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Fターム[5F004BB26]の内容

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Fターム[5F004BB26]に分類される特許

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腐食的な製造環境での製作中に、半導体ウェハーを加熱するための改良された加熱システム(10)が開示されている。前記システム(10)は、新規なセラミックヒータ(12)を備えており、前記セラミックヒータ(12)は、該セラミックヒータ(12)のセラミック基板(16)内部に完全に直接埋め込まれている多数の加熱素子(44)と温度センサ配置(38)を有している層状のセラミック基板(16)から作成されている。前記複数の加熱素子(44)と温度センサ配置(38)は、前記セラミックヒータ(12)の作動効率を改良する低い温度抵抗係数を備えているモリブデンと窒化アルミニウムの複合物から構成されている。作動時に、前記温度センサ配置(38)は、前記半導体ウェハーの全表面に渡って一定で一様な温度分布を供給するような方法で前記加熱素子(44)を制御すること可能であるマイクロプロセッサー(14)に温度示度を伝達する。 (もっと読む)


【課題】 被処理基板の昇温速度を向上し、成膜時の被処理基板温度を均一化する。
【解決手段】 基板処理装置は、真空容器内で被処理基板Wを保持しつつ回転させる基板保持体2を備える。基板保持体2は、被処理基板Wを載置するリング状載置部12を有する回転体10と、回転体10内に回転体とは非接触で設けられ、被処理基板Wを加熱するヒータ、ヒータ支持体、支持軸等を一体化したヒータ部50とを有する。被処理基板Wを所定の温度に昇温させる際は、回転体10に対して上昇させたヒータ部50に被処理基板Wを接触保持させた状態で直接加熱する。昇温後、被処理基板Wを成膜処理する際には、回転体10に対して下降させたヒータ部50から被処理基板Wを離間させるとともに、リング状載置部12に被処理基板Wを保持させた状態で、載置部12に保持した被処理基板Wをヒータ部50に対して相対的に回転させることにより被処理基板Wの処理を行う。 (もっと読む)


【課題】 定盤表面を均熱に加熱できるとともに、冷却機能を有する均熱装置を得ることにより、被成形物の加工時間の短縮を図る。
【解決手段】 定盤1の被成形物が載置される面と反対側の面に例えば一体となって配置され、冷却媒体が流通する冷却構造体8を設ける。冷却構造体8に形成された水などの冷却媒体10を流通させる流路9を形成する。冷却構造体8は供給口11から冷却媒体10が導入され、流路9を流通し排出口12から排出される。 (もっと読む)


【課題】セラミックスからなる板状体の一方の主面に発熱抵抗体を有するとともに、該発熱抵抗体と電気的に接続される給電部を具備してなるセラミックヒーターにおいて、板状体の厚みを薄くすると、発熱抵抗体で発生した温度分布が十分緩和されず、載置したウエハの温度がなかなか均一にならないという課題があった。
【解決手段】上記発熱抵抗体の少なくとも一部を、周囲のパターンの抵抗値に対し3倍以内の抵抗値にトリミングした抵抗調整部を形成する。 (もっと読む)


【課題】 低温の循環流体をランプヒータで加熱して流体の温度制御を行う場合、制御の応答性と精度を高める。
【解決手段】 流体循環供給系31を循環する流体は、チラー32で冷却され、熱交換器33内のランプヒータで加熱される。ランプ制御部41は、ランプ出力を制御することで、流体の温度を設定温度に制御する。バルブ制御部43は、ヒータ出力が、制御に適した出力設定範囲内に入るように、チラー通路37の流量制御弁34とバイパス通路35の流量制御弁36の混合比を調節する。更に、バルブ制御部43は、開度と流量との関係が、開度の分解能が高温域で細かく低温域で粗くなるような重み付けを線形関係に加味した関係となるように、且つ、2つの流量制御弁34、36の流量を合計した循環流量が常に一定になるように、開度と2つの弁34、36の操作量(パルス数)との対応関係を定める。 (もっと読む)


【課題】 微細で高アスペクト比の接続孔により、低抵抗で信頼性の高い層間接続を達成できる電子装置の製造方法を提供する。
【解決手段】 接続孔7底部に露出する、下層導電層4表面に不所望に形成された自然酸化膜等5を、希ガスの放電プラズマ処理や逆スパッタリングにより清浄化するに際し、プラズマ生成電力を漸次増加させ、所定値に達した段階で基板バイアスを印加する。 (もっと読む)


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