【課題】高アスペクト比のフィーチャーをタングステン含有材料で充填する。
【解決手段】部分的に製造された半導体基板上の高アスペクト比のフィーチャーをタングステン含有材料で充填する方法が提供される。ある実施形態においては、当該方法は高アスペクト比のフィーチャーにタングステン含有材料を部分的に充填する工程とフィーチャー空洞から部分的に充填された材料を選択的に除去する工程とを有する。これらの方法を用いて処理された基板においては、高アスペクト比のフィーチャーに充填されたタングステン含有材料のステップカバレッジが改善され、シームの大きさが低減する。 （もっと読む）

【課題】高誘電体材料を含むゲート絶縁膜とメタルゲート電極とを有する半導体装置の製造中にポリシリコンからなる残渣が素子分離領域上に生じる虞があり、不良の原因であった。
【解決手段】半導体基板１０の第１の活性領域１０ａ上には、高誘電体材料と第１の金属とを含有する第１のゲート絶縁膜１３ａと、下層導電膜１５ａと第１の導電膜１８ａと第１のシリコン膜１９ａとを有する第１のゲート電極３０ａとを備えた第１導電型の第１のトランジスタが形成されている。半導体基板１０の第２の活性領域１０ｂ上には、高誘電体材料と第２の金属とを含有する第２のゲート絶縁膜１３ｂと、第１の導電膜１８ａと同一の材料からなる第２の導電膜１８ｂと第２のシリコン膜１９ｂとを有する第２のゲート電極３０ｂとを備えた第２導電型の第２のトランジスタが形成されている。 （もっと読む）

【課題】エロージョンの発生及び研磨残渣の発生がない金属からなる配線又はプラグを形成できるようにする。
【解決手段】半導体基板１上の層間絶縁膜３にコンタクトホール３ａを形成する。続いて、層間絶縁膜３上に金属を含む化合物及び第１の還元性ガスを供給することにより、コンタクトホール３ａを含む層間絶縁膜３の上に第１のシード層５を形成する。続いて、第１のシード層５上に金属を含む化合物及び第２の還元性ガスを供給することにより、第１のシード層５の上に第２のシード層６を形成する。続いて、第２のシード層６の上に、金属をコンタクトホール３ａを埋め込むように形成する。続いて、ＣＭＰ法により、層間絶縁膜３のコンタクトホール３ａを除く上面に残存する金属、第２のシード層６及び第１のシード層５を除去することにより、コンタクトホール３ａにプラグ７Ａを形成する。 （もっと読む）

【課題】高誘電体絶縁膜及びメタルゲート電極を有する半導体装置において、高仕事関数を得ると共にＮＢＴＩ信頼性劣化を低減する。
【解決手段】半導体装置１００において、基板１０１上に、高誘電体ゲート絶縁膜１０９を介してメタルゲート電極１１０が形成されている。高誘電体ゲート絶縁膜１０９とメタルゲート電極１１０との界面におけるメタルゲート電極１１０の側に、ハロゲン元素が偏析している。 （もっと読む）

【課題】高誘電率材料を含むゲート絶縁膜と、高融点金属等を含むゲート電極とを備え、消費電力の低減と高速動作化とが図られた半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置の製造方法は、高誘電率膜を含む絶縁膜１０１ａを形成する工程（ａ）と、上面に酸化膜が形成され、高融点金属または高融点金属の化合物の少なくとも一方を含む第１の導電膜１０２ａを形成する工程（ｂ）と、酸化膜１０３ａを間に挟んで第１の導電膜１０２ａ上に、シリコンを含む第２の導電膜１０４ａを形成する工程（ｃ）と、第１の導電膜１０２ａおよび第２の導電膜１０４ａに対してイオン注入を行い、酸化膜１０３ａの構成材料を前記第２の導電膜１０４ａ中のシリコンと混合させてミキシング層１０３ｂを形成する工程（ｄ）と、熱処理を行ってミキシング層１０３ｂを導電層１０３ｃにする工程（ｅ）とを備える。 （もっと読む）

