【課題】任意波形発生装置の校正方法を改善する。
【解決手段】Ｓパラメータを用いて任意波形発生装置を校正する。任意波形発生装置が有するチャンネルとしては、単一の非インタリーブ・チャンネルでも良いし、インターリーブされた複数チャンネルでも良い。差動信号を生成する場合でも良く、２チャンネルを1対として、複数のチャンネル対を校正できる。このとき、各チャンネルは、単一の非インタリーブ・チャンネルでも良いし、インターリーブされた複数チャンネルで１つのチャンネルを構成する場合でも良い。 （もっと読む）

【課題】任意波形発生装置の校正方法を改善する。
【解決手段】Ｓパラメータを用いて任意波形発生装置を校正する。任意波形発生装置が有するチャンネルとしては、単一の非インタリーブ・チャンネルでも良いし、インターリーブされた複数チャンネルでも良い。差動信号を生成する場合でも良く、２チャンネルを1対として、複数のチャンネル対を校正できる。このとき、各チャンネルは、単一の非インタリーブ・チャンネルでも良いし、インターリーブされた複数チャンネルで１つのチャンネルを構成する場合でも良い。 （もっと読む）

【課題】 消費電流を抑えるため間欠動作するようにした温度検出用半導体集積回路において、外部端子を増加させることなく回路の評価および検査が行えるようにする。
【解決手段】 発振回路（１６）を備え、消費電流を抑えるため間欠動作する温度検出用半導体集積回路において、温度検出回路（１１）の出力と基準電圧とを比較する電圧比較回路（１３）の出力に対応した信号を出力する外部端子（ＤＥＴ）と、該外部端子に負電位が印加されたことを検出した場合に、温度検出回路と基準電圧回路と電圧比較回路を活性化させる信号を生成する制御回路（１７）と、制御回路が活性化信号を出力しかつ温度検出回路の出力が基準電圧を超えたと電圧比較回路（１３）が判定した場合に電流を流す電流回路（ＳＷ１，Ｒ０，ＳＷ２）とを設けるようにした。 （もっと読む）

【課題】従来技術では、アナログ信号を扱うアナログモジュールの試験に適用できず、試験時間の短縮ができないという問題点がある。
【解決手段】アナログ信号を入力し、同一機能を備える複数のアナログモジュールと、テスタからの選択信号に応じて、前記複数のアナログモジュールの出力のうち第１のアナログモジュールの出力、もしくは、前記第１のアナログモジュール以外の出力を選択する信号選択回路と、前記信号選択回路が選択したアナログモジュールの出力を加算する加算回路を備える算出回路と、を有する半導体集積装置。 （もっと読む）

【課題】半導体ウエハ上の半導体チップのアナログ特性の測定を精度良く行えるようにする。
【解決手段】半導体チップ１の被測定部３は半導体素子３ａ、回路３ｂである。被測定部３のアナログ特性を測定する測定回路４を設けている。測定回路４は、外部電源からプローブ針Ｐａ、Ｐｂを介して給電され、内部で測定用印加電圧を生成し、配線パターン５を介して被測定部３に印加する。測定回路４は、被測定部３の出力を配線パターン５から入力し、デジタルデータに変換する。測定回路４と配線パターン７を介して半導体チップ２の不揮発性メモリ６に接続され、デジタルデータが転送記憶される。一連の測定が終了した後に、不揮発性メモリ６からデジタルデータを取り出す。プローブ針の接触抵抗や浮遊容量の影響を低減して精度良いアナログ特性の測定ができる。 （もっと読む）

【課題】外部のノイズ対策用のコンデンサによる出力波形の遅れに起因する検査時間を短縮する。
【解決手段】本発明の半導体センサ１は、出力端子１８と、グランド端子１６と、出力端子１８とグランド端子１６との間に抵抗１３及びコンデンサ２２が直列に接続された直列回路とを備えると共に、抵抗１３の両端に抵抗１３と並列に接続されたスイッチ１４を備え、そして、半導体センサ１のファンクション検査を行う場合に、スイッチ１４をオフするように構成した。 （もっと読む）

