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国際特許分類[H01L27/00]の内容

電気 (1,674,590) | 基本的電気素子 (808,144) | 半導体装置,他に属さない電気的固体装置 (445,984) | 1つの共通基板内または上に形成された複数の半導体構成部品または他の固体構成部品からなる装置 (52,733)

国際特許分類[H01L27/00]の下位に属する分類

1つの共通絶縁基板上に形成された薄膜または厚膜受動素子のみからなるもの (10)
整流,発振,増幅またはスイッチングに特に適用される半導体構成部品を含むものであり,少なくとも1つの電位障壁または表面障壁を有するもの;少なくとも1つの電位障壁または表面障壁を有する集積化された受動回路素子を含むもの (38,321)
赤外線,可視光,短波長の電磁波または粒子線輻射に感応する半導体構成部品で,これらの輻射線エネルギーを電気的エネルギーに変換するかこれらの輻射線によって電気的エネルギーを制御するかのどちらかに特に適用されるもの (11,270)
少なくとも1つの電位障壁または表面障壁を有し,光放出に特に適用される半導体構成部品を含むもの (80)
異種材料の接合を有する熱電構成部品またはそれを有しない熱電構成部品を含むもの;熱磁気構成部品を含むもの
超電導を示す構成部品を含むもの (2)
圧電構成部品を含むもの;電歪構成部品を含むもの;磁歪構成部品を含むもの
電流磁気効果,例.ホール効果,を利用した構成部品を含むもの;同様な磁界効果を利用するもの (24)
整流,増幅,スイッチングをする固体構成部品で,電位障壁または表面障壁を有しないものを含む。
バルク負性抵抗効果構成部品を含むもの
能動部分として有機材料を用い,または能動部分として有機材料と他の材料との組み合わせを用いる構成部品を含むもの (2,779)

国際特許分類[H01L27/00]に分類される特許

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【課題】多くの半導体装置に必要な低温処理と両立しない高温操作を必要とするような欠点がない、半導体構造を提供することを目的とする。
【解決手段】下部誘電層(151)へ接合された基板(103)、および、下部電極(121)を通じて前記下部誘電層(151)と接合される垂直方向半導体装置(111)を含む半導体構造であって、前記垂直方向半導体装置(111)は、n−p−n層(124)を有する隔離構造(135)を含む。 (もっと読む)


【課題】配線層中の配線をゲート電極として使用し、かつ拡散防止膜と同一層にゲート絶縁膜を有している半導体素子を有する半導体装置において、拡散防止膜の機能を損なうことなく、半導体素子のオン抵抗を低くする。
【解決手段】第1配線層150を構成する絶縁層の表層には、第1配線154及びゲート電極210が埋め込まれている。第1配線層150と第2配線層170の間には、拡散防止膜160が形成されている。ゲート絶縁膜230は、拡散防止膜160のうちゲート電極210と重なる領域及びその周囲の上面に凹部を形成し、この部分を薄くすることにより、形成されている。 (もっと読む)


【課題】半導体チップ積層後に、チップごとにクラックの有無検出可能な半導体装置の提供。
【解決手段】積層半導体装置において、半導体チップ21〜24は、基板10とこの表裏面の対向する位置に形成した対のテスト端子と配線61を備える。これらは、一対の(表側)第1のテスト端子621h、(裏側)第1のテスト端子621t及び複数対の(表側)第2のテスト端子622〜625h、(裏側)第2のテスト端子622〜625tで、貫通電極TSVT1が(表側)第1のテスト端子と(裏側)第1のテスト端子を接続し、貫通電極TSVT2〜5が対の(表側)第2のテスト端子と(裏側)第2のテスト端子同士を接続し、配線は、一端が第1のテスト端子と、他端が第2のテスト端子の一つに接続され、基板の外周に沿って延びる。また異なる半導体チップの上下に隣接する第2のテスト端子同士も接続する。 (もっと読む)


【課題】 より信頼性の高い接合界面を有する半導体装置を提供する。
【解決手段】 半導体装置100を、第1半導体部と、第2半導体部とを備える構成とする。第1半導体部には、接合界面側の表面に形成されかつ第1の方向に延在する第1電極16を設ける。そして、第2半導体部には、接合界面で第1電極16と接合されかつ第1の方向と交差する第2の方向に延在する第2電極26を設ける。 (もっと読む)


