パターン形成方法
【課題】 現像後のレジストパターンの整形を精巧に行って、かつレジストの残渣を除去し、配線パターン等の永久パターンを高精細に、かつ、効率よく形成可能とし、しかも、レジストの架橋部(硬化膜)に欠けや剥離、膨潤などを生じることなく、高い解像度と基体と感光層との密着性とを高度に両立したパターン形成方法を提供する。
【解決手段】 支持体上に感光層を少なくとも有するパターン形成材料における該感光層を、被処理基体上に積層し、該感光層を露光し、現像してレジストパターンを形成した後、該レジストパターンに対してドライプロセスによりレジストパターン整形工程が行われるパターン形成方法。
【解決手段】 支持体上に感光層を少なくとも有するパターン形成材料における該感光層を、被処理基体上に積層し、該感光層を露光し、現像してレジストパターンを形成した後、該レジストパターンに対してドライプロセスによりレジストパターン整形工程が行われるパターン形成方法。
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【特許請求の範囲】
【請求項1】
支持体上に感光層を少なくとも有するパターン形成材料における該感光層を、被処理基体上に積層し、該感光層を露光し、現像してレジストパターンを形成した後、該レジストパターンに対してドライプロセスによりレジストパターン整形工程が行われることを特徴とするパターン形成方法。
【請求項2】
レジストパターン整形工程が、プラズマエッチング処理により行われる請求項1に記載のパターン形成方法。
【請求項3】
プラズマエッチング処理が、減圧下で行われる請求項2に記載のパターン形成方法。
【請求項4】
レジストパターン整形工程が、大気圧オゾン表面処理により行われる請求項1に記載のパターン形成方法。
【請求項5】
大気圧オゾン表面処理が、大気下で行われる請求項4に記載のパターン形成方法。
【請求項6】
基体が、プリント配線板製造用基板である請求項1から5のいずれかに記載のパターン形成方法。
【請求項7】
レジストパターン整形工程が行われた後、永久パターンの形成を行う請求項1から6のいずれかに記載のパターン形成方法。
【請求項8】
永久パターンが、配線パターンであり、該永久パターンの形成がエッチング処理及びめっき処理の少なくともいずれかにより行われる請求項7に記載のパターン形成方法。
【請求項9】
配線パターンが、サブトラクティブ法及びセミアディティブ法のいずれかにより形成される請求項8に記載のパターン形成方法。
【請求項10】
感光層が、重合性化合物と、バインダーと、光重合開始剤とを含む請求項1から9のいずれかに記載のパターン形成方法。
【請求項11】
露光が、光照射手段からの光を受光し出射する描素部をn個有する光変調手段により、前記光照射手段からの光を変調させた後、前記描素部における出射面の歪みによる収差を補正可能な非球面を有するマイクロレンズを配列したマイクロレンズアレイを通して行われることを少なくとも含む請求項1から10のいずれかに記載のパターン形成方法。
【請求項12】
非球面が、トーリック面である請求項11に記載のパターン形成方法。
【請求項1】
支持体上に感光層を少なくとも有するパターン形成材料における該感光層を、被処理基体上に積層し、該感光層を露光し、現像してレジストパターンを形成した後、該レジストパターンに対してドライプロセスによりレジストパターン整形工程が行われることを特徴とするパターン形成方法。
【請求項2】
レジストパターン整形工程が、プラズマエッチング処理により行われる請求項1に記載のパターン形成方法。
【請求項3】
プラズマエッチング処理が、減圧下で行われる請求項2に記載のパターン形成方法。
【請求項4】
レジストパターン整形工程が、大気圧オゾン表面処理により行われる請求項1に記載のパターン形成方法。
【請求項5】
大気圧オゾン表面処理が、大気下で行われる請求項4に記載のパターン形成方法。
【請求項6】
基体が、プリント配線板製造用基板である請求項1から5のいずれかに記載のパターン形成方法。
【請求項7】
レジストパターン整形工程が行われた後、永久パターンの形成を行う請求項1から6のいずれかに記載のパターン形成方法。
【請求項8】
永久パターンが、配線パターンであり、該永久パターンの形成がエッチング処理及びめっき処理の少なくともいずれかにより行われる請求項7に記載のパターン形成方法。
【請求項9】
配線パターンが、サブトラクティブ法及びセミアディティブ法のいずれかにより形成される請求項8に記載のパターン形成方法。
【請求項10】
感光層が、重合性化合物と、バインダーと、光重合開始剤とを含む請求項1から9のいずれかに記載のパターン形成方法。
【請求項11】
露光が、光照射手段からの光を受光し出射する描素部をn個有する光変調手段により、前記光照射手段からの光を変調させた後、前記描素部における出射面の歪みによる収差を補正可能な非球面を有するマイクロレンズを配列したマイクロレンズアレイを通して行われることを少なくとも含む請求項1から10のいずれかに記載のパターン形成方法。
【請求項12】
非球面が、トーリック面である請求項11に記載のパターン形成方法。
【図1】
【図2】
【図3】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図13】
【図21】
【図24】
【図25】
【図26】
【図27a】
【図29】
【図30】
【図31】
【図32】
【図33】
【図34】
【図35】
【図36】
【図37】
【図38】
【図39】
【図40】
【図4】
【図12】
【図14】
【図15】
【図16】
【図17】
【図18】
【図19a】
【図19b】
【図19c】
【図19d】
【図20a】
【図20b】
【図20c】
【図20d】
【図22】
【図23】
【図27b】
【図28】
【図2】
【図3】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図13】
【図21】
【図24】
【図25】
【図26】
【図27a】
【図29】
【図30】
【図31】
【図32】
【図33】
【図34】
【図35】
【図36】
【図37】
【図38】
【図39】
【図40】
【図4】
【図12】
【図14】
【図15】
【図16】
【図17】
【図18】
【図19a】
【図19b】
【図19c】
【図19d】
【図20a】
【図20b】
【図20c】
【図20d】
【図22】
【図23】
【図27b】
【図28】
【公開番号】特開2006−350038(P2006−350038A)
【公開日】平成18年12月28日(2006.12.28)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2005−177006(P2005−177006)
【出願日】平成17年6月16日(2005.6.16)
【出願人】(000005201)富士フイルムホールディングス株式会社 (7,609)
【Fターム(参考)】
【公開日】平成18年12月28日(2006.12.28)
【国際特許分類】
【出願日】平成17年6月16日(2005.6.16)
【出願人】(000005201)富士フイルムホールディングス株式会社 (7,609)
【Fターム(参考)】
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