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Fターム[5J022CF10]の内容

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Fターム[5J022CF10]に分類される特許

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【課題】電圧分解能を低下させることなく、高速化することができるA/D変換装置および固体撮像装置を提供する。
【解決手段】所定のアナログ・デジタル変換期間をTsとしたとき、(1−1/n)Ts(n:正の整数、n≧2)より短い第1のサンプリング期間と、(1/n)Tsの第2のサンプリング期間とを設定し、アナログ信号を出力して第1のサンプリングを行わせ、該アナログ信号をn倍に増幅し、デジタルオフセット信号で選択されたアナログオフセット信号を加えた増幅アナログ信号を出力して第2のサンプリングを行わせるA/D制御回路と、第1のサンプリング結果から第1のデジタル信号とデジタルオフセット信号とを生成し、第2のサンプリング結果から第2のデジタル信号を生成し、デジタルオフセット信号と第2のデジタル信号とに基づいて、期間Tsに対応した第3のデジタル信号を生成して出力するデジタル生成回路と、を備える。 (もっと読む)


【課題】エンコードエラーの発生を抑圧することができるAD変換回路および撮像装置を提供する。
【解決手段】VCO100aの出力信号CK0〜CK8のうち出力信号CK7が上位計数部101のカウントクロックとなる。演算部106は、出力信号CK7を基準として定義される出力信号CK0〜CK8の状態(状態0〜状態7)を検出するため、各出力信号の論理状態の変化位置を検出し、検出された変化位置に基づいて下位計数信号を生成する。演算部106がこの変化位置を検出する際の手順では、立下りエッジが略同時になる出力信号CK0と出力信号CK7の論理状態の比較は行われない。このため、エンコードエラーの発生を抑圧することができる。 (もっと読む)


【課題】カウントクロックの周波数によらず、AD変換により得られるデジタルデータの分解能を向上させることができるAD変換回路および撮像装置を提供する。
【解決手段】ラッチ部108は、比較部109による比較処理の間、クロック生成部18からのクロック信号を通過させ、比較処理の終了に係るタイミングでクロック信号をラッチする。列カウント部103は、クロック生成部18からのクロック信号をカウントすることに加えて、ラッチ部108にラッチされたクロック信号の論理状態に基づいて生成された計数信号をカウントする。 (もっと読む)


【課題】従来よりも高精度かつ高速の変換が可能なカラムADCを内蔵した固体撮像装置を提供する。
【解決手段】固体撮像装置200において、各変換部12は、対応の垂直読出線9を介して出力された各画素の信号を第1〜第N(Nは3以上の整数)の変換ステージを順に実行することによってデジタル値に変換する。第1〜第N−1の変換ステージでは、各変換部12は、画素の信号を保持する保持ノードND1の電圧を所定の電圧ステップずつ変化させながら参照電圧と比較することによって、デジタル値の最上位ビットを含む上位の複数ビットの値を決定する。第Nの変換ステージでは、各変換部12は、第N−1の変換ステージにおける電圧ステップの範囲またはそれを超える範囲で、保持ノードND1の電圧を連続的に変化させながら参照電圧と比較することによって、残りの最下位ビットまでの値を決定する。 (もっと読む)


【課題】消費電流を低減することができる固体撮像装置を提供する。
【解決手段】画素信号のレベルに応じた論理状態の信号を出力する複数の遅延ユニットのいずれかの出力信号の論理状態をラッチするラッチ回路L_7において、複数の遅延ユニットのいずれかの出力信号が入力端子Dに入力される。NAND回路NAND1およびINV回路INV2は、画素信号のレベルに応じた制御信号が出力される制御信号出力タイミングまでは停止しており、制御信号出力タイミングの後に動作する。スイッチ回路SW1,SW2は、制御信号出力タイミングまでは複数の遅延ユニットのいずれかの出力信号を、信号線LN2を介して出力端子Mから出力し、制御信号出力タイミングから所定時間が経過した後のラッチタイミングで複数の遅延ユニットのいずれかの出力信号の論理状態をNAND回路NAND1およびINV回路INV2がラッチするように接続の切替を行う。 (もっと読む)


【課題】一層のノイズ低減を図ることができることはもとより、低周波ノイズの低減を図ることができる比較器、AD変換器、固体撮像装置、およびカメラシステムを提供する。
【解決手段】比較器500Aは、第1の入力サンプリング容量C511と、第2の入力サンプリング容量C512と、出力ノードdと、一方の入力端子に、第1の入力サンプリング容量を介して、信号レベルが傾きをもって変化するスロープ信号を受け、他方の入力端子に、第2の入力サンプリング容量を介して入力信号を受けて、スロープ信号と入力信号との比較動作を行う差動比較部としてのトランスコンダクタンス(Gm)アンプ511と、Gmアンプの出力部cと出力ノードdとの間に配置され、Gmアンプの出力部の電圧を一定に保持するアイソレータ530とを有する。 (もっと読む)


