説明

Fターム[5F173AB72]の内容

Fターム[5F173AB72]の下位に属するFターム

Fターム[5F173AB72]に分類される特許

1 - 20 / 29


【課題】光モード形状の急激な変化による光の散乱ロスを低減することの可能な半導体レーザの製造方法を提供する。
【解決手段】半導体レーザの製造方法は、例えば、後に基板の切断箇所となる格子状の切断領域で囲まれた一の素子領域内において、後にリッジ部の形成箇所となる帯状のリッジ領域の両脇のうち少なくとも一方の領域であって、リッジ領域から離れた領域であり、かつ少なくとも素子領域の外縁に溝部を設けたのち、溝部を含む上面に半導体層を形成する工程を含む。 (もっと読む)


【課題】CODが生じにくい窒化物系の半導体レーザ素子を実現できるようにする。
【解決手段】半導体レーザ素子は、空洞部101aを有する基板101と、基板101の上に順次形成された第1導電型の第1クラッド層122、活性層124及び第2導電型の第2クラッド層126を含む半導体層積層体102とを備えている。半導体層積層体102は、第1の端面151と第2の端面152との間に延びるストライプ状の光導波路を有している。空洞部101aは、その壁面からその周囲に応力を及ぼし、活性層124における光導波路の第1の端面を含む部分におけるバンドギャップは、活性層124における他の部分よりも大きい。 (もっと読む)


【課題】高出力化に適しかつ安定したTMモード発振が得られる半導体レーザ素子を提供する。
【解決手段】半導体レーザ素子70は、リッジストライプ状に形成された第2p型クラッド層を含むリッジストライプ30を備えている。リッジストライプ30の側面には、n型電流狭窄層6が形成されている。第2p型クラッド層19における第1p型クラッド層17側の面の幅であるリッジボトム幅W1が3.0μm以上4.5μm以下に形成され、第2p型クラッド層19における第1p型クラッド層17側と反対側の面の幅であるリッジトップ幅W2が2.0μm以上に形成されている。 (もっと読む)


【課題】エッチング面積を変えずにマスク面積を小さくする、同一面内でエッチング深さが異なる形状を容易に加工することができる半導体素子の作製方法を提供すること。
【解決手段】エッチングされる領域のマスク端からの距離は、マスク幅が1μm以上でほぼ一定の値を示す。このことは、マスク上のマスク端から1μmまでの領域に存在する水素プラズマが開口部に拡散してエッチングに寄与することを示す。このとき、マスク上のマスク端から1μm以上の領域に存在する水素プラズマはエッチングに寄与することなくマスク上から脱離するものと考えられる。そのため、本発明の選択エッチングにおいてはマスクの幅は1μm以上あればエッチング領域のマスク端からの距離を十分に得られる。また、半導体素子の高密度集積における素子間隔が10μm程度であることを考慮すると、マスク幅は1μm以上10μm以下で有効である。 (もっと読む)


【課題】ストライプサイドにおける光学損傷を防ぐことができる多重横モードレーザの提供。
【解決手段】前端面10と後端面12を有し、多重横モードで発振して前端面10からレーザ光14を出射する。n型半導体基板上に、n型クラッド層、活性層、及びp型クラッド層が順次積層されている。p型クラッド層上に絶縁膜24が形成されている。絶縁膜24はストライプ状の開口26を有する。p電極は、絶縁膜24の開口26を介してp型クラッド層に接続されている。n型半導体基板の下面にn電極が接続されている。開口26は、前端面10の近傍において前端面10に向かってストライプ幅が広くなるフレア領域26bを有する。 (もっと読む)


【課題】自励特性を安定させるとともにCOD光出力を向上させることができる半導体レーザを歩留まりよく生産できる構造およびその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体レーザは、基板(n−GaAs基板110)と、n−GaAs基板110の上部に設けられた活性層140と、活性層140の上部の共振器方向に延設されたリッジ状の導波路を有するクラッド層(p−第2クラッド層170)と、p−第2クラッド層170の上部に設けられたキャップ層(p−GaAsキャップ層180)と、上記リッジ状の導波路の側壁に設けられた電流ブロック層(AlInPブロック層190、n−GaAsブロック層200)と、を備えるものである。 (もっと読む)


【課題】FFPのリップルを十分に抑制することができる半導体発光素子及びその製造方法を提供する。
【解決手段】GaN基板14上に、半導体積層構造16として、n型AlGaNクラッド層18、活性層24、p型AlGaNクラッド層34、及びp型GaNコンタクト層36が順次形成されている。半導体積層構造16の上面にストライプ状の導波路領域38が形成されている。導波路領域38から離間して、半導体積層構造16の上面に凹部40が形成されている。n型電極50がGaN基板14に電気的に接続されている。p型電極46がp型GaNコンタクト層36に電気的に接続されている。p型電極46上にパッド電極48が形成されている。SiO膜44を介して凹部40の内部に凹部内電極52が形成されている。 (もっと読む)


