カメラ及びカメラの製造方法
【課題】専用のチェッカを必ずしも必要とせずに、簡単にＥＥＰＲＯＭ内に書き込まれているカメラの誤差補正用のデータを変更できるようにすること。
【解決手段】作業者がスイッチ５をＯＮしたことをＣＰＵ１で検出すると、ＣＰＵ１は調整用のプログラムを動作させる。このプログラムは、測距用回路３によって測定された実測値をＥＥＰＲＯＭ２に書き込まれた設計値を用いて自動的に補正して、その補正した値をＥＥＰＲＯＭ２に書き込むものである。
【解決手段】作業者がスイッチ５をＯＮしたことをＣＰＵ１で検出すると、ＣＰＵ１は調整用のプログラムを動作させる。このプログラムは、測距用回路３によって測定された実測値をＥＥＰＲＯＭ２に書き込まれた設計値を用いて自動的に補正して、その補正した値をＥＥＰＲＯＭ２に書き込むものである。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、カメラ及びカメラの製造方法に関する。より詳しくはカメラの各部品のバラツキ（個体差）やカメラ製造時のそれら部品の組み付け誤差による影響を除去するための各種補正データを電気的に書き込み可能なメモリ（ＥＥＰＲＯＭ）と、その書き込まれた補正データにしたがって撮影制御を行うマイコン（ＣＰＵ）とを搭載したカメラ、及び、そのようなカメラの製造方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】本出願人は、特開平３−６４７１５号公報において、各種データを電気的に書き込み可能なＥＥＰＲＯＭを有効に利用したオートフォーカス（ＡＦ）カメラの高精度化に関する技術についての提案を行っている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記特開平３−６４７１５号公報に開示されているカメラには、マイコンと通信させることにより、ＥＥＰＲＯＭに書き込まれている上記補正データを簡単に調整することができる、いわゆるチェッカが必要であった。
【０００４】また、近年のグローバリゼーションや価値観の多様化によって、消費地生産や少量多品種生産が活発に行われる中で、カメラの生産や修理を上記チェッカのない場所で行わなければならない機会も増加している。その一方で、部品の共通化はコストダウンのためにも必須の方向であり、上記マイコンやＥＥＰＲＯＭなどを含む電子回路をプリント基板に実装するような場合には、一箇所で大量生産するほうが原価を安く押さえられる。そして、このような場合には、チェッカを導入する効果は大きい。
【０００５】本発明は、上記の事情に鑑みてなされたもので、カメラの品種又は生産形態に応じて最適な調整を行うことによって、コストを押さえながら高精度なＡＦを行うことができ、更に調整用のスイッチを撮影用のスイッチと兼用させることで部材費を押さえることができるカメラ、及びそのようなカメラの製造方法を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するために、本発明によるカメラは、ピント制御又は露出制御用のセンサと、所定条件において撮影を行ったときのピント制御や露出制御の結果に基づいて通常撮影時におけるピント制御や露出制御の結果の誤差を補正するための補正データを記憶するメモリと、を具備するカメラにおいて、上記所定条件が設定されたことを判定する判定手段と、上記判定手段によって上記所定条件が設定されたことが判定されたときに上記ピント制御又は露出制御用のセンサの出力に基づいて上記補正データを算出する算出手段と、を更に具備することを特徴とする。
【０００７】即ち、本発明のカメラによれば、必ずしもチェッカを用いずに簡単にメモリ内に書き込まれたデータを変更することができる。これによって、カメラの品種や生産形態に応じてチェッカの使用又は不使用を選択することができ、チェッカ導入によるコストを押さえることができる。
【０００８】また、上記の目的を達成するために、本発明によるカメラの製造方法は、レリーズボタンの押し込み途中の状態を判定する第１のスイッチと、レリーズボタンの押し込み終了の状態を判定する第２のスイッチと、上記第１又は第２のスイッチの入力状態によって撮影制御を行う演算制御手段と、を有するカメラの製造方法において、上記演算制御手段は、上記第１又は第２のスイッチの何れか一方のＯＮ操作によって、上記撮影制御時における誤差を算出する工程を有することを特徴とする。
【０００９】即ち、本発明のカメラの製造方法によれば、誤差算出を開始させるためのスイッチと撮影を開始させるためのスイッチとを兼用させることで部材費を押さえることができる。
【００１０】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。
【００１１】［第１の実施の形態］本発明の第１の実施の形態について図１乃至図９を参照して説明する。図１は本第１の実施の形態に係るカメラの電子回路用プリント基板の電気的な構成を示すブロック図である。
【００１２】即ち、本カメラはカメラのピント合わせや露出制御を行うための電子回路用プリント基板（以後、基板と記す。）１０を有している。そして、該基板１０上にはＣＰＵ１、メモリ（ＥＥＰＲＯＭ）２、測距用回路３、測光用回路４、ピント制御回路１４ａ、シャッタ制御回路１７などが実装されている。
【００１３】ＣＰＵ１は、ワンチップマイコン等からなるカメラ全体の動作制御や、カメラの調整動作時等におけるシーケンスコントローラとしての機能などを持つ演算制御部である。
【００１４】ＥＥＰＲＯＭ２は、カメラの製造時における誤差を補正するための補正データなどの各種データが記憶されている電気的に書き込み可能なメモリである。本実施の形態ではメモリとしてＥＥＰＲＯＭを使用しているが、不揮発性の半導体メモリであればＥＥＰＲＯＭに限らず使用することができる。なお、このＥＥＰＲＯＭ２に書き込まれた補正データとは、カメラごとに異なる固有のデータであり、主にカメラ製造時における部品の出来によって生じる誤差や、カメラの組立て時に生じる誤差によって設計値からずれたデータ（誤差）を撮影時に補正するためにカメラ製造時に書き込まれるものである。例えばカメラを大量生産する工場での調整工程において、この補正データを算出するには、まず、上記基板１０の接続端子６ａを介して専用の調整機（チェッカ）７を接続してカメラ内部のＣＰＵ１と通信させ、ＣＰＵ１内部の図示しないＲＯＭに記憶されているサブルーチンプログラムに基づいて基準となる条件で測距及び測光を行い、それら測距及び測光の結果と設計値とのずれ量（誤差）を算出して、そのずれ量を打ち消すような値を算出すれば良い。なお、ＥＥＰＲＯＭ２に書き込んでおく補正データとして、部品などの誤差による設計値からの誤差を書き込んでおくのではなく、設計値そのものを書き込んでおくようにしても良い。
【００１５】測距用回路３は、カメラのピント合わせを行うために被写体距離を測定する回路である。ＣＰＵ１は、この測距用回路３で測定された被写体距離に基づいてピント制御回路１４ａを制御することによりカメラのピント合わせを行う。
【００１６】測光用回路４は、カメラの撮影時の露出制御を行うために被写体輝度を測定する回路である。ＣＰＵ１は、この測光用回路４で測定した被写体輝度に基づいてシャッタ制御回路１７を制御することによりカメラのシャッタ制御を行う。
【００１７】また、上記ＣＰＵ１には調整モード設定用ポート（ＭＯＤ）１ａが設けられていて、スイッチ５を介して接地されるように構成されている。そして、ＣＰＵ１は、上記スイッチ５のＯＮ操作を上記ＭＯＤ１ａの電位レベルの状態によって判定し、それに応じて、ＣＰＵ１内の図示しないＲＯＭに記憶された調整用プログラムを実行するようになっている。
【００１８】なお、ここではスイッチ５を設けることによって、ＭＯＤ１ａの電位レベルを切り替えるようにしているが、スイッチ５に代わって開放端子としておき、必要なときにだけ、これらの開放端子を半田などでショートさせ、調整終了後に半田を除去して電気的に開放する構成としても良い。
【００１９】図２（Ａ）は、このような電子回路用プリント基板を有する本実施の形態に係るカメラの外観構成及び内部構成を示す図である。
【００２０】即ち、本カメラの外装１１から上カバー１２を取り外すと、上記基板１０が露出するよう、外装１１内に内蔵されている。なお、該基板１０に実装された各種回路や素子は、電池１９によって電源供給されている。また、上記外装１１にはレリーズボタン１３が配置されていて、製品状態では、ＣＰＵ１は、このレリーズボタン１３のＯＮ状態を判定することにより、該ＣＰＵ１内部の図示しないＲＯＭに記憶されているプログラムを動作させて、測距や測光といった撮影動作のシーケンス制御を行う。なお、このレリーズボタン１３は２段階押し下げ式のボタンとなっていて、１段階目の押し込みで測距及び測光を行い、２段階目の押し下げで実際に撮影を行う構成となっている。また、カメラの外装１１の前面には、撮影レンズ１４、測距用センサのための測距用窓１５、測光用センサのための測光用窓１６、上記露出時の補助光となるストロボ発光部２０などが配置されている。
【００２１】上記基板１０の上面には上記ＣＰＵ１と、上記ＥＥＰＲＯＭ２と、上記測距用回路３、測光用回路４、ピント制御回路１４ａやシャッタ制御回路１７などを含むＩＣ３ａ（このＩＣ３ａ内の各回路を別々に配置することも勿論可能である。）と、上記スイッチ５に対応する開放部であるチェックランド５ａと、上記接続端子６ａなどが実装されている。また、この基板１０の下面の、外装１１に配置された上記測距用窓１５を介して測距用光の投光及び受光が可能な位置には投光素子３ｂ及び受光素子３ｃが設けられていて、これら投光素子３ｂ及び受光素子３ｃの結果に基づいて上記測距用回路３で被写体距離を測定することができる。更に、この基板１０の下面の、外装１１に配置された上記測光用窓１６を介して被写体輝度が測定可能な位置には測光用センサ４ａが設けられていて、この測光用センサ４ａの結果に基づいて上記測光用回路４で被写体輝度を測定することができる。
