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【課題】側壁スペーサを形成することなく、且つ、工程数を増やすことなく、自己整合的にLDD領域を少なくとも一つ備えたTFTを提供する。また、同一基板上に、工程数を増やすことなく、様々なTFT、例えば、チャネル形成領域の片側にLDD領域を有するTFTと、チャネル形成領域の両側にLDD領域を有するTFTとを形成する作製方法を提供する。
【解決手段】回折格子パターン或いは半透膜からなる光強度低減機能を有する補助パターンを設置したフォトマスクまたはレチクルをゲート電極形成用のフォトリソグラフィ工程に適用して膜厚の厚い領域と、該領域より膜厚の薄い領域を片側側部に有する非対称のレジストパターンを形成し、段差を有するゲート電極を形成し、ゲート電極の膜厚の薄い領域を通過させて前記半導体層に不純物元素を注入して、自己整合的にLDD領域を形成す
る。 (もっと読む)


【課題】ダミーゲート電極の除去により形成されたゲート溝へのゲート電極材料の埋め込み性を改善することにより、適切な閾値電圧を持つ電界効果型トランジスタを備えた半導体装置を容易に実現できるようにする。
【解決手段】ゲート電極111bは、それぞれ金属又は導電性金属化合物からなる第1導電膜108b、第2導電膜109b及び第3導電膜110bが下から順に形成された積層構造を有し、ゲート電極111aは、第2導電膜109a及び第3導電膜110aが下から順に形成された積層構造を有する。第1導電膜108bの仕事関数と第2導電膜109a、109bの仕事関数とは異なっている。第1導電膜108bは板状に形成されており、第2導電膜109a、109bは凹形状に形成されている。 (もっと読む)


【課題】改善された光電変換効率を有する太陽電池を提供する。
【解決手段】太陽電池1は、光電変換部10と、第1の電極21と、第2の電極22とを備える。第1の電極21は、光電変換部10の一主面10aの上に配されている、第2の電極22は、光電変換部10の他主面10bの上に、第1の電極21よりも小面積に配されている。第1の電極21は、第1の第1電極導電層21aと、第2の第1電極導電層21cとを含む。第1の第1電極導電層21aは、光電変換部10の一主面10aの上に配されている。第2の第1電極導電層21cは、第1の第1電極導電層21aの上に配されている。第1の第1電極導電層21aは、第2の第1電極導電層21cよりも高い光反射率を有する。第2の第1電極導電層21cは、第1の第1電極導電層21aよりも低い電気抵抗を有する。 (もっと読む)


【課題】Si−CMOSプロセス時術とコンパチブルなHEMT装置の製造法を提供する。
【解決手段】基板101を提供するステップと、III族窒化物層のスタックを基板上に形成するステップと、窒化シリコンからなり、スタックの上方層に対して上に位置すると共に当接する第1パッシベーション層301を形成し、第1パッシベーション層が、現場でスタックに堆積されるステップと、第1パッシベーション層に対して上に位置すると共に当接する誘電体層を形成するステップと、窒化シリコンからなり、誘電体層に対して上に位置すると共に当接する第2パッシベーション層303を形成し、第2パッシベーション層が、LPCVD、MOCVD又は同等の手法によって450℃より高い温度で堆積されるステップと、ソースドレイン・オーミック接触とゲート電極601を形成するステップとを備える。 (もっと読む)


【課題】導体半導体接合を用いて、優れた特性を示す、あるいは、作製の簡単な、あるいは、より集積度の高い電界効果トランジスタを提供する。
【解決手段】半導体層の電子親和力よりも仕事関数の小さな導体との接合においては、導体より半導体層にキャリアが注入された領域が生じる。そのような領域を電界効果トランジスタ(FET)のオフセット領域、あるいは、インバータ等の半導体回路の抵抗として用いる。また、ひとつの半導体層中にこれらを設けることにより集積化した半導体装置を作製できる。 (もっと読む)


【課題】 短チャンネル効果が抑制され、メタルS/Dを有するInGaAs−MOSFETの低消費電力化をはかり得る化合物半導体装置を製造する。
【解決手段】 InGaAsをチャネルに用いた化合物半導体装置の製造方法であって、基板上のInGaAs層10上に、ゲート絶縁膜11を介してゲート電極12を形成した後、ゲート電極12の両側に露出するInGaAs層10上に、厚さ5.5nm以下のNi膜14を形成する。次いで、250℃以下の温度で熱処理を施すことにより、Ni膜14とInGaAs層10とを反応させて、ショットキー・ソース/ドレインとなるNi−InGaAs合金層15を形成する。 (もっと読む)