【課題】High-k/metalゲート電極構造において各極性のＦＥＴに要求される仕事関数値を実現する。
【解決手段】第１の領域と第２の領域とを有する半導体基板１０１の上にゲート絶縁膜１０３を形成する。次に、ゲート絶縁膜１０３の上に第１の金属窒化膜１０５を堆積する。次に、第１の金属窒化膜１０５における第２の領域に位置する部分を除去することにより、ゲート絶縁膜１０３における第２の領域に位置する部分を露出させる。次に、ゲート絶縁膜１０３における第２の領域に位置する部分の上に、第１の金属窒化膜１０５と同じ金属窒化物からなる第２の金属窒化膜１０７を形成する。 （もっと読む）

【課題】ＣＭＯＳ集積過程での高温処理の後であっても一定の閾値電圧を維持する高ｋゲート誘電体の提供。
【解決手段】高ｋゲート誘電体３０と、下部金属層４０、捕捉金属層５０、および上部金属層６０を含む金属ゲート構造とのスタックを提供する。該捕捉金属層は、次の２つの基準、１）Ｓｉ＋２／ｙＭ_ｘＯ_ｙ→２ｘ／ｙＭ＋ＳｉＯ_２の反応によるギブス自由エネルギの変化が正である金属（Ｍ）であること、２）酸化物形成に対する酸素原子あたりのギブス自由エネルギが、下部金属層の金属および上部金属層の金属より大きな負である金属であること、を満たす。これらの基準を満たす捕捉金属層は、酸素原子がゲート電極を通って高ｋゲート誘電体に向け拡散するときに該酸素原子を捕捉する。さらに、該捕捉金属層は、高ｋゲート誘電体の下の酸化ケイ素界面層の厚さを遠隔から低減する。この結果、ゲート誘電体全体の等価酸化膜厚（ＥＯＴ）の変動が抑制される。 （もっと読む）

【課題】比誘電率の低い絶縁層の表面にＭｎ等の第１の金属を含む薄膜、例えばＭｎＯｘを効率的に形成することが可能な成膜方法を提供する。
【解決手段】凹部２を有する絶縁層１２２が表面に形成された被処理体Ｗに第１の金属を含む薄膜を形成する成膜方法において、絶縁層の表面に親水化処理を施して親水性の表面にする親水化工程と、親水化処理の行われた絶縁層の表面に第１の金属を含む第１の金属含有原料を用いて成膜処理を施すことにより第１の金属を含む薄膜を形成する薄膜形成工程とを有する。これにより、比誘電率の低い絶縁層の表面にＭｎ等の第１の金属を含む薄膜、例えばＭｎＯｘを効率的に形成する。 （もっと読む）

【課題】チャネル領域に印加される応力分布のピークとソース領域近傍に発生する電位分布のピークの位置を最適化することで、キャリア速度を向上させて飽和電流特性を向上させることを可能にする。
【解決手段】半導体基板１１に形成されたチャネル領域１２と、前記チャネル領域１２の一方側に形成されたソース領域１９と、前記チャネル領域１２の他方側に形成されたドレイン領域２０と、前記チャネル領域１２上にゲート絶縁膜１３を介して形成されたゲート電極１４と、前記チャネル領域１２に応力を印加する第１、第２応力導入層２１、２３を有し、前記チャネル領域１２と前記ソース領域１９とのｐｎ接合境界と、前記チャネル領域１２と前記ドレイン領域２０とのｐｎ接合境界の間に、前記ソース領域１９側の応力分布のピークと前記ドレイン領域２０側の応力分布のピークが位置する。 （もっと読む）

【課題】Ｒｕ含有膜の表面に形成される金属含有膜の成膜性を向上させることができる半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置の製造方法は、以下の工程を含むものである。基板（半導体素子や層間膜が形成された半導体基板など）にＲｕ含有膜を形成する工程（Ｓ１００）、Ｒｕ含有膜の表面と接するように、Ｒｕより酸化還元電位が低い金属を含有する膜を形成する工程（Ｓ１０２）、基板をめっき液に浸漬させて、当該膜にめっき液を接触させる工程（Ｓ１０４）、基板をめっき液に浸漬させた状態で、当該膜を電気分解により除去してＲｕ含有膜を露出させるとともに、露出したＲｕ含有膜の表面に金属含有膜を電解めっきにより形成する工程（Ｓ１０６）。 （もっと読む）