【００２２】なお、前述の構成の基板１０は、図２（Ｂ）に示す、長焦点タイプのズームレンズ（１４ａ）付きのカメラ１１ａや、単焦点レンズ（１４ｂ）付きのカメラ１１ｂに共通して使用することができるものである。したがって、カメラ工場の基板実装部門では、図３（Ａ）に示すように基板１０上への部品（ＣＰＵ１、ＥＥＰＲＯＭ２、ＩＣ３ａ、等）の実装を行い、後工程で、図３（Ｂ）のように上記接続端子６ａにチェッカ７のピン７ａを接続して、チェッカ７とＣＰＵ１との通信が行えるか否かを確認する。このとき、ＣＰＵ１は、基板１０上の他の回路や素子の実装が正しく行われているか否かのチェックを行う。更に、基板１０上に設けられた接続端子６ｂを介して接続した測定機７ｂから所定の信号を入力したときに所定の出力信号が出るか否かをチェックする。
【００２３】図４は、この一連のチェック動作を示すフローチャートである。
【００２４】即ち、基板１０にチェッカ７及び測定機７ｂを接続した後、このフローの動作が開始され、まず、基板１０上の回路や素子が正しく実装されているか否かのチェックを行う（ステップＳ１）。このチェックは前述したように、チェッカ７をＣＰＵ１と通信させることで、まずＣＰＵ１の実装チェックを行い、その後、ＣＰＵ１は、他の回路や素子のチェックを行ってその結果をチェッカ７に送信することで他の回路や素子の実装チェックを行う。そして、チェッカ７は上記ステップＳ１の実装チェックの結果、基板１０上の回路や素子に異常が無かったか否かを判定する（ステップＳ２）。実装チェックの結果、基板１０上の回路や素子に異常な箇所があったと判定した場合には、チェッカ７の図示しない表示部にエラー表示を行った後（ステップＳ５）、このフローを終了する。このエラー表示に応じて、基板１０上の回路や素子を正しく実装しなおして再チェックを行うことになる。
【００２５】一方、上記ステップＳ２の判定の結果、基板１０上の回路や素子に異常が無かったと判定した場合には、基板１０上の各回路や素子の設計値に対応する値をＥＥＰＲＯＭ２に書き込んだ後、測定機７ｂから所定の信号（例えば、上記測距用回路３に入力する測距用信号に対応する信号）を入力し、そのときの出力を測定機７ｂによってチェックする（ステップＳ３）。次に上記ステップＳ３で所定の出力（設計値）が得られたか否かを判定する（ステップＳ４）。この判定の結果、所定の出力が得られなかったと判定した場合には、ステップＳ５に進み、測定機７ｂの図示しない表示器にエラー表示を行った後、このフローを終了する。このエラー表示がなされたときには、基板１０上の回路や素子に対して後述する調整を行うことになる。一方、所定の出力が得られたと判定した場合には、そのままこのフローを終了する。
【００２６】このように基板実装工場において、共通部品となる基板を大量生産できるようにすれば、チェッカ７のための設備投資を行っても減価償却が比較的容易に行える。
【００２７】しかし、１１ａ，１１ｂのような異なる種類のカメラを作り分けるときには、場合によっては売れ筋の商品であり、場合によっては少量多品種型の商品であり、必ずしも上記チェッカ７を導入でき、投資が回収できるとは限らない。
【００２８】更に、図３（Ｃ）のズーム比の大きいズームレンズ付きカメラ１１ａのようにチェッカ７を用いた厳密な調整が必要な製品と、図３（Ｄ）の単焦点で被写界深度の深いカメラ１１ｂのようにチェッカ７を用いない簡略化した調整で十分な製品とではＡＦ調整の方法も異なってくる。
【００２９】ここで、チェッカを用いない調整の詳細を説明する前に、まず、三角測距の原理に基づくカメラのＡＦ装置の特に測距用回路について、図５を参照して説明する。
【００３０】ＡＦ用の投光手段である赤外発光ダイオード（ＩＲＥＤ）３ｄ（上記投光素子３ｂに相当する。）は、測距時に投光レンズ１５ａを介して被写体１００に測距用光を投光する。このとき、被写体１００からの反射信号光は受光レンズ１５ｂによって光位置検出素子（ＰＳＤ）３ｅ（上記受光素子３ｃに相当する。）に導かれ、その入射位置ｘが検出される。なお、このＰＳＤ３ｅは、光の入射位置によって出力信号を変化させる半導体素子である。そして、ＰＳＤ３ｅによって入射位置ｘを検出した後、入射位置ｘが被写体距離Ｌによって変化することを利用して被写体距離Ｌの算出を行う。つまり、投光レンズ１５ａと受光レンズ１５ｂとのレンズ間距離を基線長Ｓとし、受光レンズ１５ｂの焦点距離をｆとするとき、上記ｘを検出することにより、以下の（式１）によって被写体距離Ｌを算出することができる。そして、算出した被写体距離Ｌから以下の（式２）を用いてピント合わせ位置に対応する撮影レンズの繰り出し量Ｋを求めることができる。
【００３１】
【数１】
ただし、Ｋ０は定数である。
【００３２】以上説明したようなＡＦ装置では、各レンズや素子の位置が正しく配置されていることが重要で、例えばＰＳＤ３ｅが正しい位置からΔａの位置誤差の分だけずれて配置されていた場合には、以下の（式３）に示すような誤差Ａを含んだ被写体距離ＬＥが算出されてしまい、その結果、以下の（式４）に示すように撮影レンズの繰り出し量にも、誤差ＫＥが生じてしまうことになる。
【００３３】
【数２】
【００３４】図６（Ａ）に被写体距離Ｌと入射位置ｘとの関係を示す。ただし、被写体距離Ｌは逆数１／Ｌとして図示されている。上記位置誤差Δａが存在している場合には、被写体距離の逆数１／Ｌと入射位置ｘとの関係に、上記（式３）に示すような誤差Ａが生じてしまう。このため、入射位置がｘＲ０の場合に被写体距離として算出されるのは、本来の１／Ｌ０ではなく、誤差を含んだ１／ＬＥ０となってしまう。そこで、多くのカメラでは製造時にこの誤差Ａを補正データとしてＥＥＰＲＯＭ２に書き込んでおいて、撮影時にはこの補正データを用いてピントずれ量などを補正することによりピント合わせを行う。
【００３５】なお、前述したカメラよりも更に高精度のピント合わせが要求されるようなカメラにおいては、図６（Ｂ）に示すようなレンズの収差等によって生じる被写体距離Ｌと入射位置ｘとの間の非線形性による誤差をも補正するために、複数の距離に対する誤差を補正データとしてＥＥＰＲＯＭ２に書き込んでおき、算出した被写体距離によって、補正の仕方（補正に使用する補正データの値）を変更するようにしている。このように複数の距離に対する補正データをＥＥＰＲＯＭ２に書き込む方法としては、図７に示すような装置でカメラ１１の基板１０の接続端子６ａとチェッカ７のピン７ａとを接続し、パソコン２１が、チェッカ７を介してカメラ１１やチャート切替え用のモータドライバ（ＭＤ）２４を制御して、カメラ１１とチャート２３との距離を変更しながら測距結果を取得した後、設計値との誤差を算出してカメラ１１内のＥＥＰＲＯＭ２に書き込むようにすれば良い。この調整時における動作の流れを図８に示す。
【００３６】まず、パソコン２１を操作して、ＭＤ２４を介してカメラ１１とチャート２３との距離が図７のＬ１となるようにチャート２３を移動させる（ステップＳ１１）。そして、パソコン２１からチェッカ７を介して測距用回路３を動作させて、チャート２３からの反射信号光の入射位置を測定し、その測定結果をｘＲ１とする（ステップＳ１２）。次に、パソコン２１において、カメラ１１とチャート２３との距離がＬ１の場合に測定されるべき入射位置（設計値）をｘ１と入射位置ｘＲ１との差、つまり誤差Ａ１が算出される（ステップＳ１３）。また同様に、パソコン２１を操作して、ＭＤ２４を介してカメラ１１とチャート２３との距離が図７のＬ２となるようにチャート２３を移動させる（ステップＳ１４）。そして、パソコン２１からチェッカ７を介して測距用回路３を動作させて、チャート２３からの反射信号光の入射位置を測定し、その測定結果をｘＲ２とする（ステップＳ１５）。次に、パソコン２１において、カメラ１１とチャート２３との距離がＬ２の場合に測定されるべき入射位置（設計値）をｘ２と入射位置ｘＲ２との差、つまり誤差Ａ２が算出される（ステップＳ１６）。そして、パソコン２１から、ステップＳ１３及びＳ１６で求めた誤差Ａ１及びＡ２を補正データとしてカメラ１１内部のＥＥＰＲＯＭ２に書き込むように命令を送る（ステップＳ１７）。なお、この誤差については、図７の水平方向（Ｌ１及びＬ２の矢印方向）だけでなく図７の垂直方向（チャート２３から、破線で示すチャート２２の矢印方向）についても測定可能である。また、誤差の測定数についても２つに限るものではないことは勿論である。
【００３７】なお、前述のように、測距結果に誤差が生じた場合にピントのずれとしては現れにくい場合もある。例えば、焦点距離が短いカメラやＦナンバーが大きいカメラでは、パンフォーカス（全ての被写体にピントが合っている状態）傾向となり厳密な調整は必要ない。このため、図３（Ｄ）に示すように、１種類の距離のチャート２３を測距した結果に基づいて調整を行うだけで、製造時の誤差の問題がないカメラを製造することができる。このチェッカ７を導入せずに調整を行う場合の手順を図９に示す。このような調整法によれば、チェッカ７やパソコン２１等の煩雑な装置を必要とせずに、ＥＥＰＲＯＭ２を利用した、温度、湿度、振動等の変化によるずれがない調整を行うことが可能となる。なお、予めこのＥＥＰＲＯＭ２には初期の補正データとして設計値ｘ１が書き込まれているものとする。また、この所定距離においたチャート２３を撮影することをピント制御の調整時における上記所定条件の撮影であるものとする。
【００３８】この調整モードにおいて、まず、ＣＰＵ１は、作業者によってレリーズボタン１３の１段階押し下げがなされたか否か、つまり、１ｓｔレリーズスイッチがＯＮされたか否かを判定する（ステップＳ２０）。１ｓｔレリーズスイッチがＯＮされていないと判定した場合には１ｓｔレリーズスイッチがＯＮされるまで待機し、１ｓｔレリーズスイッチがＯＮされたと判定した場合には測距用回路３を動作させて測距を行い、そのときのＰＳＤ３ｅに入射した入射位置ｘＲ１を検出する（ステップＳ２１）。そして、ｘＲ１の検出後にＭＯＤ１ａの電位レベルの状態によりＭＯＤ１ａの電位レベルがＬであるか否かを判定する（ステップＳ２２）。
