【課題】簡単な構成で、省スペース化を図ることができる、高輝度の光源装置、及び、その光源装置を備えたプロジェクタを提供する。
【解決手段】プロジェクタ10の光源装置としての励起光照射装置70は、光を射出する複数の光源素子としての励起光源71と、各励起光源71の各射出光を平行光とするレンズアレイ73と、を有し、レンズアレイ73は、直交する長軸73Lと短軸を有するベース部73bと、ベース部73bの光の出射側に、各励起光源71に対応して形成された凸形状の曲面の複数のコリメータレンズ部73cと、を備え、レンズアレイ73は、コリメータレンズ部73cの各光軸73aを、励起光源71の光軸71aに対してレンズアレイ73の長軸73L方向に平行に所定のシフト量701だけずれた位置に配置されている。 （もっと読む）

【課題】半導体レーザ素子の共振端面の角度を容易に且つ精度良く測定することができる方法を提供する。
【解決手段】光導波路の光導波方向と交差する方向に並んだ複数の半導体レーザ素子を含む半導体レーザバー２を、共振端面２ａが所定の基準線２１ｂに沿うようにステージ２１の基準面２１ａ上に固定し、半導体レーザバー２の複数の半導体レーザ素子の共振端面からレーザ光Ｌａを出射させ、レーザ光ＬａのＦＦＰを測定し、ＦＦＰのピーク位置により定まるレーザ光Ｌａの出射方向と、所定の基準線２１ｂ及び基準面２１ａとの相対角度から、半導体レーザ素子の共振端面の角度を算出する。 （もっと読む）

【課題】色調整を実現可能で且つ色むらの発生しない射出光を得ること。
【解決手段】光源装置は、第１の波長領域を有する第１の励起光を射出する第１励起光源１０と、第１の波長領域とは異なる第２の波長領域を有する第２の励起光を射出する第２励起光源１２と、第１の励起光を吸収したときに第１の波長変換光を射出する第１蛍光体２２と、第２の励起光を吸収したときに第２の波長変換光を射出する第２蛍光体２４と、を備え、第１及び第２励起光源１０，１２は、独立に光量設定が可能であり、且つ、同時に発光可能であり、第１の励起光を第１及び第２蛍光体２２，２４に照射したときに射出される第１の射出光のスペクトル形状と第２の励起光を第１及び第２蛍光体２２，２４に照射したときに射出される第２の射出光のスペクトル形状とが互いに異なり、第１及び第２蛍光体２２，２４は共に、第１及び第２の励起光の共通の照射領域内に配置される。 （もっと読む）

【課題】活性層の発光状態を観察することが可能な半導体レーザ素子を提供し、この半導体レーザ素子の発光状態の像を得る方法を提供すること。
【解決手段】半導体レーザ素子１は、活性層１８を含む半導体積層と、半導体積層を搭載する主面及び裏面１１ｂを有する基板１１と、裏面１１ｂの上に設けられた電極層２１とを備える。電極層２１は、第１の開口２２、第２の開口２３、第１の側面２１ｃ及び第２の側面２１ｅを有する。第１の開口２２は第１の側面２１ｃから第２の側面２１ｅへ向かう方向に第１の側面２１ｃから延在する。第１の開口２２は第２の側面２１ｅから離間する。第１の開口２２と第２の開口２３とは、電極層２１の第１の側面２１ｃから第２の側面２１ｅへ向かう方向と直交する方向に電極層２１の一部を挟んでいる。活性層１８は第１の側面２１ｃから第２の側面２１ｅへ向かう方向に延在する。 （もっと読む）

