【課題】波長固定の分岐器を介して接続したＷＤＭ−ＰＯＮシステムの障害検知を、インサービスの状態で実現できるようにする。
【解決手段】線路カプラ２１を介してＷＤＭ−ＰＯＮシステムの共通光ファイバ線路１７を伝送する信号光Ｐｃを受け、信号光スペクトラム検出部３０によってそのスペクトラムを検出する。制御部５０は、そのスペクトラム検出結果に基づいて、共通光ファイバ線路１７を伝送していない信号光波長があれば、それを試験波長と決定して、その試験波長による測定を光反射測定部４０に指示する。光反射測定部４０は、試験波長の光パルスＰｏを共通光ファイバ線路１７へ入射し、その光パルスＰｏに対するＷＤＭ−ＰＯＮシステムからの戻り光Ｐｒを受光して、共通光ファイバ線路１７から試験波長に対応した個別光ファイバ線路１８に至る光路の伝送損失特性を求める。 （もっと読む）

【課題】光パルス試験の最中に、試験対象の光ファイバ線路を伝送する通信光等の外乱光のレベル監視を定常的に行い、測定誤りを防ぎ、光通信器の故障させないようにする。
【解決手段】パルス光源２１から光パルスＰｏを光ファイバ線路１に出射してから第１期間の間に第１のカプラ２２に戻ってくる光を第２のカプラ２３に入射させ、その第２のカプラ２３から高い透過率で出射する第１の光成分Ｐｂを特性算出手段３１へ入射して光ファイバ線路１の特性検出に必要な処理を行う。また第１期間が経過してから次の光パルス出射までの第２期間に、第２のカプラ２３から低い透過率で出射される第２の光成分Ｐｃを強度検出手段３２に入射してその強度Ｗｘを検出し、比較手段３３で基準値Ｗｒと比較する。制御手段３５は、この比較結果に基づいて光パルス試験に必要な光パルスの出射と特性算出処理の中断、再開の制御を行う。 （もっと読む）

【課題】測定効率を向上させ、波長変化がなく、低コストに構成できるようにする。
【解決手段】パルス光源２１から出射された光パルスＰｏは、カプラ２２を介して光ファイバ線路１に入射され、その戻り光Ｐａがカプラ２２からカプラ２３に入射されて戻り光成分Ｐｂ、Ｐｃに分岐され、受光器２５、２６にそれぞれ入射する。信号処理部３０は、光パルスＰｏ出射時から一定時間が経過するまでの期間に、受光器２５、２６が出力する信号Ｖｂ、Ｖｃを受けて光ファイバ線路１の特性を求める。ここで、戻り光Ｐａの強度範囲を、遠端のレイリー散乱光成分のレベルを含む低レベル領域と、全反射成分のレベルを含む高レベル領域とに分け、受光器２５の出力信号Ｖｂ中の低レベル領域の戻り光成分および受光器２６の出力信号Ｖｃ中の高レベル領域の戻り光成分が共にノイズレベルより高く且つ非飽和となるように、光パルスの強度、第２のカプラ２３の分岐比、受光器２５、２６の利得が設定されている。 （もっと読む）

【課題】単色性に優れた複数の波長の光パルスを連続して高速で生成でき、小型且つ安価で計測器への組み込みが容易な光パルス発生器およびそれを用いた光計測器を提供する。
【解決手段】光を発する発光素子１と、光の波長を掃引する波長掃引手段２を有し、出力光の波長を周期的に変化させる波長掃引光源３と、波長掃引光源３の出力光を受光する第１および第２の受光器７、１１と、波長掃引光源３の出力光の波長が周期的に掃引されている間、モードホップによって生じる第１の受光器７の出力信号の不連続変化を検出するモードホップ検出手段８と、該不連続変化がなくなるように発光素子１への注入電流を変化させる注入電流制御手段４と、波長掃引光源３の出力光を受光し、第２の受光器１１の出力信号をトリガ信号として、波長掃引光源３の出力光を所望の時間だけ透過させる光スイッチ９と、を備える。 （もっと読む）

【課題】複数の波長帯の光を発光可能であり、特に、複数の異なる波長帯の光を複数の縦モードで発振可能な半導体発光素子およびそれを用いた小型且つ低価格な光パルス試験器を提供する。
【解決手段】１．５５μｍ帯に利得波長λ₁を有する活性層１３ａと１．３μｍ帯に利得波長λ₂を有する活性層１３ｂが、光の導波方向に沿って光学的に結合されて、利得波長λ₁、λ₂の長さの順に直列に配置され、短い利得波長λ₂を有する活性層１３ｂ近傍、且つ、活性層１３ａと活性層１３ｂのバットジョイント結合部１９近傍に、短い利得波長λ₂のブラッグ波長を有する回折格子２０が形成された構成を有している。 （もっと読む）

