【課題】駆動回路の供給電圧スイッチの性能を検査する方法及び装置を提供する。
【解決手段】ポジショナシステム１は、アクチュエータ２と、アクチュエータ２を駆動する駆動回路３と、駆動回路３に電気的エネルギーが供給されるように駆動回路３に直列に接続された供給電圧スイッチ４と、供給電圧スイッチ４が閉じるよう駆動される場合に、アクチュエータ２の駆動のために十分な電圧が駆動回路３内で検出されるかによって、供給電圧スイッチ４の性能を確認するための制御ユニット５を具備する。 （もっと読む）

【課題】クランプ回路が未使用状態なのか断線状態なのかを判別する。
【解決手段】温度センサ１ｈの出力が入力される温度検出端子１４ａ〜１４ｃを利用し、クランプ回路５ａ〜５ｃや温度検出回路７ａ〜７ｃの一部がパワーモジュール１に接続されないときには温度検出端子１４ａ〜１４ｃの電位に基づいて温度センサ１ｈが接続されていない断線無効状態を検出する。例えば、温度検出端子１４ａ〜１４ｃのうち温度センサ１ｈに接続されない端子に断線検出無効化閾値Ｖｔｈ３以上の電圧を印加することで、温度検出端子１４ａ〜１４ｃが温度センサ１ｈに接続されていないことを検出する。これにより、クランプ回路５ａ〜５ｃに接続されるクランプ端子１１ａ〜１１ｃの電位に基づいて断線検出を行う際に、断線状態なのか断線無効状態なのかを温度検出端子１４ａ〜１４ｃの電位に応じて判定できる。 （もっと読む）

【課題】低電圧試験のためのリセット回路及び方法を提供する。
【解決手段】低電圧試験回路１２５と、システム１００および２００と、集積回路パッケージ１０４および２０４における回路１２７の低電圧試験を実行する方法が、電源電圧の一部分である電圧を生成する電圧分割ラダー３２０、一部分を基準電圧と比較する比較器３１０、電圧分割ラダーのトポロジーを制御し、それによって一部分の値を変更するスイッチ３５０を含む、選択可能閾値リセット回路１２５を含み、スイッチは製品試験装置１０２および２０２からの信号によって制御され、信号は、選択可能閾値リセット回路のリセット閾値を標準リセット閾値未満に低減されるようにして、標準リセット閾値未満の電源電圧で回路を試験することを可能にする。 （もっと読む）

【課題】半導体スイッチングデバイスが完全な機能を維持していることを保証するために、サービス中にそれらを試験する方法を提供する。
【解決手段】負荷および電圧源２に接続するためのスイッチング回路１であって、負荷への電力をスイッチオンおよびスイッチオフするための１つまたは複数のスイッチングデバイス６、７、．．．、ｎと、負荷を短絡し、それにより負荷を電圧源から隔離するためのプルダウンデバイス４と、一度に複数のスイッチングデバイスのうちの少なくとも１つを起動するために、電圧源が負荷から隔離されている間に動作させることができるコントローラ３とを備え、起動された前記スイッチングデバイスまたは個々のスイッチングデバイスを通って電流が流れ、この電流を測定して、起動された前記スイッチングデバイスまたは個々のスイッチングデバイスが適切に動作しているかどうかを試験することができるスイッチング回路１が開示される。 （もっと読む）

【課題】装置内の電流を監視する。
【解決手段】回路保護システムは、論理部１０８と、第１ノード１０及び第２ノード２０を有する電流感知装置１０２と、第１ノード１０及び第２ノード２０に接続され、電流感知装置１０２が感知した電流を示す電圧を論理部１０８に出力するように動作する電流感知回路１２０と、第１ノード１０、第２ノード２０、及び論理部１０８とに接続され、電流感知装置１０２を通る電流を誘発するように動作する接続確認部と、を含む。 （もっと読む）

