【課題】通信障害の発生を抑えつつ、戻り光による測定および可視光による測定の作業効率を改善することができる光パルス試験器を実現することにある。
【解決手段】被測定光ファイバに不可視光のパルス光を出射し、このパルス光の戻り光を受光部が受光して被測定光ファイバの測定を行ない、被測定光ファイバの障害点の目視用の可視光を被測定光ファイバに出射する光パルス試験器に改良を加えたものである。本装置は、不可視光および可視光を被測定光ファイバに出射する入出射ポートと、不可視光のパルス光が出射されていない状態で、入出射ポートを介して入射された光を受光した受光部の光パワーによって被測定光ファイバの現用光の存在を判定する出力判定部とを設けたことを特徴とするものである。 （もっと読む）

【課題】光パルス試験器の光送受信モジュールにおいて低コストかつ効果的で実際の調整作業も簡単な迷光除去のための手段を提供する。
【解決手段】光送受信モジュール５は、ＬＤ６と、光を受けて信号を出力するＡＰＤ７と、光入出部２と、ＬＤからの光を光入出部に導くとともに光入出部から入った光線路１からの戻り光をＡＰＤへ導く光結合器３と、光結合器とＡＰＤの間の集光レンズ12,10 と、光結合器とＡＰＤの間のフェルールを有している。光線路に対して光を出射した際に該光線路で反射して帰ってくる戻り光は、光結合器で反射し、フェルールを経由してＡＰＤが受けるので、ＡＰＤには迷光が入りにくい。 （もっと読む）

【課題】ＯＴＤＲ波形上のイベントの内容を容易に把握できる光パルス試験器を提供する。
【解決手段】光パルス試験器は、試験対象の光ファイバ２１への光パルスの入射に伴う光ファイバ２１からの反射戻り光のレベルに基づいて算出した光ファイバ２１の損失分布特性をＯＴＤＲ波形として表示部１３に表示するものであり、表示部１３のメインウィンドウ１３ａへのＯＴＤＲ波形の表示とともに、ＯＴＤＲ波形上に現れたイベントの内容を説明するためのイベント毎に独立したサブウィンドウ１３ｂを、イベントと該イベントに対応したサブウィンドウ１３ｂとの関係が認識可能なようにメインウィンドウ１３ａ上に表示する機能を有する。 （もっと読む）

【課題】試験光及び戻り光と、モニタ通信光とを単体で送受光して、光パルス試験器（ＯＴＤＲ）の小型化を図る。
【解決手段】モニタ通信光を受光するとともに、ＰＯＮ内の光ファイバ６の障害検知のために短い波長の試験光を送受光する光モジュール２１が、試験光を出射する半導体コリメータ３１と、その戻り光を受光するＡＰＤ３２と、モニタ通信光を受光するＰＤ３３と、モニタ通信光と戻り光が入射し、半導体コリメータ３１からの試験光を光ファイバ６に出射する入射部３４と、入射部３４からのモニタ通信光をＰＤ３３に出射し、戻り光を他の光路４４に分離して出射し、且つ半導体コリメータ３１からの試験光を入射部３４に出射するダイクロイックミラー３５と、半導体コリメータ３１からの試験光をダイクロイックミラー３５に出射し、ダイクロイックミラー３５によって分離された戻り光をＡＰＤ３２に出射するハーフミラー３６とからなる。 （もっと読む）

【課題】 距離基準点をダミーファイバの終端位置に自動的かつ高精度に設置するＯＴＤＲ装置を提供する。
【解決手段】 ダミーファイバを介して被測定光ファイバへ光パルスを出射し、この光パルスに応じて前記被測定光ファイバから得られる戻り光を受信して前記戻り光の強度の時間変化を求めるＯＴＤＲ装置において、
前記被測定光ファイバから得られる戻り光を受信する波形取得部と、
この波形取得部で取得した波形のうち前記ダミーファイバのファイバ長付近を検索し、イベントを検出する検索実行部と、
前記検索実行部で検出されたイベントの位置に被測定ファイバの距離基準点を設定する基準位置設定部と
を備える。
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【課題】ダミー光のオンとオフを切り替えることができるコヒーレントＯＴＤＲを提供する。
【解決手段】パルス化および周波数変調されたプローブ光Ｐ_Mを発生するプローブ光発生器１１と、プローブ光Ｐ_Mの波長と異なる波長のダミー光Ｄ_Mを発生するダミー光発生器１２と、プローブ光Ｐ_Mとダミー光Ｄ_Mとを重畳する光結合器１３と、光結合器１３によって重畳されたプローブ光Ｐ_Mとダミー光Ｄ_Mとの重畳光Ｍを増幅して光海底ケーブルシステム１００の光ファイバに送出する光ファイバ増幅器１４と、光ファイバ増幅器１４の後段に設置され、その透過帯域がプローブ光Ｐ_Mの波長を含む光フィルタ１５と、光ファイバ増幅器１４で増幅された重畳光Ｍのダミー光Ｄ_Mの成分の遮断あるいは透過を選択する選択信号Ｓとしてダミー光Ｄ_Mの波長を制御する制御信号を発生する指示部１６とを含む。 （もっと読む）