【課題】低周波ノイズ除去に伴う消費電力の増加を最小限に抑えることができる固体撮像装置を提供する。
【解決手段】画素部100は、入射した光の大きさに応じた画素信号を出力する画素101と、補正用基準電圧に応じた補正用画素信号を出力する補正用画素102とを有する。AD変換回路105は、複数の遅延素子が接続された遅延回路を有し、画素信号または補正用画素信号のレベルに対応する数の遅延素子をパルス信号が通過すると、パルス信号が通過した遅延素子の数に応じたデジタル信号を出力する。制御部111は、1フレーム内でm(mは2以上の自然数)行の画素信号のAD変換に対応して1行の補正用画素信号のAD変換を行うように垂直走査部103およびAD変換部105を制御する。ノイズ除去部109は、補正用画素信号のAD変換結果を用いて画素信号のAD変換結果からノイズを除去する。 (もっと読む)


【課題】隣接ビアを伝送される信号間の干渉を低減でき、ひいてはビア数の増大を抑止でき、センサを搭載したチップの面積、実装工程を低減でき、結果的にコスト削減を図ることができる半導体装置、固体撮像装置、およびカメラシステムを提供する。
【解決手段】第1チップ110と、第2チップ120と、を有し、第1チップ110と第2チップ120は貼り合わされた積層構造を有し、第1チップと第2チップ間の配線は、ビア114を通して接続され、第1チップ110は、各センサ111で発生したアナログ信号を時間離散化した信号が、対応するビアを介して第2チップに伝送され、第2チップ120は、ビアを介した第1チップから伝送された信号を第1チップでサンプリングしたタイミングとは異なるタイミングでサンプリングする機能と、量子化してデジタル信号を得る機能と、を含む。 (もっと読む)


【課題】ランプ信号の生成に容量帰還型アンプを用いても、良好なAD変換精度でAD変換を行うことができる固体撮像装置を提供することを課題とする。
【解決手段】2次元状に配列された複数の画素と、列毎に配置され画素からの信号を増幅する増幅回路と、ランプ信号を生成する参照信号発生回路と、ランプ信号及び増幅回路からの出力を用いて、画素からの信号をAD変換するAD変換回路とを備え、増幅回路が有する容量帰還型アンプ及び参照信号発生回路が有する容量帰還型アンプにて同じ構造の帰還容量を用い、かつ帰還容量と増幅器との接続関係を同じにするようにして、増幅回路及び参照信号発生回路のそれぞれの帰還容量のキャパシタンスの電圧依存性を等しくし、AD変換精度を向上させる。 (もっと読む)


【課題】被写体の撮像と並行して、A/D変換器に供給されるカウント信号の検査を行うことができる光電変換システムを提供することを課題とする。
【解決手段】マトリクス状に配置された複数の画素と、ランプ信号を生成する参照信号生成部と、列毎に配置され、画素からの信号をA/D変換するA/D変換器と、ランプ信号の出力に合わせてカウント動作を行い、カウント信号をカウント信号線を介してA/D変換器に供給するカウンタと、A/D変換器とは独立して設けられ、カウント信号の期待値とカウント信号線を介して供給されるカウンタからのカウント信号とを照合することによりカウンタの検査を行うカウンタ検査回路を備え、被写体の撮像と並行に、カウント信号の検査を行えるようにする。 (もっと読む)


【課題】 ADCにおいて、ランプ信号の電位の時間に依存した変化の開始に先立って、ランプ信号のランプ開始電位をシフトする形態が知られている。このランプ信号の電位をシフトする方法として、従来は積分アンプの入出力端子間に設けられた積分容量に電流を印加して充放電させていた。従って、ランプ信号のランプ開始電位をシフトするのに積分容量を充放電する期間を要していた。
【解決手段】 ランプ信号のランプ開始電位をシフトさせる電圧供給部を有することを特徴とするランプ信号出力回路である。 (もっと読む)


【課題】A/D変換器の比較器のオフセット電圧を簡単な構成で補正するための技術を提供する。
【解決手段】アナログ信号を入力するための入力端子INと、時間的に変化する参照信号を生成する信号源に接続される参照信号供給線と、非反転入力端子、反転入力端子及び出力端子を有し、非反転入力端子に供給された電圧と反転入力端子に供給された電圧との比較結果に応じた出力信号Voutを出力端子から出力する比較器CMPと、比較器の反転入力端子に接続された補正用キャパシタCoffと、入力端子に入力されたアナログ信号に対応するデジタルデータを出力する出力回路330とを備え、入力端子に入力された第2アナログ信号を比較器の非反転入力端子に供給しつつ、参照信号を用いて、比較器の非反転入力端子に供給されている第2アナログ信号又は補正用キャパシタに保持されている合計電圧を変化させる。 (もっと読む)


