【課題】端子数を増加させることなく、自身の故障診断を行うことができる制御装置を提供する。
【解決手段】ＣＰＵ１ｃにより演算されている加算値または減算値が所定範囲外の値である場合に２つのセンサ素子のいずれかが故障していることを検出するようにした制御装置において、加算値または減算値が２つのセンサ素子のいずれかの故障を示す値となるように、２つの信号線によって電送される信号のいずれかを変化させ、この２つの信号線によって電送される信号を、加算値または減算値が２つのセンサ素子の故障を示す値となるように変化させている状態で、２つのセンサ素子が正常であることが検出されている場合に、制御装置が故障していることを検出する。 （もっと読む）

【課題】太陽電池の欠陥検出の精度を改善する。
【解決手段】本発明の実施形態の欠陥検出装置は、検査対象である太陽電池セル９を保持する保持部１０と、複数の点光源３を備える面光源４と、駆動制御信号を生成するピッチ制御部（５，７）と、駆動制御信号に基づいて、面光源４を移動させる移動機構（６，８）と、面光源４の発光パターンを制御する発光制御信号を生成する光源制御部１３と、面光源４が発光した光に応じて太陽電池セル９に発生した電流の電流値を計測し、電流値を示す計測情報を生成する計測部１１と、を備える。ピッチ制御部（５，７）は、複数の点光源３の間隔より小さいピッチで面光源４が移動するように、駆動制御信号を生成する。計測部１１は、太陽電池セル９に対する面光源４の位置毎に、複数の計測情報を生成する。 （もっと読む）

【課題】電気的検査と光学像による観察とを行うＴＦＴ液晶基板検査において、装置構成を小型化し、基板アレイ検査のスループットを向上させる。
【解決手段】ＴＦＴ液晶基板検査装置は、検査チャンバーから電気的検査によって欠陥位置を取得したＴＦＴ液晶基板を、検査チャンバーから基板交換チャンバーに搬出する際に、ＴＦＴ液晶基板上の欠陥位置に撮像装置を移動させて光学像を取得する構成とすることによって、光学像を取得的するために要するスペースを不要として装置構成を小型化すると共に、ＴＦＴ液晶基板の搬出と同時に光学像を取得することによって、光学像のみを取得するための時間を不要としてＴＦＴ液晶基板検査のスループットを向上させる。 （もっと読む）

【課題】リレーのオープン故障ではないのに、リレーのオープン故障と検出されてしまうケースを低減することができるリレー故障検出装置を提供する。
【解決手段】マイコン３０は、リレー３１の後段電圧をリレー後段電圧検出手段Ｖaで検出する。更に、リレー３１の通常閉側接点電圧をリレー通常閉側接点電圧検出手段Ｖbで検出する。そして、リレー３１の後段電圧Ｖahが閾値Ｖα以下の場合には、リレー接点異常と判断する。そして、リレー接点異常判断手段３０が、リレー接点異常と判断した場合には、リレー３１の後段電圧Ｖahと、リレー３１の通常閉側接点電圧Ｖbhを比較する。そして、リレー３１の後段電圧Ｖahと、リレーの通常閉側接点電圧Ｖbhとが等しい場合には、通常閉側接点異常と判断する。そして、マイコン３０は、通常閉側接点異常と判断した場合には、一定時間経過後にリレー３１のオン、オフを複数回実施し、再度リレー接点異常判断を試みる。 （もっと読む）

【課題】制御手段側にて監視手段における暗電流モードが正常に機能しているか否かを診断可能な電池監視装置を提供する。
【解決手段】監視回路２１に暗電流モード時にカウントを停止するタイマ回路２１５を設け、マイコン２２側から監視回路２１に対して暗電流モードへの移行を指示するモード切替指示信号が伝達されてから正常モードへの移行を指示するモード切替指示信号が伝達されるまでの間のタイマ回路２１５のカウント値をマイコン２２にて確認し、タイマ回路２１５のカウント値が異常診断基準値を上回っている場合に監視回路２１の暗電流モードが正常に機能していないと診断する。 （もっと読む）

【課題】電流センサにより検出される電流が所定範囲内という特定の条件下に限定されることなく、電流センサの故障診断が可能な技術を提供する。
【解決手段】励磁コイル２２が巻回された磁性体コア２１に励磁電流ｉ_ｅが流されることで励磁コイル２２が受けた磁束の変化に応じた検出信号ｉ_ｂを出力する電流センサ２０の故障診断装置４０であって、励磁コイル２２とは別に磁性体コア２１に巻回された故障検知コイル４１と、制御部４２と、を備え、制御部４２は、故障検知コイル４１に生じる誘起電圧ｖ_ｉを検出する誘起電圧検出処理と、誘起電圧検出処理で検出した誘起電圧ｖ_ｉに基づいて電流センサ２０を故障と判定する故障判定処理と、を実行する構成を有する。 （もっと読む）