【課題】光パワーレベルの不連続性が低減された合波光信号を送出することができるコヒーレントＯＴＤＲを提供する。
【解決手段】波長λ₁のプローブ光Ｐを発するプローブ光光源１１と、波長λ₂のダミー光Ｄを発するダミー光光源１２と、制御電圧信号Ｖ_Cに応じた減衰率でプローブ光Ｐおよびダミー光Ｄの少なくとも一方の光ピークパワーを減衰する減衰器１４ａ、１４ｂと、プローブ光Ｐをパルス化するとともに光周波数変調して波長λ₁＋Δλ（≠λ₂）の変調プローブ光信号Ｐ_Mを生成するＡＯＭ１５と、ダミー光Ｄをパルス化して変調ダミー光信号Ｄ_Mを生成するパルス変調器１６と、減衰器１４ａ、１４ｂに制御電圧信号Ｖ_Cを与えて変調プローブ光信号Ｐ_Mの光ピークパワーと変調ダミー光信号Ｄ_Mの光ピークパワーとのレベル差を所望値以下に調整するレベル調整部１８とを含む。 （もっと読む）

【課題】光サージ現象の発生を低減するとともに、通信中に伝送特性の測定を行う際に通信用の光信号に対するＥＤＦＡのゲイン低下を抑えることができるコヒーレントＯＴＤＲを提供する。
【解決手段】波長λ₁のプローブ光Ｐを発するプローブ光光源１１と、波長λ₂のダミー光Ｄを発するダミー光光源１２と、プローブ光Ｐをパルス化するとともに光周波数変調して波長λ₁＋Δλ（≠λ₂）の変調プローブ光信号Ｐ_Mを生成するＡＯＭ１５と、ダミー光Ｄをパルス化して変調ダミー光信号Ｄ_Mを生成するパルス変調器１６と、変調プローブ光信号Ｐ_Mと変調ダミー光信号Ｄ_Mを合波する光結合器１７と、光結合器１７によって合波された変調プローブ光信号Ｐ_Mと変調ダミー光信号Ｄ_Mとの合波光信号Ｍを増幅し、光ファイバに出射するＥＤＦＡ１８とを含む。 （もっと読む）

【課題】通信に影響を与えることなく、簡単な手間、構成で測定を行うことができる光パルス測定器を提供する。
【解決手段】パルス光源４からパルス光を発光する前に、所定の一定時間の間、受光部５で受光した光ファイバ２からの光の受光レベルを平均化部６で加算平均化処理を行い、加算平均化された受光レベルが、所定の閾値をこえた場合には、光ファイバ２が通信中であると判断し、パルス光源４からのパルス光の発光を禁止して、パルス光による測定を終了し、加算平均化された受光レベルが、所定の閾値以下の場合には、光ファイバ２が通信中でないと判断し、パルス光源４からのパルス光の発光を開始して、パルス光による測定を実施する光パルス測定器。 （もっと読む）

【課題】光パルス試験装置のダイナミックレンジを拡大すること。
【解決手段】試験光源としての半導体レーザ（ＤＦＢ−ＬＤ）を複数備え、これらＤＦＢ−ＬＤ２−１〜２−Ｎの出力波長を互いに異ならせる。また、ＤＦＢ−ＬＤ２−１〜２−Ｎの出力光強度を、被試験ファイバ１８において誘導ブリルアン散乱を生じない程度にまで抑えるとともに、各出力光（試験光）を波長多重することでトータルの試験光パルスの強度を増加させる。 （もっと読む）

