピンドルギヤ３３とセンサギヤ３６とを噛み合わせる。ストッパピン３９と、制限プレート３８の端縁３８ａ及び３８ｂとを当接させる直前で、モータ制御回路４３によりレンズマウント６を測定開始位置，測定終了位置で停止させる。このとき、ストッパピン３９と端縁３８ａ，３８ｂとの間に、スピンドルギヤ３３の歯とマウントギヤ３０の歯との間の遊びの範囲内の隙間を設けておく。 （もっと読む）

【課題】密着複層型回折光学素子について、素子全体の複屈折特性を的確に把握可能な手法を提供する。
【解決手段】レリーフパターン５１ｐ，５２ｐの雌雄関係が被検体の密着複層型回折光学素子５０と反転し、光学材料の屈折率が被検体５０と共通の計測補助体６０を計測用レーザ光Ｌmの光軸上に被検体５０とともに直列に配設し、被検体５０及び計測補助体６０を透過させた計測用レーザ光を受光素子３７で受光する。 （もっと読む）

【課題】光学素子からなる被検体とマッチング液との屈折率を一致させて、該両者の屈折率差に伴う波面ノイズの発生を阻止し、被検体の屈折率分布を高精度に測定する。
【解決手段】光学素子からなる被検レンズ７０の透過波面形状を干渉計１０を用いて解析し、被検レンズ７０の屈折率分布を測定する装置であって、干渉計１０と、被検レンズ７０を支持する被検体支持手段８２と、上下壁面８１ａ、ｂが透明板とされ、内部に被検体支持手段８２を設置してなる被検体収納容器８０と、所定の温度で被検レンズ７０と屈折率が一致する、被検体収納容器８０中に注入されたマッチング液８３と、被検体収納容器８０を透過した照明光束を再帰反射せしめる光束反射体４０と、被検レンズ７０とマッチング液８３の両者の屈折率が互いに一致する温度に該両者を設定制御するシートヒータ８６と、温度測定手段８７およびコンピュータ５１とからなる。 （もっと読む）

【課題】被検物の屈折率分布を非破壊かつ短時間で高精度に計測する。
【解決手段】被検物５０の屈折率とは異なる屈折率を有する媒質中に被検物を配置した状態で、被検物の透過波面を２種類の波長を用いて計測し、２種類の波長で透過波面と特定の形状と屈折率分布を持つ基準被検物の透過波面も計測し、対応する波長について両者の透過波面の差分である波面収差を求め、被検物の形状成分を除去することによって被検物の屈折率分布を算出する。 （もっと読む）

【課題】被検体としての光学部品に対するレーザ耐力を非破壊で定量的に測定することができ、損傷メカニズムについても高精度に分析する。
【解決手段】光源１１により発生された光パルスをポンプ光とプローブ光に分離するビームスプリッタ１３と、分離したポンプ光とプローブ光との遅延時間を調整する遅延時間調整部１５と、ポンプ光に対するプローブ光の偏光方向を互いに直交する方向に制御する第１の偏光素子３６と、ポンプ光及びプローブ光を被検体２に照射する照射光学系と、プローブ光が被検体２から反射したプローブ信号を検出する受光素子３１と、受光素子３１により検出されたプローブ信号に基づいて被検体２からの反射率を解析するＰＣ３３とを備え、反射率から電子励起とその緩和による反射率ピークの高さ及び／又は幅を同定し、予め入力されている損傷度合と反射率ピークの高さ及び／又は幅の相関情報を照合して、当該被検体の損傷度合を判別する。 （もっと読む）

【課題】複数の検査を行うことができ、各検査結果を複合的に分析することのできるレンズ検査装置及びレンズ検査方法を提供する。
【解決手段】上記課題を解決するため、観察光軸Ｌ_０としての被検レンズ１０の光軸上に第一拡大光学系３０を配置し、参照光軸Ｌ_１上に配置される参照ミラー５１及び第二拡大光学系５２を有する干渉縞観察照明光学系５０と、被検レンズ１０に対して平行光及び偏光光を照射する透過光観察照明光学系６０及び偏光光観察照明光学系７０と、第一拡大光学系３０を介して、被検レンズ１０の干渉縞画像、透過光画像及び偏光光画像を観察可能な観察光学系４０とを備えるレンズ検査装置１００を提供する。また、当該レンズ検査装置１００を使用するレンズ検査方法を提供する。 （もっと読む）

【課題】高屈折率の被検物を低屈折率の媒質に浸して被検物の内部屈折率分布を高精度に計測する。
【解決手段】計測方法は、被検物１２０の屈折率よりも低い第１の屈折率を有する第１の媒質中で被検物に参照光を入射させて被検物の第１の透過波面を計測する。被検物の屈折率よりも低く、第１の屈折率とは異なる第２の屈折率を有する第２の媒質中で被検物に参照光を入射させて被検物の第２の透過波面を計測する。第１、第２の媒質中にて被検物の配置位置を計測する。第１および第２の透過波面の計測結果を用いて被検物の内部屈折率分布を算出する。内部屈折率分布を算出する際、第１、第２の透過波面の計測結果と、被検物と同一形状および特定の内部屈折率分布を有する基準被検物が、計測された第１、第２の媒質中での被検物の配置位置と同一位置に配置されているときの透過波面とを用いて被検物の形状成分を除去する。 （もっと読む）

【課題】高精度に光学素子の収差を測定する。
【解決手段】２光束干渉計１００Ａは、参照光の光路に配置され、円偏光の回転方向を逆にすると共に円偏光の位相をシフトする半波長板１０４と、半波長板を回転することによって位相シフト量を変更する半波長板回転手段１１１と、被検光の光路に沿って被検物Ｏの前後に配置され、円偏光を直線偏光に変換する一対の１／４波長板１０６ａ及び１０６ｂと、両１／４波長板が同一方向の進相軸を有するように両１／４波長板を回転する回転手段１１２及び１１３と、を有する。 （もっと読む）