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国際特許分類[H01L27/00]の内容

電気 (1,674,590) | 基本的電気素子 (808,144) | 半導体装置,他に属さない電気的固体装置 (445,984) | 1つの共通基板内または上に形成された複数の半導体構成部品または他の固体構成部品からなる装置 (52,733)

国際特許分類[H01L27/00]の下位に属する分類

1つの共通絶縁基板上に形成された薄膜または厚膜受動素子のみからなるもの (10)
整流,発振,増幅またはスイッチングに特に適用される半導体構成部品を含むものであり,少なくとも1つの電位障壁または表面障壁を有するもの;少なくとも1つの電位障壁または表面障壁を有する集積化された受動回路素子を含むもの (38,321)
赤外線,可視光,短波長の電磁波または粒子線輻射に感応する半導体構成部品で,これらの輻射線エネルギーを電気的エネルギーに変換するかこれらの輻射線によって電気的エネルギーを制御するかのどちらかに特に適用されるもの (11,270)
少なくとも1つの電位障壁または表面障壁を有し,光放出に特に適用される半導体構成部品を含むもの (80)
異種材料の接合を有する熱電構成部品またはそれを有しない熱電構成部品を含むもの;熱磁気構成部品を含むもの
超電導を示す構成部品を含むもの (2)
圧電構成部品を含むもの;電歪構成部品を含むもの;磁歪構成部品を含むもの
電流磁気効果,例.ホール効果,を利用した構成部品を含むもの;同様な磁界効果を利用するもの (24)
整流,増幅,スイッチングをする固体構成部品で,電位障壁または表面障壁を有しないものを含む。
バルク負性抵抗効果構成部品を含むもの
能動部分として有機材料を用い,または能動部分として有機材料と他の材料との組み合わせを用いる構成部品を含むもの (2,779)

国際特許分類[H01L27/00]に分類される特許

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【課題】正確な読み出しを実行可能な不揮発性半導体記憶装置を提供する。
【解決手段】不揮発性半導体記憶装置は、メモリトランジスタMTr1〜8が直列に接続された複数のメモリストリングMSと、メモリストリングMSの一端に一端を接続されたドレイン選択トランジスタSDTrと、複数のドレイン側選択トランジスタSDTrの他端に共通接続されたローカルビット線LBLと、ローカルビット線LBLに一端を接続されたスイッチ回路SWと、複数のスイッチ回路SWの他端に共通接続されたグローバルビット線GBLとを備える。メモリストリングMSは、柱状部を含むU字状半導体層と、柱状部の側面を取り囲むように形成された電荷蓄積層と、電荷蓄積層を取り囲むように形成されたワード線導電層とを備える。 (もっと読む)


【課題】例えばガラス基板の反りの発生を抑制し、信頼性の高い半導体装置用基板を効率的に製造する。
【解決手段】半導体装置用基板の製造方法は、第1素子基板(200a)と第2素子基板(200b)とを、第1基板(20a)における第1半導体素子(30a)が形成された面と、第2基板(20b)における第2半導体素子(30b)が形成された面とが互いに対向するように配置し、接着材(500)を介して互いに貼り合わせる貼合工程と、貼合工程の後に、第1基板における第1半導体素子が形成されていない面、及び第2基板における第2半導体素子が形成されていない面に対して薄板化処理を施す薄板化工程とを含む。更に、第1及び第2基板の各々に支持基板(11)を貼り付ける支持基板貼付工程と、第1及び第2素子基板から接着材を剥離することにより、第1及び第2素子基板を互いに分離する分離工程とを含む。 (もっと読む)


【課題】回路面積が小さい、またはトランジスタの劣化を防止するよう形成された、有機トランジスタと無機トランジスタとを備えた半導体装置を提供する。
【解決手段】本発明の一形態の半導体装置としてのCMOS回路は、(a)基板100と、(b)有機半導体層106aを含むp型有機トランジスタPTと、(c)p型有機トランジスタPTの上層に設けられた無機半導体層126aを含むn型無機トランジスタNTと、を備える。さらに、n型無機トランジスタNTのチャネル領域126は、p型有機トランジスタPTのチャネル領域106と、平面視において少なくとも部分的に重なっている。 (もっと読む)