【００３９】ＭＯＤ１ａの電位レベルがＬ、つまり、調整モード側であると判定した場合には製造時又は修理時における基板１０のチェックの工程にあって作業者１０１が図３（Ｄ）のようにカメラ１１をチャート２３から所定距離Ｌ１の位置に置いて調整作業を行っているものとＣＰＵ１は認識する。このとき、本来ならばチャート２３からの反射信号光は、ＰＳＤ３ｅのｘ１（設計値）の位置に入射するはずであるが、一般的には部品毎のバラツキや製造時の組立てのバラツキ等によってｘ１と異なるｘＲ１の位置に入射する。そこで、ＣＰＵ１は、このときの誤差ΔｘとしてｘＲ１とｘ１の差を算出する（ステップＳ２３）。なお、この調整モードでは、誤差Δｘが所定の条件内にあることが必要であり、それ以外の条件では間違った調整がなされてしまう恐れがある。このためＣＰＵ１は、誤差Δｘが所定の条件外にあるか否かを判定し（ステップＳ２４）、誤差Δｘが所定の条件外であると判定した場合には警告を行う（ステップＳ４０）。なお、この警告は基板１０上にＬＥＤを設けてそのＬＥＤを発光させても良いし、アラームなどを設けて警告音を鳴らすようにしても良い。ステップＳ４０で警告を行った場合には調整が行えないとして撮影レンズ１４の繰り出しを行わずに（ステップ４１）、本フローを抜ける。
【００４０】一方、誤差Δｘが所定の条件外でないと判定した場合には、算出した誤差Δｘを補正データとしてＥＥＰＲＯＭ２に記憶させる（ステップＳ２５）。次に、補正データが正しくＥＥＰＲＯＭ２に記憶されているか否かを確認するために、ステップＳ２５においてＥＥＰＲＯＭ２に記憶したΔｘを読み出して（ステップＳ２６）、このΔｘを用いてＰＳＤ３ｅで検出したｘＲ１を補正した値ｘ（通常、このｘはほぼｘ１と等しい値となる。）を算出する（ステップＳ２７）。そして、このｘから上記（式１）を用いてピント合わせ距離ＬＰを決定し（ステップＳ２８）、このピント合わせ距離ＬＰに応じて撮影レンズ１４の繰り出しを行う（ステップＳ２９）。ＣＰＵ１はこの繰り出し動作時に１ｓｔレリーズスイッチ又は２ｎｄレリーズスイッチの何れかがＯＮされているか否かを判定している（ステップＳ３０）。そして、１ｓｔレリーズスイッチ又は２ｎｄレリーズスイッチの何れか一方がＯＮされている間は現在の撮影レンズ１４の繰り出し位置を保持しておく（ステップＳ３１）。このときの撮影レンズ１４の繰り出し量を実測できるようにすれば、正しく調整が行われたか否かが作業者にも認識できるようになる。
【００４１】一方、１ｓｔレリーズスイッチ及び２ｎｄレリーズスイッチの何れもＯＮされていないと判定した場合には、撮影レンズ１４の繰り出しを解除して（ステップＳ３２）、本フローを抜ける。
【００４２】なお、前述したように通常レリーズボタンは１段階押し下げにより測距及び測光動作を行わせ、２段階押し下げにより撮影動作を行わせるボタンであるが、本調整モード時においては１ｓｔレリーズスイッチと２ｎｄレリーズスイッチとの区別は無く、何れかのスイッチがＯＮされた場合には調整モードに入り、撮影レンズ１４の繰り出しを制御するためのスイッチとして機能するものとする。
【００４３】上記ステップＳ２２の判定でＭＯＤ１ａの電位レベルがＨのままであると判定された場合には、通常の撮影動作を行う。まず、現在ＥＥＰＲＯＭ２に記憶されている補正データΔｘを読み出す（ステップＳ５１）。次に、測定された入射位置ｘＲ１から補正データΔｘの分を差し引いたｘを算出する（ステップＳ５２）。次に、このｘから上記（式１）を用いてピント合わせ距離ＬＰを決定する（ステップＳ５３）。そして、ＣＰＵ１は、レリーズボタン１３の２段階目の押し下げがなされて２ｎｄレリーズスイッチがＯＮされたか否かを判定する（ステップＳ５４）。２ｎｄレリーズスイッチがＯＮされたと判定した場合には撮影レンズ１４の繰り出し（ステップＳ５５）及び露出制御（ステップＳ５６）を行った後、本フローを抜ける。一方、２ｎｄレリーズスイッチがＯＮされていない場合には１ｓｔレリーズスイッチがＯＮのままであるか否かを判定し（ステップＳ５７）、ＯＮのままである場合には上記ステップＳ５４に戻る。１ｓｔレリーズスイッチがＯＦＦされた場合にはそのまま本フローを抜ける。
【００４４】以上説明したように本実施の形態によれば、組立てや部品のバラツキを補正するための補正データを電気的に書き込み可能なＥＥＰＲＯＭを利用した調整が極めて単純に行われ、正確なピント合わせが可能なカメラを提供することができる。また、繰り出した撮影レンズをそのままの位置で保持しておく機能や警告機能によって作業中の確認がしやすく、作業ミスを無くして高い品質の確保が可能となる。更に、撮影時にはレリーズボタンの押し下げ状態によって１ｓｔレリーズスイッチと２ｎｄレリーズスイッチとを使い分けることができ、１ｓｔレリーズスイッチを押しつつ、２ｎｄレリーズスイッチを押さない半押し状態にして、フォーカスロック等のテクニックで種々の撮影シーンに対応することができるようになっているが、調整モード時にはこのような機能が不要であるため１ｓｔレリーズスイッチ、２ｎｄレリーズスイッチの操作に関係なく撮影レンズの繰り出しを行うことができるようになっている。つまり、本実施の形態のカメラによれば作業時の操作の仕方や作業者による調整の差異を無くし、カメラの品質を一定にすることができる。
【００４５】［第２の実施の形態］本発明の第２の実施の形態を図１０乃至図１２を参照して説明する。図１０は本第２の実施の形態に係るカメラ及びそのカメラを調整するための調整装置を説明するための図である。なお、本実施の形態に係るカメラは１眼レフカメラを前提としている。また、上記第１の実施の形態ではＡＦ調整を例としたが本実施の形態では露出の調整を例としている。
【００４６】いわゆる１眼レフカメラは、レリーズ動作（露出）時にはクイックリターンミラー（ミラー）３２が、図１０（Ａ）のような状態から、図１０（Ｂ）のように光路上から退避することにより撮影レンズ１４からの光を導き、フォーカルプレンシャッタ（シャッタ）３３を開放して図示しない露出面に露光を行う。このシャッタ３３が開いている時間をシャッタスピードと呼び、露出を制御する際にはこのシャッタスピードを制御することになる。なお、露出制御の方法の１つとして、カメラ内のセンサにより撮影レンズ１４から導かれた光を検出して、センサからの光電流を積分コンデンサに蓄積して所定レベルの光が蓄積されたときにシャッタ３３を閉じる、いわゆるダイレクト測光方式が知られている。
【００４７】図１１（Ａ）は、このダイレクト測光方式による測光回路を含むカメラのブロック回路図である。ＣＰＵ１は、レリーズボタン１３に連動する２つのスイッチ（上記１ｓｔレリーズスイッチ及び２ｎｄレリーズスイッチ）５１の状態により露出制御を開始し、それに応じてスイッチ４２をＯＦＦして積分コンデンサ４１に積分を行わせる。つまり、スイッチ４２がＯＦＦされている間は、光検出用のセンサ４０からの光電流が積分コンデンサ４１で積分されることになる。コンパレータ４４は、このときの積分電圧ＶＩＮＴと比較電圧発生回路４５の電圧ＶＥとを比較して、積分電圧がＶＥに達した場合にその出力レベルＣＯＭＰがＬからＨになる。ＣＰＵ１は、コンパレータ４４の出力レベルＣＯＭＰがＬからＨになったことを判定した場合に、スイッチ４２をＯＮして積分コンデンサ４１の積分を終了させると共に、シャッタ・ミラー制御回路４６を動作させて、図１０（Ｂ）のようにミラー３２を光路上から退避させシャッタ３３を閉じるように制御する。なお、上記比較電圧発生回路４５の電圧ＶＥは、フィルム感度や露出補正などの設定（この設定手段については図示されていない。）によって変更されるものである。
【００４８】また、カメラを調整モードにするか否かの判定は、上記第１の実施の形態と同様にＣＰＵ１の調整モード設定用ポート（ＭＯＤ）１ａの電位レベルがＬになったことを判定した場合に行うようになっている。また、この図１１（Ａ）の回路には警告を行うためのＬＥＤ５３が設けられている。そして、ＥＥＰＲＯＭ２には調整モード時以外のデータの書き込みを禁止するためのプロテクト端子２ａが設けられている。なお、このほかの回路や素子は上記第１の実施の形態と同様のものを用いることができるため、その説明を省略する。
【００４９】この図１１（Ａ）のような回路を有するカメラを調整するための調整装置は、図１０（Ａ）に示すように一定の光量でランプ３７を発光させる光量制御回路３６及びランプ３７の光を拡散させてカメラに導く光学系３８を備えた輝度箱３５を有している。つまり、所定の明るさランプ３７を用いて所定の絞りで露出制御を行ったときの露光手段（ファイルや撮像素子）の感度が所定の値であれば、シャッタスピードは所定の値となる。なお、この調整装置を用いて所定の明るさ及び所定の絞りで撮影を行うことを露出制御調整時における上記所定条件の撮影であるものとする。
【００５０】図１１（Ｂ）は、積分時間に対する積分電圧を設計値と製造誤差による測定誤差を含んだ実測値とを図示したものである。ここで、設計値の直線において、シャッタスピード（積分時間）を例えば、ｔ１にする場合には、積分電圧、つまり比較電圧発生回路４５に設定する比較電圧ＶＥをＶＤ１とすれば良いことが分かる。この調整装置では所定のシャッタスピードに応じて、所定の明るさ、所定の感度、所定の絞りを実現できる。このため、センサやコンデンサなどの素子のバラツキや組立て時のバラツキのためにＶＤ１の電圧に設定しても所定の時間ｔ１内に積分が終了しない場合であっても、図１１（Ｂ）の関係により、ＶＤ１をシフトした電圧ＶＤになるように調整を行えば所定の積分時間（シャッタスピード）ｔ１での露出制御ができることが分かる。このようなカメラの露出制御の調整を行うプログラムについて図１２のフローチャートを参照して説明する。
【００５１】まず、ＣＰＵ１は１ｓｔレリーズスイッチの状態により１ｓｔレリーズスイッチがＯＮされたか否かを判定する（ステップＳ６１）。１ｓｔレリーズスイッチがＯＦＦのままである場合には１ｓｔレリーズスイッチがＯＮされるまで待機する。１ｓｔレリーズスイッチがＯＮされた場合にはＭＯＤ１ａの電位レベルがＬであるか判定する（ステップＳ６２）。
【００５２】ＭＯＤ１ａの電位レベルがＨである場合には通常の撮影モードである。なお、この通常の撮影モードでは、ＥＥＰＲＯＭ２のプロテクト端子２ａの電位レベルがＬとなっていて、ＥＥＰＲＯＭ２へのデータの書き込みができないようになっている。