【課題】電磁負荷を駆動する内燃機関制御装置において、電磁負荷の駆動周期が短い場合でも、該電磁負荷の故障診断精度を向上させ、ノイズに影響されない高速制御を安定して行う。
【解決手段】電磁負荷制御装置において、前記電圧異常を検出する手段をマスクするためのマスク手段を備え、前記マスク手段は、前記電圧異常の検出タイミングを、電磁負荷遮断と電磁負荷の通電とが繰り返される電磁負荷の通電開始タイミングに合わせて設定してあり、電磁負荷の通電遮断時より一定時間を内部タイマによってカウントすることにより、前記一定時間内に検出された電圧異常の誤検出をマスクするように構成する。 （もっと読む）

【課題】本発明の実施形態は、高周波スイッチ回路の高周波特性の良否を簡便に判定することができる半導体装置およびその検査方法を提供する。
【解決手段】実施形態に係る半導体装置は、複数の高周波端子と、共通高周波端子と、の間の信号経路を、前記高周波端子と前記共通高周波端子との間に直列に設けられた複数のＦＥＴにより切り替える高周波スイッチ回路を有する半導体装置であって、前記共通高周波端子に接続された複数のＦＥＴを含む半導体スイッチと、前記半導体スイッチを介して前記共通高周波端子に接続された発振回路と、前記発振回路の出力を入力とする検波回路と、前記検波回路の出力端子と、を備える。 （もっと読む）

【課題】 異なる通信システムに対応可能で、受信感度が高く送信電力の損失が抑制された高周波回路、高周波部品及びこれを用いた通信装置を提供する。
【解決手段】 第１及び第２のアンテナ端子と、第１の通信システム用の送信端子並びに第１及び第２の受信端子と、前記第１及び第２のアンテナ端子を選択して前記送信端子と接続するスイッチ回路を少なくとも備えた高周波回路であって、前記スイッチ回路と第１のアンテナ端子をつなぐ信号経路と、前記スイッチ回路と第２のアンテナ端子をつなぐ信号経路のそれぞれに整合回路を配置したことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】光学式のタッチセンサの検査を簡易に行うことの可能なセンサ画素検査用のバス幅変換回路、ならびにそれを備えた情報入出力装置および電子機器を提供する。
【解決手段】バス幅変換回路１１ｃは、複数の受光セルＣＲを有する入力パネル１１に設けられており、受光セルＣＲの受光信号を出力するＮ本のセンサ信号線ＳＳｉｇＸと、Ｍ本（２＜Ｍ＜Ｎ）の検査用出力線ＳｏｕｔＸとの間に接続されている。バス幅変換回路１１ｃは、Ｎ本のセンサ信号線ＳＳｉｇＸから入力されるパラレル信号を、Ｍ本またはＭ本よりも少ない数のパラレル信号として、複数の検査用出力線ＳｏｕｔＸに出力する。 （もっと読む）

【課題】高耐圧のスイッチ回路を提供する。
【解決手段】入力される切替信号に応じて２端子間を電気的に接続するか否かを切り替えるスイッチ回路であって、２端子間を電気的に接続するか否かを切り替える第１切替部と、入力電流に応じて第１切替部を制御する、第１切替部に対して電気的に絶縁された第１制御部と、第１制御部に入力電流を入力するか否かを切り替える第２切替部と、切替信号に応じて第２切替部を制御する、第２切替部に対して電気的に絶縁された第２制御部とを備えるスイッチ回路を提供する。 （もっと読む）

【課題】広範囲の周波数帯にわたって高い精度のインピーダンス整合を得る。
【解決手段】高周波スイッチング素子１１０は、第１のチャネル端子１２０および第２のチャネル端子１３０を有し、高周波信号１４０を、第１のチャネル端子と第２のチャネル端子の間のチャネル経路１５０を介して切替可能に経路付ける。高周波スイッチング回路１００は、電力検出回路１６０をさらに備え、第１のチャネル端子から第１の測定信号１７０を得ると共に、第２のチャネル端子から第２の測定信号１８０を得て、第１の測定信号と第２の測定信号とを組み合わせて、第１の測定信号および第２の測定信号に基づいて、高周波スイッチング素子のチャネル経路を介して経路付けられた高周波信号の電力値を示す電力信号１９０を導き出すように構成される。 （もっと読む）

