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Fターム[4M104DD22]の内容

半導体の電極 (138,591) | 製造方法(特徴のあるもの) (30,582) | 析出面の前処理 (2,098) | 表面処理 (1,044)

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【課題】簡便な手法によってエピタキシャル基板の障壁層表面の平坦性を向上させ、ショットキーコンタクト特性の優れたエピタキシャル基板を実現する方法を提供する。
【解決手段】半導体素子用のエピタキシャル基板を製造する方法が、下地基板の上に、少なくともGaを含む、Inx1Aly1Gaz1N(x1+y1+z1=1)なる組成の第1のIII族窒化物からなるチャネル層をエピタキシャル形成するチャネル層形成工程と、チャネル層の上に、少なくともInとAlを含む、Inx2Aly2Gaz2N(x2+y2+z2=1)なる組成の第2のIII族窒化物からなる障壁層をエピタキシャル形成する障壁層形成工程と、障壁層形成工程における加熱温度よりも100℃以上250℃以下高い加熱温度で障壁層が形成された下地基板を加熱することにより、障壁層の表面平坦性を向上させる平坦化処理工程と、を備える。 (もっと読む)


【課題】パターン外析出を抑制し、密着力を向上させることができる半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体ウエハ1と、半導体ウエハ1上にパターンニングして形成され最表面に複数の凹部9が形成されたAl−Si金属層2と、Al−Si金属層2上と半導体ウエハ1が露出した箇所上に形成された酸化膜11と、Al−Si金属層2上に酸化膜11を介して各凹部9を埋め込むように形成されたNiめっき膜3およびAuめっき膜4とを備える。 (もっと読む)


【課題】n型半導体とp型半導体が混在する半導体ウエハ上へ、ニッケル又はニッケル合金の無電解めっきを行うための前処理液ろ提供する。
【解決手段】該前処理液は過酸化水素水とアンモニア水及び/又は水酸化テトラメチルアンモニウム(TMAH)からなる水溶液である無電解めっきの前処理液で、FETなどのソース、ドレイン電極など、n型半導体とp型半導体が混在するトランジスタ電極を形成する際に、シリコン基板表面の不純物を効果的に除去するか又は低減して活性化させることができ、さらにこのようなシリコン基板がn型半導体とp型半導体が混在する場合に、この洗浄液による処理を行った後、後続の無電解Ni又はNi合金めっきに適合でき、均一な無電解めっきを行うことができる。 (もっと読む)


【課題】アルミニウム合金膜と透明電極が直接コンタクトすることを可能とし、バリアメタルの省略を可能にするアルミニウム合金膜を用いた表示デバイスとその製造技術を提供すること。
【解決手段】ガラス基板上に配置された薄膜トランジスタと、透明電極によって形成された画素電極と、これら薄膜トランジスタと画素電極を電気的に接続するアルミニウム合金膜によって形成された接続配線部を主たる構成要素として備えた表示デバイスとその製法を開示する。 (もっと読む)



【課題】ボイドやシームが発生しにくい構造体とする。
【解決手段】本発明の半導体装置は、半導体基板101に形成された層間絶縁膜103と、層間絶縁膜103に形成されたコンタクト孔104と、コンタクト孔104を埋め込むCu膜107と、コンタクト孔104の内部の側壁に形成され、Cu膜107の下地となる金属含有下地膜13と、を備える。コンタクト孔104の開口に接続している側壁の一部を含む第一の領域11において、金属含有下地膜13は、Cu膜107との界面に金属窒化層106を有する。第一の領域11よりも半導体基板101側の側壁を含む第二の領域12において、金属含有下地膜13は、Cu膜107との界面に金属層105を有する。金属層105の表面におけるCu膜107の成膜速度は、金属窒化層106の表面におけるCu膜107の成膜速度よりも大きい。 (もっと読む)


【課題】実効キャリアー濃度が増加し、物質間のエネルギーバンドギャップ調節によりショットキー障壁が減少し、高い透過率を有する、優れた電気的、光学的、熱的及び構造的特性を有する新概念のオーミック接触システムを提供する。
【解決手段】発光ダイオード又はレーザーダイオードにおいてオーミック接触を形成するための薄膜電極において、p型窒化ガリウム層上に積層され、Ni−X固溶体を含有する第1電極層と、前記第1電極層上に積層され、Au、Pt、Pd、Ni、Ru、Rh、Re、C、Cu、及びIrからなる群から選択される少なくとも1種以上の元素を含有する第2電極層と、を含むことを特徴とする、薄膜電極である。 (もっと読む)