【００５３】この通常撮影モードにおいてＣＰＵ１は、２ｎｄレリーズスイッチの状態により２ｎｄレリーズスイッチがＯＮされたか否かを判定する（ステップＳ７９）。２ｎｄレリーズスイッチがＯＦＦのままであると判定した場合には、図示しないファインダに表示を行う（ステップＳ８０）。ここで、このファインダに行う表示とは、撮影前に露出やピントに関する情報を撮影者に示すためのものである。一方、２ｎｄレリーズスイッチがＯＮされたと判定した場合には、設定電圧ＶＤ（補正データ）をＥＥＰＲＯＭ２から読み出す（ステップＳ８１）。そして、比較電圧発生回路４５の比較電圧ＶＥを上記設定電圧ＶＤとした状態で（ステップＳ８２）、シャッタ・ミラー制御回路４６を介してシャッタ３３を開くように制御する（ステップＳ８３）。
【００５４】次に、積分時間を計時するための図示しないタイマをスタートする（ステップＳ８４）。このタイミングでＣＰＵ１は、スイッチ４２をＯＦＦして積分コンデンサ４１による積分を開始させる（ステップＳ８５）。積分が開始された後は、コンパレータ４４の出力レベルＣＯＭＰがＨになったか否か、つまり、積分電圧ＶＩＮＴが比較電圧発生回路４５で設定した電圧ＶＤに達したか否かを判定する（ステップＳ８６）。まだ、Ｈになっていない場合には、積分時間ｔが所定の時間ｔ０１を超えたか否かを判定する（ステップＳ８７）。ｔ０１を超えていないと判定した場合には、ステップＳ８６に戻り積分を続ける。ｔ０１を超えたと判定した場合には、ステップＳ８８に進みシャッタ３３を閉じる。また、上記ステップ８６の判定でＣＯＭＰがＨになったと判定した場合にはシャッタ３３を閉じて（ステップＳ８８）、ステップＳ７５に進む。
【００５５】ＭＯＤ１ａの電位レベルがＬである場合には調整モードである。このときＥＥＰＲＯＭ２のプロテクト端子２ａの電位レベルはＨとなり、データの書き込みが可能な状態となる。なお、この調整モードは、図１１（Ｂ）の本来実線で示す設計値に基づいた積分が行われるべきであるのに製造時における部品のバラツキや組立てバラツキなどによる誤差によって、破線で示すような積分が行われてしまう場合のシャッタスピードを補正するものである。設計値と実測値とが図１１（Ｂ）のような場合、ＶＤ１：ｔ＝ＶＤ：ｔ１の関係が成立するためＶＤは下記（式５）のように算出することができる。
【００５６】
【数３】
【００５７】このような関係に基づいて調整モードでは、まず比較電圧発生回路４５の比較電圧ＶＥを設計値ＶＤ１に設定する（ステップＳ６３）。そして、シャッタ・ミラー制御回路４６を介してシャッタ３３を開くように制御する（ステップＳ６４）。次に、積分時間を計時するための図示しないタイマをスタートする（ステップＳ６５）。このタイミングでＣＰＵ１は、スイッチ４２をＯＦＦして積分コンデンサ４１に積分を開始させる（ステップＳ６６）。積分が開始された後は、コンパレータ４４の出力レベルＣＯＭＰがＨになったか否か、つまり、積分電圧ＶＩＮＴが比較電圧発生回路４５の電圧ＶＤ１に達したか否かを判定する（ステップＳ６７）。まだ、Ｈになっていない場合には、積分時間ｔが所定の時間ｔ０を超えたか否かを判定する（ステップＳ６８）。なお、このｔ０は上記ｔ０１よりも短い時間であるとする。ｔ０を超えていないと判定した場合には、ステップＳ６７に戻り積分を続ける。ｔ０を超えたと判定した場合には、所定の時間が経過してもシャッタが閉じなかったことの警告を行って（ステップＳ６９）、ステップＳ７２に進む。
【００５８】上記ステップＳ６７の判定でコンパレータ４４の出力ＣＯＭＰがＨになった場合には、タイマの計時を終了する（ステップＳ７１）。また、このときのタイマの値をｔＥＮＤとしてＣＰＵ１の図示しないＲＡＭに記憶させておく。そして、ＣＰＵ１はシャッタ・ミラー制御回路４６を介してシャッタ３３を閉じる（ステップＳ７２）。次に、上記測定した積分時間ｔＥＮＤと設計値ｔ１から上記（式５）を用いてＶＤを算出する（ステップＳ７３）。そして、この算出したＶＤをＥＥＰＲＯＭ２に書き込む（ステップＳ７４）。
【００５９】この書き込みの後、スイッチ４２をＯＮして積分を終了し（ステップＳ７５）、本フローを抜ける。つまり、撮影時にはステップＳ７４においてＥＥＰＲＯＭ２に書き込まれたＶＤを用いることにより、図１１（Ｂ）のように誤差が生じたとしても正しく補正した状態でシャッタ制御を行うことができる。
【００６０】以上説明したように本実施の形態によれば、所定の明るさの光を出力できる輝度箱さえあれば、バラツキの多い部品を使ったカメラであっても正確な露出制御ができるようになる。また、この露出制御の調整のために特別な装置を必要としない。
【００６１】また、調整モード設定用ポートをＣＰＵの入力端子に接続すると共に、ＥＥＰＲＯＭのプロテクト端子に連動するように接続することにより、調整モード以外ではＥＥＰＲＯＭへのデータの書き込みを禁止し、更にＣＰＵの調整モード設定用ポートを専用入力端子とすることによって誤作動によってＥＥＰＲＯＭへのデータの書き込みが行われることが無い。
【００６２】以上実施の形態に基づいて本発明を説明したが、本発明は前述した実施の形態に限定されるものではなく、本発明の要旨の範囲内で種々の変形や応用が可能なことは勿論である。
【００６３】ここで、本発明の要旨をまとめると特許請求の範囲に記載したものに加えて以下のようなものを含む。
【００６４】（１） 上記所定条件における撮影は、ピント制御時には所定チャートを所定の距離で撮影することであり、露出制御時には所定の明るさかつ所定の絞りで撮影することであることを特徴とする請求項１に記載のカメラ。
【００６５】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明によれば、製品により最適な方法での調整が可能で高精度のＡＦが行えるカメラを提供することができる。また、調整を開始するためのスイッチと撮影を開始するためのスイッチとを兼用させることで部材費を押さえることができるカメラ、及びそのようなカメラの製造方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施の形態に係るカメラの電子回路用プリント基板の電気的構成を示すブロック回路図である。
【図２】本発明の第１の実施の形態に係るカメラの外観構成及び内部構成を示す図である。
【図３】カメラの製造時や修理時における調整の様子を示した図である。
【図４】電子回路用プリント基板に実装された回路や素子のチェック動作の流れを説明するためのフローチャートを示す図である。
【図５】カメラのＡＦ装置の特に測距用回路について説明するための図である。
【図６】被写体からの反射信号光の入射位置と被写体距離の関係を示す図である。
【図７】チェッカを用いてＥＥＰＲＯＭに書き込まれたデータを調整する際の調整装置の構成を示す図である。
【図８】チェッカを用いてＥＥＰＲＯＭ内に書き込まれた補正データを調整する際の動作の流れを説明するためのフローチャートを示す図である。
【図９】本発明の第１の実施の形態に係るカメラのＥＥＰＲＯＭ内に書き込まれた補正データをチェッカを用いずに調整する際の動作の流れを説明するためのフローチャートを示す図である。
【図１０】露出制御回路調整装置の構成を示す図である。
【図１１】図１１（Ａ）は本発明の第２の実施の形態に係るカメラの、特に露出制御回路に関する電気的構成を示すブロック回路図であり、図１１（Ｂ）は積分コンデンサの積分時間に対する積分電圧を実測値と設計値とについて示した図である。
【図１２】露出制御回路の調整の動作の流れについて説明するためのフローチャートを示す図である。
【符号の説明】
１ ＣＰＵ
１ａ 調整モード設定用ポート（ＭＯＤ）
２ メモリ（ＥＥＰＲＯＭ）
３ 測距用回路
４ 測光用回路
５ スイッチ
５ａ チェックランド
７ａ 調整機（チェッカ）
１０ 電子回路用プリント基板（基板）
１３ レリーズボタン
１４ 撮影レンズ
３５ 輝度箱
５３ ＬＥＤ
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、カメラ及びカメラの製造方法に関する。より詳しくはカメラの各部品のバラツキ（個体差）やカメラ製造時のそれら部品の組み付け誤差による影響を除去するための各種補正データを電気的に書き込み可能なメモリ（ＥＥＰＲＯＭ）と、その書き込まれた補正データにしたがって撮影制御を行うマイコン（ＣＰＵ）とを搭載したカメラ、及び、そのようなカメラの製造方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】本出願人は、特開平３−６４７１５号公報において、各種データを電気的に書き込み可能なＥＥＰＲＯＭを有効に利用したオートフォーカス（ＡＦ）カメラの高精度化に関する技術についての提案を行っている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記特開平３−６４７１５号公報に開示されているカメラには、マイコンと通信させることにより、ＥＥＰＲＯＭに書き込まれている上記補正データを簡単に調整することができる、いわゆるチェッカが必要であった。
【０００４】また、近年のグローバリゼーションや価値観の多様化によって、消費地生産や少量多品種生産が活発に行われる中で、カメラの生産や修理を上記チェッカのない場所で行わなければならない機会も増加している。その一方で、部品の共通化はコストダウンのためにも必須の方向であり、上記マイコンやＥＥＰＲＯＭなどを含む電子回路をプリント基板に実装するような場合には、一箇所で大量生産するほうが原価を安く押さえられる。そして、このような場合には、チェッカを導入する効果は大きい。