【課題】ファブリペロー共振器を有し、その端面が、劈開面によって構成される半導体レーザにおける活性層に近接する側の電極の端縁による短絡、リークの発生を効果的に回避する。
【解決手段】第1のクラッド層11と、活性層12と、第2のクラッド層13と、活性層12に近接する位置に形成された電極21と、を有するものとする。そして電極21のファブリペロー共振器長方向の両端縁は、共振器長方向の両端面を形成する半導体端面より、内側に入り込んだ位置に形成され、さらに電極21は、活性層12から1μm〜2μmの位置に形成されている半導体レーザとする。 (もっと読む)


【課題】 ESD耐性の向上が図られた半導体レーザ及びその製造方法を提供する。
【解決手段】 半導体レーザ本体の端面上に、700〜2000MPaの圧縮応力を内包する反射膜を、ECRスパッタ法により形成する成膜工程を有することを特徴とする。発明者らは、半導体レーザ本体に形成する反射膜に高い圧縮応力が働いたときに、端面における光吸収が減少し、その結果ESD耐性が向上することを見出した。したがって、本発明に係る半導体レーザ製造方法における成膜工程によれば、ESD耐性の高い半導体レーザを得ることができる。 (もっと読む)


【課題】高出力動作が可能で信頼性の高い半導体発光素子を再現性よく得る。
【解決手段】端面発光型の半導体発光素子を、基板1と、該基板1上に積層された第一導電型クラッド層2と、第一導電型クラッド層2の上に積層された活性層5を含む活性領域層15と、光出射端面近傍領域の少なくとも活性領域層15の光出射部領域上の厚みが、他の領域の厚みと比較して薄くなるように、活性領域層15の上に積層された第二導電型クラッド層7と、第二導電型クラッド層7の上、または第二導電型クラッド層7および第二導電型クラッド層7が積層されていない活性層域層の上に積層された、第二導電型クラッド層7の屈折率よりも高い屈折率を有する第二導電型再成長層9とを備えた構成とする。 (もっと読む)


【課題】CODレベルを高めつつ、応力歪が低減された半導体レーザ装置を提供する。
【解決手段】活性層と、前記活性層の上に設けられたクラッド層と、前記クラッド層の上に設けられたコンタクト層と、を含み、前記活性層から放射される光の共振器を形成する第1及び第2の端面を有する積層体と、前記コンタクト層の上に設けられ、前記活性層に電流を注入するオーミック部と、前記オーミック部の一方の端部と前記第1の端面との間に設けられた第1の電流調整部と、を含む電極と、を備え、前記オーミック部は、前記電流調整部を構成するいずれの金属の仕事関数よりも小さい仕事関数を有する金属を含むことを特徴とする半導体レーザ装置が提供される。 (もっと読む)


【課題】端面での光強度密度を低減でき、端面の劣化を抑制することが可能な半導体発光素子を提供する。
【解決手段】基板10上に設けられた第1導電型の第1クラッド層14と、第1クラッド層14上に設けられた活性層18と、活性層18上に設けられ、一方向に延伸するリッジ32を有する第2導電型の第2クラッド層26と、リッジ32の延伸方向に沿ってリッジ32を挟んで第2クラッド層26上に設けられた一対の第1電流ブロック層4と、活性層18の発光ピーク波長において第1電流ブロック層4より大きな屈折率を有し、第2クラッド層26の上で第1電流ブロック層4に接し、リッジの一方の端部を含む領域を挟んで対向する一対の第2電流ブロック層6とを備える。 (もっと読む)


【課題】面取り構造という簡単な構造で、誘導放出によって増幅される光の閉じ込め効率を向上し、出射されるレーザ光の広がり幅を小さく制限すると共に、レーザ発光分布の広がりを防止する。
【解決手段】基板11の表面上にハイメサ導波路構造13が形成された半導体レーザ素子10において、ハイメサ導波路構造13における活性層14内で誘導放出によって増幅される光を閉じ込めるために互いに対向して設けられる反射端面13s1・13s2のうち、少なくとも一方側の反射端面13s1のy方向の両端に、面取り構造13sb・13scが形成されている。 (もっと読む)


【課題】逆方向ESD耐圧を向上可能な構造を有する半導体光素子を提供する。
【解決手段】半導体光素子11において、半導体メサ13は、第1の部分13aおよび第2の部分13bを含む。第1のp型埋込層15は、第1の部分13aの側面13c上に設けられ、第1のn型埋込層17は、第1のp型埋込層15上に設けられ、第2のp型埋込層19は第2の部分13bの側面13d上に設けられ、第2のn型埋込層21は、第2のp型埋込層19上に設けられる。第1の部分13aは当該半導体光素子11の端面11cを有し、第2の部分13bは第1の部分13aに隣接している。活性層23は、例えば量子井戸構造を有している。第1および第2の部分13a、13bの各々は、活性層23、n型クラッド領域25およびp型クラッド領域27を含む。第1のp型埋込層15のp型ドーパント濃度NP1は第2のp型埋込層19のp型ドーパントの濃度NP2より低い。 (もっと読む)


