【課題】光パルス試験装置において、光ファイバの偏波状態について測定できるようにする。
【解決手段】光パルスを被試験光ファイバに出射する光源と、被試験光ファイバからの後方散乱光と光源からのローカル光とを入力し、後方散乱光の時間的強度変化を利用して光ファイバの位置毎の伝送損失測定を行なうとともに、後方散乱光とローカル光との干渉を利用して後方散乱光の位相情報の時間的変化を演算することで被試験光ファイバの位置毎の偏波情報を測定するデジタルコヒーレントレシーバと、を備えた光パルス試験装置。 （もっと読む）

【課題】試験時間を短縮し、故障申告から回答までの時間を短縮できる光線路試験装置及び光線路試験方法を提供することを目的とする。
【解決手段】光線路試験装置３０１は、ＯＴＤＲ３１が接続されるポート５１、ＯＰＭ３２が接続されるポート５２、及びポート５１からの光とポート５２からの光を合波して出力するポート５３を有し、ポート５３から入力された光を波長λ１を含む光と波長λ２を含む光に分波してそれぞれポート５１とポート５２へ出力する光合分波器４５と、光ファイバ１０３に配置され、ＯＮＵ１１２側に対して光を入出力する第１ポート、及びＯＬＴ１１１側に対して光を入出力する第２ポートを有する光カプラ１６と、光合分波器４５のポート５３の接続先を光カプラ１６の第１ポートと第２ポートのいずれかに切り替えるファイバセレクタＦＳ１５と、を備える。 （もっと読む）

【課題】フィルタ次数が低いローパスフィルタを用いた場合であっても所望の周波数および波形を有する信号を高精度に生成することができるダイレクトデジタルシンセサイザ（ＤＤＳ）を提供する。
【解決手段】ＤＤＳ１００は、累積加算部１１０，位相加算部１２０および位相振幅変換部１３０等を備える。累積加算部１１０は、基準クロックclockが一定周期で指示する各タイミングで周波数指令値ｐを累積加算して、当該累積加算値を出力する。位相加算部１２０は、この累積加算値に位相オフセット値ｑを加算して、当該加算値Ｒを出力する。位相振幅変換部１３０は、この加算値Ｒを位相値とし、波形標本数Ｍ個のデジタル振幅値のうち、位相値Ｒを値Ｍで除算したときの剰余の値ｒに対応するデジタル振幅値を出力する。周波数指令値ｐと波形標本数Ｍとの最大公約数は周波数指令値ｐより小さい。 （もっと読む）

【課題】長距離伝送に用いるＳＭＦ用のものでありながら、ＭＭＦを用いた光伝送路の試験が簡易な構成で行えるようにする。
【解決手段】光カプラ２２から光源２１、コネクタ２３および受光器２５の間がＳＭＦ光路Ｆａ〜Ｆｃによって接続され、信号処理部３０には、試験対象の光伝送路１の光ファイバの種類を、ＳＭＦ、ＭＭＦのいずれかに指定させるファイバ種類指定手段３１ａと、ＳＭＦが指定されたとき、その屈折率を含む試験用のパラメータを指定させるＳＭＦパラメータ指定手段３１ｂと、ＭＭＦが指定されたとき、その屈折率を含む試験用のパラメータを指定させるＭＭＦパラメータ指定手段３１ｃとが設けられ、指定された光ファイバの屈折率を含むパラメータと戻り光Ｐｒの強度データとによって、指定された光ファイバからなる光伝送路１の距離に対する伝送特性を求めて表示部５０に表示する。 （もっと読む）

【課題】本発明は、短いダミーファイバを用いて長距離の被測定光ファイバのＯＴＤＲ測定を精度よく行うことのできる光パルス試験方法及び光パルス試験装置の提供を目的とする。
【解決手段】本発明は、パルス幅の狭い第１のパルス光Ｐ_Ｆ１がダミーファイバ１３で散乱された第１の戻り光Ｐ_Ｂ１の光レベルを測定する第１の測定手順Ｓ１０１と、パルス幅の広い第２のパルス光Ｐ_Ｆ２がダミーファイバ１３及び被測定光ファイバ１００で散乱された第２の戻り光Ｐ_Ｂ２の光レベルを測定する第２の測定手順Ｓ１０２と、第１のパルス幅、第２のパルス幅及び第１の戻り光の光レベルＰ_Ｂ１を用いて、第２のパルス光Ｐ_Ｆ２がダミーファイバ１３で散乱された被測定光ファイバが接続される側のダミーファイバ１３の端である入出力端の戻り光の光レベルを算出する入出力端戻り光レベル算出手順Ｓ１０３と、を順に有する。 （もっと読む）