【課題】制御手段にて監視手段における暗電流モードが正常に機能しているか否かを診断可能な電池監視装置を提供する。
【解決手段】暗電流モード時には、監視手段を構成する監視回路２１側から制御手段を構成するマイコン２２側へ応答信号が伝達されない構成とする。そして、マイコン２２側から監視回路２１側へ正常モードから暗電流モードへの移行を指示するモード切替指示信号を伝達した後、監視回路２１側に対してモード確認信号を伝達する。この際、監視回路２１側からの応答信号の有無をマイコン２２で確認し、応答信号が伝達された場合に監視回路２１の暗電流モードが正常に機能していないと診断する。 （もっと読む）

【課題】電子部品の搭載時間を短縮する。
【解決手段】供給される電子部品１０を受け取る受け取り部３ａ〜３ｅと、受け取り部３ａ〜３ｅで受け取った電子部品１０を保持して予め決められた搭載位置に移動させる移動機構４と、移動機構４を制御する制御部とを備えて、電子部品１０を基板１００に搭載可能に構成され、受け取り部３ａ〜３ｅは、供給された電子部品１０を支持する支持部と、支持部によって支持されている電子部品１０の電気的特性を測定する測定部とを備えて構成され、制御部は、測定部によって測定された電子部品１０の電気的特性が予め決められた条件を満たすときに移動機構４を制御して電子部品１０を搭載位置に移動させて基板１００に搭載させる。 （もっと読む）

【課題】スイッチのオープン故障を検出することを可能とする故障検出装置および方法を提供する。
【解決手段】本発明による故障検出装置（１０）は、電源と負荷との間に接続されたスイッチ（Ｑ２）と並列接続された電圧降下素子（Ｄ２）と、前記スイッチの開閉を制御するスイッチ制御部（１３）と、前記スイッチ制御部が前記スイッチを開または閉に制御した状態で前記電圧降下素子の端子間の相対電圧を検出する電圧検出部（１１）と、前記電圧検出部により検出された相対電圧と前記スイッチ制御部による前記スイッチの制御状態とに基づき前記スイッチの故障を判定する故障判定部（１２）とを備える。 （もっと読む）

【課題】負荷側回路の動作に影響を与えない接点検査装置、接点検査方法及び接点検査システムを提供する。
【解決手段】一次回路は検査信号を入力し、二次回路は出力回路から入力された電気信号を通過又は遮断する接点が、前記電気信号を遮断する場合、前記一次回路とインピーダンスが整合し、判定部は前記一次回路から反射した検査信号と、前記接点に対して前記電気信号を通過するか否かを制御する接点制御信号に基づいて前記接点の機能を判定する判定部とを備える。 （もっと読む）

【課題】電流センサの故障診断を常時且つ安価に実現する。
【解決手段】被計測電流Ｉが生じさせる磁界に対して逆磁界を生じさせる回路を有する電流センサ１０の故障診断装置２０であって、電源から電流センサ１０への入力電流ｉｃを測定する入力電流測定回路２５と、入力電流測定回路２５により検出された入力電流の値ｉｃ及びその時点で測定された被計測電流の値ｉの関係を、それらの既知の相関関係と比較することに基づいて電流センサ１０の故障を判別する故障検出手段とを備える。 （もっと読む）

【課題】充電状態の電気二重層キャパシタの測定に関し、電荷放電を抑制して省エネルギー化を実現する。微小電圧変化での測定を可能にし、ノイズの影響を回避する。
【解決手段】充電された電気二重層キャパシタ（キャパシタモジュール４）に正弦波負荷（正弦波負荷回路１２）を接続して放電回路（１０）を形成し、前記正弦波負荷を付与して前記電気二重層キャパシタ（キャパシタモジュール４）を放電させ、前記放電回路に流れる電流を電流検出手段（電流検出回路２０）で検出し、前記放電回路を介して放電中の前記電気二重層キャパシタの電圧を電圧検出手段（電圧検出回路２２）で検出し、前記電流検出手段の検出電流と前記電圧検出手段の検出電圧とを用いて前記電気二重層キャパシタのインピーダンスを算出手段（演算部２４、ＭＰＵ３２）により算出する。電気二重層キャパシタの劣化診断にはこのインピーダンスの算出結果を用いている。 （もっと読む）

【課題】試験時の熱収縮によりケーブルコアが損傷することを防止できる超電導ケーブル用ケーブルコアの試験方法、及びドラムを提供する。
【解決手段】試験対象として、超電導導体層を具えるケーブルコア100であって、ドラム10に巻き取られたものを準備する。冷却容器1に上記試験対象を収納して液体冷媒2Lを充填し、超電導導体層を液体冷媒2Lにより冷却して超電導状態に維持しながら、コア100の全長に亘って特性を調べる。ドラム10の巻胴11は、コア100の構成部材のうち、コア100に作用する張力を分担する主要部材(例えば、フォーマ)の構成材料(例えば、銅)よりも熱収縮率が大きい材料(例えば、アルミニウムやその合金)から構成されている。巻胴11の熱収縮率がコア100の特定の構成部材よりも大きいことで、コア100が熱収縮しても巻胴11を締め付け難く、コア100の損傷を防止できる。 （もっと読む）