【０００５】本発明は、上記の事情に鑑みてなされたもので、カメラの品種又は生産形態に応じて最適な調整を行うことによって、コストを押さえながら高精度なＡＦを行うことができ、更に調整用のスイッチを撮影用のスイッチと兼用させることで部材費を押さえることができるカメラ、及びそのようなカメラの製造方法を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するために、本発明によるカメラは、ピント制御又は露出制御用のセンサと、所定条件において撮影を行ったときのピント制御や露出制御の結果に基づいて通常撮影時におけるピント制御や露出制御の結果の誤差を補正するための補正データを記憶するメモリと、を具備するカメラにおいて、上記所定条件が設定されたことを判定する判定手段と、上記判定手段によって上記所定条件が設定されたことが判定されたときに上記ピント制御又は露出制御用のセンサの出力に基づいて上記補正データを算出する算出手段と、を更に具備することを特徴とする。
【０００７】即ち、本発明のカメラによれば、必ずしもチェッカを用いずに簡単にメモリ内に書き込まれたデータを変更することができる。これによって、カメラの品種や生産形態に応じてチェッカの使用又は不使用を選択することができ、チェッカ導入によるコストを押さえることができる。
【０００８】また、上記の目的を達成するために、本発明によるカメラの製造方法は、レリーズボタンの押し込み途中の状態を判定する第１のスイッチと、レリーズボタンの押し込み終了の状態を判定する第２のスイッチと、上記第１又は第２のスイッチの入力状態によって撮影制御を行う演算制御手段と、を有するカメラの製造方法において、上記演算制御手段は、上記第１又は第２のスイッチの何れか一方のＯＮ操作によって、上記撮影制御時における誤差を算出する工程を有することを特徴とする。
【０００９】即ち、本発明のカメラの製造方法によれば、誤差算出を開始させるためのスイッチと撮影を開始させるためのスイッチとを兼用させることで部材費を押さえることができる。
【００１０】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。
【００１１】［第１の実施の形態］本発明の第１の実施の形態について図１乃至図９を参照して説明する。図１は本第１の実施の形態に係るカメラの電子回路用プリント基板の電気的な構成を示すブロック図である。
【００１２】即ち、本カメラはカメラのピント合わせや露出制御を行うための電子回路用プリント基板（以後、基板と記す。）１０を有している。そして、該基板１０上にはＣＰＵ１、メモリ（ＥＥＰＲＯＭ）２、測距用回路３、測光用回路４、ピント制御回路１４ａ、シャッタ制御回路１７などが実装されている。
【００１３】ＣＰＵ１は、ワンチップマイコン等からなるカメラ全体の動作制御や、カメラの調整動作時等におけるシーケンスコントローラとしての機能などを持つ演算制御部である。
【００１４】ＥＥＰＲＯＭ２は、カメラの製造時における誤差を補正するための補正データなどの各種データが記憶されている電気的に書き込み可能なメモリである。本実施の形態ではメモリとしてＥＥＰＲＯＭを使用しているが、不揮発性の半導体メモリであればＥＥＰＲＯＭに限らず使用することができる。なお、このＥＥＰＲＯＭ２に書き込まれた補正データとは、カメラごとに異なる固有のデータであり、主にカメラ製造時における部品の出来によって生じる誤差や、カメラの組立て時に生じる誤差によって設計値からずれたデータ（誤差）を撮影時に補正するためにカメラ製造時に書き込まれるものである。例えばカメラを大量生産する工場での調整工程において、この補正データを算出するには、まず、上記基板１０の接続端子６ａを介して専用の調整機（チェッカ）７を接続してカメラ内部のＣＰＵ１と通信させ、ＣＰＵ１内部の図示しないＲＯＭに記憶されているサブルーチンプログラムに基づいて基準となる条件で測距及び測光を行い、それら測距及び測光の結果と設計値とのずれ量（誤差）を算出して、そのずれ量を打ち消すような値を算出すれば良い。なお、ＥＥＰＲＯＭ２に書き込んでおく補正データとして、部品などの誤差による設計値からの誤差を書き込んでおくのではなく、設計値そのものを書き込んでおくようにしても良い。
【００１５】測距用回路３は、カメラのピント合わせを行うために被写体距離を測定する回路である。ＣＰＵ１は、この測距用回路３で測定された被写体距離に基づいてピント制御回路１４ａを制御することによりカメラのピント合わせを行う。
【００１６】測光用回路４は、カメラの撮影時の露出制御を行うために被写体輝度を測定する回路である。ＣＰＵ１は、この測光用回路４で測定した被写体輝度に基づいてシャッタ制御回路１７を制御することによりカメラのシャッタ制御を行う。
【００１７】また、上記ＣＰＵ１には調整モード設定用ポート（ＭＯＤ）１ａが設けられていて、スイッチ５を介して接地されるように構成されている。そして、ＣＰＵ１は、上記スイッチ５のＯＮ操作を上記ＭＯＤ１ａの電位レベルの状態によって判定し、それに応じて、ＣＰＵ１内の図示しないＲＯＭに記憶された調整用プログラムを実行するようになっている。
【００１８】なお、ここではスイッチ５を設けることによって、ＭＯＤ１ａの電位レベルを切り替えるようにしているが、スイッチ５に代わって開放端子としておき、必要なときにだけ、これらの開放端子を半田などでショートさせ、調整終了後に半田を除去して電気的に開放する構成としても良い。
【００１９】図２（Ａ）は、このような電子回路用プリント基板を有する本実施の形態に係るカメラの外観構成及び内部構成を示す図である。
【００２０】即ち、本カメラの外装１１から上カバー１２を取り外すと、上記基板１０が露出するよう、外装１１内に内蔵されている。なお、該基板１０に実装された各種回路や素子は、電池１９によって電源供給されている。また、上記外装１１にはレリーズボタン１３が配置されていて、製品状態では、ＣＰＵ１は、このレリーズボタン１３のＯＮ状態を判定することにより、該ＣＰＵ１内部の図示しないＲＯＭに記憶されているプログラムを動作させて、測距や測光といった撮影動作のシーケンス制御を行う。なお、このレリーズボタン１３は２段階押し下げ式のボタンとなっていて、１段階目の押し込みで測距及び測光を行い、２段階目の押し下げで実際に撮影を行う構成となっている。また、カメラの外装１１の前面には、撮影レンズ１４、測距用センサのための測距用窓１５、測光用センサのための測光用窓１６、上記露出時の補助光となるストロボ発光部２０などが配置されている。
【００２１】上記基板１０の上面には上記ＣＰＵ１と、上記ＥＥＰＲＯＭ２と、上記測距用回路３、測光用回路４、ピント制御回路１４ａやシャッタ制御回路１７などを含むＩＣ３ａ（このＩＣ３ａ内の各回路を別々に配置することも勿論可能である。）と、上記スイッチ５に対応する開放部であるチェックランド５ａと、上記接続端子６ａなどが実装されている。また、この基板１０の下面の、外装１１に配置された上記測距用窓１５を介して測距用光の投光及び受光が可能な位置には投光素子３ｂ及び受光素子３ｃが設けられていて、これら投光素子３ｂ及び受光素子３ｃの結果に基づいて上記測距用回路３で被写体距離を測定することができる。更に、この基板１０の下面の、外装１１に配置された上記測光用窓１６を介して被写体輝度が測定可能な位置には測光用センサ４ａが設けられていて、この測光用センサ４ａの結果に基づいて上記測光用回路４で被写体輝度を測定することができる。
【００２２】なお、前述の構成の基板１０は、図２（Ｂ）に示す、長焦点タイプのズームレンズ（１４ａ）付きのカメラ１１ａや、単焦点レンズ（１４ｂ）付きのカメラ１１ｂに共通して使用することができるものである。したがって、カメラ工場の基板実装部門では、図３（Ａ）に示すように基板１０上への部品（ＣＰＵ１、ＥＥＰＲＯＭ２、ＩＣ３ａ、等）の実装を行い、後工程で、図３（Ｂ）のように上記接続端子６ａにチェッカ７のピン７ａを接続して、チェッカ７とＣＰＵ１との通信が行えるか否かを確認する。このとき、ＣＰＵ１は、基板１０上の他の回路や素子の実装が正しく行われているか否かのチェックを行う。更に、基板１０上に設けられた接続端子６ｂを介して接続した測定機７ｂから所定の信号を入力したときに所定の出力信号が出るか否かをチェックする。
【００２３】図４は、この一連のチェック動作を示すフローチャートである。
【００２４】即ち、基板１０にチェッカ７及び測定機７ｂを接続した後、このフローの動作が開始され、まず、基板１０上の回路や素子が正しく実装されているか否かのチェックを行う（ステップＳ１）。このチェックは前述したように、チェッカ７をＣＰＵ１と通信させることで、まずＣＰＵ１の実装チェックを行い、その後、ＣＰＵ１は、他の回路や素子のチェックを行ってその結果をチェッカ７に送信することで他の回路や素子の実装チェックを行う。そして、チェッカ７は上記ステップＳ１の実装チェックの結果、基板１０上の回路や素子に異常が無かったか否かを判定する（ステップＳ２）。実装チェックの結果、基板１０上の回路や素子に異常な箇所があったと判定した場合には、チェッカ７の図示しない表示部にエラー表示を行った後（ステップＳ５）、このフローを終了する。このエラー表示に応じて、基板１０上の回路や素子を正しく実装しなおして再チェックを行うことになる。
【００２５】一方、上記ステップＳ２の判定の結果、基板１０上の回路や素子に異常が無かったと判定した場合には、基板１０上の各回路や素子の設計値に対応する値をＥＥＰＲＯＭ２に書き込んだ後、測定機７ｂから所定の信号（例えば、上記測距用回路３に入力する測距用信号に対応する信号）を入力し、そのときの出力を測定機７ｂによってチェックする（ステップＳ３）。次に上記ステップＳ３で所定の出力（設計値）が得られたか否かを判定する（ステップＳ４）。この判定の結果、所定の出力が得られなかったと判定した場合には、ステップＳ５に進み、測定機７ｂの図示しない表示器にエラー表示を行った後、このフローを終了する。このエラー表示がなされたときには、基板１０上の回路や素子に対して後述する調整を行うことになる。一方、所定の出力が得られたと判定した場合には、そのままこのフローを終了する。
【００２６】このように基板実装工場において、共通部品となる基板を大量生産できるようにすれば、チェッカ７のための設備投資を行っても減価償却が比較的容易に行える。