【課題】 液体原料を用いてSi以外の金属膜を安定して成長させる。
【解決手段】 基板上に形成された第1の金属膜の表面を水酸基で終端する第1の前処理を行う工程と、第1の前処理後の第1の金属膜に対して水素含有ガスを供給して第2の前処理を行う工程と、第2の前処理後の第1の金属膜上に第2の金属膜を形成する工程と、を有する。 (もっと読む)


【課題】接続導体との間のはんだ接合部の信頼性を確保する。
【解決手段】ジンケート法による無電解めっき法を用いて、半導体チップ1の表面側のAl電極3の上にNiめっき層5が形成される。Al電極3の上には、選択的にNiめっき層5が析出されるため、周辺耐圧構造4部分には、Niめっき層5は形成されない。また、形成されるNiめっき層5は、所定の厚さに均一に形成することができる。続いて、Niめっき層5の上にAuめっき層6が形成される。無電解めっき法を用いることによって、Auめっき層6もNiめっき層5と同様に、Niめっき層5の上に選択的、かつ均一に形成される。 (もっと読む)


【課題】化合物半導体装置のソース電極、ドレイン電極及びゲート電極を形成するいずれの領域においても、残渣のない良好な半導体/金属界面が得られるようにする。
【解決手段】化合物半導体装置の製造方法を、基板1上に化合物半導体積層構造4を形成する工程と、化合物半導体積層構造上に金属膜5A〜5Cを形成する工程と、金属膜上にソース電極7及びドレイン電極8を形成する工程と、金属膜の一部を酸化又は窒化して、金属酸化物膜又は金属窒化物膜5CXを形成する工程と、金属酸化物膜又は金属窒化物膜上にゲート電極9を形成する工程とを含むものとする。 (もっと読む)


【課題】基板上に形成された配線用パターンの底部までCu埋め込みが可能な基板の配線方法を提供する。
【解決手段】真空状態に保持された処理容器100内にて配線用パターンが形成された基板を配線する方法であって、ウエハ上の配線用パターンを所望のクリーニングガスにより洗浄する前工程と、前工程後、クラスタ化された金属ガス(金属ガスクラスタCg)を用いて配線用パターン内に金属ナノ粒子を埋め込む埋め込み工程と、を含むことを特徴とする基板の配線方法が提供される。 (もっと読む)


【課題】液滴吐出法により吐出する液滴の着弾精度を飛躍的に向上させ、微細でかつ精度の高いパターンを基板上に直接形成することを可能にする。もって、基板の大型化に対応できる配線、導電層及び表示装置の作製方法を提供することを課題とする。また、スループットや材料の利用効率を向上させた配線、導電層及び表示装置の作製方法を提供することを課題とする。
【解決手段】液滴吐出法による液滴の吐出直前に、所望のパターンに従い基板表面上の液滴着弾位置に荷電ビームを走査し、そのすぐ後に該荷電ビームと逆符号の電荷を液滴に帯電させて吐出することによって、液滴の着弾位置の制御性を格段に向上させる。 (もっと読む)


【課題】金属シリサイド膜と銅コンタクトプラグ本体との間の拡散バリア層として、薄膜の酸化マンガンで構成された拡散バリア層を用いてはいるものの、金属シリサイド膜への銅原子の拡散、侵入を確実に抑止することができるようにする。
【解決手段】本発明のコンタクトプラグ10は、半導体装置の絶縁膜4に設けられたコンタクトホール5に形成され、コンタクトホール5の底部に形成された金属シリサイド膜3と、コンタクトホール5内で金属シリサイド膜3上に形成され、非晶質でシリコンを含む第1の酸化マンガン膜6aと、その第1の酸化マンガン膜6a上に形成され、微結晶を含む非晶質の第2の酸化マンガン膜6bと、その第2の酸化マンガン膜6b上に、コンタクトホール5を埋め込むように形成された銅プラグ層7と、を備えることを特徴としている。 (もっと読む)