【課題】周囲温度の変化に拘わらず後方散乱光を受光する受光部の受光感度を所望の受光感度にすることができる光パルス試験装置及びその調整方法を提供する。
【解決手段】光パルス試験装置１は、光パルスを射出するレーザ素子１３と、光パルスを試験対象の光ファイバ３０に入射して得られる後方散乱光を受光する受光部１６とを備え、受光部１６から出力される受光信号に対して所定の演算処理を施して光ファイバ３０の特性を試験する。この光パルス試験装置１は、特性が既知であって光ファイバ３０に接続される検出ファイバ１５と、検出ファイバ１５からの後方散乱光を受光部１６で受光して得られる受光信号の受光レベルが所定のレベルとなるように受光部１６の感度を制御するバイアス制御部２１とを備える。 （もっと読む）

【課題】測定結果のファイルへの保存を短時間で正確に行なえる光パルス試験器を実現することにある。
【解決手段】被測定光ファイバに出射したパルス光の戻り光によって被測定光ファイバの測定を行ない、測定結果を表示画面に表示し、測定結果をファイルとして保存する光パルス試験器に改良を加えたものである。本装置は、被測定光ファイバの測定中、測定結果を保存するファイル名を表示画面に表示することを特徴とするものである。 （もっと読む）

【課題】迷光をカットして有効受光領域外への入射を低減させる双方向光モジュールを提供する。
【解決手段】本発明の双方向光モジュール１００は、光ファイバ７３に光を出射し、光ファイバ７３から戻り光が入射されるモジュールであって、光ファイバ７３に入射する光を発する発光素子１１０、１３０と、光ファイバ７３から出射された光を受光する受光素子１９０と、光ファイバ７３から出射された光を受光素子１９０に導く合分岐素子１６０と、を備える。そして、受光素子１９０は、光が入射する境界面１９１ａと光を受光する受光部１９７との間に高屈折率媒体である基板１９１が介在されていることを特徴とする。これにより、基板１９１を進行した戻り光が結合する位置と迷光が結合する位置との距離ｄ’は真空中を進行した場合の距離ｄと比較して大きくなり、受光部１９７に結合する迷光を低減することができる。 （もっと読む）

【課題】ゴーストを発生させずに高い光源安定度を有する双方向光モジュールを提供する。
【解決手段】本発明の双方向光モジュール１００は、光ファイバに光を出射し、前記光ファイバから戻り光が入射されるものであって、光ファイバに入射する光を発する複数の発光素子１１０、１３０と、光ファイバから出射された光を受光する受光素子１９０と、複数の発光素子１１０、１３０から発せされた光を合波して光ファイバに導く合分波素子１５０と、発光素子１１０、１３０と合分波素子１５０との間に設けられ、発光素子１１０、１３０側から合分波素子１５０側に向かう方向にのみ光を通過させる光アイソレータ１２５、１４５と、光ファイバから出射された光を受光素子１９０に導く合分岐素子１６０と、を備える。 （もっと読む）

【課題】本発明の課題は、フレネル反射発生部の近傍において、そのフレネル反射の影響を排除し、誤差の少ないブリルアン周波数シフトを測定するブリルアン周波数シフト測定方法を提供することにある。
【解決手段】本発明は、被測定光ファイバ３で発生した後方ブリルアン散乱光を受光部４で受光し、フレネル反射発生部近傍でのブリルアン周波数シフトを測定するブリルアン周波数シフト測定方法であって、被測定光ファイバ３中のフレネル反射強度比をＲ、ブリルアン散乱損失係数をα、後方ブリルアン散乱光受光係数をＳ、フレネル反射発生部近傍からの距離で表した測定範囲長をＬ、ブリルアン周波数シフトをν_Ｂとしたときに、
αＳＬ≧Ｒ・Δｆ^２／〔４・（ν_Ｂ）^２＋Δｆ^２〕
を満たすΔｆのスペクトル線幅の光源１を用いることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】反射係数の小さい戻り信号を良好に検出でき、インパルス応答の測定精度を向上させる。
【解決手段】所定長の擬似ランダムパルス信号Ｓｐを生成するパルス生成部２と、この擬似ランダムパルス信号Ｓｐにおける第１周期の中間の所定ビットから次の第２周期の所定ビットの１つ前のビットまでの所定長の特定擬似ランダムパルス信号Ｓｓを遅延させて内部遅延パルス信号Ｓ０〜Ｓｎ＋１（内部遅延パルス信号Ｓ０は特定擬似ランダムパルス信号Ｓｓでもある）として出力する遅延部６と、内部遅延パルス信号Ｓ０〜Ｓｎ＋１と戻り信号Ｓｒとの各相互相関を演算して相関係数値Ｄ０〜Ｄｎ＋１を算出する演算部７と、相関係数値Ｄ０〜Ｄｎ＋１のうちの特定の相関係数値Ｄｎ＋１を他の相関係数値Ｄ０〜Ｄｎから減算した補正後相関係数値に基づいてインパルス応答特性を測定する処理部８とを備えている。 （もっと読む）