【００２７】しかし、１１ａ，１１ｂのような異なる種類のカメラを作り分けるときには、場合によっては売れ筋の商品であり、場合によっては少量多品種型の商品であり、必ずしも上記チェッカ７を導入でき、投資が回収できるとは限らない。
【００２８】更に、図３（Ｃ）のズーム比の大きいズームレンズ付きカメラ１１ａのようにチェッカ７を用いた厳密な調整が必要な製品と、図３（Ｄ）の単焦点で被写界深度の深いカメラ１１ｂのようにチェッカ７を用いない簡略化した調整で十分な製品とではＡＦ調整の方法も異なってくる。
【００２９】ここで、チェッカを用いない調整の詳細を説明する前に、まず、三角測距の原理に基づくカメラのＡＦ装置の特に測距用回路について、図５を参照して説明する。
【００３０】ＡＦ用の投光手段である赤外発光ダイオード（ＩＲＥＤ）３ｄ（上記投光素子３ｂに相当する。）は、測距時に投光レンズ１５ａを介して被写体１００に測距用光を投光する。このとき、被写体１００からの反射信号光は受光レンズ１５ｂによって光位置検出素子（ＰＳＤ）３ｅ（上記受光素子３ｃに相当する。）に導かれ、その入射位置ｘが検出される。なお、このＰＳＤ３ｅは、光の入射位置によって出力信号を変化させる半導体素子である。そして、ＰＳＤ３ｅによって入射位置ｘを検出した後、入射位置ｘが被写体距離Ｌによって変化することを利用して被写体距離Ｌの算出を行う。つまり、投光レンズ１５ａと受光レンズ１５ｂとのレンズ間距離を基線長Ｓとし、受光レンズ１５ｂの焦点距離をｆとするとき、上記ｘを検出することにより、以下の（式１）によって被写体距離Ｌを算出することができる。そして、算出した被写体距離Ｌから以下の（式２）を用いてピント合わせ位置に対応する撮影レンズの繰り出し量Ｋを求めることができる。
【００３１】
【数１】
ただし、Ｋ０は定数である。
【００３２】以上説明したようなＡＦ装置では、各レンズや素子の位置が正しく配置されていることが重要で、例えばＰＳＤ３ｅが正しい位置からΔａの位置誤差の分だけずれて配置されていた場合には、以下の（式３）に示すような誤差Ａを含んだ被写体距離ＬＥが算出されてしまい、その結果、以下の（式４）に示すように撮影レンズの繰り出し量にも、誤差ＫＥが生じてしまうことになる。
【００３３】
【数２】
【００３４】図６（Ａ）に被写体距離Ｌと入射位置ｘとの関係を示す。ただし、被写体距離Ｌは逆数１／Ｌとして図示されている。上記位置誤差Δａが存在している場合には、被写体距離の逆数１／Ｌと入射位置ｘとの関係に、上記（式３）に示すような誤差Ａが生じてしまう。このため、入射位置がｘＲ０の場合に被写体距離として算出されるのは、本来の１／Ｌ０ではなく、誤差を含んだ１／ＬＥ０となってしまう。そこで、多くのカメラでは製造時にこの誤差Ａを補正データとしてＥＥＰＲＯＭ２に書き込んでおいて、撮影時にはこの補正データを用いてピントずれ量などを補正することによりピント合わせを行う。
【００３５】なお、前述したカメラよりも更に高精度のピント合わせが要求されるようなカメラにおいては、図６（Ｂ）に示すようなレンズの収差等によって生じる被写体距離Ｌと入射位置ｘとの間の非線形性による誤差をも補正するために、複数の距離に対する誤差を補正データとしてＥＥＰＲＯＭ２に書き込んでおき、算出した被写体距離によって、補正の仕方（補正に使用する補正データの値）を変更するようにしている。このように複数の距離に対する補正データをＥＥＰＲＯＭ２に書き込む方法としては、図７に示すような装置でカメラ１１の基板１０の接続端子６ａとチェッカ７のピン７ａとを接続し、パソコン２１が、チェッカ７を介してカメラ１１やチャート切替え用のモータドライバ（ＭＤ）２４を制御して、カメラ１１とチャート２３との距離を変更しながら測距結果を取得した後、設計値との誤差を算出してカメラ１１内のＥＥＰＲＯＭ２に書き込むようにすれば良い。この調整時における動作の流れを図８に示す。
【００３６】まず、パソコン２１を操作して、ＭＤ２４を介してカメラ１１とチャート２３との距離が図７のＬ１となるようにチャート２３を移動させる（ステップＳ１１）。そして、パソコン２１からチェッカ７を介して測距用回路３を動作させて、チャート２３からの反射信号光の入射位置を測定し、その測定結果をｘＲ１とする（ステップＳ１２）。次に、パソコン２１において、カメラ１１とチャート２３との距離がＬ１の場合に測定されるべき入射位置（設計値）をｘ１と入射位置ｘＲ１との差、つまり誤差Ａ１が算出される（ステップＳ１３）。また同様に、パソコン２１を操作して、ＭＤ２４を介してカメラ１１とチャート２３との距離が図７のＬ２となるようにチャート２３を移動させる（ステップＳ１４）。そして、パソコン２１からチェッカ７を介して測距用回路３を動作させて、チャート２３からの反射信号光の入射位置を測定し、その測定結果をｘＲ２とする（ステップＳ１５）。次に、パソコン２１において、カメラ１１とチャート２３との距離がＬ２の場合に測定されるべき入射位置（設計値）をｘ２と入射位置ｘＲ２との差、つまり誤差Ａ２が算出される（ステップＳ１６）。そして、パソコン２１から、ステップＳ１３及びＳ１６で求めた誤差Ａ１及びＡ２を補正データとしてカメラ１１内部のＥＥＰＲＯＭ２に書き込むように命令を送る（ステップＳ１７）。なお、この誤差については、図７の水平方向（Ｌ１及びＬ２の矢印方向）だけでなく図７の垂直方向（チャート２３から、破線で示すチャート２２の矢印方向）についても測定可能である。また、誤差の測定数についても２つに限るものではないことは勿論である。
【００３７】なお、前述のように、測距結果に誤差が生じた場合にピントのずれとしては現れにくい場合もある。例えば、焦点距離が短いカメラやＦナンバーが大きいカメラでは、パンフォーカス（全ての被写体にピントが合っている状態）傾向となり厳密な調整は必要ない。このため、図３（Ｄ）に示すように、１種類の距離のチャート２３を測距した結果に基づいて調整を行うだけで、製造時の誤差の問題がないカメラを製造することができる。このチェッカ７を導入せずに調整を行う場合の手順を図９に示す。このような調整法によれば、チェッカ７やパソコン２１等の煩雑な装置を必要とせずに、ＥＥＰＲＯＭ２を利用した、温度、湿度、振動等の変化によるずれがない調整を行うことが可能となる。なお、予めこのＥＥＰＲＯＭ２には初期の補正データとして設計値ｘ１が書き込まれているものとする。また、この所定距離においたチャート２３を撮影することをピント制御の調整時における上記所定条件の撮影であるものとする。
【００３８】この調整モードにおいて、まず、ＣＰＵ１は、作業者によってレリーズボタン１３の１段階押し下げがなされたか否か、つまり、１ｓｔレリーズスイッチがＯＮされたか否かを判定する（ステップＳ２０）。１ｓｔレリーズスイッチがＯＮされていないと判定した場合には１ｓｔレリーズスイッチがＯＮされるまで待機し、１ｓｔレリーズスイッチがＯＮされたと判定した場合には測距用回路３を動作させて測距を行い、そのときのＰＳＤ３ｅに入射した入射位置ｘＲ１を検出する（ステップＳ２１）。そして、ｘＲ１の検出後にＭＯＤ１ａの電位レベルの状態によりＭＯＤ１ａの電位レベルがＬであるか否かを判定する（ステップＳ２２）。
【００３９】ＭＯＤ１ａの電位レベルがＬ、つまり、調整モード側であると判定した場合には製造時又は修理時における基板１０のチェックの工程にあって作業者１０１が図３（Ｄ）のようにカメラ１１をチャート２３から所定距離Ｌ１の位置に置いて調整作業を行っているものとＣＰＵ１は認識する。このとき、本来ならばチャート２３からの反射信号光は、ＰＳＤ３ｅのｘ１（設計値）の位置に入射するはずであるが、一般的には部品毎のバラツキや製造時の組立てのバラツキ等によってｘ１と異なるｘＲ１の位置に入射する。そこで、ＣＰＵ１は、このときの誤差ΔｘとしてｘＲ１とｘ１の差を算出する（ステップＳ２３）。なお、この調整モードでは、誤差Δｘが所定の条件内にあることが必要であり、それ以外の条件では間違った調整がなされてしまう恐れがある。このためＣＰＵ１は、誤差Δｘが所定の条件外にあるか否かを判定し（ステップＳ２４）、誤差Δｘが所定の条件外であると判定した場合には警告を行う（ステップＳ４０）。なお、この警告は基板１０上にＬＥＤを設けてそのＬＥＤを発光させても良いし、アラームなどを設けて警告音を鳴らすようにしても良い。ステップＳ４０で警告を行った場合には調整が行えないとして撮影レンズ１４の繰り出しを行わずに（ステップ４１）、本フローを抜ける。
【００４０】一方、誤差Δｘが所定の条件外でないと判定した場合には、算出した誤差Δｘを補正データとしてＥＥＰＲＯＭ２に記憶させる（ステップＳ２５）。次に、補正データが正しくＥＥＰＲＯＭ２に記憶されているか否かを確認するために、ステップＳ２５においてＥＥＰＲＯＭ２に記憶したΔｘを読み出して（ステップＳ２６）、このΔｘを用いてＰＳＤ３ｅで検出したｘＲ１を補正した値ｘ（通常、このｘはほぼｘ１と等しい値となる。）を算出する（ステップＳ２７）。そして、このｘから上記（式１）を用いてピント合わせ距離ＬＰを決定し（ステップＳ２８）、このピント合わせ距離ＬＰに応じて撮影レンズ１４の繰り出しを行う（ステップＳ２９）。ＣＰＵ１はこの繰り出し動作時に１ｓｔレリーズスイッチ又は２ｎｄレリーズスイッチの何れかがＯＮされているか否かを判定している（ステップＳ３０）。そして、１ｓｔレリーズスイッチ又は２ｎｄレリーズスイッチの何れか一方がＯＮされている間は現在の撮影レンズ１４の繰り出し位置を保持しておく（ステップＳ３１）。このときの撮影レンズ１４の繰り出し量を実測できるようにすれば、正しく調整が行われたか否かが作業者にも認識できるようになる。
【００４１】一方、１ｓｔレリーズスイッチ及び２ｎｄレリーズスイッチの何れもＯＮされていないと判定した場合には、撮影レンズ１４の繰り出しを解除して（ステップＳ３２）、本フローを抜ける。
【００４２】なお、前述したように通常レリーズボタンは１段階押し下げにより測距及び測光動作を行わせ、２段階押し下げにより撮影動作を行わせるボタンであるが、本調整モード時においては１ｓｔレリーズスイッチと２ｎｄレリーズスイッチとの区別は無く、何れかのスイッチがＯＮされた場合には調整モードに入り、撮影レンズ１４の繰り出しを制御するためのスイッチとして機能するものとする。
