【課題】広い波長帯域の光から特定の波長を抽出可能な波長可変干渉フィルター、光学フィルターデバイス、光学モジュール、及び電子機器を提供する。
【解決手段】波長可変干渉フィルター５は、第一反射膜５５１及び第三反射膜５５３を有する第一基板５１と、第一反射膜５５１に第一ギャップＧ１を介して対向する第二反射膜５５２を有する第二基板５２と、第三反射膜５５３に第二ギャップＧ２を介して対向する第四反射膜５５４を有する第三基板５３と、第一ギャップＧ１を変更する静電アクチュエーター５６とを備え、平面視において各反射膜が重なる光干渉領域Ａｒ０を有し、第一及び第二反射膜５５１，５５２により構成される波長可変干渉部５７の複数の測定対象波長域のうちいずれか１つは、第三及び第四反射膜５５３，５５４により構成される波長固定干渉部５８の複数の透過可能波長域のうちのいずれか１つと重なる。 （もっと読む）

【課題】反応槽内で生じ得る気体又は固体の不純物を光学プローブから良好に除去することができる不純物除去装置、及び当該装置を備える分光分析装置を提供する。
【解決手段】不純物除去装置２０は、反応槽Ｃに収容される溶液Ｓに浸漬される光学プローブ１１から気体又は固体の不純物を除去する装置であり、一端２１ａが反応槽Ｃ内の溶液Ｓに浸漬した状態で光学プローブ１１に向けて配されたチューブ２１と、チューブ２１の他端２１ｂに接続されて、一端２１ａを介した反応槽Ｃ内の溶液Ｓの吸入及び排出を行うポンプ２２と、光学プローブ１１を介した検出光から求められるスペクトルの特定波数成分が予め設定された閾値よりも小さくなった場合にポンプ２２を動作させる制御部２３とを備える。 （もっと読む）

【課題】より広範囲かつ高速に対象を検出することが可能な対象検出装置および対象検出方法を提供する。
【解決手段】対象検出装置１０１は、検出対象の物性に応じて予め選択された複数の波長帯について、２次元画像を撮像するための撮像部１１と、２次元画像の各画素における物質を検出するための検出部１２とを備え、撮像部１１は、撮像素子部３２と、波長フィルタ部３１とを含み、波長フィルタ部３１は、波長選択フィルタを選択するための可動機構を有する。 （もっと読む）

【課題】線維化に関連する特定物質の占有率を自動で算出して診断支援情報として提供することができる病理診断支援装置、病理診断支援方法、及び病理診断支援プログラムを提供する。
【解決手段】本発明による病理診断支援装置100は、染色標本画像の画素値に基づいて、標本画像中の病変を検出するための指標となる少なくとも１種の特定物質を分類する画像分類部102と、標本画像に含まれる組織領域を抽出する組織領域抽出部103と、組織領域を複数の区画に分割する画像分割部104と、画像分類の結果に基づいて、複数の区画のそれぞれについて、少なくとも１種の特定物質の区画内での占有率を算出する特定物質占有率算出部105と、算出した複数の区画の占有率から、標本画像における特定物質占有率の中間値を決定し、当該中間値を診断支援情報として提供する診断支援情報提供部106と、を備える。 （もっと読む）

【課題】パターンを有する位相差フィルムの領域の直線性又はピッチの精度を簡単に評価しうる評価方法を提供する。
【解決手段】光源と基準部材と位相差フィルムと着脱可能な偏光フィルターと光検出器とをこの順に備える評価系において、基準部材は偏光子を備え且つ一の基準方向に延在する透光領域を有し、位相差フィルムは、面内に均一な位相差を有する第一位相差フィルムと、一方向に延在する複数の異方性領域及び等方性領域を面内において交互に有する第二位相差フィルムとを備え、基準部材の基準方向における複数の地点を偏光フィルターを装着せずに観察して、基準方向に平行な基準線を前記複数の地点で同様に設定することと、偏光フィルターを装着して観察して、基準線と光が検出された部分の縁部とのズレ量を測定することとを行い、ズレ量の相違から異方性領域及び等方性領域の直線性を評価する。 （もっと読む）

