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国際特許分類[B24B49/12]の内容

国際特許分類[B24B49/12]に分類される特許

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【課題】スラリーなどによる電気的な影響を受けずに、加工中に連続的に容易にワイヤ径を測定できるワイヤソー装置を得ること。
【解決手段】ワーク6を切削する前のワイヤ2が巻き付けられた巻き出し用ボビン10と、巻き出し用ボビン10から送り出されたワイヤ2が複数回掛け回される一対のガイドローラ1と、ガイドローラ1の一方を回転させてワイヤを走行させるモータと、ガイドローラ1の間に掛け回されたワイヤ2の表面にスラリー4を付着させるスラリーノズル7と、一対のガイドローラ1間でワーク6を切削した後のワイヤ2が巻き取られる巻取り用ボビン11とを有し、スラリー4が表面に付着したワイヤ2によってワーク6を切断するワイヤソー装置であって、巻き出し用ボビン10及び巻取り用ボビン11のワイヤ巻き径を測定する光学式変位センサ14と、光学式変位センサ14の測定結果に基づいて、ワイヤ2の摩耗量を算出する演算器16と、を有する。 (もっと読む)


【課題】加工個所の寸法あるいは位置を直接的に測定する定寸装置を用いることなく、いわゆる間接定寸研削よりも加工精度をより向上させることができ、いわゆるポストプロセス定寸よりもサイクルタイムを短縮化することができる、ワークの研削方法を提供する。
【解決手段】基準位置Sstdから第1所定距離L1だけ離れた位置に距離検出手段60が設けられ、ワークの内径を研削する砥石の研削個所が、距離検出手段と対向するように相対移動させるステップ、距離検出手段を用いて研削個所までの砥石距離S1を求めるとともに、砥石装置の測定時砥石位置(X(S1))を求めるステップ、研削する内径を直接的に測定することなく、ワークの内径の目標仕上径Ltgと、第1所定距離L1と、砥石距離S1と、測定時砥石位置(X(S1))と、に基づいて、ワークの内径を目標仕上径となるまで研削するステップ、とからなるワークの研削方法。 (もっと読む)


【課題】加工位置表示の実線を点線や破線に変えて直線、曲線、円を描くることで線の
内側と外側を正確に判断し、精度を見極めることができる研削方法と研削盤。破線にすることで0.025mm〜0.0083mmの加工精度を熟練工でなくとも、切削を高い精度でミクロン単位の微細研削することが可能な研削方法と研削盤を提供する。
【解決手段】経験が少ない未習熟な作業者でも研削作業を手動運転で以って行うことが
できる。それには研削盤の表示画像による寸法測定を行い、加工する時に加工画像をリアルタイムに投影する。コンピューターによる映像の読み込みと研削部分の十字線の中心に加工寸法を重ね画像で直線ではなく破線で描くことで、内側の線と外側の線を手動運転で簡単に調整できるようになる研削盤画像処理装置。 (もっと読む)


【課題】研磨工程の前及び研磨工程中のいずれにおいても、リアルタイムに研磨ヘッドの傾きを検知して、その水平を確認することのできる研磨装置を提供すること。
【解決手段】センサー81と被検知物82の組み合わせから成る検知手段80を複数箇所に設ける。センサー81はフレームに固定されて研磨ヘッド20の昇降によっては上下動せず、被検知物82は研磨ヘッド20の昇降に伴って上下動する位置に固定されている。研磨ヘッド20を降下させて、研磨プレート21を被研磨物A’に押圧するとき、これら複数箇所の検知結果を比較することにより、研磨ヘッドの傾きの有無を確認できる。 (もっと読む)


【課題】表面に膜が形成されていない、例えば反応性半導体単体からなるベア基板であっても、基板表面を研磨するのと同時に基板表面のダメージ量を測定することで、研磨の進行状態を監視しながら研磨できるようにする。
【解決手段】研磨中に、光電流式ダメージ量測定方式、フォトルミネッセンス光式ダメージ量測定方式、及びラマン光式ダメージ量測定方式の少なくとも一つのダメージ量測定方式を用いて基板表面のダメージ量を測定し、該基板表面のダメージ減少量から研磨の進行状態を監視する。 (もっと読む)