【００４３】上記ステップＳ２２の判定でＭＯＤ１ａの電位レベルがＨのままであると判定された場合には、通常の撮影動作を行う。まず、現在ＥＥＰＲＯＭ２に記憶されている補正データΔｘを読み出す（ステップＳ５１）。次に、測定された入射位置ｘＲ１から補正データΔｘの分を差し引いたｘを算出する（ステップＳ５２）。次に、このｘから上記（式１）を用いてピント合わせ距離ＬＰを決定する（ステップＳ５３）。そして、ＣＰＵ１は、レリーズボタン１３の２段階目の押し下げがなされて２ｎｄレリーズスイッチがＯＮされたか否かを判定する（ステップＳ５４）。２ｎｄレリーズスイッチがＯＮされたと判定した場合には撮影レンズ１４の繰り出し（ステップＳ５５）及び露出制御（ステップＳ５６）を行った後、本フローを抜ける。一方、２ｎｄレリーズスイッチがＯＮされていない場合には１ｓｔレリーズスイッチがＯＮのままであるか否かを判定し（ステップＳ５７）、ＯＮのままである場合には上記ステップＳ５４に戻る。１ｓｔレリーズスイッチがＯＦＦされた場合にはそのまま本フローを抜ける。
【００４４】以上説明したように本実施の形態によれば、組立てや部品のバラツキを補正するための補正データを電気的に書き込み可能なＥＥＰＲＯＭを利用した調整が極めて単純に行われ、正確なピント合わせが可能なカメラを提供することができる。また、繰り出した撮影レンズをそのままの位置で保持しておく機能や警告機能によって作業中の確認がしやすく、作業ミスを無くして高い品質の確保が可能となる。更に、撮影時にはレリーズボタンの押し下げ状態によって１ｓｔレリーズスイッチと２ｎｄレリーズスイッチとを使い分けることができ、１ｓｔレリーズスイッチを押しつつ、２ｎｄレリーズスイッチを押さない半押し状態にして、フォーカスロック等のテクニックで種々の撮影シーンに対応することができるようになっているが、調整モード時にはこのような機能が不要であるため１ｓｔレリーズスイッチ、２ｎｄレリーズスイッチの操作に関係なく撮影レンズの繰り出しを行うことができるようになっている。つまり、本実施の形態のカメラによれば作業時の操作の仕方や作業者による調整の差異を無くし、カメラの品質を一定にすることができる。
【００４５】［第２の実施の形態］本発明の第２の実施の形態を図１０乃至図１２を参照して説明する。図１０は本第２の実施の形態に係るカメラ及びそのカメラを調整するための調整装置を説明するための図である。なお、本実施の形態に係るカメラは１眼レフカメラを前提としている。また、上記第１の実施の形態ではＡＦ調整を例としたが本実施の形態では露出の調整を例としている。
【００４６】いわゆる１眼レフカメラは、レリーズ動作（露出）時にはクイックリターンミラー（ミラー）３２が、図１０（Ａ）のような状態から、図１０（Ｂ）のように光路上から退避することにより撮影レンズ１４からの光を導き、フォーカルプレンシャッタ（シャッタ）３３を開放して図示しない露出面に露光を行う。このシャッタ３３が開いている時間をシャッタスピードと呼び、露出を制御する際にはこのシャッタスピードを制御することになる。なお、露出制御の方法の１つとして、カメラ内のセンサにより撮影レンズ１４から導かれた光を検出して、センサからの光電流を積分コンデンサに蓄積して所定レベルの光が蓄積されたときにシャッタ３３を閉じる、いわゆるダイレクト測光方式が知られている。
【００４７】図１１（Ａ）は、このダイレクト測光方式による測光回路を含むカメラのブロック回路図である。ＣＰＵ１は、レリーズボタン１３に連動する２つのスイッチ（上記１ｓｔレリーズスイッチ及び２ｎｄレリーズスイッチ）５１の状態により露出制御を開始し、それに応じてスイッチ４２をＯＦＦして積分コンデンサ４１に積分を行わせる。つまり、スイッチ４２がＯＦＦされている間は、光検出用のセンサ４０からの光電流が積分コンデンサ４１で積分されることになる。コンパレータ４４は、このときの積分電圧ＶＩＮＴと比較電圧発生回路４５の電圧ＶＥとを比較して、積分電圧がＶＥに達した場合にその出力レベルＣＯＭＰがＬからＨになる。ＣＰＵ１は、コンパレータ４４の出力レベルＣＯＭＰがＬからＨになったことを判定した場合に、スイッチ４２をＯＮして積分コンデンサ４１の積分を終了させると共に、シャッタ・ミラー制御回路４６を動作させて、図１０（Ｂ）のようにミラー３２を光路上から退避させシャッタ３３を閉じるように制御する。なお、上記比較電圧発生回路４５の電圧ＶＥは、フィルム感度や露出補正などの設定（この設定手段については図示されていない。）によって変更されるものである。
【００４８】また、カメラを調整モードにするか否かの判定は、上記第１の実施の形態と同様にＣＰＵ１の調整モード設定用ポート（ＭＯＤ）１ａの電位レベルがＬになったことを判定した場合に行うようになっている。また、この図１１（Ａ）の回路には警告を行うためのＬＥＤ５３が設けられている。そして、ＥＥＰＲＯＭ２には調整モード時以外のデータの書き込みを禁止するためのプロテクト端子２ａが設けられている。なお、このほかの回路や素子は上記第１の実施の形態と同様のものを用いることができるため、その説明を省略する。
【００４９】この図１１（Ａ）のような回路を有するカメラを調整するための調整装置は、図１０（Ａ）に示すように一定の光量でランプ３７を発光させる光量制御回路３６及びランプ３７の光を拡散させてカメラに導く光学系３８を備えた輝度箱３５を有している。つまり、所定の明るさランプ３７を用いて所定の絞りで露出制御を行ったときの露光手段（ファイルや撮像素子）の感度が所定の値であれば、シャッタスピードは所定の値となる。なお、この調整装置を用いて所定の明るさ及び所定の絞りで撮影を行うことを露出制御調整時における上記所定条件の撮影であるものとする。
【００５０】図１１（Ｂ）は、積分時間に対する積分電圧を設計値と製造誤差による測定誤差を含んだ実測値とを図示したものである。ここで、設計値の直線において、シャッタスピード（積分時間）を例えば、ｔ１にする場合には、積分電圧、つまり比較電圧発生回路４５に設定する比較電圧ＶＥをＶＤ１とすれば良いことが分かる。この調整装置では所定のシャッタスピードに応じて、所定の明るさ、所定の感度、所定の絞りを実現できる。このため、センサやコンデンサなどの素子のバラツキや組立て時のバラツキのためにＶＤ１の電圧に設定しても所定の時間ｔ１内に積分が終了しない場合であっても、図１１（Ｂ）の関係により、ＶＤ１をシフトした電圧ＶＤになるように調整を行えば所定の積分時間（シャッタスピード）ｔ１での露出制御ができることが分かる。このようなカメラの露出制御の調整を行うプログラムについて図１２のフローチャートを参照して説明する。
【００５１】まず、ＣＰＵ１は１ｓｔレリーズスイッチの状態により１ｓｔレリーズスイッチがＯＮされたか否かを判定する（ステップＳ６１）。１ｓｔレリーズスイッチがＯＦＦのままである場合には１ｓｔレリーズスイッチがＯＮされるまで待機する。１ｓｔレリーズスイッチがＯＮされた場合にはＭＯＤ１ａの電位レベルがＬであるか判定する（ステップＳ６２）。
【００５２】ＭＯＤ１ａの電位レベルがＨである場合には通常の撮影モードである。なお、この通常の撮影モードでは、ＥＥＰＲＯＭ２のプロテクト端子２ａの電位レベルがＬとなっていて、ＥＥＰＲＯＭ２へのデータの書き込みができないようになっている。
【００５３】この通常撮影モードにおいてＣＰＵ１は、２ｎｄレリーズスイッチの状態により２ｎｄレリーズスイッチがＯＮされたか否かを判定する（ステップＳ７９）。２ｎｄレリーズスイッチがＯＦＦのままであると判定した場合には、図示しないファインダに表示を行う（ステップＳ８０）。ここで、このファインダに行う表示とは、撮影前に露出やピントに関する情報を撮影者に示すためのものである。一方、２ｎｄレリーズスイッチがＯＮされたと判定した場合には、設定電圧ＶＤ（補正データ）をＥＥＰＲＯＭ２から読み出す（ステップＳ８１）。そして、比較電圧発生回路４５の比較電圧ＶＥを上記設定電圧ＶＤとした状態で（ステップＳ８２）、シャッタ・ミラー制御回路４６を介してシャッタ３３を開くように制御する（ステップＳ８３）。
【００５４】次に、積分時間を計時するための図示しないタイマをスタートする（ステップＳ８４）。このタイミングでＣＰＵ１は、スイッチ４２をＯＦＦして積分コンデンサ４１による積分を開始させる（ステップＳ８５）。積分が開始された後は、コンパレータ４４の出力レベルＣＯＭＰがＨになったか否か、つまり、積分電圧ＶＩＮＴが比較電圧発生回路４５で設定した電圧ＶＤに達したか否かを判定する（ステップＳ８６）。まだ、Ｈになっていない場合には、積分時間ｔが所定の時間ｔ０１を超えたか否かを判定する（ステップＳ８７）。ｔ０１を超えていないと判定した場合には、ステップＳ８６に戻り積分を続ける。ｔ０１を超えたと判定した場合には、ステップＳ８８に進みシャッタ３３を閉じる。また、上記ステップ８６の判定でＣＯＭＰがＨになったと判定した場合にはシャッタ３３を閉じて（ステップＳ８８）、ステップＳ７５に進む。
【００５５】ＭＯＤ１ａの電位レベルがＬである場合には調整モードである。このときＥＥＰＲＯＭ２のプロテクト端子２ａの電位レベルはＨとなり、データの書き込みが可能な状態となる。なお、この調整モードは、図１１（Ｂ）の本来実線で示す設計値に基づいた積分が行われるべきであるのに製造時における部品のバラツキや組立てバラツキなどによる誤差によって、破線で示すような積分が行われてしまう場合のシャッタスピードを補正するものである。設計値と実測値とが図１１（Ｂ）のような場合、ＶＤ１：ｔ＝ＶＤ：ｔ１の関係が成立するためＶＤは下記（式５）のように算出することができる。
【００５６】
【数３】