【課題】回路部の上部にメモリ部を形成し、回路部が高温にさらされても回路部の配線層やコンタクトが劣化しない不揮発性半導体記憶装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】不揮発性半導体記憶装置は、半導体基板11と、メモリ部MUと、半導体基板とメモリ部との間の回路部CUと、を備える。メモリ部は、半導体基板の主面11aに垂直な第1方向に交互に積層された複数の電極膜WLと複数の絶縁膜14とを有する積層構造体MLと、積層構造体を第1方向に貫通する半導体ピラーSPと、電極膜と半導体ピラーとの交差部に対応して設けられた記憶部43と、を有す。回路部は、それぞれ第1、第2導電型のソース/ドレイン領域を有する第1、第2トランジスタ51n、51pと、シリサイドを含む第1配線W1と、ソース/ドレイン領域と同じ導電型のポリシリコンからなるコンタクトプラグC1、C2と、を有す。 (もっと読む)


【課題】高集積化が容易な積層メモリ素子を提供する。
【解決手段】本願発明の積層メモリ素子は、基板と、基板上に互いに積層された、少なくとも1層のメモリ層をそれぞれ含む複数のメモリグループと、該複数のメモリグループのうち、複数の隣接した2つのメモリグループ間に介在する複数のXデコーダ層と、前記複数の隣接した2つのメモリグループ間に、複数のXデコーダ層と交互に介在される複数のYデコーダ層と、を具備する積層メモリ素子である。 (もっと読む)


【課題】転写技術を改良し、低コストで3次元実装された半導体チップを提供する。
【解決手段】半導体層3を貫通する貫通電極4と、集積回路7と、を有する半導体チップの製造方法であって、分離層2と分離層上に形成された半導体層3とを有する第1の基板1を用意する工程と、半導体層に集積回路を形成する工程と、半導体層に分離層には到達しない深さを有する穴又は溝4を形成する工程と、穴又は溝に導電体を充填する工程と、半導体層に第2の基板11を貼り合わせて貼り合わせ構造体を得る工程と、貼り合せ構造体を分離層で分離することにより、半導体層が移設された第2の基板を得る工程と、分離されて露出した半導体層の裏面側部分の少なくとも一部を除去して、導電体の底部を露出させる工程と、を含む。 (もっと読む)


【課題】CMOS回路におけるラッチアップの発生を防止すること。
【解決手段】CMOS回路10では、Nチャネルトランジスタ11とPチャネルトランジスタ12とがそれぞれ別の基板1A、1B上に形成され、両基板1A、1B上のトランジスタ11、12が互いに向き合わせて接続されている。CMOS回路10によれば、Nチャネルトランジスタ11とPチャネルトランジスタ12の間に寄生トランジスタによる電流パスが形成されないため、ラッチアップの発生を完全に防止できる。 (もっと読む)


【課題】それぞれの性能を十分に発揮して高性能化を図り、且つ量産性、コスト低減を図った、固体撮像装置等の半導体装置とその製造方法、前記固体撮像装置を備えたカメラ等の電子機器を提供するものである。
【解決手段】本発明の半導体装置は、それぞれ半製品状態の画素アレイ及びロジック回路を備えた第1及び第2の半導体ウェハの貼り合わせ、第1の半導体ウェハの薄膜化、画素アレイ及びロジック回路間の電気的接続がなされる。その後、完成品状態にしてチップ化して、裏面照射型の固体撮像装置として構成される。 (もっと読む)


【課題】 いわゆる後工程に分離プロセスを適用し、低コストで3次元実装された半導体装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】 第1の半導体基板11の表面側に複数の第1の集積回路17を作製する工程、第2の半導体基板1に設けられた分離層2上に形成された半導体層3に、前記第1の集積回路よりチップサイズが小さい第2の集積回路7を作製する工程、2つの半導体基板を接合部同士が接合するように貼り合せ、貼り合わせ構造体を得る工程、前記貼り合せ構造体から前記半導体層3を分離することにより、前記第2の集積回路が作製された半導体層3を前記第1の半導体基板11に移設する工程、前記第2の集積回路が移設された前記第1の半導体基板11をダイシングして、前記第1の集積回路と前記第2の集積回路とを有する積層チップを得る工程、とを含む半導体装置の製造方法である。 (もっと読む)


【課題】 本発明の課題は、積層型半導体装置において積層実装される複数のプロセッサコアや演算実行ブロックへの処理投入を分散させ放熱による影響を低減することを目的とする。
【解決手段】 上記課題は、各レイヤに配置される複数の処理ブロックと、動作中の処理ブロックによる活性状態が分散するように処理ブロックへの処理投入を管理する管理ブロックとを有することを特徴とする積層型半導体装置により達成される。 (もっと読む)


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