【課題】インパルス応答の測定精度を向上し得る光伝送路測定装置を提供する。
【解決手段】所定長の擬似ランダムパルス信号Ｓｐを１周期以上連続して生成可能に形成されたパルス生成部２と、この擬似ランダムパルス信号Ｓｐにおける第１周期の中間の所定ビットからこの擬似ランダムパルス信号Ｓｐに続けて生成される次の第２周期の擬似ランダムパルス信号Ｓｐにおける所定ビットの１つ前のビットまでの所定長の特定擬似ランダムパルス信号Ｓｓを遅延させて内部遅延パルス信号Ｓ０〜Ｓｎ（内部遅延パルス信号Ｓ０は特定擬似ランダムパルス信号Ｓｓでもある）として出力する遅延部６と、内部遅延パルス信号Ｓ０〜Ｓｎと戻り信号Ｓｒとの各相互相関を演算して相関係数値Ｄ０〜Ｄｎを求める演算部７と、各相関係数値Ｄ０〜Ｄｎに基づいて光伝送路１０のインパルス応答特性を測定する処理部８とを備えている。 （もっと読む）

【課題】光ファイバに伸縮が生じている場合であっても光伝送線路の異常を正確に検出することを可能とする光伝送線路監視装置を提供する。
【解決手段】光伝送線路監視装置１において、判定部１５は、正常時測定情報に含まれる距離と光強度値とから形成される波形の中で少なくとも１つの波形のピークを含む波形部分を検出する。また、判定部１５は、監視対象の測定情報の波形の中で、正常時測定情報から検出した基準波形に相当する波形部分を補正領域内で検出し、検出した２つの波形部分の位置関係を、監視対象の測定情報のそのほかの波形部分へ適用して補正する事で距離の値に依存せずに異常検出を行う。また、監視対象測定情報の波形の中で、基準波形に相当する波形部分が補正領域内で検出されない場合は、別の基準波形に基づいて補正し、異常検出を行う。 （もっと読む）

【課題】筐体に力が加わっても光軸ずれが少なく小型化も図れる双方向光モジュールおよび光パルス試験器を実現することにある。
【解決手段】光を出射する光源と入射光を受光する受光部と光ファイバとが筐体の側面に取りつけられ、基板に実装される双方向光モジュールに改良を加えたものである。本モジュールは、筐体の底面の一部に、基板に接触させて固定するための凸部を設けたことを特徴とするものである。 （もっと読む）

【課題】Ｓ／Ｎの低下を招くことなく、Ａ／Ｄ変換処理部に続くハードウエア、ソフトウエアの資産を無駄にすることなく、安価なパイプライン方式のＡ／Ｄ変換器を用いた場合であっても、過大入力時のＡ／Ｄ変換器のノイズ発生を防止できるようにする。
【解決手段】パルス光源１１から出射された光パルスを光ファイバ１の一端側に入射し、その一端側に戻ってくる光を受光器１３に入射させ、受光器１３の出力信号をＡ／Ｄ変換部２５に入力してＮビット（Ｎは複数）のデジタル信号に変換し、そのＮビットのデジタル信号に対する処理を行い、光ファイバ１の伝送特性を測定する光パルス試験装置において、Ａ／Ｄ変換部２５は、Ｎビットに対してＡビット（Ａは整数）分だけ余裕の桁数を持ち、入力信号をＮ＋Ａビットのデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器２６と、そのＮ＋Ａビットのデジタル信号をＮビットに圧縮するデータ圧縮手段２７とを有している。 （もっと読む）