【課題】定電流方式の発振回路におけるインバータの消費電流を測定するテスト方法において、水晶振動子を接続することなく、外部信号を入力してテストしても、安定した正確なテストができるとともに、テスト時間も発振開始時間の影響がなく短縮できるテスト方法を提供する。
【課題の解決手段】水晶振動子を接続するためのＸＴ端子とＸＴＮ端子を備え、定電流源６から定電流をインバータ１に入力する定電流方式の発振回路において、インバータ１による消費電流を電流測定器７で測定するテスト方法であって、ＸＴ端子とＸＴＮ端子の少なくとも一方、例えばＸＴＮ端子にプルアップ抵抗９を接続して、信号生成器１１からの外部信号をＸＴ端子から入力する。 （もっと読む）

【課題】被測定物の送信器と受信器を接続する試験を測定装置により行う。
【解決手段】送信部２０２と受信部２０４を有する被測定物２００に接続される測定装置１００は、送信部２０２に接続される入力ポート１０２と、受信部２０４に接続される出力ポート１０４と、出力信号を出力する信号出力部１３２、１３４と、入力信号の電力を測定する電力測定部１４５、１５５と、入力ポートが接続される部分を、出力ポート１０４および電力測定部１４５、１５５の一方または双方とすることができ、しかも、出力ポート１０４が接続される部分を、入力ポート１０２および信号出力部１３２、１３４の一方または双方とすることができる接続部（カプラ１１０、スイッチ１２０〜１２８）と、入力ポート１０２と出力ポート１０４とが接続される際に、出力ポート１０４から出力される出力ポート信号の電力を調整する電力調整部１８３、１８５とを備える。 （もっと読む）

【課題】 正極出力と負極出力との差分値に基づく良否判定にかかる時間を短縮して、被試験デバイスの階調テストに要する時間を短縮する半導体試験装置を提供する。
【解決手段】 本発明の代表的な構成は、ＦＰＤドライバ１０２の階調テストを行う半導体試験装置１００において、ＦＰＤドライバ１０２のピンから出力される正極出力または負極出力をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器１１２ａ〜１１２ｎと、Ａ／Ｄ変換された正極出力または負極出力の一方を記憶しておくメモリ１１８と、メモリ１１８に記憶された正極出力または負極出力の一方を出力したものと同じピンについて、Ａ／Ｄ変換された負極出力または正極出力の他方の入力を受けて、正極出力と負極出力との差分値を逐次演算する差分演算回路１１４と、を有することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】波形に影響を与えることなく、波形出力停止時から波形出力開始前までの間に安定的な値を出力することを目的とする。
【解決手段】本発明の波形発生装置は、波形を発生する波形発生装置であって、波形の複数のデータをパラレルに出力する波形制御部１３と、波形制御部１３が出力する複数のデータを入力して順番に出力する波形制御部１３よりも高速に動作する波形出力制御部１５と、波形の出力を停止する波形停止信号に基づいて、波形制御部１３から並列的に出力される全てのデータの各値を１つの値に固定して波形出力制御部１５に出力する波形停止制御部１４と、を備えていることを特徴としている。 （もっと読む）

【課題】無線周波数集積回路（ＲＦＩＣ）を試験する方法を提供する。
【解決手段】オンチップ試験回路３０２を用いて高周波試験信号を生成するステップと、オンチップ電力検出器を用いて信号レベルを測定するステップと、上記オンチップ試験回路３０２を、低周波数信号を用いて制御および監視するステップとを含む。ＲＦＩＣ３００は、高周波数において動作するように構成されており、オンチップ試験回路３０２は、試験モードの間に動作するように構成された周波数生成回路３０６を含む。 （もっと読む）

【課題】新規開発中の検査対象半導体の仕様に応じて、任意波形発生装置のユーザーが複雑なテスタ言語を用いることなく仕様変更に応じた所望のデジタルデータを作成できて半導体製品の開発における任意波形発生装置のユーザーの負担を軽減でき、半導体製品を比較的短期間に開発して市場に投入できる任意波形発生装置とそれを用いた半導体試験装置を提供すること。
【解決手段】複数の波形発生チャネルの波形信号を加算して出力するように構成された任意波形発生装置において、前記複数の波形発生チャネルの波形信号は、それぞれアナログ信号で加算されることを特徴とするとともに、このように構成される任意波形発生装置を用いた半導体試験装置である。 （もっと読む）