【課題】アナログ信号をそれぞれが保持する2つのキャパシタを含むA/D変換器においてキャパシタ間のクロストークを軽減する技術を提供する。
【解決手段】A/D変換器300は第1アナログ信号及び第2アナログ信号を順番に入力するための入力端子と、第1キャパシタ及び第2キャパシタと、基準電圧源に接続される基準電圧線と、時間的に変化する参照信号を生成する信号源に接続される参照信号供給線と、第1入力端子及び第2入力端子を有し、第1入力端子に供給された入力電圧と第2入力端子に供給された閾値電圧との比較結果に応じた出力信号を出力する比較器CMPと、比較器の第1入力端子に供給された入力電圧が変化し始めてから比較器の出力信号が変化するまでの時間に対応するデジタルデータを出力する出力回路330とを備える。 (もっと読む)


【課題】カウントした計数値の誤差の発生を抑制することができるAD変換回路および撮像装置を提供する。
【解決手段】上位カウンタ101は、遅延回路から出力される第1の下位位相信号を構成する1つの出力信号をカウントクロックとしてカウントを行って第1の上位計数値を取得する。第1の上位計数値を構成する各ビットの値が反転された後、上位カウンタ101は、遅延回路から出力される第2の下位位相信号を構成する1つの出力信号をカウントクロックとしてカウントを行い、さらに下位カウンタ104から出力される上位用カウントクロックに基づいてカウントを行って第2の上位計数値を取得する。変更部103は、上位カウンタ101のカウントクロックの切換えの際に、カウントクロックの論理状態を所定の状態に変更する。 (もっと読む)


【課題】入力信号の温度変化をキャンセルするときの増幅利得の歪み及びバラツキを低減する。
【解決手段】デジタル信号生成回路10は、増幅ユニット12と、基準電圧生成回路142と、変調器140と、を備える。増幅ユニット12は、温度Tに線形依存する信号レベルを有するアナログ入力信号Ainを増幅する。基準電圧生成回路142は、温度Tに線形依存させて基準電圧Vrefを生成する。変調器140は、基準電圧Vrefに基づいて、増幅ユニット12が増幅したアナログ入力信号(増幅信号Ain´)をデジタル出力信号Doutに変換する。 (もっと読む)


【課題】相互キャパシタ方式の入力装置の検出感度を改善し、または、センシング時間を短縮する。
【解決手段】送信回路20は、1回のセンシングごとに送信電極10に複数のパルス信号を含む送信信号S1を印加する。A/Dコンバータ44は、各パルス信号のポジティブエッジごとに、演算増幅器32の出力電圧に応じた検出電圧Vsをデジタル値に変換することにより第1データ系列DRを生成するとともに、各パルス信号のネガティブエッジごとに、検出電圧Vsをデジタル値に変換することにより第2データ系列DFを生成する。DSP102は、第1データ系列DRと第2データ系列DFそれぞれに含まれる、互いに対応するデジタル値の差分を算出し、各デジタル値の差分を積分する。 (もっと読む)


【課題】AD変換の処理時間を短くすることができるようにする。
【解決手段】 画素から得られるアナログの画素信号のレベルをディジタルデータに変換するための参照信号であって、第1のゲインの参照信号と、第1のゲインと異なる第2のゲインの参照信号が画素データレベル読み出し時に生成され、アナログの画素信号のレベルと参照信号とが比較され、比較処理と並行してカウント処理が行なわれ、第1のゲインの参照信号との比較処理が完了した時点の第1のカウント値がディジタルデータとして取得され、第1のカウント値が予め設定されている閾値に達していない場合、第2のゲインの参照信号との比較処理が完了した時点の第2のカウント値がディジタルデータとして取得される。 (もっと読む)


【課題】光結合部の伝送マージンを確保して復調誤りを抑制し、高精度の信号伝送を可能とする半導体装置、その検査方法および送信回路を提供する。
【解決手段】半導体装置100は、アナログディジタル変換部3と、ディジタル信号に応じたパルスパターンである伝送信号を出力するパルス幅変調部5と、固定パルスである参照信号を生成する参照信号生成部7と、を備える。そして、前記伝送信号および前記参照信号のいずれかを選択する第1の制御部13と、前記伝送信号または前記参照信号に基づく駆動電流を出力する発光素子駆動部9と、前記伝送信号または前記参照信号基づく光信号を放出する発光素子15と、を備える。さらに、前記光信号を電圧信号に変換する光受信部21と、前記電圧信号を前記伝送信号または前記参照信号に基づくディジタル信号に復調する復調部25と、を備える。 (もっと読む)


【課題】入射光の光強度をディジタル信号値に変換するのに要する時間を、得られるディジタル信号値が大きな誤差を含むのを回避しつつ短縮することができるA/D変換器を実現する。
【解決手段】固体撮像装置100を構成するA/D変換器120において、一定値ずつ変化するディジタル値を出力するカウンタ124と、該ディジタル値の二乗と該ディジタル値の和に比例させてランプ電圧を発生する二次ランプ発生回路123と、アナログ入力電圧と該ランプ電圧とを比較して大小関係の反転時を検出する比較回路121と、該比較回路121が該反転時を検出したとき、該カウンタから得られる時間情報から、該アナログ入力電圧の平方根を変換して得られるディジタル変換値を取り出すラッチ122とを備え、該アナログ入力電圧の平方根を該ディジタル変換値に変換する。 (もっと読む)


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