【課題】本発明は、光ファイバの特性を測定する光パルス試験器において、背景光の影響を低減した測定を可能にすることを目的とする。
【解決手段】本発明は、所定のパルス幅の光パルスを光ファイバに出射する発光素子と、前記光ファイバからの光を受光し、ＡＰＤと、前記ＡＰＤの光−電気変換した出力を増幅する増幅回路と、指定された増倍率で前記ＡＰＤが動作するように直流バイアス電圧を前記ＡＰＤに印加するバイアス設定回路と、を備え、前記光ファイバからの反射光を受光して前記光ファイバの特性を測定する光パルス試験器において、前記光ファイバの特性を測定する前に前記増倍率を初期値に設定した上で前記増幅回路の出力する背景光のレベルを測定し、前記背景光のレベルの高低に応じて前記バイアス設定回路に増倍率を指定する処理回路をさらに備えることを特徴とする光パルス試験器である。 （もっと読む）

【課題】ＡＰＤの個別調整を省略できるとともに、より微弱な試験光の戻り光を検出することができる光パルス試験器を提供する。
【解決手段】ダミー光ファイバ１０を介して被測定光ファイバ５０に光パルスＰを出射するパルス光源１１と、光パルスＰの戻り光を電気信号に変換するＡＰＤ１２と、ＡＰＤ１２に逆バイアス電圧を印加するバイアス印加部１３と、ＡＰＤ１２の周辺温度Ｔ、ＡＰＤ１２を所定温度Ｔ₀において所望の増倍率で動作させるための逆バイアス電圧Ｖ_A（Ｔ₀）、予め定められた温度傾斜に基づいて、逆バイアス電圧の暫定値Ｖ₀（Ｔ）を算出する暫定バイアス設定部１６と、逆バイアス電圧Ｖ₀（Ｔ）がＡＰＤ１２に印加された状態におけるダミー光ファイバ１０からの戻り光の電気信号に基づいて、所望の増倍率を得るための逆バイアス電圧の補正値Ｖ（Ｔ）を算出する補正バイアス設定部１７と、を備える。 （もっと読む）

光学ネットワークにおいて波長依存性反射要素（ＨＲＤ）を波長から独立した事象から区別する方法であって、反射要素（ＨＲＤ）は、第１の所定の波長（λ₁）において高い反射性を有し、少なくとも１つの他の所定の波長（λ₂）においてはるかに低い反射性を有し、波長依存性反射要素（ＨＲＤ）を前記光路の第１のポジションに接続するステップと、前記反射要素から離れた位置において前記光路に接続された光時間領域反射率計（２２）を使用するステップと、前記第１の波長（λ₁）および前記第２の波長（λ₂）の光を前記光路に入射するステップと、前記光路から対応する後方反射光を検出し、そこから、前記ポイントからの光学距離の関数として、検出された後方反射光の前記第１の波長（λ₁）および前記第２の波長（λ₂）に対応する第１および第２のＯＴＤＲトレース（ＯＴＤＲ−λ₁、ＯＴＤＲ−λ₂）を取得するステップと、第１および第２のＯＴＤＲトレースを比較して、前記波長依存性反射要素に対応するピークを、前記波長から独立した反射要素に対応するピークから区別するステップと、前記波長依存性反射要素のパラメータの測定として、区別されたピークの少なくとも１つのパラメータ値を出力するステップとを含む、方法。 （もっと読む）

【課題】 ＯＴＤＲに使用されるアンプの保有するノンリニアリティの影響を受けずに、より正確な測定が可能なＯＴＤＲノンリニアリティ補正方法を得る。
【解決手段】 基準光ファイバの一方の端から試験光を入射して後方散乱光出力に対するＯＴＤＲ特性Ｆ１２を測定すると共に、その直線近似データＴを算出し、これらのＯＴＤＲ特性Ｆ１２と直線近似データＴとから差分データΔＴａ，ΔＴｂを算出し、測定対象光ファイバに対して測定したＯＴＤＲ特性を前記差分データΔＴａ，ΔＴｂで補正する。 （もっと読む）

