説明

Fターム[2G086KK07]の内容

Fターム[2G086KK07]に分類される特許

1 - 15 / 15


【課題】マルチコアファイバにおけるモード結合係数の大きさと長手方向の分布を一括して且つ非破壊で測定する方法と装置を提供する。
【解決手段】N本の単一コア光ファイバをN個のコアを有する1本のマルチコアファイバに結合する光コンバイナを用いて、1台のOTDR装置からマルチコアファイバの1つのコアに光パルスを入射し、N個のコアに後方散乱される光パワーを測定し、入射コアと他コアに対する散乱光パワーの比率より、入射コアから他コアへの結合係数の大きさおよびその長手方向の分布、さらにN台のOTDR装置を同期動作させることにより任意のコア間のモード結合を同時に測定することが出来る。 (もっと読む)


【課題】空孔付き光ファイバの空孔径の測定に際して、空孔付き光ファイバを切断することなく、簡便にその空孔径、空孔位置、空孔の表面粗さ、曲げ損失などの特性値を知ることができるようにする。
【解決手段】空孔付き光ファイバ3の両端にレファレンス用光ファイバ2をそれぞれ接続し、この接続光ファイバ2の両端からから測定光をそれぞれ入射して後方散乱光を計測する双方向OTDR測定を行い、これにより得られた2つの後方散乱光波形からレファレンス用光ファイバ2部分における相加平均値Irefと、空孔付き光ファイバ3の位置xでの相加平均値Ihf(x)とを算出し、相加平均値Ihfと相加平均値Irefとの差分(Ihf−Iref)ΔIを求め、予め求められた差分ΔIと空孔付き光ファイバ3の空孔径との相関関係に基づいて、位置xにおける空孔径、空孔径、空孔位置、空孔の表面粗さ、曲げ損失を求める。 (もっと読む)


【課題】 コヒーレント光源のコヒーレンシを維持したまま中心周波数を変化させた出力光を得る。
【解決手段】 高コヒーレント光源11の出力光は光コム発生部12にてその周波数を中心に一定間隔で配列する複数の光線スペクトルに分離され、光フィルタ13で任意の光線スペクトルが切り出され、外部変調器14にて一定幅に渡って周波数掃引される。その出力光は第1の光方向性結合器15によって信号光と参照光に分岐され、信号光は測定対象16に入射される。測定対象16内で反射または後方散乱された信号光は第1の光方向性結合器15により取り出され、第2の光方向性結合器17により参照光と合波されて、光受信器18で光受信検波される。この時、信号光と参照光の干渉によって生じる干渉ビート信号を周波数解析装置19によって周波数解析することで測定対象16内の各位置からの反射光および後方散乱光強度分布が測定される。 (もっと読む)


【課題】被測定ファイバの片端のみ作業でラマン光増幅器の評価が行えるようにする。
【解決手段】光カプラ32の第2光路に一端側が接続された参照光ファイバ33の他端側に接続された第1光端子40a、ラマン光増幅媒体としての被測定光ファイバ1の一端に接続された第2光端子40b、無反射素子41に接続された第3光端子40cおよび第2の光検出器42の光入射部に接続された第4光端子40dとを有し、第1光端子40aと第2光端子40bとを接続した第1接続状態、第1光端子40aと第3光端子40cとを接続した第2接続状態、第2光端子40bと第4光端子40dとを接続した第3接続状態とに切替可能な光路切替部40を設け、その第1接続状態と第2接続状態における第1光検出器35の出力と、第3接続状態における第2の光検出器42の出力とに基づいて、ラマン光増幅器のラマン光増幅特性を算出する。 (もっと読む)


【課題】高価な光スペクトルアナライザーを用いることなく、精度良く正確にOSNRを測定することを課題とする。
【解決手段】OSNR測定装置は、光受信器により受信された受信光が位相変調された位相変調信号を予め定められた帯域幅に基づいて分波する分波器から帯域幅を取得する。そして、OSNR測定装置は、遅延干渉部から遅延時間量を取得し、光検出器から光パワーを取得する。また、OSNR測定装置は、信号識別を実施する識別器からビットレートを取得する。そうして、OSNR測定装置は、取得された帯域幅と、遅延時間量と、光パワーと、ビットレートに基づいて、光信号対雑音比を計算する。 (もっと読む)


