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Fターム[4G030AA34]の内容

酸化物セラミックスの組成 (35,018) | 成分 (15,407) | 第3b〜6b族元素酸化物 (4,166)

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【課題】耐環境性に優れた酸化亜鉛系ターゲットを提供することを課題とする。
【解決手段】酸化亜鉛を主成分とし、チタン(Ti)及びガリウム(Ga)の両元素を含有し、両元素がチタン1.1at%以上又はガリウム4.5at%以上の範囲で含有されている。 (もっと読む)


【課題】低抵抗な耐薬品性に優れた非晶質酸化錫系透明導電膜を提供する。
【解決手段】(a)原料化合物粉末を混合して混合物を調製する工程;(b)前記混合物を成形して成形体を調製する工程;及び(c)前記成形体を1100℃以上1380℃以下で2時間以上焼成する工程を含む、酸化物焼結体の製造方法。 (もっと読む)


【課題】直流スパッタリング法が使用できる程度にバルク抵抗値が低いスパッタリングターゲットを効果的に製造することのできる方法を提供する。
【解決手段】Zn、Sn、In、Ga及びTiから選択される1又は2以上の金属元素を含有し、金属元素の一部が、金属元素の価数よりも高い金属元素で置換固溶されている酸化物を含む原料粉末を、加圧下で直流パルス電流を通電して通電焼結させることを特徴とする酸化物焼結体の製造方法。 (もっと読む)


【課題】機械的強度に優れた固体電解質を製造するための複合原料粉末を提供する。
【解決手段】(La1−xSr)(Ga1−y−zMgCo)O(ただし、x:0.05〜0.3、y:0.025〜0.29、z:0.01〜0.1、y+z:0.035〜0.3)からなる組成を有しペロブスカイト結晶構造を有する酸化物(ABO酸化物)を主相とし、(La1−xSr(Ga1−y−zMgCo(ただし、x:0.05〜0.3、y:0.025〜0.29、z:0.01〜0.1、y+z:0.035〜0.3)で表される結晶構造の酸化物(A酸化物)を第二相とし、主相であるABO酸化物のX線回折図のメインピーク強度をI、第二相のA酸化物のX線回折図のメインピーク強度をIとすると、I/I=0.1〜0.5の範囲内にあることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】ターゲットとして用いた場合に、スパッタリング中の異常放電現象を著しく抑制することが可能な酸化物焼結体を提供する。
【解決手段】(A)酸化亜鉛を含有し平均粒径が10μm以下の六方晶系ウルツ型構造を有する粒子、および(B)金属元素M(Mはアルミニウム等を示す)を含有し最大粒径が5μm以下のスピネル構造を有する粒子からなる複合酸化物焼結体であって、当該焼結体を構成する亜鉛と金属元素Mが原子比で表したときにM/(Zn+M)=0.006〜0.07であり、かつ、当該焼結体中のスピネル構造を有する粒子同士の粒子間距離は0.5μm以上のものが個数頻度で10%以上である複合酸化物焼結体をスパッタリングターゲットとして成膜に使用する。 (もっと読む)


【課題】DC放電ができる程度にバルク抵抗値が低いスパッタリングターゲットを効果的に製造する方法を提供する。
【解決手段】亜鉛原子及び酸素原子を含有する亜鉛化合物と、スズ原子及び酸素原子を含有するスズ化合物を含む原料粉末を、加圧下で直流パルス電流を通電して通電焼結させることを特徴とする酸化物焼結体の製造方法。 (もっと読む)


【課題】本発明は、エマルション溶液の製造段階において、エマルション溶液中のオイル相にコーティング物質の前駆体を導入し、エマルション火炎噴霧熱分解装置を利用して、コアセラミック粒子を作製するとともに、前記コアセラミック粒子の表面がコーティングされる方法を提供することを目的とする。
【解決手段】エマルション火炎噴霧熱分解法を利用してコアセラミック粒子をコーティングする方法であって、エマルション溶液を製造する段階と、前記エマルション溶液を火炎中に噴霧する火炎噴霧熱分解法を利用する段階とによって、コアセラミック粒子の形成とともに、前記コアセラミック粒子の表面がコーティングされる段階が単一の工程によってなることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】鉛とアルカリ金属を含まない化合物からなる、圧電性の良い圧電材料を提供する。
【解決手段】鉛とアルカリ金属を含まないA1030とA’x’B’1030で表されるタングステンブロンズ構造酸化物を組み合わせて、組成相境界を形成した、圧電性の良い圧電材料。前記A1030はBaBi2/3Nb1030で、前記A’x’B’1030はSrBaNb1030であるタングステンブロンズ構造酸化物からなる圧電材料。 (もっと読む)


