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Fターム[5F031PA26]の内容

ウエハ等の容器、移送、固着、位置決め等 (111,051) | 特殊目的 (8,207) | 汚染防止 (1,146) | 部材からの汚染物質の溶出・発生の防止 (483)

Fターム[5F031PA26]に分類される特許

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【課題】半導体製造装置用サセプターの平面度を高く保つと共に製造プロセスにおいて汚染源となることがない、耐熱性の高い接合剤を提供する。
【解決手段】接合剤4は、付加硬化型シリコーン粘着剤からなる硬化シートにより形成され、付加硬化型シリコーン粘着剤は、1分子に2個以上のビニル基を含有するオルガノポリシロキサンと、RSiO1/2(Rは脂肪族不飽和結合を有しない炭素数1〜6の1価炭化水素基)で表される単位(以下Mと表記)とSiO4/2で表される単位(以下Qと表記)とをRSiO1/2単位/SiO4/2単位のモル比(M/Q比)が0.6以上1.6以下の範囲内になる割合で含むオルガノポリシロキサンレジンと、ケイ素原子結合水素原子を含有するオルガノハイドロジェンポリシロキサンと、白金触媒と、20[vol%]以上50[vol%]以下の含有率を有する熱伝導性フィラーとを含有する。 (もっと読む)


【課題】複数枚の基板を保持して処理槽の内部とその上方位置との間で昇降するリフタと複数枚の基板を支持して水平方向へ移動する基板搬送機構との間で基板の受け渡しを行う際に、リフタの保持溝の内面部分と基板の下端縁とが擦れて塵埃や汚染物が発生して基板を汚染したり、基板に無理な力が加わって基板を破損したりすることを防止できる装置を提供する。
【解決手段】基板搬送ロボットの一対のチャック28の基板支持部32に形成される下部支持溝34aの溝底の幅を、基板Wの厚みに、リフタ12の基板保持部18a、18b、18cに対して基板支持部32が長手方向において位置ずれする予定量を加えた第1の寸法とし、基板支持部32に形成される上部支持溝34bの溝底の幅を、基板支持部32に支持される互いに隣り合う基板同士が接触しないように第1の寸法より小さい第2の寸法とする。 (もっと読む)


パージステーションは少なくとも1つの上方に延在するパージノズルを有する基板コンテナ受容域を備える。前記ノズルは円形の係合リップを有する。前記基板コンテナは、少なくとも一つの基板のための支持手段と、前記コンテナから下向きの外向き封止フランジを含むパージポートアセンブリとを有する。前記封止フランジは、中央の開口部と、前記ノズルの円形係合リップと係合する片持ち状のフランジ部とを有する。前記フランジの前記片持ち状部分により保持される前記ノズル上の前記基板コンテナの重量により、弾性力のある柔らかい封止のためのフランジ部の曲がりが生じる。
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【課題】 容器本体を成形する金型の構成の簡素化を図ることのできるティース体及び基板収納容器を提供する。
【解決手段】 二枚の半導体ウェーハを収納可能な大きさを有するフロントオープンボックスタイプの容器本体1と、容器本体1に内蔵されて半導体ウェーハを整列させて支持するティース体20と、容器本体1の開口した正面に着脱自在に嵌合される蓋体と、容器本体1と蓋体との間に介在されて気密機能を発揮するエンドレスのガスケットとを備える。そして、ティース体20を、容器本体1の両側壁内面にそれぞれ嵌合されて半導体ウェーハの裏面周縁部を支持する複数対のティース21と、複数対のティース21の後部を連結して容器本体1の内底面に嵌合される連結片23とから一体形成する。容器本体1にティース体20を後から組み付けるので、容器本体1を成形する金型の型開きが困難化したり、コア型を分割式にする必要がない。 (もっと読む)


【課題】誘電体層の高い平坦性と温度依存性の低減化とを図ることができると共に、パーティクルやガスの発生を抑えるができ、しかも超薄型で低コストな静電チャック及びその製造方法を提供する。
【解決手段】吸着電極3が、石英ガラスで形成した円板状の基板2の上に溶射にて形成され、石英ガラスの誘電体層4が、吸着電極3を覆うように溶射にて形成されている。そして、誘電体層4の表面に、多数のエンボス5が溶射にて形成されている。好ましくは、吸着電極3を、多数の電極小片が細い電極線で連結された構造にする。 (もっと読む)


【課題】基板の大口径化や超大口径化に伴う基板搬送時の基板中央部の自重による撓みを抑制ないし防止する。
【解決手段】大口径の基板wの上方又は下方に移動される支持部17と、該支持部17に設けられ基板wの周縁部を掴んで支持する掴み機構28とを有する基板搬送装置において、上記支持部17に、基板の上面中央部又は下面中央部を撓まないように空気層を介して非接触で吸引保持する非接触吸引保持部30を1つ又は複数設け、該非接触吸引保持部30は、上記基板の上面又は下面に対向する平面円形の本体31と、該本体に形成され中央に向って深くなるように傾斜した傾斜面32aを有する凹部32と、該凹部32の中央に設けられ上記傾斜面に沿って流れるように気体を放射状に噴出することにより負圧を発生させるための複数の気体噴出ノズル33と、上記凹部32の周縁部に適宜間隔で形成された気体逃げ溝34とを備えている。 (もっと読む)


