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国際特許分類[H01L25/00]の内容

電気 (1,674,590) | 基本的電気素子 (808,144) | 半導体装置,他に属さない電気的固体装置 (445,984) | 複数の個々の半導体または他の固体装置からなる組立体 (14,678)

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【課題】モジュールの小型化のため、SMD部品と半導体チップの部品間隔を狭くし、両部品を効率よく混載実装することができる小面積の実装構造体の製造方法を提供する。
【解決手段】回路基板101の第一の電極部103に、SMD部品113の電極部114と接続させるための電極接合材105を形成する工程と、ICチップ107が搭載される領域に絶縁性樹脂110を供給する工程と、ICチップ107を絶縁性樹脂110が供給された領域に搭載すると共に、絶縁性樹脂110を外周囲に選択的に流し広げる工程と、SMD部品113を電極接合材105上に搭載する工程と、電極接合材105と絶縁性樹脂110とを一括して加熱する工程とを有する製造方法とする。 (もっと読む)


【課題】 アンダーフィル材を用いずに、半導体装置の接合部の耐圧迫性や長期信頼性を改善することができる実装構造を提供することを課題とする。
【解決手段】 電子部品4の電極4cを接続端子8を介して配線基板2の電極パッド2aに接合する。配線基板2を貫通して延在する貫通開口2bが、配線基板2の電子部品4が実装される領域の周囲に設けられる。クランプ部材10は貫通開口2bを貫通して延在する。クランプ部材10は、貫通開口2bを貫通して延在する中間部10cと、中間部10cの両端において屈曲された先端部10a,10bとを有する。先端部10a,10bの間で電子部品4と配線基板2とを挟み込む。 (もっと読む)


【課題】製造工程の簡略化を図ると共に、優れた高周波特性を示すインターポーザを提供する。
【解決手段】基板11に貫通電極12を設け、基板11上に誘電体層14Aを形成したのち誘電体層14A上に配線16A,16Bおよびアンテナ17を形成する。次に、基板11の下面および誘電体層14A上にそれぞれ誘電体層14,14Cを積層したのち、基板11に凹部19Aを設けることにより、インターポーザ10Aが完成する。基板11の上面側に半導体チップ20を接合したのち、基板11の下面側をプリント基板30に実装する。基板11上に半導体チップ20とプリント基板30とを接続するための配線16A,16Bを設けたことにより製造工程が簡略化される。 (もっと読む)


【課題】搭載されるチップキャパシタ等の電子部品と基板表面との隙間に封止樹脂が完全に充填されるようにし、絶縁信頼性の向上に寄与すること。
【解決手段】複数の配線層が絶縁層を介在させて積層され、各絶縁層に形成されたビアを介して層間接続された構造を有する配線基板10において、チップ搭載面側の最外層の絶縁層13に、複数の電子部品搭載用のパッド12が絶縁層13の表面に露出するよう形成され、絶縁層13の、電子部品31の搭載領域に対応する部分に、凹部DPが形成されている。凹部DPは、絶縁層13において、搭載される電子部品31の各電極端子32がそれぞれ接続される各パッド12間に挟まれた領域に形成されている。 (もっと読む)


【課題】低周波発振と高周波発振とを共に抑制することができる高周波回路を提供する。
【解決手段】高周波回路は、複数のトランジスタ12、複数の入出力整合回路14−1,14−2、複数の抵抗体18、低周波発振抑制回路17を含む。複数のトランジスタは、半導体基板11上に並列に配列形成される。複数の入出力整合回路は、それぞれ第1の絶縁基板13−1上、第2の絶縁基板13−2上に、複数のトランジスタにそれぞれ接続されて設けられている。低周波発振抑制回路は、所望の周波数帯域を透過帯域として有し、並列に配列形成された複数のトランジスタのうち、両側のトランジスタのゲート端子に接続される。複数の抵抗体は、複数の入出力整合回路間のうち、トランジスタに最も近い位置に形成されるとともに、透過帯域の最も低い周波数の発振に対して低周波発振抑制回路を作用させることが可能な長さで、複数の入出力整合回路間に形成される。 (もっと読む)