【課題】Cu系合金配線膜を半導体層と直接接続しても接触抵抗率が低く、かつ密着性に優れた薄膜トランジスタ基板を提供する。
【解決手段】薄膜トランジスタの半導体層33と、Cu合金層28b、29bとを有する薄膜トランジスタ基板において、前記半導体層33と前記Cu合金層28b、29bとの間に、酸素含有層28a、29aを含んでおり、前記酸素含有層28a、29aを構成する酸素の一部若しくは全部は、前記薄膜トランジスタの前記半導体層33のSiと結合しており、前記Cu合金層28b、29bは、合金元素としてX(Xは、Mn、Ni、Zn、およびMgよりなる群から選ばれる少なくとも1種)を合計で2原子%以上20原子%以下含有し、前記Cu合金層28b、29bは、前記酸素含有層28a、29aを介して前記薄膜トランジスタの前記半導体層33と接続していることを特徴とする薄膜トランジスタ基板である。 (もっと読む)


【課題】被覆性及び付着力が高い金属膜を、半導体基板上に低コストで形成できる半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】Pdイオンを含むPd活性化液28(塩化パラジウム)にGaAs基板16(半導体基板)を浸漬してGaAs基板の表面にPdキャタリスト30を付着させる。このPdキャタリストとGaAs基板が反応してPd−Ga−Asの混合層40が形成される。次に、表面にPdキャタリストが付着されたGaAs基板をPd無電解めっき液42に浸漬してGaAs基板上にPdめっき膜44を形成する。 (もっと読む)


【課題】スパッタリングを利用した場合でも、電極構造体に、微細な凹凸構造を欠点なく正確に、かつ簡便に形成することのできる電極構造体の製造方法、ならびに電極構造体に欠点のない微細な凹凸構造が正確に形成されてなる太陽電池を提供する。
【解決手段】表面に微細な凹凸構造を有するスタンパー1の表面上に、導電体層2を剥離可能に形成し、スタンパー1上の導電体層2と、硬化性材料4とを接触させ、その状態で硬化性材料4を硬化させて、微細な凹凸構造を有する凹凸基層5を形成するとともに、凹凸基層5と導電体層2とを接着し、スタンパー1と、凹凸基層5に接着された導電体層2とを分離し、もって凹凸基層5上に導電体層2を転写して形成し、このようにして、微細な凹凸構造を有する電極構造体10を製造する。 (もっと読む)


【課題】 チャネルの高い移動度と、優れた縦方向耐圧とを得た上で、安定して低いオン抵抗を確保することができる、半導体装置等を提供する。
【解決手段】本発明の半導体装置は、n型ドリフト層4/p型層6/n型表層8を含むGaN系積層体15、に形成され、GaN系積層体には、開口部5が設けられ、再成長層27と、ゲート電極11と、ソース電極31と、ドレイン電極39とを備え、再成長層27は電子走行層22および電子供給層26を含み、チャネルが二次元電子ガスであり、p型層6とn型表層8との間、および開口部を囲むGaN系積層体の端面と再成長層との間、の少なくとも一方に、GaNよりも格子定数が小さいエピタキシャル層が挿入されていることを特徴とする。 (もっと読む)


種々の材料及びアプローチの1以上を用いてナノ構造体を接続する。種々の例示的実施形態で、ナノ構造体間の接続部で2つ以上のナノ構造体が接続される。ナノ構造体は、接続部で接触するかほぼ接触してよく、接続材料を接続部で堆積及び核形成させてナノ構造体同士を結合する。種々の用途で、核形成した接続材料はナノ構造体間の伝導率(熱的及び/又は電気的)を向上させる。いくつかの実施形態では、接続材料は更に、例えばナノ構造体に沿って成長することにより及び/又はナノ構造体にドープすることにより、ナノ構造体自身の伝導率を上昇させる。
(もっと読む)


【課題】定常損失を低減しつつ耐圧を向上することのできる整流素子を提供する。
【解決手段】ショットキー電極3は、SiCよりなるn-半導体層2とショットキー接触し、かつSiCよりなるp型半導体層5a,5bと電気的に接続している。ショットキー電極3とカソード電極4との電位差が変化することにより、ショットキー電極3とカソード電極4との間に電流を流す状態と、p型半導体層5a,5bに囲まれるn-半導体層2を空乏層化させてショットキー電極3とカソード電極4との間の電流経路を遮断する状態とを選択可能である。n-半導体層2とショットキー電極3との間のショットキー障壁φBn1が、0.68eV<φBn1<1.05eVであり、かつ250℃の温度でも、そのショットキー接触を確保できる。 (もっと読む)


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