【課題】バンドギャップ等の電気特性を任意の値に制御できる酸化物及び電気特性を任意の値に制御する方法を提供する。
【解決手段】下記式(1)で表され、式(1)中のRの一部が正二価以下の元素又は正四価以上の元素により固溶置換されている酸化物。
(RM(RMO (1)
(式中、Rは、Sc、Y、Dy、Lu、Er、Yb、Tm、Ho及びInからなる群より選択される1又は2以上の元素であり、Mは、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Al、Mg及びGaからなる群より選択される1又は2以上の元素であり、mは1又は2であり、nは0以上の整数である。) (もっと読む)


【課題】 スパッタリング時に、ノジュールを発生しないターゲットを提供する。また、エッチング性に優れ、且つ、特に400〜450nm域の透明性に優れた非晶質透明導電膜を提供する。
【解決手段】 酸化インジウムと、酸化亜鉛と、酸化マグネシウムと、を含むスパッタリングターゲットであり、このスパッタリングターゲットは、スパッタリング時に、ノジュールを発生しない。また、酸化インジウムと、酸化亜鉛と、酸化マグネシウムと、を含む非晶質透明導電膜であり、この非晶質透明導電膜は、エッチング性に優れ、且つ400〜450nm域の光線透過率が高い。 (もっと読む)


【課題】
ZnGaIn(x+3y/2+3z/2)薄膜をDCスパッタリングで作製可能なようにInとGaとZnと酸素とからなるスパッタリングターゲットの比抵抗を2.0×10−2Ω・cm以下にすること。
【解決手段】スパッタリングターゲットの結晶組織をInとZnGaとの2相にすることにより低抵抗が得られる。該2相組織は1100℃以上、1250℃未満の温度で、還元性雰囲気あるいは実質的に酸素が流入しない閉空間で焼成することにより達成できる。相対密度が90%を超えるような高密度範囲でも、密度の値に関わりなく安定して2.0×10−2Ω・cm以下の比抵抗が得られる。 (もっと読む)


【課題】
【解決手段】本発明は、下記化学式で表される新規な化合物半導体を提供する:Bi1-xxCuwa-yQ1yTeb-zQ2z。化学式において、MはBa、Sr、Ca、Mg、Cs、K、Na、Cd、Hg、Sn、Pb、Eu、Sm、Mn、Ga、In、Tl、As及びSbからなる群より選択されたいずれか1つまたはそのうちの2種以上の元素であり、Q1及びQ2はS、Se、As及びSbからなる群より選択されたいずれか1つまたはそのうちの2種以上の元素であり、0≦x<1、0<w≦1、0.2<a<4、0≦y<4、0.2<b<4及び0≦z<4である。前記化合物半導体は従来の化合物半導体に代替するか又は従来の化合物半導体に加え、太陽電池、熱電変換素子など多様な用途に用いられ得る。 (もっと読む)


【課題】強誘電性能に優れた新規組成のペロブスカイト型酸化物を提供する。
【解決手段】ペロブスカイト型酸化物は、下記一般式で表されるものである。(A,B)(C,D,X)O(A:Aサイト元素である。A=Bi、0<a。B:1種又は複数種のAサイト元素である。0≦b<1.0。C:Bサイト元素である。C=Fe、0<c<1.0。D:1種又は複数種のBサイト元素である。0≦d<1.0。0<b+d。X:1種又は複数種のBサイト元素である。CとDの化学式上の平均価数よりも化学式上の平均価数が大きい元素である。0<x<1.0。(Aサイトの化学式上の平均価数)+(Bサイトの化学式上の平均価数)>6.0。O:酸素。Aサイト元素とBサイト元素と酸素のモル比は1:1:3が標準であるが、これらのモル比はペロブスカイト構造を取り得る範囲内で基準モル比からずれてもよい。) (もっと読む)


【課題】煩雑および高コストなプロセスを必要とせずに作製可能な結晶配向性構造体と、その製造方法を提供する。
【解決手段】2価の金属イオンを含む層状金属水酸化物、あるいは2価および3価の金属イオンを含む層状金属水酸化物の板状粒子を配向処理し、さらに加熱処理することにより得られる多結晶性の結晶配向性構造体。この結晶配向性構造体は、高い熱電変換能を示す材料として利用できる。 (もっと読む)