【課題】 光送信モジュールに実装する前の段階において半導体発光素子を選別可能な半導体発光素子の検査方法を提供する。
【解決手段】サンプル素子の光出力値を測定すると共にサンプルモジュールの光出力値を測定する。それら測定値に基づいて光ファイバＦ１と半導体レーザ素子３との結合効率の最大値と最小値とを決定する。対象素子の電流光出力特性を取得する。結合効率の最小値に基づいて、対象素子が実装された光送信モジュール１００の光出力値が第１の光出力値となる対象素子の第２の光出力値を求める。対象素子の光出力値が第２の光出力値となる第１の駆動電流を求める。結合効率の最大値に基づいて、対象素子が実装された光送信モジュール１００の光出力値が第３の光出力値となる対象素子の第４の光出力値を求める。対象素子の光出力値が第４の光出力値となる第２の駆動電流を求める。 （もっと読む）

【課題】半導体チップをサブマウント上に接合した形態の半導体装置を容易に安定して検査することを目的とする。
【解決手段】検査治具１４の蓋部１３に開口部２１を設けて半導体チップ１０の端子を露出させることにより、半導体チップ１０を損傷させることなくプローブ１５を半導体チップ１０の端子に直接接続して検査を行うことができるため、半導体チップ１０をサブマウント１１上に接合した形態の半導体装置１０Ａを容易に安定して検査することができる。 （もっと読む）

【課題】欠陥が発生している微小領域を好適に特定する。
【解決手段】検査装置（１）は、検査対象となる半導体素子（１０）に対して、当該半導体素子を駆動させるための駆動電流を供給する駆動手段（１３）と、半導体レーザチップの内部の複数の微小領域に対して、当該微小領域の電子の挙動状態を変化させるためのエネルギーを、微小領域毎に順に付与する付与手段（１１）と、付与手段によって各微小領域にエネルギーが付与される都度、半導体素子の誘電率を検出する検出手段（１４）とを備える。 （もっと読む）

【課題】順方向ＥＳＤに低い耐性の半導体発光素子を選別する方法を提供する。
【解決手段】半導体レーザＬＤに、ＥＳＤに係る放電電荷が注入されるとき、該半導体レーザＬＤは、注入電荷に応じた光を発生する。この注入電荷は、静電的に蓄積された電荷の放電であるので、通常動作の際と異なり量や強さの点で制御されていない。一方、飽和ＥＳＤ電圧におけるパルス光出力波形を模擬できる模擬電気信号の生成条件を決定して、この生成条件に基づく半導体レーザＬＤに電気信号を印加する。生成条件に基づく電気信号は、半導体レーザＬＤに静電放電（ＥＳＤ）が加わったときに半導体レーザに生成される光パルスを模擬的に再現する。生成された模擬的な光パルスは、破壊しやすい欠陥にダメージを与えて、半導体レーザＬＤに特性変化を引き起こせる。模擬的な光パルスの印加の後に、順方向ＥＳＤに関して低い耐性を示す半導体レーザを選別できる。 （もっと読む）

【課題】１つの縦モードおよび２つの縦モードが混在している状態で半導体レーザーからレーザー光が出射されているか否かを容易に検知することが可能な検知システムを得る。
【解決手段】検知システムは、固定鏡１５、移動鏡１６、半導体レーザー２２から出射されたレーザー光を分割し固定鏡１５および移動鏡１６の各々に反射したレーザー光を合成する光束分岐手段１４、光束分岐手段１４によって合成されたレーザー光を受光する受光手段２５、および制御部２６を備える。制御部２６は、検知システムが上記の検知を行なう際には、固定鏡１５に反射されるレーザー光と移動鏡１６に反射されるレーザー光との光路差が変化するように、移動鏡１６を移動させる。上記の検知は、受光手段２５により受光されるレーザー光の干渉信号がレーザー光のコントラストが変化することによって不連続になったか否かに基づいて行なわれる。 （もっと読む）

【課題】照明光の色温度を変化させる。
【解決手段】レーザ光を出射する半導体レーザ６１と、半導体レーザ６１から出射された励起光を受けて蛍光を発する発光部２と、半導体レーザ６１から出射されるレーザ光のうちの発光部２によって蛍光に変換されない励起光の割合を変化させる支持部材１１及び支持部材駆動部１２と、を備える。 （もっと読む）