【課題】半導体層と電極の接続部に生じる寄生抵抗を抑制し、配線抵抗による電圧降下の
影響や画素への信号書き込み不良や階調不良などを防止し、より表示品質の良い表示装置
を代表とする半導体装置を提供することを課題の一つとする
【解決手段】上記課題を解決するために、本発明は酸素親和性の強い金属を含むソース電
極、及びドレイン電極と、不純物濃度を抑制した酸化物半導体層とを接続した薄膜トラン
ジスタと、低抵抗な配線を接続して半導体装置を構成すればよい。また、酸化物半導体を
用いた薄膜トランジスタを絶縁膜で囲んで封止すればよい。 (もっと読む)


【課題】ソース電極およびドレイン電極間におけるオフリーク電流の低減を課題とする。
【解決手段】本発明の一態様は、ゲート電極101と、前記ゲート電極を覆うように形成されたゲート絶縁膜102,103と、前記ゲート絶縁膜上に形成され、前記ゲート電極の上方に位置する活性層104と、前記活性層の側面及び前記ゲート絶縁膜の上に形成されたシリコン層105,106と、前記シリコン層上に形成されたソース電極107aおよびドレイン電極107bと、を具備し、前記活性層は、前記ソース電極および前記ドレイン電極それぞれと接しないことを特徴とする半導体装置である。 (もっと読む)


【課題】 良好な絶縁特性を有する絶縁膜の形成に使用される高精細印刷インキ組成物および該印刷インキ組成物から形成された絶縁膜を提供すること。
【解決手段】 少なくとも不揮発性成分と溶剤を含有する絶縁膜形成用印刷インキ組成物であって、反転オフセット印刷、剥離オフセット印刷、マイクロコンタクト印刷のいずれかに用いられ、ポリシロキサンが不揮発性成分の75重量%以上であることを特徴とする絶縁膜形成用印刷インキ組成物。 (もっと読む)


【課題】窒化物半導体層とオーミック電極とのコンタクト抵抗を低減できる窒化物半導体装置を提供する。
【解決手段】Si基板10上に形成されたアンドープGaN層1,アンドープAlGaN層2と、アンドープGaN層1,アンドープAlGaN層2上に形成されたTi/Al/TiNからなるオーミック電極(ソース電極11,ドレイン電極12)とを備える。上記オーミック電極中の酸素濃度を1×1016cm−3以上かつ1×1020cm−3以下とする。 (もっと読む)


【課題】膜剥がれの要因となる有機材料を用いることなく、エレクトロマイグレーションの耐性と長期信頼性を向上できるパワーデバイスを提供する。
【解決手段】バリア層4(AlGaN)4上に形成された酸化シリコン(SiO2)からなる層間絶縁膜10と、層間絶縁膜10のソース電極5上に形成され、基板平面に対して略垂直な第1の側壁W1を有する第1コンタクトホール部10aと、第1コンタクトホール部10aの第1の側壁W1の上縁から上側に向かって徐々に広がるように層間絶縁膜10に形成され、基板平面に対して傾斜した第2の側壁W2を有する第2コンタクトホール部10bと、第1,第2コンタクトホール部10a,10b内および層間絶縁膜10上に形成された配線層12とを備える。上記配線層12は、第1コンタクトホール部10aにおいて第1の側壁W1の基板厚さ方向の寸法よりも膜厚が厚い。 (もっと読む)


【課題】設計された形状およびサイズのゲート電極を形成することが可能な半導体装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】本実施形態に係る半導体装置の製造方法は、半導体層12の表面上のうち、互いに離間した位置に、チタン層17a、18a、アルミニウム層17b、18b、ニッケル層17c、18c、金層17d、18dがこの順で積層した積層体17、18を形成し、これらを、アルミニウムの融点より高い温度で加熱して複数の金属体17´、18´を形成するするとともに、これらの複数の金属体17´、18´を半導体層12にオーミック接触させる。この後、複数の金属体17´、18´を薄膜化して複数の合金層13a、14aを形成し、合金層13a、14aを含むドレイン電極13およびソース電極14を形成する。次に、ドレイン電極13とソース電極14との間のレジスト層19に開口部20し、この開口部20内にゲート電極15を形成する。 (もっと読む)


【課題】高集積化することができる半導体装置、金属膜の製造方法及び半導体装置の製造方法を提供することである。
【解決手段】実施形態に係る半導体装置は、半導体基板と、前記半導体基板に形成され、ヒ素を含むヒ素拡散層と、前記ヒ素拡散層上に形成された金属膜と、を備える。前記金属膜は、タングステン、チタン、ルテニウム、ハフニウム及びタンタルからなる群より選択された少なくとも1種の金属、並びにヒ素を含む。 (もっと読む)