【課題】従来の電界吸収型光変調素子における低反射窓構造では,寄生容量の増加と,パイルアップのトレードオフが問題であった。これは,窓構造におけるpn接合の容量密度が,光吸収領域となるpin接合に比べて大きいこと,また,電極構造を光吸収領域と窓構造の接合部より遠ざけた場合,光吸収領域への電界印加が不充分となり,光吸収領域において発生したフォトキャリヤの排出が困難になるためである。
【解決手段】光吸収領域と低光反射窓構造との間に,その導波路構造を構成する各多層の組成波長が信号光より十分短く,かつ平均的な屈折率が光吸収領域と同程度の組成波長・膜厚構造からなるアンドープの導波路構造を設ける。電極構造を,光吸収領域とアンドープ導波路の接合界面は横断し,かつ,アンドープ導波路と窓構造の接合界面には架からないように形成すれば,窓構造のpn接合による寄生容量の増加と,パイルアップの両者を同時に抑制できる。 (もっと読む)


【課題】LD特性に大きな影響を与えずに効果的な窓構造を実現する必要がある。
【解決手段】本発明の一実施形態に係る半導体レーザ素子は、Inを含有するIII族窒化物半導体からなる活性層を有する半導体レーザ素子である。当該半導体レーザ素子の光出射端面を含む、上記活性層の第1の部分は、当該活性層の上記第1の部分以外の部分である第2の部分に対して傾斜している。上記第1の部分の(0001)面に対する傾斜角度をα度、上記第2の部分の(0001)面に対する傾斜角度をβ度としたとき、α>β、かつα>0.3である (もっと読む)


【課題】活性層が受けるダメージを低減すると共に活性層に含まれるAlの酸化を防止できる半導体発光素子の製造方法、及び活性層に含まれるAlの酸化が防止された半導体発光素子を提供する。
【解決手段】まず、III−V族化合物半導体基板12上にIII−V族化合物半導体層16aを形成する。次に、III−V族化合物半導体層16a上にエッチングマスクMを形成する。次に、エッチングマスクMを用いてIII−V族化合物半導体層16aをドライエッチングすることによって、複数の周期的な凹部44を有する第1の回折格子領域G1を形成する。次に、エッチングマスクMを用いて、AlGaInAsを含む活性層18を凹部44内に埋め込む。次に、活性層18上にIII−V族化合物半導体からなる酸化防止層23を形成する。このようにして、分布帰還型の半導体発光素子10を製造する。 (もっと読む)


【課題】比較的抵抗が高い窒化物半導体層における共振器端面近傍への電流の注入を抑えることにより、端面近傍での抵抗による発熱を防止し、端面の特性及び寿命を向上させ、素子自体の高寿命化を図ることができる窒化物半導体レーザ素子の製造方法及びレーザ素子を提供することを目的とする。
【解決手段】第1窒化物半導体層、活性層及び第2窒化物半導体層がこの順に積層された窒化物半導体層と、該窒化物半導体層に形成された互いに対向する共振器端面とを有してなる窒化物半導体レーザ素子であって、前記共振器端面における少なくとも光の出力領域は不純物を含有しており、該光の出力領域は、前記活性層における他の領域よりもバンドギャップが広いか、前記活性層における他の領域よりも不純物濃度が高い窒化物半導体レーザ素子。 (もっと読む)


【課題】分離領域で発生するフォトキャリアの長手軸方向分布が光変調器領域に印加される逆方向バイアス電圧に応じて変化することで生じる前述した波長チャーピングの問題が、別途回路素子部品を新たに用いるなどの特別に煩雑なプロセスを伴うことなく効果的に改善され、光変調器集積光源の伝送特性が改善されるようにする。
【解決手段】分離領域110のレーザ領域(発光領域)107の側における上部クラッド層106には、例えばイオン注入技術を用いて部分的に上部クラッド層106の実効的な導電率を下げた(実効的な抵抗率を上げた)高抵抗領域111を備える。 (もっと読む)


【課題】レーザ特性と信頼性、コスト性に優れた少なくともGaN系青紫色レーザとAlGaInP系赤色レーザを集積した集積型半導体レーザを提供する。
【解決手段】赤色半導体レーザの導波路にマルチモード干渉型導波路を採用し、GaN系青紫色レーザをヒートシンクとしてその上に該赤色半導体レーザを集積した。その結果、より短い共振器長でも導波路面積を十分確保でき、従来と同等かそれ以上の高出力特性のを集積型半導体レーザを実現できる。 (もっと読む)


1 - 20 / 29