【課題】 非リアルタイムOSを搭載したコンピュータであっても、OTDRから得られる膨大な測定結果を継続的に保存でき、かつ、リアルタイムで瞬断の発生を通報することができる瞬断監視システムおよび瞬断監視プログラムを提供する。
【解決手段】 瞬断監視プログラムと非リアルタイムOSとを記憶するソフトウェア記憶部と、瞬断監視プログラム管理下のメモリ領域に測定条件設定テーブルおよび測定結果記録テーブルがマッピングされ、非リアルタイムOS管理下のメモリ領域に瞬断通報用テーブルがマッピングされるメモリ部と、基準波形データを取得する基準波形データ取得部と、実測波形データを取得する実測波形データ取得部と、損失レベルを算出する損失レベル算出部と、瞬断の発生を判定する瞬断発生判定部と、測定結果を記録する測定結果記録部と、瞬断情報を記録する瞬断情報記録部と、瞬断の発生を通報する瞬断発生通報部とを有する。 (もっと読む)


【課題】リソグラフィ装置におけるテレセントリック性を測定および補正するシステムおよび方法を提供する。
【解決手段】放射ビームは複数のビームに分割され、その各々は個別制御可能素子アレイを用いて変調され、投影系により基板の一部に投影される。一組のアライメントビームは複数の放射ビームと類似の光路を同時に伝送される。対応する一組のセンサは、それぞれ一組のアライメントビームの角度および位置を投影系の入射口の近傍で測定する。テレセントリック制御ミラー(TCM)の組立体は、検出された生じたテレセントリック性を補正するために測定結果に応じて、複数の放射ビームのうち適切なものを調整する。 (もっと読む)


【課題】被測定光ファイバの一端からパルス光を入射し、被測定光ファイバの他端から連続光を入射する光ファイバ特性測定装置において、さらなる高空間分解能化を達成する。
【解決手段】第1の周波数を有するコヒーレント光から、第1パルス光のパルス幅中心と第2パルス光のパルス幅中心との時間間隔が被測定光ファイバ中の音響波の寿命以下の時間間隔とされたパルス列2aを生成し、該パルス列2aをパルス光L1として被測定光ファイバ6の一端61から入射する第1光源装置1,2,9と、パルス光L1の周波数と連続光L2の周波数との差を上記被測定光ファイバ6のブリルアン周波数シフト量を含んで可変とする可変手段9とを備える。 (もっと読む)


【課題】簡単な構成で高効率に光ファイバの温度・歪を測定可能な光ファイバ温度・歪測定方法および装置を提供する。
【解決手段】光ファイバ温度・歪測定装置を、測定光を出射する光源部2と、コア領域11の周囲に光軸方向に沿って形成された3つ以上の空孔13を有し、一端に測定光が入射される空孔付光ファイバ1と、空孔付光ファイバ1の他端側に設けられ、空孔付光ファイバ1内で発生して測定光と同方向に進行する前方ブリルアン散乱光を検出し、電気信号に変換する光/電気変換器4と、光/電気変換器4から出力される出力信号の周波数スペクトルを表示するスペクトラムアナライザ5とを備え、得られた出力信号を解析して媒質もしくは空間等の温度または歪を算出する構成とした。 (もっと読む)


【課題】ブリルアン散乱現象を用いた測定方法にて、光ファイバの片側端部のみからの信号光入射にて高空間分解能を実現する。
【解決手段】第1パルス光と第2パルス光との時間間隔が音響波の寿命以下の時間間隔とされたパルス列3aをコヒーレント光2aから生成して光ファイバ7へ出射する光パルス生成手段3と、第1パルス光の後方ブリルアン散乱光とコヒーレント光とを合波することによって得られる光信号を電気信号に変換する検波手段8と、電気信号と該電気信号を第1パルス光と第2パルス光との時間間隔分遅延させた電気信号との和をとることによって干渉信号を生成し、該干渉信号に基づいて上記光ファイバの特性を求める信号処理手段14と、上記電気信号よりブリルアンスペクトルを得るための電気的あるいは光学的な周波数可変手段10とを備える。 (もっと読む)