【課題】本発明は、ＯＴＤＲ測定及び光強度測定を行うことの可能な光測定装置及び光ファイバ線路試験方法の提供を目的とする。
【解決手段】本願発明の光測定装置は、被測定光ファイバ１００のＯＴＤＲ測定を行う接続部１４と、レーザモジュール１２と、第１の受光器１５と、光カプラ１３と、ＯＴＤＲ測定部１８−１と、を備えた光測定装置において、第２の受光器２１と、第２の受光器２１で受光した光の光強度を測定する光強度測定部１８−２と、を備え、光カプラ１３は、接続部１４に入射された信号光Ｓ_１をレーザモジュール１２に出射し、当該信号光Ｓ_１がレーザモジュール１２で反射した反射光Ｓ_２を第２の受光器２１に出射し、光強度測定部１８−２は、信号光Ｓ_１の光強度を測定することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】光ファイバーでファイバーヒューズが発生した場合に、光ファイバーの損傷を抑制するために、容易にその発生を検知し、できるだけ早く措置を取れる様にする。
【解決手段】光パルス発生器と、その出力を光ファイバーに入射する光結合手段と、発生したファイバーヒューズによる戻り光を分岐する分岐手段と、戻り光から光パルスの戻り光を選択する盧波手段と、その出力光を光電変換する変換手段と、その出力を時間の関数として測定する測定手段と、その測定手段の出力で一方向に移動する特徴点を見出す信号処理手段と、このような特徴点を見出した場合に警報信号を発する警報手段と、を備える。この警報信号で、例えば、光伝送を中断して、損傷を抑制する。特徴点を見出すには、パルスの往復時間の変化を検出するか、シングルパルスやダブルパルスまたはマルチパルスの短縮を検知する。 （もっと読む）

【課題】本発明は、光パルスのパルス幅を変更することなくフレネル反射及びレイリー散乱の両方を測定することができる光線路監視装置及び光線路監視方法の提供を目的とする。
【解決手段】本願発明の光線路監視装置１０１は、幅の狭いパルス及び幅の広いパルスを有する光パルスＰ_ｆを発生して被測定光ファイバ１００に出力する光パルス発生部１１と、光パルス発生部１１からの光パルスが被測定光ファイバ１００で反射された戻り光Ｐ_ｂを、幅の狭いパルスのパルス幅に応じた第１の周波数帯域及び幅の広いパルスのパルス幅に応じた第２の周波数帯域で受光する受光部１３と、を備える。 （もっと読む）

【課題】複数の波長帯の光を発光可能であり、特に、複数の異なる波長帯の光を各々複数の縦モードで発振可能で、高出力且つ高歩留まりで製造可能な半導体発光素子およびそれを用いた小型且つ低価格な光パルス試験器を提供する。
【解決手段】１．５５μｍ帯に利得波長λ₁を有するＭＱＷ活性層１３ａと１．３μｍ帯に利得波長λ₂を有するＭＱＷ活性層１３ｂが、光の導波方向に沿って結合導波層１９を介して光学的に結合されて、利得波長λ₁、λ₂の長さの順に直列に配置され、結合導波層１９は１．３μｍより短い組成波長を有し、結合導波層１９近傍に、短い利得波長λ₂のブラッグ波長を有する回折格子２０が形成された構成を有している。 （もっと読む）

【課題】光線路長のデータを精度良く取得し、識別子に対応付けて光設備を判定する。
【解決手段】心線判定装置６０は、ＯＬＴ制御端末によって取得されるＯＬＴ１１とＯＮＵ２０−１〜２０−８それぞれとの間の応答遅延時間に基づいて、ＯＬＴ１１とＯＮＵ２０−１〜２０−８それぞれとの間の光線路長を算出する。また、心線判定装置６０は、光パルス試験制御端末５０を制御して光パルス試験装置３０による光パルス試験を実行させ、ＯＬＴ１１と光フィルタ２２−１〜２２−８それぞれとの間の光線路長を算出する。算出された光線路長はそれぞれ照合され、ＯＬＴ１１とＯＮＵ２０−１〜２０−８それぞれとの間の光線路長、及びＯＬＴ１１と光フィルタ２２−１〜２２−８それぞれとの間の光線路長は、対応するＯＮＵのＭＡＣアドレスと対応付けられる。 （もっと読む）

【課題】光ケーブルの光ファイバ接続部が近接している場合であっても、環境変化が生じた光ファイバ接続部を特定できる光通信線路監視システム及び光通信線路監視方法を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明に係る光通信線路監視システムは、検査用光ファイバ１１の長手方向に順次設けられる複数の検知モジュール１５と、所定長より狭い距離で隣接する検知モジュール１５間の検査用光ファイバ１１に配置され、検査用光ファイバ１１を伝搬する検査光を一部反射する反射素子２１と、距離分解能が前記所定長であり、検査用光ファイバ１１の一端から出力される出力光を受光することで、前記出力光の距離に対する光レベルの光波形を取得し、事前に取得した前記光波形のリファレンス波形と現在の測定で取得した前記光波形の測定波形とを比較して環境変化を生じた箇所を特定するＯＴＤＲ１９と、を備える。 （もっと読む）