【課題】滑沢剤の展延状態を正確に測定する。
【解決手段】滑沢剤の展延解析装置１は、錠剤を構成する粒子（賦形剤：ラクトース）および滑沢剤が混合されている被測定物２における滑沢剤の展延状態を判定する。滑沢剤の展延解析装置１は、20GHz以上500THz以下の周波数の電磁波を出力する電磁波出力器１２と、電磁波を全反射する全反射面１４ａを有し、全反射面１４ａから生じるエバネッセント波を被測定物２が受ける光学素子１４と、全反射面１４ａにより全反射された電磁波を検出する電磁波検出器１８と、展延判定装置２０とを備える。展延判定装置２０は、所定の周波数領域の部分における、全反射面１４ａの反射率の、混合時間の経過に対する変化に基づき、滑沢剤の展延状態を判定する。なお、粒子の所定の周波数領域における電磁波の吸収率が、粒子の所定の周波数領域以外の周波数領域における電磁波の吸収率と比べて高い。 （もっと読む）

【課題】成長度合いが異なっていても特定の植物が存在しているか否かを判定できるようにする。
【解決手段】本情報処理方法は、測定波長領域のうちクロロフィル含有量の変動による影響が現れる所定領域以外の領域について、照合対象のスペクトルデータと樹木の基準スペクトルデータとの間の類似度を算出する算出処理と、算出された類似度を所定の閾値とを比較する処理とを含む。これにより、クロロフィル含有量の変動による影響を排除でき、正しく樹種を特定できるようになる。 （もっと読む）

【課題】実用に耐えられる精度によって、個々の細胞の自動追跡結果から正常データを自動的に選出することが可能な細胞挙動解析装置等を提供する。
【解決手段】細胞挙動解析装置１は、タイムラプス画像のフレームごとに、タイムラプス画像内の個々の細胞の位置を示す細胞位置情報が時系列順に格納される追跡結果データ２と、追跡結果データ２に対して、フレーム間ごとに細胞位置情報同士の対応付けの信頼性を示す信頼度３と、追跡結果データ２が正常データか否かを判断するための基準となる閾値４と、を予め記憶しておく。そして、細胞挙動解析装置１は、所定の挙動解析範囲に含まれる全てのフレームに係る信頼度３が、予め定められる閾値４を超える追跡結果データ２を、正常データとして選出する。 （もっと読む）

【課題】組織を迅速に分析する方法の提供。
【解決手段】染色組織マイクロアレイの画像中の複数のヒストスポット各々について位置を同定するためのコンピュータによる実行方法であり、ａ）該画像から異常なサイズ及び形状を有するヒストスポットのいずれかを除去する工程；ｂ）複数のスポット内の代表的スポットに特徴的サイズ及び形状を有する仮想的マスクを適用して画像の他のピクセル強度領域より高いピクセル強度領域を有する画像の領域を覆う工程；ｃ）マスク下の領域の画像の強度を一時的に０に設定する工程；ｄ）どの領域もヒストスポットとみなされるために充分な強度を有さないと同定されるまで、工程ｂ）及びｃ）を繰り返す工程；ｅ）ヒストスポット各々の参照点を同定する工程；ｆ）各スポットの各々の参照点を最も近く隣接するヒストスポット又は画像の縁部のいずれかにつなげる工程；を包含する。 （もっと読む）

【課題】樹木に加えて土が一部に現れている状況においても特定の植物が存在しているか否かを判定できるようにする。
【解決手段】本方法は、（Ａ）可視光領域のうち樹木の特徴が現れる第１の領域を少なくとも含む領域について、照合対象のスペクトルデータと樹木の基準スペクトルデータとの間の第１の類似度を算出するステップと、（Ｂ）近赤外光領域のうち樹木の特徴が現れる第２の領域を少なくとも含む領域について、照合対象のスペクトルデータと樹木の基準スペクトルデータとの間の第２の類似度を算出するステップと、（Ｃ）第１の類似度と第２の類似度とを重み付け加算して第３の類似度を算出するステップと、（Ｄ）第３の類似度と所定の閾値を比較するステップとを含む。そして、第２の類似度の重みより第１の類似度の重みが大きい。 （もっと読む）