【課題】基板の反転を必要とせず、且つ基板の周縁部にダメージを与えないように基板の裏面を洗浄することの可能な基板洗浄装置等を提供する。
【解決手段】基板洗浄装置1は、裏面を下方に向けた状態の基板を裏面から支えて保持する2つの基板保持手段(吸着パッド2、スピンチャック3)を備え、支える領域が重ならないようにしながらこれらの基板保持手段の間で基板を持ち替える。洗浄部材(ブラシ5)は基板保持手段により支えられている領域以外の基板の裏面を洗浄し、2つの基板保持手段の間で基板が持ち替えられることを利用して基板の裏面全体を洗浄する。 (もっと読む)


【課題】電子線照射により載置面に静電吸着された板状試料が帯電した場合であっても、板状試料の裏面に付着するパーティクル数を大幅に低減することができ、かつ、電圧印加を停止した際に静電吸着された板状試料を載置面から素早く離脱させることができる静電チャックを提供する。
【解決手段】一主面を板状試料を載置する載置面2aとするとともに内部に静電吸着用内部電極4、4を設けてなる基体7と、この基体7に保持され静電吸着用内部電極4、4に電圧を印加する給電用端子6、6とを備え、基体7は、炭化ケイ素を1質量%以上かつ30重量%以下含有してなる平板状の炭化ケイ素−酸化アルミニウム複合焼結体により形成され、載置面2aの表面粗さRaは0.01μm以下である。 (もっと読む)


【課題】基板の大口径化や超大口径化に伴う基板搬送時の基板中央部の自重による撓みを抑制ないし防止する。
【解決手段】大口径の基板wの上方又は下方に移動される支持部17と、該支持部17に設けられ基板wの周縁部を掴んで支持する掴み機構28とを有する基板搬送装置において、上記支持部17に、基板の上面中央部又は下面中央部を撓まないように空気層を介して非接触で吸引保持する非接触吸引保持部30を1つ又は複数設け、該非接触吸引保持部30は、上記基板の上面又は下面に向って突設された柱体又は錐体からなる負圧形成突部31と、該負圧形成突部31に対して側方から気体を噴出することにより負圧形成突部31の近傍に負圧を形成するための気体噴出ノズル32とを備えている。 (もっと読む)


【課題】高温の半導体プロセスシステムにおける使用に適している加熱型アルミニウム基板支持体と、このような基板支持体を製造する方法とを提供する。
【解決手段】一実施形態においては、加熱型アルミニウム基板支持体は、アルミニウム本体と、本体に結合されている脚部と、本体内に配置されている加熱素子とを含むことができる。本体は約250μm未満の平均粒径を有する。いくつかの実施形態においては、脚部と本体との継手は十分に侵入した重ね溶接であり、基板支持体の耐用年数が増大する。 (もっと読む)


【課題】ウエーハ保持手段からウエーハを搬送する際にウエーハの加工面に接触することなく搬送することができるウエーハの加工装置を提供する。
【解決手段】ウエーハを保持するウエーハ保持手段と、ウエーハ保持手段に保持されたウエーハを加工する加工手段と、加工手段によって加工されたウエーハをウエーハ保持手段から搬送する搬送手段とを具備するウエーハの加工装置であって、ウエーハ保持手段はウエーハを保持する保持面を備え支持ベースに着脱可能に支持されるウエーハ保持プレートを備えており、搬送手段はウエーハ保持プレートを保持するプレート保持部材を備えている。 (もっと読む)


【課題】 アーキングを抑制して、例えばアルミ等の飛散を防止することができる静電チャックを提供すること。
【解決手段】 静電チャック(1)の冷却用ガス孔(13)は、静電チャック(1)の厚さ方向において、チャック面(3)及び裏面(11)に垂直に設けられて、チェック面(3)に吸着された半導体ウェハ(5)を、チャック面(3)から離脱させるための突き上げピン(15)を嵌挿するためのピン用貫通孔としても用いられる。特に冷却用ガス孔(13)の内部には、その内側表面のほぼ全体を覆う様に、円筒形の部材である絶縁スリーブ(19)を配置し、これにより、冷却用ガス孔(13)の金属ベース部分(金属ベース側ガス孔)(21)のアルミ素地が露出しないようにしている。 (もっと読む)


【課題】
試料処理の歩留まりおよび処理の効率を向上させる異物除去機能を備えた真空処理装置。
【解決手段】
真空容器内の処理室と搬送室とを連結する通路を開閉するゲートバルブで構成し、試料を搬送・処理する真空処理装置において、前記処理室と前記搬送室間で前記処理対象の試料を搬送する際に前記真空容器内の下方にある圧力調整用の可変バルブを所定の開度として真空容器内を減圧し、その後前記圧力調整用可変バルブの開度を変えない状態で前記真空容器内に前記導入孔から所定量のガスを流しガスの流れを形成し、その状態で前記ゲートバルブを開放して前記試料の搬送を行い、前記試料搬送後にゲートバルブを閉じた後に前記ガスの導入を止めるように構成した。 (もっと読む)