【課題】スパッタ時のノジュールの発生を抑制できる酸化インジウムスパッタリングターゲット並びに酸化インジウム焼結体及びその製造方法を提供する。
【解決手段】酸化インジウムスパッタリングターゲットを酸化インジウム相と金属相を有する酸化インジウム焼結体により構成する。また、インジウム化合物と金属微粒子を混合した粉末又はインジウム化合物と金属酸化物微粒子を混合した粉末を放電プラズマ焼結することにより、酸化インジウム相と金属相を有する酸化インジウム焼結体を製造する。 (もっと読む)


【課題】高温域の検出を可能にする複合温度センサ素子、及びその製造方法を提供すること。
【解決手段】半導体酸化物AOxと絶縁体酸化物BOxとにより構成される複合焼結体AOx・BOxからなる複合温度センサ素子1である。絶縁体酸化物BOxの焼結体の結晶粒内及び/又は結晶粒界中には焼結助材が分散している。焼結助材は、平均結晶粒径が1.0μm以下であることが好ましい。焼結助材は、CaCO3、CaZrO3、及びCaSiO3のうち少なくとも1種以上であることが好ましい。焼結助材の添加量は、半導体酸化物AOxとマトリックス酸化物BOxとの合計に対して、0.2モル%〜5モル%であることが好ましい。半導体酸化物AOxは、Aが元素周期律表第2A族及びLaを除く第3A族、第2B族、第3B族、第4A族、第5A族、第6A族、第7A族、及び第8A族の元素から選択される少なくとも1種以上の元素であることが好ましい。 (もっと読む)


【課題】圧電性能に優れた強誘電性酸化物を提供する。
【解決手段】特定構造の結晶対称性を有する下記一般式(a1)で表される組成を有する強誘電性酸化物においてAサイト元素となり得るイオン半径及びイオン価数を有するAサイト元素Aと、Bサイト元素となりうるイオン半径及びイオン価数を有するBサイト元素Bを選択して構成元素を決定し、特定構造の結晶対称性を有する強誘電性酸化物に対して、自発分極方向に電界を印加して自発分極方向へ変位させた時のBi元素のBorn有効電荷が、同じ特定構造のBiFeOのBi元素のBorn有効電荷より大きくなるように組成を決定し、この組成の強誘電性酸化物を製造する。
ABO・・・(a1)
(式(a1)中、AはBiを主成分とする1種又は複数種のAサイト元素、Bは1種又は複数種のBサイト元素、Oは酸素。) (もっと読む)


【課題】酸化物半導体を形成する際に、ノジュールやアーキング等を発生しない酸化物焼結体を製造する方法、及びスパッタリングターゲットを提供する。
【解決手段】少なくともインジウム化合物及び亜鉛化合物を含む原料を混合する工程(A)と、
工程(A)で得られる混合物を成形する工程(B)と、
工程(B)で得られる成形体を、800℃以上1200℃未満の温度帯域まで加熱した後、1時間以上保持する工程(C)と、
工程(C)後の成形体を1200℃以上で焼結させる工程(D)を含む、酸化物焼結体の製造方法。 (もっと読む)


【課題】比較的低温の液相法により製造することができ、TFT等の半導体活性層として良好な特性を有するIn−Zn−O系の金属酸化物膜を提供する。
【解決手段】金属酸化物膜40は、基板10上に成膜され、主成分金属元素がIn及びZnであるアモルファス構造の金属酸化物膜である。金属酸化物膜40は、膜中に水酸基が存在しており、かつ、下記式(1)を充足する組成分布を有している。
Zn(T)/CIn(T)≧4.0×CZn(B)/CIn(B)・・・(1)
(式中、CZn(B)/CIn(B)は基板側の膜面におけるZn/Inモル比、CZn(T)/CIn(T)は基板側と反対側の膜面におけるZn/Inモル比をそれぞれ示す。) (もっと読む)


【課題】バルク抵抗が低く、高密度の酸化物焼結体及びスパッタリングターゲット、及び金属薄膜に対し選択的エッチング可能な透明非晶質酸化物半導体膜を提供する。
【解決手段】酸化亜鉛と酸化ガリウムと酸化スズからなり、ZnGaで表されるスピネル化合物の格子定数とZnSnOで表されるスピネル化合物の格子定数との中間の格子定数を有するAB型化合物で表されるスピネル化合物を含有する酸化物焼結体。 (もっと読む)


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