【００５７】このような関係に基づいて調整モードでは、まず比較電圧発生回路４５の比較電圧ＶＥを設計値ＶＤ１に設定する（ステップＳ６３）。そして、シャッタ・ミラー制御回路４６を介してシャッタ３３を開くように制御する（ステップＳ６４）。次に、積分時間を計時するための図示しないタイマをスタートする（ステップＳ６５）。このタイミングでＣＰＵ１は、スイッチ４２をＯＦＦして積分コンデンサ４１に積分を開始させる（ステップＳ６６）。積分が開始された後は、コンパレータ４４の出力レベルＣＯＭＰがＨになったか否か、つまり、積分電圧ＶＩＮＴが比較電圧発生回路４５の電圧ＶＤ１に達したか否かを判定する（ステップＳ６７）。まだ、Ｈになっていない場合には、積分時間ｔが所定の時間ｔ０を超えたか否かを判定する（ステップＳ６８）。なお、このｔ０は上記ｔ０１よりも短い時間であるとする。ｔ０を超えていないと判定した場合には、ステップＳ６７に戻り積分を続ける。ｔ０を超えたと判定した場合には、所定の時間が経過してもシャッタが閉じなかったことの警告を行って（ステップＳ６９）、ステップＳ７２に進む。
【００５８】上記ステップＳ６７の判定でコンパレータ４４の出力ＣＯＭＰがＨになった場合には、タイマの計時を終了する（ステップＳ７１）。また、このときのタイマの値をｔＥＮＤとしてＣＰＵ１の図示しないＲＡＭに記憶させておく。そして、ＣＰＵ１はシャッタ・ミラー制御回路４６を介してシャッタ３３を閉じる（ステップＳ７２）。次に、上記測定した積分時間ｔＥＮＤと設計値ｔ１から上記（式５）を用いてＶＤを算出する（ステップＳ７３）。そして、この算出したＶＤをＥＥＰＲＯＭ２に書き込む（ステップＳ７４）。
【００５９】この書き込みの後、スイッチ４２をＯＮして積分を終了し（ステップＳ７５）、本フローを抜ける。つまり、撮影時にはステップＳ７４においてＥＥＰＲＯＭ２に書き込まれたＶＤを用いることにより、図１１（Ｂ）のように誤差が生じたとしても正しく補正した状態でシャッタ制御を行うことができる。
【００６０】以上説明したように本実施の形態によれば、所定の明るさの光を出力できる輝度箱さえあれば、バラツキの多い部品を使ったカメラであっても正確な露出制御ができるようになる。また、この露出制御の調整のために特別な装置を必要としない。
【００６１】また、調整モード設定用ポートをＣＰＵの入力端子に接続すると共に、ＥＥＰＲＯＭのプロテクト端子に連動するように接続することにより、調整モード以外ではＥＥＰＲＯＭへのデータの書き込みを禁止し、更にＣＰＵの調整モード設定用ポートを専用入力端子とすることによって誤作動によってＥＥＰＲＯＭへのデータの書き込みが行われることが無い。
【００６２】以上実施の形態に基づいて本発明を説明したが、本発明は前述した実施の形態に限定されるものではなく、本発明の要旨の範囲内で種々の変形や応用が可能なことは勿論である。
【００６３】ここで、本発明の要旨をまとめると特許請求の範囲に記載したものに加えて以下のようなものを含む。
【００６４】（１） 上記所定条件における撮影は、ピント制御時には所定チャートを所定の距離で撮影することであり、露出制御時には所定の明るさかつ所定の絞りで撮影することであることを特徴とする請求項１に記載のカメラ。
【００６５】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明によれば、製品により最適な方法での調整が可能で高精度のＡＦが行えるカメラを提供することができる。また、調整を開始するためのスイッチと撮影を開始するためのスイッチとを兼用させることで部材費を押さえることができるカメラ、及びそのようなカメラの製造方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施の形態に係るカメラの電子回路用プリント基板の電気的構成を示すブロック回路図である。
【図２】本発明の第１の実施の形態に係るカメラの外観構成及び内部構成を示す図である。
【図３】カメラの製造時や修理時における調整の様子を示した図である。
【図４】電子回路用プリント基板に実装された回路や素子のチェック動作の流れを説明するためのフローチャートを示す図である。
【図５】カメラのＡＦ装置の特に測距用回路について説明するための図である。
【図６】被写体からの反射信号光の入射位置と被写体距離の関係を示す図である。
【図７】チェッカを用いてＥＥＰＲＯＭに書き込まれたデータを調整する際の調整装置の構成を示す図である。
【図８】チェッカを用いてＥＥＰＲＯＭ内に書き込まれた補正データを調整する際の動作の流れを説明するためのフローチャートを示す図である。
【図９】本発明の第１の実施の形態に係るカメラのＥＥＰＲＯＭ内に書き込まれた補正データをチェッカを用いずに調整する際の動作の流れを説明するためのフローチャートを示す図である。
【図１０】露出制御回路調整装置の構成を示す図である。
【図１１】図１１（Ａ）は本発明の第２の実施の形態に係るカメラの、特に露出制御回路に関する電気的構成を示すブロック回路図であり、図１１（Ｂ）は積分コンデンサの積分時間に対する積分電圧を実測値と設計値とについて示した図である。
【図１２】露出制御回路の調整の動作の流れについて説明するためのフローチャートを示す図である。
【符号の説明】
１ ＣＰＵ
１ａ 調整モード設定用ポート（ＭＯＤ）
２ メモリ（ＥＥＰＲＯＭ）
３ 測距用回路
４ 測光用回路
５ スイッチ
５ａ チェックランド
７ａ 調整機（チェッカ）
１０ 電子回路用プリント基板（基板）
１３ レリーズボタン
１４ 撮影レンズ
３５ 輝度箱
５３ ＬＥＤ
【特許請求の範囲】
【請求項１】 ピント制御又は露出制御用のセンサと、所定条件において撮影を行ったときのピント制御や露出制御の結果に基づいて通常撮影時におけるピント制御や露出制御の結果の誤差を補正するための補正データを記憶するメモリと、を具備するカメラにおいて、上記所定条件が設定されたことを判定する判定手段と、上記判定手段によって上記所定条件が設定されたことが判定されたときに上記ピント制御又は露出制御用のセンサの出力に基づいて上記補正データを算出する算出手段と、を更に具備することを特徴とするカメラ。
【請求項２】 上記判定手段は、入力ポートを有する演算制御手段からなり、上記入力ポートへの入力電圧レベル及び上記ピント制御又は露出制御用のセンサの出力にしたがって上記所定条件が設定されたか否かの判定を行い、上記所定条件が設定されたと判定した場合に、上記メモリに上記補正データを書き込む制御を行うことを特徴とする請求項１に記載のカメラ。
【請求項３】 上記判定手段によって上記所定条件が設定されていないと判定された場合に、目視可能な形式で警告を行う警告手段を更に具備することを特徴とする請求項２に記載のカメラ。
【請求項４】 レリーズボタンの押し込み途中の状態を判定する第１のスイッチと、レリーズボタンの押し込み終了の状態を判定する第２のスイッチと、上記第１又は第２のスイッチの入力状態によって撮影制御を行う演算制御手段と、を有するカメラの製造方法において、上記演算制御手段は、上記第１又は第２のスイッチの何れか一方のＯＮ操作によって上記撮影制御時における誤差を算出する工程を有することを特徴とするカメラの製造方法。
【請求項５】 上記誤差を算出する工程は、ＥＥＰＲＯＭのプロテクト端子をプロテクト解除することに連動して行われることを特徴とする請求項４に記載のカメラの製造方法。
【請求項１】 ピント制御又は露出制御用のセンサと、所定条件において撮影を行ったときのピント制御や露出制御の結果に基づいて通常撮影時におけるピント制御や露出制御の結果の誤差を補正するための補正データを記憶するメモリと、を具備するカメラにおいて、上記所定条件が設定されたことを判定する判定手段と、上記判定手段によって上記所定条件が設定されたことが判定されたときに上記ピント制御又は露出制御用のセンサの出力に基づいて上記補正データを算出する算出手段と、を更に具備することを特徴とするカメラ。
【請求項２】 上記判定手段は、入力ポートを有する演算制御手段からなり、上記入力ポートへの入力電圧レベル及び上記ピント制御又は露出制御用のセンサの出力にしたがって上記所定条件が設定されたか否かの判定を行い、上記所定条件が設定されたと判定した場合に、上記メモリに上記補正データを書き込む制御を行うことを特徴とする請求項１に記載のカメラ。
【請求項３】 上記判定手段によって上記所定条件が設定されていないと判定された場合に、目視可能な形式で警告を行う警告手段を更に具備することを特徴とする請求項２に記載のカメラ。
【請求項４】 レリーズボタンの押し込み途中の状態を判定する第１のスイッチと、レリーズボタンの押し込み終了の状態を判定する第２のスイッチと、上記第１又は第２のスイッチの入力状態によって撮影制御を行う演算制御手段と、を有するカメラの製造方法において、上記演算制御手段は、上記第１又は第２のスイッチの何れか一方のＯＮ操作によって上記撮影制御時における誤差を算出する工程を有することを特徴とするカメラの製造方法。
【請求項５】 上記誤差を算出する工程は、ＥＥＰＲＯＭのプロテクト端子をプロテクト解除することに連動して行われることを特徴とする請求項４に記載のカメラの製造方法。
【図１】
【図２】
【図４】
【図３】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図１０】
【図９】
【図１１】
【図１２】
【図２】
【図４】
【図３】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図１０】
【図９】
【図１１】
【図１２】
【公開番号】特開２００３−２１５６８４（Ｐ２００３−２１５６８４Ａ）
【公開日】平成１５年７月３０日（２００３．７．３０）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００２−１０５０１（Ｐ２００２−１０５０１）
【出願日】平成１４年１月１８日（２００２．１．１８）
【出願人】（００００００３７６）オリンパス光学工業株式会社 (11,466)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成１５年７月３０日（２００３．７．３０）
【国際特許分類】
【出願日】平成１４年１月１８日（２００２．１．１８）
【出願人】（００００００３７６）オリンパス光学工業株式会社 (11,466)
【Ｆターム（参考）】
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