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国際特許分類[H01L21/02]の内容

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【課題】半導体ウエハに対するウエハ工程がほぼ終了した段階で、ウエハの表面に表面保護テープを貼り付けた状態で、ウエハの裏面に対して、バックグラインディング処理を施し、その後、ウエハの裏面を真空吸着した状態で、表面保護テープ上に剥離用補助テープを貼り付けて、当該剥離用補助テープに張力を付与することにより、ウエハから表面保護テープを剥離することが広く行われている。
【解決手段】本願発明は、ウエハの裏面を真空吸着した状態で、表面保護テープ上に剥離用補助テープを貼り付けて、当該剥離用補助テープに張力を付与することにより、前記ウエハから前記表面保護テープを剥離する工程を含む半導体装置の製造方法に於いて、前記真空吸着に関する真空吸引系を前記ウエハの周辺部を担当する周辺吸引系と、前記ウエハの内部領域を担当する内部吸引系とを含むようにしたものである。 (もっと読む)


【課題】プレーナあるいは複数ゲートまたはその両方の金属酸化膜半導体電界効果トランジスタ(MOSFET)で使用するための高移動度面を有するハイブリッド基板を提供すること。
【解決手段】ハイブリッド基板は、n型デバイスに最適な第1の表面部分と、p型デバイスに最適な第2の表面部分とを有する。ハイブリッド基板の各半導体層における適切な表面およびウェハ・フラットの方向により、デバイスのすべてのゲートは同じ方向に配向され、すべてのチャネルは高移動度面上に位置する。本発明は、ハイブリッド基板、ならびに、その上に少なくとも1つのプレーナまたは複数ゲートのMOSFETを集積する方法も提供する。 (もっと読む)


【課題】部分的に形成した接着層と剥離層とを有する仮固定材を介して仮固定する方法において、基材と支持体とを貼り合わせる際、基材や支持体と仮固定材との間で浮きなく、仮固定材を形成できる基材の処理方法を提供する。
【解決手段】(1)重合体(A)、および前記重合体(A)と実質的に非混和性の化合物(B)を含有する仮固定用組成物により、基材上に、接着層および剥離層をこの順に形成する工程;(2)前記剥離層の一部を除き、接着層を介して、前記基材と支持体を仮固定する工程;(4)前記接着層の一部を除き、基材上に、接着層の残部、剥離層の残部および支持体をこの順に形成する工程;ならびに(5)支持体から加工後の基材を剥離する工程;をこの順で有する基材の仮固定方法。 (もっと読む)


【課題】一般的な結晶成長方法による窒化物半導体層の積層で、分極効果が制御できるようにする。
【解決手段】c軸方向に結晶成長された窒化物半導体から構成されて主表面がIII族極性面104aとされた第2半導体層104の主表面に、第1半導体層103のIII族極性面103aを貼り合わせた後、第1半導体層103と基板101とを、分離層102で分離する。 (もっと読む)


【課題】 本発明は、SOI層の膜厚の面内均一性の良好なSOIウェーハを製造する方法を提供することを目的とする。
【解決手段】 イオン注入層が形成されたボンドウェーハのイオン注入された側の表面とベースウェーハの表面とを絶縁膜を介して貼り合わせた後、前記ボンドウェーハの一部を前記イオン注入層で剥離して、貼り合わせSOIウェーハを作製し、その後、平坦化処理を行う貼り合わせSOIウェーハの製造方法であって、
前記剥離後の貼り合わせSOIウェーハに対し、前記SOI層表面の周辺部の自然酸化膜が除去され、中央部の自然酸化膜が残存するように、水素ガスを含む雰囲気でRTA処理を行い、前記中央部に自然酸化膜が残存した貼り合わせSOIウェーハに対し、前記SOI層の面内膜厚レンジが1.5nm以下となるように前記平坦化処理を行うことを特徴とする貼り合わせSOIウェーハの製造方法。 (もっと読む)


【課題】剥離前の形状及び特性を保った良好な状態で転置工程を行えるような、剥離工程
を用いて半導体装置及び表示装置を作製できる技術を提供する。よって、より高信頼性の
半導体装置及び表示装置を装置や工程を複雑化することなく、歩留まりよく作製できる技
術を提供することも目的とする。
【解決手段】透光性を有する第1の基板上に光触媒物質を有する有機化合物層を形成し、
光触媒物質を有する有機化合物層上に素子層を形成し、光を第1の基板を通過させて、光
触媒物質を有する有機化合物層に照射し、素子層を前記第1の基板より剥離する。 (もっと読む)


【課題】結晶成長用基板に形成した半導体結晶層を転写先基板に転写する場合の犠牲層のエッチング速度を高める。
【解決手段】半導体結晶層形成基板の上に犠牲層および半導体結晶層を順に形成するステップと、犠牲層の一部が露出するように半導体結晶層をエッチングし、半導体結晶層を複数の分割体に分割するステップと、転写先基板に接することとなる半導体結晶層形成基板側の第1表面と、第1表面に接することとなる転写先基板側の第2表面と、が向かい合うように、半導体結晶層形成基板と転写先基板とを貼り合わせるステップと、半導体結晶層形成基板および転写先基板をエッチング液に浸漬して犠牲層をエッチングし、半導体結晶層を転写先基板側に残した状態で、転写先基板と半導体結晶層形成基板とを分離するステップと、を有し、前記半導体結晶層が、GeSi1−x(0<x≦1)からなる、複合基板の製造方法を提供する。 (もっと読む)


【課題】固体素子が損傷しにくい、固体素子を有するデバイスの製造方法を提供する。
【解決手段】第一基板1を準備する第一基板準備工程と、前記第一基板1上に剥離層2を形成する剥離層形成工程と、前記剥離層2が形成された前記第一基板1の前記剥離層2上に第二基板3を剥離可能に形成する第二基板形成工程と、前記第二基板3及び前記剥離層2が形成された前記第一基板1の前記第二基板2上に固体素子4を形成する固体素子形成工程と、前記固体素子4、前記第二基板3、及び前記剥離層2が形成された前記第一基板1の前記第二基板3及び前記剥離層2のいずれか一方又は両方に外力を加えることで、前記第二基板3から前記剥離層2及び前記第一基板1を剥離する剥離工程と、を備えることを特徴とする固体素子4を有するデバイスの製造方法。 (もっと読む)


【課題】閾値電圧ばらつきを改善した半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】SOI基板を用いた半導体装置の製造方法において、活性層基板を酸化して埋め込み酸化膜4bを生成する工程と、支持基板3表面に、MOSトランジスタ1の閾値電圧を決定するためのチャネルドープ10を行う工程と、支持基板3と活性層基板5とを前記埋め込み酸化膜を介して貼り合せる工程と、活性層基板を部分的に除去し埋め込み酸化膜4aを露出させる工程と、埋め込み酸化膜4a上にゲート電極6aを形成する工程と、を含む半導体装置の製造方法とする。 (もっと読む)


【課題】可撓性を有する基板上に有機化合物を含む層を有する素子が設けられた半導体装置を歩留まり高く作製することを課題とする。
【解決手段】基板上に剥離層を形成し、剥離層上に、無機化合物層、第1の導電層、及び有機化合物を含む層を形成し、有機化合物を含む層及び無機化合物層に接する第2の導電層を形成して素子形成層を形成し、第2の導電層上に第1の可撓性を有する基板を貼りあわせた後、剥離層と素子形成層とを剥す半導体装置の作製方法である。 (もっと読む)


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