【課題】低温で塗布形成可能で高い絶縁性と誘電率を有し、かつ表面処理可能な絶縁性薄膜の形成用溶液、それを用いて形成した絶縁性薄膜、絶縁性薄膜をゲート絶縁層として用いることで優れた性能を有する電界効果型トランジスタ及びその製造方法並びに画像表示装置を提供する。
【解決手段】基板と、基板上に形成されたゲート電極と、ゲート電極上に形成された高分子と、高分子と酸素原子を介して結合を有し第４族元素、第５族元素、第６族元素、第１３族元素、亜鉛、錫のうちから選ばれる金属原子と、金属原子と酸素原子または窒素原子を介して結合を有する有機分子とを含む絶縁性薄膜からなるゲート絶縁層と、ゲート絶縁層上に離間して形成されたソース電極及びドレイン電極と、ソース電極及びドレイン電極間に形成された半導体と、を備えることを特徴とする電界効果型トランジスタ。 （もっと読む）

【課題】 非対称型半導体デバイス、及びその製造の際にスペーサ・スキームを用いる方法を提供する
【解決手段】 高ｋゲート誘電体の表面上に配置された非対称型ゲート・スタックを含む半構造体が提供される。非対称型ゲート・スタックは、第１の部分と第２の部分とを含み、第１の部分は、第２の部分とは異なる閾値電圧を有する。本発明の非対称型ゲート・スタックの第１の部分は、下から上に、閾値電圧調整材料及び少なくとも第１の導電性スペーサを含み、本発明の非対称型ゲート・スタックの第２の部分は、ゲート誘電体の上の少なくとも第２の導電性スペーサを含む。幾つかの実施形態において、第２の導電性スペーサは、下にある高ｋゲート誘電体と直接接触しており、他の実施形態においては、第１及び第２の導電性スペーサは、前記閾値電圧調整材料と直接接触している。 （もっと読む）

【課題】 金属酸化膜半導体電界効果トランジスタ内にデバイス性能を改善するゲート構造体を提供する。
【解決手段】 基板のｐ型デバイス領域の上にＧｅ含有層を形成することを含む、半導体デバイスを形成する方法が提供される。その後、基板の第２の部分内に第１の誘電体層が形成され、基板の第２の部分内の第１の誘電層及び基板の第１の部分の上を覆うように、第２の誘電体層が形成される。次に、基板のｐ型デバイス領域及びｎ型デバイス領域の上にゲート構造体を形成することができ、ｎ型デバイス領域へのゲート構造体は希土類金属を含む。 （もっと読む）

【課題】Ｈｉｇｈ−ｋ金属ゲート・トランジスタに対するスレショルド電圧制御および駆動電流改良のための方法および構造体を提供する。
【解決手段】デバイスを形成する方法は、基板を用意するステップと、基板上に界面層を形成するステップと、界面層上にＨｉｇｈ−ｋ誘電体層を堆積するステップと、Ｈｉｇｈ−ｋ誘電体層上に酸素除去層を堆積するステップと、アニールを実施するステップとを含む。Ｈｉｇｈ−ｋ金属ゲート・トランジスタは、基板と、基板上の界面層と、界面層上のＨｉｇｈ−ｋ誘電体層と、Ｈｉｇｈ−ｋ誘電体層上の酸素除去層とを含む。 （もっと読む）