【課題】ＲＦチップ本来の回路特性を抽出できるようにする。
【解決手段】半導体試験装置より出力された変調信号を増幅して出力する低雑音増幅器より出力される信号が供給されるとともに、低雑音増幅器により増幅された後に直交復調処理された変調信号を半導体試験装置用基板の伝送路に対して出力する増幅器に入力される信号が供給される試験回路をＲＦチップに備える。試験回路は、半導体試験装置より出力する変調信号の波形データが予め記憶され、低雑音増幅器より出力される信号及び増幅器に入力される信号をスペクトラム解析した解析結果と記憶されている変調信号の波形データとの比較によりＲＦチップにおけるチップ内ノイズ及びＲＦチップ本来の回路特性を抽出する。 （もっと読む）

【課題】被測定信号を効率よく測定する。
【解決手段】予め定められたサイクルで波形パターンが繰り返される被測定信号を測定する測定装置であって、被測定信号をコヒーレントサンプリングするサンプリング部と、サンプリング部が取得したサンプリングデータのうち、波形パターンの一部の区間に対応するサンプリングデータを、予め定められた順番で配列することで、波形パターンのうち、一部の区間に対応する部分波形だけを再構成する波形再構成部とを備える測定装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】ソース電極を共通とするトランジスタ対の、各ドレイン電極から出力される電圧の差を評価するトランジスタ対の特性評価装置であって、その特性差を高精度でかつ簡便に測定できる特性評価装置および特性評価方法を提供することを課題とする。
【解決手段】２つの可変抵抗を有し、各可変抵抗の一方の端部は共通に接続され、他端部はそれぞれ各ドレイン電極に接続するドレイン端子を有し、各ドレイン端子の出力を測定する測定装置を有することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】制御チップに占める制御回路の面積を低減し、且つ、制御信号を出力する出力部の数を低減しつつ、複数の命令信号の処理時間の増大を抑制する。
【解決手段】複数チャネルの被制御回路を制御する制御信号を生成する信号処理装置であって、それぞれの被制御回路に対する命令信号を共通の入力部で受け取り、受け取った命令信号に応じて制御信号を生成し、それぞれの被制御回路への制御信号を共通の出力部から出力する制御チップと、制御チップが出力するそれぞれの制御信号を、対応する被制御回路に分配する分配回路とを備える信号処理装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】サイズやコストを増大させることなく、テスト容易なシステムインパッケージを実現するとともに、そのシステムインパッケージをテストボードとして活用する。
【解決手段】テスト容易化回路内装ＳＩＰ１ｃは、少なくともその１つに集積回路チップが搭載された複数のコア基板を、絶縁樹脂層を介して貼り合わせて構成するとともに、コア基板に形成された配線層を、スルーホールを介して接続して構成される。そのコア基板の１つであるテスト容易化回路内装基板１０ｃには、テスト対象の集積回路であるＤＵＴ１２１を装着するソケット１２２が搭載されており、また、そのソケット１２２内に設けられたポゴピン１２２０には、インピーダンス整合用のチップ抵抗１２２４、インダクタ１２２５などの受動素子が設けられている。 （もっと読む）

【課題】ディスパリティ・エラーから独立してシンボル・エラー・レート及びビット・エラー・レートを測定する。
【解決手段】被試験信号を受け(505)、被試験信号内の開始シーケンスを検出し(510)、開始シーケンスに応答して同期信号を発生する(515)。同期信号に応答して基準試験パターンをメモリから出力する(520)。メモリからの基準試験パターンの８ｂコード化シンボルを被試験信号の８ｂコード化シンボルと比較して、シンボル・エラー・レート値を発生する(525)。基準試験パターン及び被試験信号を８ｂコード化フォーマットから１０ｂコード化フォーマットに変換し(530)、１０ｂコード化基準試験パターンを１０ｂコード化被試験信号とビット毎に比較する(545)。 （もっと読む）

【課題】サイズやコストを増大させることなく、テスト容易なシステムインパッケージを実現する。
【解決手段】テスト容易化回路内装ＳＩＰ１ｂは、少なくともその１つに集積回路チップ２が搭載された複数のコア基板３，４ｂ，５を、絶縁樹脂層７を介して貼り合わせて構成するとともに、コア基板３，５に形成された配線層３１，５１を、スルーホール６を介して接続して構成される。このうち、コア基板４ｂには、半導体層が形成されており、コア基板４ｂには、その半導体層を用いたトランジスタ素子が形成され、さらに、そのトランジスタ素子がコア基板４ｂに含まれる配線層の配線で接続されることによって、集積回路チップ２のテストを容易化するためのテスト容易化回路が形成されている。 （もっと読む）