【課題】小型化を実現しつつ、耐衝撃性に優れた圧電振動子、及び圧電デバイスを提供する。
【解決手段】パッケージ12の内部において収容された圧電振動片26を有する圧電デバイスであって、前記圧電振動片26を前記パッケージ12の前記内部において支持する複数の支持部材38を備え、前記複数の支持部材38は、前記圧電振動片26を挟む位置に配置され、前記圧電振動片26が、前記複数の支持部材38を介して前記パッケージ12の互いに対向する内面により挟持されて、支持されてなる。 (もっと読む)


【課題】配線回路の高密度化を図る。
【解決手段】複数の接続端子101a,102aが露出する半導体装置1の表面に絶縁層103を形成し、絶縁層の表面に樹脂被膜104を形成し、樹脂被膜の表面側から樹脂被膜の厚みと同じ又は厚みを超える深さの溝105を接続対象の接続端子の近傍を通過するように形成すると共に、その近傍通過部分から接続対象の接続端子に到達する連通孔106,107を形成し、溝及び連通孔の表面にメッキ触媒又はその前駆体を被着させ、樹脂被膜を溶解又は膨潤させることにより除去し、無電解メッキを行うことによりメッキ触媒又はメッキ触媒前駆体から形成されるメッキ触媒が残留する部分のみにメッキ膜を形成することにより、絶縁層の表面に位置する本体部と、この本体部から分岐して絶縁層の内部に延び、接続対象の接続端子に到達する分岐部とを有する配線108を設ける。 (もっと読む)


【課題】本発明は、製造コストが安価で、封止樹脂層の信頼性が向上する、封止樹脂層から導電性ポストの一部が露出した電子部品モジュールの製造方法を提供する。
【解決手段】
本発明に係る電子部品モジュール1の製造方法は、回路基板11の一方の面に電子部品12、13を実装し、回路基板11の一方の面、及び/又は回路基板11の一方の面に実装した電子部品12、13の上に、少なくとも1つの導電性ポスト14を形成し、回路基板11の一方の面に、電子部品12、13及び導電性ポスト14を覆う半硬化状態の封止樹脂層15を形成する。封止樹脂層15の天面に弾性部材16を載置し、弾性部材16を介して封止樹脂層15を押圧して導電性ポスト14の一部を弾性部材16に埋め込み、封止樹脂層15から弾性部材16を剥離し、封止樹脂層15に熱を加えて硬化する。 (もっと読む)


【課題】絶縁膜の表面に対して平坦化する工程を行わなくても、コイルの延設方向が構成部材の積層方向に対して傾くことを抑制することができる半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】平坦な一面を有する支持基板80を二枚用意する工程と、支持基板80それぞれの平坦な一面上に構成部材30〜60を形成する工程と、二枚の支持基板80に配置された構成部材30〜60を対向させて配置した後加圧しながら貼り合わせ、当該構成部材30〜60に備えられている支持基板80それぞれの平坦な一面を平行としつつ、構成部材30〜60それぞれの配線部32〜62を接続部32a、32b〜62a、62bを介して連結する工程を含む工程を行うことにより、配線部32〜62および接続部32a、32b〜62a、62bで構成されるコイル20を内部に含み、積層方向の両端部分に支持基板80を備えたコイル層21を形成する工程と、を行う。 (もっと読む)


【課題】対湿性に優れ、信頼性が高く、製造コストの低い高周波モジュール及びその製造方法を得ること。
【解決手段】電子部品7と、電子部品7が実装された多層セラミック基板1と、電子部品7を覆うように多層セラミック基板1上に低融点はんだ6で接合されたキャップ9と、多層セラミック基板1の電子部品7の実装面とは反対側の面に高融点はんだ4で接合された複数のバンプ5とを備えた高周波パッケージ20と、バンプ5に対応する基板側パッド11を備えた制御回路基板10と、低融点はんだ6の融点よりも低温で硬化する導電性接着剤14によって形成され、バンプ5の各々と基板側パッド11の各々とを接着するとともに電気的に接続する接着導通部とを有する。 (もっと読む)


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