【課題】リフタ装置全体の寸法を小さくして省スペース化を図るとともに、機械エリアのフィルタを不要として保守、メンテナンス部品を減らすことができるリフタ装置を提供すること。
【解決手段】クリーンブース2に、搬送物を載置して昇降する昇降体4と、昇降体4を昇降可能に支持する昇降マスト5と、昇降マスト5を介して昇降体4を昇降させる駆動装置6とを配設するとともに、昇降体4が昇降するリフタエリア7から、昇降マスト5及び駆動装置6を設置した機械エリア8を区画し、リフタエリア7にダウンフローを導入するようにしたリフタ装置において、リターンダクト3の隔壁9で機械エリア8の一部を区画形成するとともに、隔壁9に、機械エリア8を通過した空気をリターンダクト3に排出する開口部10を設ける。 (もっと読む)


【課題】半導体製造装置へウェーハを供給、排出する搬送装置(以下ミニエンと略記する。)では、ウェーハ搬送において、ウェーハ異物付着が発生し易く、微小の異物であっても半導体製造装置に影響を与えてしまう場合があり、歩留まりが悪くなる。そのため、搬送室内全体のクリーン度を保つために、ファンフィルタユニット(FFU)からのダウンフローの均一性および吹き溜まりや巻き上がりを管理する必要がある。
【解決手段】風量管理するために、ウェーハ搬送ロボットの一部(アーム)に風量測定器を取り付けることにより、搬送室内の任意のポイントに測定ポイントを設けることを実現させる。風量測定器からの測定データは、ミニエン内制御コントローラで取り込みデータ管理を行う。 (もっと読む)


【課題】真空容器内にて被搬送物を搬送する真空容器内搬送装置において、搬送台の位置決め精度を向上させると共に、一定速度で被輸送物を安全に輸送できるようにする。
【解決手段】真空容器2内に配置され、所定の被搬送物3を保持して搬送する搬送台4と、該搬送台4に連結された2次側磁極5と、真空容器2外に、該真空容器2の壁面2bに沿って移動可能に配置された電機子6と、該電機子6を移動させる電機子移動機構7とを備えることを特徴とする真空容器内搬送装置1を提供する。 (もっと読む)


【課題】基板を支持するユニットを提供する。
【解決手段】基板支持ユニットは、工程時に基板に旋回流を供給して基板をチャックプレート上から浮揚及び回転させる工程を行う。したがって、本発明は、基板を非接触方式でチャックプレートから浮揚させて支持し、工程速度で回転させる。 (もっと読む)


【課題】最小単位の装置のブロック構成化を図ることにより装置の配置構成に自由度を向上させ、装置構成上の問題を伴うことなく装置全体の小型化が向上し装置全体のフットプリントを小さくすること。
【解決手段】被処理基板Gに対して所定の処理を施す処理部を一方向に複数配置して構成された処理部配置部21〜23と、この処理部配置部内に設けられ前記被処理基板を搬送する第1の搬送機構と、この処理部配置部外かつ前記一方のほぼ延長線上に固定してまたは前記一方向のほぼ延長線上に対して直交する方向に固定してまたは/及び前記一方向の延長線上と平行する線上を移動自在に設けられ前記第1の搬送機構に対して直接或いは間接的に前記被処理基板を受け渡し自在に構成された第2の搬送機構11〜15と、を具備する。 (もっと読む)


【課題】本発明は、耐プラズマ性に優れ、かつ、載置面の面内温度の均一性がよい静電チャック、静電チャックの製造方法、および基板処理装置を提供する。
【解決手段】戴置面を有する誘電体基板を備えた静電チャックであって、前記誘電体基板の戴置面側には脆性材料からなる多結晶体膜が形成され、前記多結晶膜における結晶同士の界面にはガラス相からなる粒界層が実質的に存在せず、さらにその一部は前記誘電体基板の表面に食い込むアンカー部を形成しており、前記アンカー部と前記誘電体基板の表面との界面の平均粗さ(Ra)は0.2μm以下であること、を特徴とする静電チャックが提供される。 (もっと読む)


【課題】流体流路内に溶射残渣が残ることを防止することができ、溶射残渣による汚染の発生や、流体流路の孔詰まりの発生を防止することのできる基板載置台の製造方法を提供する。
【解決手段】ガス吐出孔511の内側面及び溝512の内側面等のガス供給路となる部分に除去可能な皮膜540を形成する。次に、圧縮空気等の気体を供給して各ガス吐出孔511から圧縮空気等の気体を噴出しつつ、載置面にセラミック溶射膜10、金属溶射膜(電極)12、セラミック溶射膜10を順次積層させて3層の静電チャック11を形成する。次に、溝512内に流体、例えば、アセトン等の有機溶媒、圧縮空気、水等を導入して皮膜540の除去及び洗浄を行い、セラミック溶射工程で付着した塊状の溶射セラミック530を除去する。 (もっと読む)


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