【課題】金属の塗膜や半導体ウエハのエピ層等の積層膜中の欠陥検査の測定時間を短縮したテラヘルツ波を用いた検査装置及び検査方法を提供することを目的とする。
【解決手段】予め基準サンプルを用いてテラヘルツ波信号の時間波形を求め、時間波形の基準ピーク位置およびその近傍の基準測定位置の強度データを予め求めておくステップと、被測定物の測定点の時間波形について、基準ピーク位置および基準測定位置について、被測定物の強度データを求めるステップと、基準サンプルと被測定物との基準ピーク位置および基準測定位置の強度データを比較して、ピーク位置のずれと強度データの差とが予め設定された値以上の場合に異常と判定するステップと、から成り、時間波形を予め測定された基準位置の強度データのみをサンプリングして、測定時間を短縮するようにしたことを特徴とするテラヘルツ波を用いた検査方法。 （もっと読む）

【課題】一の包埋標本から得られた複数の薄層切片をそれぞれ撮像し、得られた２次元画像同士を重ね合わせる際に、薄層切片取得時の歪み等を簡便に補正し、より正確な重ね合わせ画像を構築する方法の提供。
【解決手段】（ａ）被検試料及びマーカーが埋め込まれている包埋標本を作製する工程と、（ｂ）前記工程（ａ）の後、前記包埋標本を薄切りし、２枚以上の薄層切片を作製する工程と、（ｃ）前記工程（ｂ）の後、作製された各薄層切片の２次元画像を撮像する工程と、（ｄ）前記工程（ｃ）の後、取得された２次元画像同士を、各２次元画像中のマーカーを基準として重ね合わせた画像を構築する工程と、を有することを特徴とする、重ね合わせ画像の構築方法。 （もっと読む）

【課題】拡大観察装置の校正を簡単かつ短時間で行うことを可能にする校正具および拡大観察装置を提供する。
【解決手段】校正板４００は、ガラス板からなる透光性プレート４２０を含む。透光性プレート４２０は、３つの校正区域４２１，４２２，４２３を有する。各校正区域４２１，４２２，４２３は、第１の領域ＡＲ１および第２の領域ＡＲ２を含む。各校正区域４２１，４２２，４２３の中央に第１の領域ＡＲ１が設けられ、第１の領域ＡＲ１を取り囲むように第２の領域ＡＲ２が設けられる。第１の領域ＡＲ１には校正目盛Ｃが形成され、第２の領域ＡＲ２には複数のガイドマーカＧＭが分散して形成される。第１の領域ＡＲ１の校正目盛Ｃが撮像されることにより拡大観察装置の校正が行われる。第２の領域ＡＲ２の各ガイドマーカＧＭは、当該ガイドマーカＧＭから第１の領域ＡＲ１の中央部分ＴＰに向かう方向を示す。 （もっと読む）

【課題】クリープ損傷を受ける金属の余寿命をＤパラメータ法で診断するに際し、余寿命診断処理を容易化する。
【解決手段】
診断用コンピュータ３に、金属表面における複数の粒界に対応する粒界画像データを取得させ（Ｓ３）、粒界画像データから、各粒界の始点座標と終点座標を含む粒界データを取得させ（Ｓ４）、配管の応力方向に垂直な参照方向を示す参照方向データを、粒界画像データに設定させ（Ｓ５）、参照方向データに基づいて、複数の粒界データの中から、参照方向を中心とする所定の角度範囲に属する垂直粒界データを抽出させ（Ｓ５）、垂直粒界データに対応する粒界上のボイド形成状態に基づいて、当該垂直粒界データが損傷粒界に対応する損傷粒界データか否かを判断させ（Ｓ６）、垂直粒界データに対応する粒界の数、及び、損傷粒界データに対応する粒界の数に基づき、Ｄパラメータ法を用いて金属の余寿命を診断させる（Ｓ８）。 （もっと読む）