【課題】光ファイバの終端処理が不要で、損失測定と反射減衰量測定を容易に切り替えて行える、光ファイバデバイスの光学特性検査方法を提供する。
【解決手段】レーザ光源3と、レーザ光源と受光器を内蔵した反射測定用モジュール4とが、光学スイッチ5に接続された構成の検査ユニット1を、光ファイバデバイス6の入射側光ファイバ6aに接続する。出射側光ファイバ6bを、端面を斜めにカットしてアダプタを介して受光器2に接続する。損失測定時には、レーザ光源3からの検査光を入射側光ファイバ6a、光ファイバデバイス6、出射側光ファイバ6bを介して受光器2に入射させる。反射減衰量測定時には、光学スイッチ5を切り替え、反射測定用モジュール4内のレーザ光源からの検査光を入射側光ファイバ6aから光ファイバデバイス6に入射させ、その反射光を反射測定用モジュール4内の受光器に入射させる。 (もっと読む)


【課題】 長距離の測定が可能で高分解能である光ファイバ歪測定装置を実現する。
【解決手段】 測定対象である光ファイバ内で発生するブリルアン散乱光を用いて光ファイバの歪を測定する光ファイバ歪測定装置において、出力光の光周波数を変化させることが可能な可変波長光源と、この可変波長光源の出力光を2つに分岐する光分岐手段と、一方の分岐光に対して光周波数をシフトさせて出射する光周波数シフタと、光検出器と、他方の分岐光と光周波数シフタの出力光を合波して光ファイバの一端に入射すると共に光ファイバの一端からの出射光を分岐して光検出器に入射する光合分岐手段と、光ファイバの他端に設けられた反射端とを備え、可変波長光源の変調周期を変化させて、対向して伝播するポンプ光と反射端で折り返してくるプローブ光とが同位相になる地点を選択し、光周波数シフタによる光周波数のシフト分を走査する。 (もっと読む)


【課題】安価な部品構成でブリルアン散乱光の周波数シフトを高速に測定し、任意の測定点でのリアルタイムの周波数変化の検出が可能なブリルアン散乱光の周波数シフトの測定方法及びこれを用いた装置を実現する。
【解決手段】光ファイバで生じるブリルアン散乱光の周波数シフトの測定方法であって、光学部から光ファイバにパルス光を出射し、光ファイバから戻ってくるブリルアン散乱光が光学部に入射され、ブリルアン散乱光を受光部で電気信号に変換し、電気信号と発振器から出力される信号をミキサで混合して出力し、混合された信号の高周波成分をフィルタ部で除去し、フィルタ部から出力された信号を信号処理部でサンプリングし、得られたサンプリングデータを用いて高速フーリエ変換により周波数シフトを求める。 (もっと読む)


【課題】 被測定物の伝達特性の測定の際の周波数分解能を高くする。
【解決手段】 入射光を生成する第一テラヘルツ光発生器18と、入射光の光周波数f1−f2との差が一定の差分周波数fIFである光周波数f1−f2−fIFを有する参照光を生成する第二テラヘルツ光発生器28と、入射光を光ファイバ2に入射して得られた応答光と参照光とに基づき、差分周波数fIFを有する光検出信号を出力するテラヘルツ光検出器44と、光検出信号を受けて、光ファイバ2の特性を測定するネットワークアナライザ50を備えた測定装置1によれば、光ファイバ2に入射される入射光(テラヘルツ光)のスペクトルは、キャリア周波数(f2−f1)を含むものの、側帯周波数(f2−f1±fIF)を含まない。よって、入射光の実効的なスペクトル幅を狭くすることができる。これにより、光ファイバ2の伝達特性の測定の際の周波数分解能が高くなる。 (もっと読む)


【課題】コヒーレントクロストーク(CXT)光の発生量を高い精度で測定できる方法および装置を提供する。
【解決手段】鋸波状に周波数変調した測定光を光源部11で生成して被測定物DUTに与え、被測定物DUTから出射される透過光およびCXT光を可変光減衰器13を介して受光部12に送り、受光器12Aで光電変換した電気信号を周波数フィルタ12Bに与えることで透過光とCXT光の光周波数差に相当するビート成分を抽出し、そのビート成分のパワーが極大値となるように測定光の変調周期を制御し、最適化された変調周期を一定に保持しつつ、可変光減衰器13の光減衰量を変化させ、その時生じるビート成分のパワーの変化の割合を基に被測定物DUTにおけるCXT量を測定する。
(もっと読む)


1 - 15 / 15