【課題】カーバイド化する金属を用いて、あるいはカーバイド化する金属とシリサイド化する金属とを組み合わせてオーミック電極を形成する際に、より低抵抗化ができるＳｉＣ半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】ｎ⁺型基板１の表面側に素子構造や表面電極を形成した後、ｎ⁺型基板１の裏面１ｂに、カーバイドを生成する金属を含む金属薄膜５０を形成する金属薄膜形成工程を実施したのち、金属薄膜５０とＳｉＣに含まれるＣとを反応させてカーバイド層７０を形成する電極形成工程を実施し、その後、カーバイド層７０の表面に生じたシリコン粒子やシリコンの酸化物を除去する除去工程を行うことにより、カーバイド層７０を含むドレイン電極１１を形成する。 （もっと読む）

【課題】ニッケル系メタル・シリサイドとコンタクト用メタル間でのコンタクト抵抗の低抵抗化がホールの微細化に伴って、困難になるという問題がることが、本願発明者の検討により明らかとなった。
【解決手段】本願の一つの発明は、ニッケル系メタル・シリサイドによりソース・ドレイン領域等のシリサイデーションを施したＭＩＳＦＥＴを有する半導体集積回路装置の製造方法において、プリ・メタル絶縁膜に設けられたコンタクト・ホールにバリア・メタルを形成する前に、シリサイド膜の上面に対して、窒素水素間結合を有するガスを主要なガス成分の一つとして含む非プラズマ還元性気相雰囲気中で、熱処理を実行するものである。 （もっと読む）

【課題】プラグとシリサイド領域との間の電気抵抗を小さくすることができる半導体装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】シリサイド領域ＳＣｓ、ＳＣｇを各々が有する少なくとも１つの半導体素子ＮＴ、ＰＴが半導体基板ＳＢ上に形成される。シリサイド領域上に層間絶縁膜が形成される。シリサイド領域ＳＣｓ、ＳＣｇからなる底面を有する内面が設けられたスルーホールＴＨが層間絶縁膜ＩＬＤ１に形成される。内面を被覆するＴｉ（チタン）膜が化学気相成長法によって形成される。内面を被覆するバリアメタル膜を形成するためにＴｉ膜ＴＦの少なくとも表面部が窒化される。バリアメタル膜を介してスルーホールＴＨを埋めるプラグが形成される。 （もっと読む）

【課題】ばらつきの少ない適切な閾値電圧がそれぞれ設定されたＬｏｇｉｃ領域およびＳＲＡＭ領域のトランジスタを備えた半導体装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の一態様に係る半導体装置は、第１の領域および第２の領域を有する半導体基板と、前記半導体基板上の前記第１の領域に形成された第１の高誘電率層を有する第１のゲート絶縁膜と、前記第１のゲート絶縁膜上に形成された第１のゲート電極と、を有する第１のトランジスタと、前記半導体基板上の前記第２の領域に形成された前記第１の高誘電率層よりも酸素欠損濃度の平均値が低い第２の高誘電率層を有する第２のゲート絶縁膜と、前記第２のゲート絶縁膜上に形成された第２のゲート電極と、を有し、前記第１のトランジスタと異なる閾値電圧を有する第２のトランジスタと、前記半導体基板上に形成され、前記第１のトランジスタと前記第２のトランジスタとを分離する、酸素原子を含む素子分離領域と、を有する。 （もっと読む）

【課題】閾値電圧以外の電流特性に大きな影響を与えることなく、選択的に閾値電圧を制御できる有機薄膜トランジスタを提供する。
【解決手段】本発明の有機薄膜トランジスタ１００は、基板１上に、ゲート電極２と、ゲート絶縁膜３と、ソース電極４と、ドレイン電極５と、有機半導体層７とが形成されており、さらに、ソース電極４表面に、ベンゼンチオール化合物からなるチオール化合物層８が形成され、ドレイン電極５の表面に、ベンゼンチオール化合物からなるチオール化合物層９が形成されている。 （もっと読む）

【課題】高アスペクト比を有するプラグを充填する方法を提供する。
【解決手段】高アスペクト比を有するプラグを充填する本発明の方法においては、核形成層を、バイアの側壁上ではなく、バイアの底に形成する。プラグ充填はバイアの底からトップへの方向であり、側壁から内側へではない。得られるプラグは、無ボイドであり、継ぎ目無しである。 （もっと読む）