【課題】内部に横型トランジスタが形成されたシリコン又はIV族アクティブダイの上面に、III−V族アクティブダイが積層された積層複合デバイスを製作する。
【解決手段】積層複合デバイスはIV族横型トランジスタ120と、IV族横型トランジスタの上に積層されたIII−V族トランジスタ110とを備える。IV族横型トランジスタのドレインがIII−V族トランジスタのソースと接触され、IV族横型トランジスタのソースがIII−V族トランジスタのゲート116に結合されて前記複合デバイスパッケージの上面の複合ソース102を与え、III−V族トランジスタのドレインが複合デバイスパッケージの上面の複合ドレイン104を与える。IV族横型トランジスタのゲート126が積層複合デバイスの上面の複合ゲート106を与え、IV族横型トランジスタの基板が積層複合デバイスの底面にある。 (もっと読む)


【課題】製造効率の向上、コストダウン、信頼性の向上を実現する。
【解決手段】第1導電型の第1電界効果トランジスタを第1基板に設ける。そして、第1導電型と異なる第2導電型の第2電界効果トランジスタを第2基板に設ける。そして、第1基板と第2基板とのそれぞれを対面させて貼り合わせる。そして、第1電界効果トランジスタと第2電界効果トランジスタとの間を電気的に接続させる。 (もっと読む)


【課題】半導体基体同士が張り合わされた構成を有する半導体装において、接合精度の向上を可能とする。
【解決手段】第1半導体基体31と、第2半導体基体45とを備え、第1半導体基体31の第1主面31A側と、第2半導体基体45の第1主面45A側が接合されている。そして、第1半導体基体31の第1主面31A側、第2半導体基体45の第1主面45A側、第1半導体基体31の第2主面31B側、及び、第2半導体基体45の第2主面45B側から選ばれる少なくとも1つ以上に形成されている反り補正層13,14を備える半導体装置79を構成する。 (もっと読む)


【課題】 より信頼性の高いCu−Cu接合界面を有する半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】 半導体装置1を、第1の配線18を含む第1半導体部10と、第1半導体部10と貼り合わせて設けられ、第1の配線18と電気的に接合された第2の配線28を含む第2半導体部20とを備える構成とする。さらに、半導体装置1は、酸素に対して水素よりも反応し易い金属材料と酸素とが反応して生成された金属酸化物17bを備える。そして、この金属酸化物17bを、第1の配線18及び第2の配線28の接合界面Sj、並びに、第1の配線18及び第2の配線28の少なくとも一方の内部を含む領域に拡散させた構成とする。 (もっと読む)


【課題】マイグレーションの問題を生じることなく、微細でアスペクトの高く絶縁特性に優れた絶縁膜を備えた貫通電極を有する素子付き基板、赤外線センサーおよび貫通電極形成方法を提供する。
【解決手段】予め、素子回路形成前のベース基板にビアホールを形成し、前記ベース基板の素子回路形成面と前記ビアホールの内面に熱酸化により絶縁膜を形成する熱酸化を行なう。前記熱酸化工程後に前記ビアホール形成部に導電部を有する素子回路を形成した後、前記素子回路形成工程後に前記ビアホールに導電体を埋め込み形成するようにしている。 (もっと読む)


【課題】基板を貫通するトレンチによって複数の部分領域に分割されてなる領域分割基板およびそれを用いた半導体装置ならびにそれらの製造方法であって、部分領域の側壁に導電層を形成するメリットだけを享受して、該導電層の形成に伴う悪影響を排除することのできる領域分割基板およびそれを用いた半導体装置ならびにそれらの製造方法を提供する。
【解決手段】基板30の第1表面S1から第2表面S2に亘って、当該基板30を貫通するように形成されたトレンチ31aによって、当該基板30が複数の部分領域Ce,Cea〜Ced,Cek,Celに分割され、前記複数の部分領域のうち、一部の部分領域Cea〜Cedの側壁に、第1表面S1の側から第2表面S2の側に亘って、当該基板30より高い導電率を有する導電層35が形成され、トレンチ31aに絶縁体31bが埋め込まれてなる領域分割基板A20とする。 (もっと読む)


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