【課題】損失分布特性の波形と波形上に現れるイベントの解析結果を同時に表示する場合に、短時間で精度よくイベントの解析を行うことが出来る光パルス試験器を実現する。
【解決手段】
表示手段の表示分解能に応じた表示データを作成する表示データ作成手段とを備えた光パルス試験器において、表示データ作成手段で作成した表示データに基づいて仮の損失分布変極点を検出し、仮の損失分布変極点近傍の測定データに基づいて真の損失分布変極点を特定するとともに真の損失分布変極点を含むイベントを解析する解析手段を備えた。 （もっと読む）

【課題】分岐損失が大きく、しかも長尺のファイバであっても、簡易な構成で、高距離分解能かつ高感度に測定できるようにする。
【解決手段】コヒーレントな光でその光周波数が時間とともに変化する周波数掃引光Ｐｂをプローブ光Ｐｃと参照光Ｐｄに分岐し、プローブ光Ｐｃを被測定光ファイバ１に入射するとともにその戻り光Ｐｅを受ける。参照光Ｐｄはパルス変調器３１によりパルス化され、その参照光パルスＰｆが光ループ遅延器３３のループ状光路内を周回し、所望の周回分遅延した参照光パルスＰｆ（ｊ）が光ゲート３６を通過して、戻り光Ｐｅと合波され、その合波光Ｐｇが受光器４１に入射され、両光のビート成分Ｅが得られる。参照光パルスＰｆ（ｊ）の周回数は制御部５０によって設定されており、ビート成分Ｅの周波数とその参照光パルスＰｆ（ｊ）の周回数とに基づいて被測定光ファイバ１の反射位置を特定することができる。 （もっと読む）

【課題】背景光が過大である場合においてもオフセット処理を適正に行うことができるとともに、より微弱な試験光の戻り光を検出することができる光パルス試験器を提供する。
【解決手段】被測定光ファイバ１０に光パルスＰを出射するパルス光源１１と、被測定光ファイバ１０からの光パルスＰの戻り光の光パワーレベルを電気信号に変換する受光器１２と、を備え、パルスタイミング信号Ｅ_Pおよびサンプルホールドタイミング信号Ｅ_SHを出力するタイミング発生器１３と、サンプルホールドタイミング信号Ｅ_SHに従って受光器１２からの出力信号の電圧レベルを保持し、保持された電圧レベルを有する電気信号を出力するサンプルホールド回路１４と、サンプルホールド回路１４から出力された電気信号を反転増幅する反転増幅器１５と、受光器１２の出力信号と反転増幅された電気信号とを加算する加算器１６と、を備える。 （もっと読む）

【課題】敷設された光ファイバ線路における障害点の位置を、安価で、且つ高い位置精度で正確に測定できる。
【解決手段】尖頭形パルスに変調した試験光を被測定光ファイバ６に出射する光源部１１と、被測定光ファイバ６からの戻り光から試験光の光信号のみを取り出すフィルタ手段１４と、フィルタ手段１４で取り出された試験光の光信号を光電交換する光検出手段１５と、光検出手段１５で光電変換された電気信号に基づき、被測定光ファイバ６の障害点位置の測定に関する処理制御を行う信号処理制御部１６とを備える。 （もっと読む）

【課題】デッドタイムを従来よりも短縮することにより、短期的な異常現象における異常個所をより確実に特定する。
【解決手段】監視対象である光線路に光パルスを照射すると共に当該光パルスによって得られる後方散乱光に基づいて測定データを生成する測定部３と、該測定部３の動作を制御すると共に、当該測定部３から取得した測定データに所定の演算処理を施すことにより光線路の異常個所を特定する演算処理部（４，５，６）とを備え、演算処理部（４，５，６）は、測定部３から測定データを取得すると、測定部３に次の測定の開始を指示する。 （もっと読む）

【課題】光スプリッタ下流における個別の分岐ファイバの状態を、低コストで精密に測定可能とすること。
【解決手段】まず最長の分岐ファイバにおいて、試験光パルスがＦＢＧ型光フィルタで反射されることで生じる後方散乱光波形、すなわち折り返し波形の波形データをもとにその分岐ファイバ単独での後方散乱光情報を復元する。そしてこの復元情報をもとに、次に長い分岐ファイバの単独での後方散乱光情報を復元する。このようにして順次、長い分岐ファイバから短い分岐ファイバへと個別の後方散乱光情報を演算し復元することにより、全ての分岐ファイバの単独での後方散乱光情報を復元する。 （もっと読む）