【課題】電力変換回路の性能を高める。
【解決手段】ユニット10は、半導体スイッチ素子1,2と、ダイオード3,4とを備える。ダイオード3は、半導体スイッチ素子2がオン状態である時に逆バイアスされ、半導体スイッチ素子2がオフ状態である時に導通する。ダイオード4は、半導体スイッチ素子1がオン状態である時に逆バイアスされ、半導体スイッチ素子1がオフ状態である時に導通する。ダイオード3,4は、窒化ガリウム(GaN)ダイオードまたはダイヤモンドダイオードである。ユニット10を備えるパワーモジュールは、コンバータ、インバータ等の電力変換回路に適用される。 (もっと読む)


【課題】メタルゲート電極とポリシリコン抵抗素子とを同じ半導体基板に混載するとともに、半導体装置の設計の自由度を向上し、また、半導体装置の小型化を図る。
【解決手段】半導体基板1の主面上にゲート絶縁膜を介してMISFET用のメタルゲート電極が形成され、また、半導体基板1の主面上に積層パターンLPを介してポリシリコン抵抗素子用のシリコン膜パターンSPが形成されている。メタルゲート電極は金属膜とその上のシリコン膜とを有し、積層パターンLPは絶縁膜3aとその上の金属膜4aとその上の絶縁膜5aとを有し、絶縁膜3aは、前記ゲート絶縁膜と同層の絶縁膜により形成され、金属膜4aはメタルゲート電極の金属膜と同層の金属膜により形成され、シリコン膜パターンSPは、メタルゲート電極のシリコン膜と同層のシリコン膜により形成されている。シリコン膜パターンSPは、平面視で絶縁膜5aに内包されている。 (もっと読む)


【課題】 電極と半導体層の接触抵抗を下げることで電極を小型化した場合であっても消費電力の増加が抑制された半導体素子を提供することを目的とする。
【解決手段】 p型の導電型を有する半導体層に隣接して金属層が設けられた構造を有する半導体素子であって、前記金属層は、前記半導体層に隣接し、Sb、In、Zn及びPdのうち少なくとも一つの金属を含む第一金属層と、該第一金属層に隣接し、少なくともBe及びAuを含む第二金属層と、を有するものであることを特徴とする半導体素子。 (もっと読む)


【課題】ソース電極およびドレイン電極と有機半導体層とにおける電荷注入効率の向上と性能の確保とを両立させることが可能な薄膜トランジスタを提供する。
【解決手段】薄膜トランジスタは、エッチングガスと反応可能な金属元素および半金属元素のうちの少なくとも一方を含む金属含有材料により形成された有機半導体層と、互いに離間されたソース電極およびドレイン電極と、有機半導体層とソース電極およびドレイン電極とが重なる領域において有機半導体層とソース電極およびドレイン電極との間に挿入され、エッチングガスと反応可能な金属元素および半金属元素のうちの少なくとも一方を含まない非金属含有材料により形成された有機導電層とを備える。 (もっと読む)


【課題】大電力の制御を行う、高耐圧の半導体装置を提供する。
【解決手段】ゲート電極と、ゲート電極上のゲート絶縁層と、ゲート絶縁層上の、ゲート電極と重畳する酸化物半導体層と、酸化物半導体層と接し、端部をゲート電極と重畳するソース電極及びドレイン電極と、を有し、ゲート電極と酸化物半導体層が重畳する領域において、ゲート絶縁層は、ドレイン電極と端部を重畳する第1の領域と、前記第1の領域と隣接する第2の領域と、を有し、第1の領域の静電容量は第2の領域の静電容量より小さいトランジスタを提供すること。 (もっと読む)


【課題】In−Sn−Zn−O系半導体を用いた半導体装置を作製する際の加工技術を確立する。
【解決手段】Clまたは、BClまたは、SiClなどの塩素を含むガスを用いたドライエッチングによりIn−Sn−Zn−O系半導体層を選択的にエッチングする。In−Sn−Zn−O系半導体層上に接して形成する導電層を選択的に除去してソース電極層及びドレイン電極層を形成する場合、塩素を含むガスに加えて酸素を含むガス、またはフッ素を含むガスを用い、In−Sn−Zn−O系半導体層がほとんど除去されないように導電層を選択的にエッチングすることができる。 (もっと読む)


【課題】耐量の大きいダイオードを提供する。
【解決手段】ショットキーダイオードであって、窒化物半導体で形成された半導体層と、半導体層上に形成され、半導体層にショットキー接続されたショットキー電極と、を備え、ショットキーダイオードに逆バイアスがかかったときに、ショットキー電極の端部の下方の半導体層において空乏化する領域は、ショットキー電極の他の一部の下方の半導体層において空乏化する領域より長いショットキーダイオードを提供する。 (もっと読む)


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