【課題】ＯＴＤＲの性能を向上すること及び、新たにＯＴＭ等の装置を追加や改造することなく、既設のＯＴＭを使用でき、安価に試験可能範囲を拡大することができる光通信線路監視システム及び光通信線路監視方法を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明に係る光通信線路監視システムは、検査光を伝搬する検査用光ファイバ１１と、検査用光ファイバ１１の一端に接続され、検査光を反射光として反射する反射素子２２と、検査用光ファイバ１１の所定の観測位置に配置され、該観測位置の環境変化に応じて検査用光ファイバ１１に歪を与える検知モジュール１５と、検査用光ファイバ１１の他端に接続され、検査用光ファイバ１１に検査光を入力し、検査用光ファイバ１１の他端から出力する反射光を検出し、反射光の光レベルの変動から観測位置の環境変化を検出する光検出器であるＯＴＤＲ１９と、を備える。 （もっと読む）

【課題】測定時間を短縮することができる光パルス試験器を提供する。
【解決手段】光パルスを光ファイバに向けて射出するパルス発生部と、前記光パルスに基づくレイリー後方散乱光に含まれるフォトンを検出するフォトン検出部と、フォトン検出部で検出されたフォトンをカウントするフォトンカウント部とを備え、前記フォトン検出部における検出を有効とするゲート信号を前記フォトン検出部に印加するタイミングを変えながら前記フォトンカウント部でのカウントを行うことで前記光ファイバの距離とフォトンのカウント数との関係を求める光パルス試験器に関する。本発明の光パルス試験器は、前記パルス発生部から前記光パルスを１回射出するたびに、前記ゲート信号を前記フォトン検出部に複数回印加する制御手段を備える。 （もっと読む）

【課題】測定にかかる時間を予めユーザに通知することができる光パルス試験器を提供する。
【解決手段】測定時間演算手段は、フォトカウント部でのカウント数に基づく測定のダイナミックレンジと、光ファイバの測定距離範囲と、フォトカウント部を有効とするゲート信号のゲート幅とに基づいて測定に要する時間を算出する。表示手段は、測定時間演算手段により算出された前記時間を表示する。 （もっと読む）

【課題】 一度の測定で短距離・高分解能および長距離・低分解能を両立させることができる光伝送路検査装置、光伝送システム、および、光伝送路検査方法を提供する。
【解決手段】 光伝送路検査装置は、ウェーブレット関数で構成されたウェーブレットパルスを生成するパルス生成部と、パルス生成部が生成したウェーブレットパルスを光伝送路に出力する出力部と、光伝送路から反射してきたウェーブレットパルスに対して解析を行う解析部と、を備える。 （もっと読む）

【課題】長距離の光ファイバの障害点を短時間で容易に検出可能な、光ファイバの障害点検出装置を提供する。
【解決手段】少なくとも３つの光源（光源２１〜２ｎ）から発せられた、波長が異なる光パルス（Ｐ１〜Ｐｎ）を波長多重器５で波長多重して被測定光ファイバ１に入力する。遅延器４によって、少なくとも３つの光源のうちの１つの光源（光源２ｎ）から送出された光パルス（Ｐｎ）が、他の光源から送出された光パルスよりも先に被測定光ファイバ１を伝搬するように、光パルスの被測定光ファイバ１への入力タイミングが調整される。これによって後方散乱光が光増幅器６に到着する時間の差が生じる。光増幅器６に先に到着した光パルス（Ｂｎ）によって光増幅器６の過剰反転分布状態が解消されるため、光増幅器６に後から到着した後方散乱光（Ｂ１〜Ｂｍ）に対する光増幅器６の光増幅作用が安定する。 （もっと読む）

【課題】本発明の課題は、光スプリッタより下部の光ファイバ線路において、光ファイバの収容設備を光学測定によって識別することが可能となる光設備識別方法を提供することにある。
【解決手段】本発明は、光スプリッタ４を含む光線路を構成する光ファイバ線路において、光スプリッタ４より下部に接続された各架空光ファイバケーブル５_１〜５_ｍにそれぞれ異なる固有のブリルアン周波数シフトを持つ光ファイバを用い、光スプリッタ４より下部の光線路を構成する光ファイバの収容設備状況を識別する光設備識別方法であって、前記光ファイバの収容設備で生じるブリルアン周波数シフトの変動を、ブリルアン光パルス試験器（ＢＯＴＤＲ）により検出して、前記光ファイバの収容設備状況を識別することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】立ち上がりエッジが急峻なパルス光を出力する光パルス発生器およびこの光パルス発生器を用いた光パルス試験器に関するものである。
を目的にする。
【解決手段】レーザダイオードにバイアス電圧を印加する電圧源とレーザダイオードを直接変調してパルス光を出射させるためのスイッチング素子とを有する光パルス発生器に改良を加えたものである。本装置は、スイッチング素子のオン後のレーザダイオードの発光時の順方向電圧の過渡特性により充電を開始しレーザダイオードに順方向電流が流れ始めると放電を開始して順方向電流と同じ方向でレーザダイオードに電流を流す補助電流回路を設けたことを特徴とするものである。 （もっと読む）

【課題】測定器の小型化を図ることができるパルス試験システム等を提供する。
【解決手段】測定器１は、光ファイバ回線に向けて光パルスを出力するとともに、光ファイバ回線からの戻り光を受光し、戻り光の強度および戻り光の受光タイミングを試験結果として保存する。携帯端末装置２は、測定器１に保存された試験結果を、測定器との間の無線通信を介して取得する。 （もっと読む）