【課題】ガラス基板を位置決めすることなく面取加工を行うことにより、ガラス基板の生産効率を向上させる。
【解決手段】ガラス基板Gがテーブル12に載置されると、ガラス基板Gを位置決めすることなくテーブル12の吸引動作によってテーブル12に吸着固定する。次に、この状態のガラス基板Gの端面G1、G2、G3の位置情報をレーザー変位計14〜22によって取得し、この位置情報と所望の研削代とを考慮した加工開始位置及び加工終了位置をCPU28によって算出する。次いで、算出した加工開始位置及び加工終了位置の位置情報に基づき、加工開始位置から加工終了位置に向けて面取用砥石24、26が直線移動するようにモーションコントローラ32が移動機構34、40を制御する。 (もっと読む)


【課題】 本発明は、導光板加工において、超音波加工具である超音波加工用ホーンを装置に装着した際に取付誤差等が発生しても、導光板の主面の表面側又は裏面側に形成する凹状のパターンの位置決め精度等を高精度に保つことができる導光板加工装置の提供を目的とする。
【解決手段】 本発明に係る導光板加工装置は、導光板に形成する前の基材である導光板基材を固定する加工台部と、導光板基材の主面に超音波加工用ホーンの突起を当接させて超音波の振動により主面を部分的に加熱し溶融させて凹状のパターンを形成する超音波加工部と、超音波加工用ホーンの加工面の特定位置を認識し、基準位置と比較して差分を求め、導光板基材への超音波加工の開始位置を補正する超音波加工位置補正部と、導光板基材及び超音波加工位置補正部に対して超音波加工部を相対的に移動させる移動機構部とを有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】環状ブレードを交換した際に必須であるブレード摩耗・破損検出手段の調整を忘れた際にはその旨を警告し切削作動の開始を防止することができる切削装置を提供する。
【解決手段】新たな環状ブレードに交換された際には、以下の手順で摩耗・破損検出手段の調整を行う。ブレード交換完了信号を作業者が入力すると、ブレード交換をするための摩耗・破損検出手段の待避位置において、摩耗・破損検出手段の受光量が所定値以上であるか否かを判断し、受光量が所定値未満である場合には摩耗・破損検出手段の点検検査を行う。次に摩耗・破損検出手段を待避位置から作用位置にして、ブレードで遮光された摩耗・破損検出手段の受光量が所定範囲内であるか否かを判断する。受光量が所定範囲未満又は範囲を超える場合には、摩耗・破損検出手段の発光端面及び受光端面の位置調整を行う。受光量が所定範囲内である場合には切削装置の切削作動開始を許容する。 (もっと読む)


【課題】切削ブレードの状態検出を行う検出手段の発光面及び受光面が加工屑によって汚れるのを抑制する。
【解決手段】切削ブレード31を覆うブレードカバー32と、発光面380と受光面381とを結ぶ光軸382が切削ブレード31の刃先によって遮蔽される量に基づいて切削ブレード31の状態を検出する検出手段38と、切削により飛散する切削水を排出する排出手段とを備えた切削装置において、ブレードカバー32は発光面380、受光面381にそれぞれ流体を供給する第一、第二の噴出口390、391を有し、第一、第二の噴出口390、391は、切削ブレード31の半径方向外側かつ発光面380及び受光面381と排出手段との間に形成して発光面380、受光面381の汚れを抑制し、第一、第二の噴出口390、391から噴出される流体が発光面380、受光面381に到達するまでの経路が切削ブレード31を避けるようにして切削ブレード検出の正確性を確保する。 (もっと読む)


【課題】パネルの流れに従った各工程を効率的に配置することによって工程のタクトタイムを著しく短縮させることができる平板ディスプレイパネルの研磨方法を提供する。
【解決手段】パネルを第1のピッカーで吸着し、前記第1のピッカーが前記パネルを吸着した状態で前記パネルを整列し、前記パネルをテーブルに載置し、前記パネルの両側短辺(又は長辺)を研磨し、前記テーブルを90゜回転させ、前記パネルの両側長辺(又は短辺)を研磨し、前記パネルをアンローディングすることを含む平板ディスプレイパネルの研磨方法を構成する。 (もっと読む)


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