【課題】終端抵抗のオンオフの切り替え時に外部端子にインピーダンスの急激な変化が生じることを低減する。
【解決手段】外部端子（図２のＤＱに相当）と、外部端子に接続され、出力信号を外部端子に出力可能とする出力回路（図２の２１に相当）と、外部端子に終端抵抗をオンオフ可能に接続する終端回路（図２の２２に相当）と、終端抵抗がオフ状態又はオン状態のいずれか一方の状態から他方の状態に変化するまでの時間を、データ出力時に出力信号が一方の論理レベルから他方の論理レベルへ変化するまでの時間以上となるように制御する第１のスルーレート制御回路（図２の２３ａに相当）と、を備える。 （もっと読む）

【課題】駆動回路において、プローブ針を用いた測定を行うことなく、複数の出力トランジスタの耐圧特性を一括して検査する。
【解決手段】駆動回路１は、半導体チップ２上に、高耐圧のＰチャネル型ＭＯＳトランジスタからなる出力トランジスタＴ１〜Ｔｍ、スイッチング制御回路ＳＣＬ１〜ＳＣＬｍ、出力端子Ｐ１〜Ｐｍ、ダイオードＤＯ１〜ＤＯｍ及び制御端子ＰＸを含んで構成される。ダイオードＤＯ１〜ＤＯｍは、ソースとゲートが共通接続された高耐圧のＰチャネル型ＭＯＳトランジスタからなる。ダイオードＤＯ１〜ＤＯｍのアノードは、それぞれ対応する出力端子Ｐ１〜Ｐｍのドレインｄ１〜ｄｍに接続される。ダイオードＤＯ１〜ＤＯｍのカソードは、配線３を介して、制御端子ＰＸに共通接続されている。 （もっと読む）

【課題】初期不良を効率的に排除する。
【解決手段】端子１１ａ、１１ｍと、端子１１ａ、１１ｍ間を直列形態で接続する第１〜第２ｎ＋１（ｎは１以上の整数）の抵抗素子（抵抗素子群１２）と、第１の抵抗素子の一端が接続される端子１１ａを第０のノードとし、第２ｎ＋１の抵抗素子の他端が接続される端子１１ｍを第２ｎ＋１のノードとし、第ｉ（ｉ＝１〜２ｎの整数）の抵抗素子の他端および第ｉ＋１の抵抗素子の一端の接続点を第ｉのノードとし、第０〜第２ｎ＋１のノードのいずれか一点を選択して出力可能とする選択回路１４と、第２ｋ（ｋ＝０〜ｎの整数）のノードを全て短絡可能とするスイッチ群１５ａと、第２ｋ＋１のノードを全て短絡可能とする第２のスイッチ群１５ｂと、を備える。第２ｋのノード、第２ｋ＋１のノードを全て短絡状態とし、その後、端子１１ａ、１１ｍ間に所定の電圧を一時的に印加する。 （もっと読む）

【課題】安定したパルス高周波電力を供給することができる高周波電源装置１を提供する。
【解決手段】高周波電源装置１は、パルス高周波電力の出力電圧を検出して包絡線検波を行い、その検波信号をサンプルホールド部６によりサンプリングし、サンプリング電圧Ｖｓを高周波電力生成部３にフィードバックしてパルス高周波電力Ｐｏｕｔの制御を行う。サンプルホールド部６は、サンプルホールド信号のオン期間中、検波信号Ｐａをサンプリング電圧Ｖｓとして出力し、サンプルホールド信号のオフ期間中、サンプルホールド信号がオンからオフへ切り替るタイミングの検波信号Ｐａの電圧レベルをホールドして、サンプリング電圧Ｖｓとして出力する。 （もっと読む）