【課題】実際の強誘電体メモリセルについて疲労特性を直接に測定する試験方法を含む半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置の製造方法は、基板上に形成された強誘電体キャパシタの疲労特性の面内分布を取得する第１の工程と、前記面内分布に基づいて、半導体装置を製造する第２の工程と、を含み、前記第２の工程は、前記半導体装置が形成される基板上に複数の強誘電体キャパシタを形成し、前記第１の工程で取得された疲労特性の面内分布から、前記半導体装置が形成される基板上の特定領域を指定し、前記特定領域に形成された前記強誘電体キャパシタについて疲労特性を測定し、前記特定領域の強誘電体キャパシタについて測定した前記疲労特性に基づき、前記特定領域の強誘電体キャパシタについて良否判定を行い、前記良否判定の結果が良であれば、前記複数の強誘電体キャパシタの全てについて良と判定する。 （もっと読む）

【課題】蓄電池に流れる電流を検出する電流センサの異常検出装置および異常検出方法において、電流センサの異常の有無および異常内容を診断可能とすることにより、異常発生時のフェールセーフ性を向上する。
【解決手段】直列接続された複数の電池ブロックＢ１，Ｂ２にそれぞれ設けられ、各々が対応する電池ブロックを流れる電流を検出する複数の電流センサ１１１，１１２の異常を検出する異常検出装置であって、所定期間における各複数の電流センサ１１１，１１２の検出値が電流軸上で変化した軌跡の長さを示す軌跡長を算出する第１の算出手段と、所定期間における各複数の電流センサ１１１，１１２の検出値の平均値を算出する第２の算出手段と、第１および第２の算出手段の算出結果に基づいて、複数の電流センサ１１１，１１２の異常の有無および異常内容を診断する異常診断手段とを備える。 （もっと読む）

【課題】構成がきわめて簡単でありながら、コンタクトチェック、充電チェックおよび絶縁抵抗チェックを確実に行うことができるようにする。
【解決手段】充電ステップでコンデンサＣを規定電圧で充電したのち、検査ステップで、直流電源Ｅより一対のプローブＰを介してコンデンサＣに所定の直流電圧を印加した状態で、電流計１１にてコンデンサＣに流れる電流（漏れ電流）値を測定してコンデンサの良否を検査するにあたって、一対のプローブＰ間に電圧計１２を接続するとともに、直流電源Ｅにスイッチ１３を設け、スイッチ１３をオフとして電圧計１２にて測定される電圧測定値により、コンタクトチェックと充電チェックとを行い、ともに良好である場合に、スイッチ１３をオンとして絶縁抵抗チェックを行う。 （もっと読む）

【課題】電気的バイアス処理を多数個一括処理を行って、より効率よく不良デバイスを正常な絶縁状態に回復させる。
【解決手段】デバイス６のリーク欠陥部分に対して電気的ストレスを供給してリーク欠陥部分の絶縁状態を正常化するリペア装置１において、電気的ストレス源とする高電圧電源２と、高電圧電源２により充電される複数のコンデンサ７からの各電荷ストレスを複数のデバイス６にそれぞれ一括して同時に印加する電圧印加手段を有している。 （もっと読む）

【課題】外部充電が可能な車両において、車両起動前に充電リレーの溶着診断を行ない、車両の安全性を確保する。
【解決手段】車両１００は、外部の直流電源４００から電力ケーブル４２０を介して伝達される電力を用いて搭載された蓄電装置１１０の充電が可能である。車両１００は、インレット２２０と、蓄電装置１１０と負荷装置１０５との間に設けられるＳＭＲ１１５と、ＳＭＲ１１５および負荷装置１０５を結ぶ経路ＰＬ１，ＮＬ１とインレットとの間に設けられるＣＨＲ２１０とを備える。ＥＣＵ３００は、電力ケーブル４２０がインレット２２０に接続されていない状態で、車両１００の起動指令を受けた際に、ＳＭＲ１１５を開放した状態におけるインレット２２０の電圧に基づいて、ＣＨＲ２１０の溶着異常を判定する。そして、ＣＨＲ２１０の溶着異常が生じている場合には、ＳＭＲ１１５を閉成することが禁止される。 （もっと読む）

【課題】ノイズの放電時期を適宜選択しながら、効率的に実現し得るような装置及び検査方法を提供すること。
【解決手段】直流電源１と複数個の各テスト回路５との間を、充電用抵抗素子（Ｒ_１）、放電用抵抗素子（Ｒ_２）、キャパシタンス（Ｃ）を備えているノイズ放電回路２を設け、当該ノイズ放電回路２と各テスト回路５との間に介在しているプローブ４が、複数個の各テスト回路５を選択しかつ接続可能とする一方、前記各テスト回路５に対し選択回路８を介して接続されている同期遅延コントローラー回路６が、印加コントローラー回路７を介してノイズ放電の時期を調整することができるテスト回路５の誤動作試験装置及び当該装置を使用している誤動作検出方法。 （もっと読む）