【課題】使用環境や経時変化によらず、光パルスの出力パワーの安定化を図る光パルス試験器および光パルス試験器の光パワー安定化方法を実現することにある。
【解決手段】レーザ素子が被測定光ファイバに光パルスを出射し、この光パルスの戻り光を受光素子が受光し、この受光素子からの出力によって被測定光ファイバの測定を行なう光パルス試験器に改良を加えたものである。本装置は、レーザ素子と被測定光ファイバとの間に設けられる内蔵光ファイバと、所望の周期で受光素子の増倍度を設定する受光素子設定手段と、この受光素子設定手段によって設定された増倍度における内蔵光ファイバの戻り光の光パワーを保持する比較値保持手段と、この比較値保持手段の光パワーと受光素子設定手段の増倍度で新たに求めた光パワーとを比較し、レーザ素子が出射する光パルスの光パワーを変更させるレーザ素子設定手段とを設けたことを特徴とするものである。 （もっと読む）

【課題】ＬＤとＡＰＤの光路が分離された小型の光送受信モジュールを提供する。
【解決手段】本体２の第１取り付け面３の上方にＬＤ４が設けられ、反対面に第１フェルール６が設けられる。第１取り付け面の隣の第２取り付け面９の下方にＡＰＤ１０が設けられ、反対面に第２フェルール１２が設けられる。ＬＤからの光パルスは第１フェルール及び光カプラ７を経て被測定ファイバ８に入射され、戻り光は光カプラ及び第２フェルールを経てＡＰＤに入射し、その出力信号から光損失位置等が検出される。ＬＤの光路とＡＰＤの光路は本体内で完全に独立しており、ダイレクティビティの低下はなく、ＬＤとＡＰＤは本体の異なる面にそれぞれ余裕をもってＹＡＧレーザ溶接で取り付け可能である。 （もっと読む）

【課題】光ファイバに入射させる光パルスのパワーが変動する場合であっても波形歪みや雑音を抑制することができ、高い精度で試験を行うことができる光パルス試験装置を提供する。
【解決手段】光パルス試験装置１は、ゴーレイ符号を用いた符号変調が行われた光パルス列を生成するレーザ光源１２と、レーザ光源１２からの光パルス列を増幅するＥＤＦＡ１３と、ＥＤＦＡ１３により増幅された光パルス列を光ファイバ４０に入射させて得られる後方散乱光を受光する受光回路１７と、ＥＤＦＡ１３から出力される光パルス列のパワー変動に応じて受光回路１７から得られる受光信号のレベルを補正するレベル補正部３２と、レベルが補正された受光信号に対して相関処理を施すことにより復調を行う相関処理部３３とを備える。 （もっと読む）

【課題】高光出力かつ高感度を有するとともに小型化することの可能な双方向光モジュールを提供すること。
【解決手段】本発明の双方向光モジュール１００は、光ファイバ７に光を出射し、光ファイバ７から戻り光を入射させるものであって、光ファイバ７に入射する光を発する複数の発光素子１１０、１２０と、光ファイバ７から出射された光を受光する受光素子１７０と、発光素子１１０、１２０から光ファイバ７へ向かう順方向における光路と光ファイバ７から受光素子１７０へ向かう逆方向における光路とを相違させる非相反部１５０とを備える。このとき、複数の発光素子１１０、１２０から発せられた、光ファイバ７に入射する光の偏波面は互いに直交し、非相反部１５０は、複数の発光素子１１０、１２０から発せられ、光ファイバ７から受光素子１７０へ向かう戻り光を１つの受光素子１７０へ出射する。 （もっと読む）

【課題】光ファイバの一端において簡易に損失測定を行うことができる安価な光ファイバ検査装置を提供することを課題とするものである。
【解決手段】光ファイバ検査装置Aは、光ファイバ検査装置Ａは、被測定光ファイバＢの一端に接続される光分岐結合器１と、光分岐結合器１に接続される光源２及び受光部３と、受光部３の出力電圧を測定する測定部４とを備え、光分岐結合器１は、３つの端子を有するものであって、第１の端子１ａは光源２に接続される入力用端子であり、第２の端子１ｂは受光部３に接続される出力用端子であり、第３の端子１ｃは被測定光ファイバＢに接続され、第１の端子１ａから入力された光を第３の端子１ｃより被測定光ファイバＢへ出力し、被測定光ファイバＢより第３の端子１ｃを介して入力した光を第２の端子１ｂに接続されている受光部３へ出力するものであり、光源２は、発光する光パワーを一定にする制御部２ｃを有している。 （もっと読む）