【課題】マルチプレクサの動作異常を正確に検出可能とするマルチプレクサ回路を提供する。
【解決手段】複数チャンネルから入力されるアナログ入力信号を順次取り込み、当該入力信号を多重化して出力するマルチプレクサと、当該マルチプレクサから出力されるアナログ入力信号を複数のチャンネルに各々対応した複数のデジタル出力信号へ変換するＡＤコンバータと、複数のデジタル出力信号の出力値を監視し、当該出力値が全て予め定められた範囲内である状態が予め定められた判定時間の間継続している場合、マルチプレクサの動作が異常状態であると判定する処理装置と、アナログ入力信号の１つとして、判定時間より短い周期のパルス信号をマルチプレクサへ出力するパルス信号発生装置とを備えるマルチプレクサ回路。 （もっと読む）

【課題】コストおよび消費電力の増大をともなう高速の演算増幅器に依存することなく、ＩＣ化に適した回路でもって、高い周波数領域での静電容量挙動を高感度かつ高確度に検出できるようにし、これにより、高周波領域での誘電率挙動による物性の検査や分析を的確に行うことを可能にする。
【解決手段】２つのセンサ容量素子Ｃｘ１，Ｃｘ２を高周波クロック信号＋Φ１に同期して相補的に充放電させる通電回路５０と、その２つのセンサ容量素子の通電電流差分ΔＩｘと上記高周波クロック信号＋Φ１とのアナログ乗算操作によって、上記通電電流差分に応じた直流成分を有する電圧Ｖｏ１を出力する同期検波回路１０と、この同期検波回路１０の検波出力電圧を平滑処理しながら増幅する演算増幅器３０とを備え、この演算増幅器３０の出力から上記２つのセンサ容量素子の静電容量差分ΔＣｘに対応する直流出力電圧を得る。 （もっと読む）

【課題】 高周波信号を制御するスイッチング回路の動作試験のコストを低減すること。
【解決手段】 本発明は、複数の入出力端子３４及び３６の間に接続されるＦＥＴ５と、複数の入出力端子３４及び３６のうち少なくとも一つとＦＥＴ５との間に接続されるキャパシタＣ５及びＣ６と、キャパシタＣ５及びＣ６と並列に接続され、ゲート電極が接地端子３８に接続されるＦＥＴ６及びＦＥＴ７と、を有するスイッチング回路の試験方法であって、接地端子３８にＦＥＴ６及びＦＥＴ７を接続状態にする電位を印加するステップと、ＦＥＴ６及びＦＥＴ７を介して、ＦＥＴ５の直流試験を実施するステップと、を備えることを特徴とするスイッチング回路の試験方法である。 （もっと読む）

【課題】本発明は、誘導負荷に流れる負荷電流を止めなくても、負荷電流の電流検出部のオフセットを検出して補正をすることができる、誘導負荷制御装置の提供を目的とする。
【解決手段】ソレノイド電流を検出する電流検出回路１２と、ソレノイド電流と＋Ｂ電圧を選択的に検出する検出回路１７と、電流検出回路１２によって検出されたソレノイド電流と検出回路１７によって検出された＋Ｂ電圧とに基づき得られた第１の検出結果と、検出回路１７によって検出されたソレノイド電流に基づき得られた第２の検出結果とのいずれかの検出結果に応じて、ソレノイド電流の目標電流値にソレノイド電流の電流値が一致するように、ソレノイド電流を流すためのＰＷＭ信号のデューティ比を制御する制御回路１４とを備え、検出回路１７は、電流検出回路１２のオフセットの検出タイミングに応じて、＋Ｂ電圧を検出する代わりにソレノイド電流を検出する、誘導負荷制御装置。 （もっと読む）

【課題】プログラムの変更を行わずに、ウォッチドッグタイマの動作を検証する。また、ウォッチドッグタイマのタイムアウトを外部で確認する。
【解決手段】本発明の半導体装置（１）は、ウォッチドッグタイマ（２）と中央処理装置（３）とモード端子（４）とを有する。前記中央処理装置は、前記ウォッチドッグタイマのタイムアウト制御を制御する。前記ウォッチドッグタイマは、前記モード端子を介して、前記ウォッチドッグタイマのタイマ周期を前記中央処理装置のタイムアウト制御による周期よりも短くする指示を外部から与えられる。前記ウォッチドッグタイマは、前記指示に応答して、前記中央処理装置によるタイムアウト制御よりも先に、タイムアウトを検出する。 （もっと読む）